JPS59185459A - 導通試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、時分割交換機において、そのサービス呼ごと
の通話路について実施するための導通試験方式に関する
ものである。

〔発明の背景〕

件ず、図面に従って従来方式の説明をする。

第１図は、従来の導通試験方式の一例の説明図であって
、時分割交換機の通話路系の一部を示し、説明に不要な
部分は省略しである。

ここで、ＩＡは各種の回線に係る発呼側の加入者電話機
、ＩＢは同被呼側の加入者電話機、２Ａ。

２Ｂは端末部に係る発呼側、被呼側の個別終端回路ヤあ
って、一般には各種の回線が終端されるもの、３Ａ、３
Ｂは四発呼側、被呼側の通信端末インターフェース回路
、４Ａ、４Ｂ、４Ｃおよび５Ａ、５Ｂ、５Ｃは時分割多
重化された送信および受信のハイウェイ、６Ａ、　６Ｂ
、６（Ｊｊ：１次の時間スイッチ、７は分配段の時間ス
イッチ、８は導通試験装置である。

第１図（イ）は４線交換接続の概略を示すものであり、
２線４線変換機能は個別終端回路２Ａ、２Ｂに設けるも
のとし、以下、加入者電話機ＩＡから同ＩＢへの接続を
例にとって説明する。

第１図（イ）において、時間スイッチ６Ａ、６Ｂ。

７中の破線矢印は、加入者電話機Ｉ　Ａ、　、　’Ｉ　
８間の通話のための送受のスイッチ接続経路を示す。

第１図（ロ）、（ハ）に示すとおり、導通試験装置８は
、各ハイウェイ対応には設置されておらず、システム容
量に従って設置数が別途決められている。この場合、時
間スイッチ６Ｃのノ・イウエイ４Ｃ。

５Ｃにのみ接続されているものとする。

導通試験は、第　１図（イ）において通路接続（交換接
続）のために時間スイッチ６Ａ、６Ｂ、７中の破線矢印
の接続を行う前に、第１図（ロ）、（ハ）に示す時間ス
イッチ６Ａ、６Ｂ、６Ｃ，？中の幅広空白矢印の接続を
した後に行われる。

第１図（ロ）は、被呼側の通信端末インターフェース回
路３Ｂが収容されているノ・イウエイ４Ｂ。

５Ｂのチャネルの導通試験のやり方を示す。まず、幅広
空白矢印の接続を実施した後、導通試験装置８からハイ
ウェイ４Ｃ，時間スイッチ６ｃを通して通話時に使用す
べきチャネル（ユディジタルパターン（試験パターン）
を送出すると、時間スイッチ７でハイウ′土イ５Ｂへの
スイッチングがされ、通信端末インターフェース回路３
Ｂに当該チャネルが引き込まれ、個別終端回路２Ｂで折
り返される。ここで、折り返しを通信端末インターフェ
ース回路３Ｂで実施しても本質的な差異はない。折り返
されたチャネルは通信端末インターフェース回路３Ｂか
ら送信のハイウェイ４Ｂを経由し、時間スイッチ６Ｂ、
７．６Ｃでスイッチングされる。

導通試験装置８は、受信のハイウェイ５Ｃから折り返し
の試験パターンを受信するが、アナログ量でチェックす
るときは、レベル比較等の受信信号としての検査を行い
、または個別終端回路２Ｂでのディジタル折り返１のと
きは送信・受信信号のディジタルパターン比較を実施し
、被呼側のハイウェイ４Ｂ、５Ｂの使用するチャネルの
導通を行うようにする。

次に、第　１図（ハ）の幅広空白矢印の接続を実施し、
発呼側の折返しにより、上述の被呼側の場合と同様に、
発呼側のハイウェイ４Ａ、５Ｂ上の使用するチャネルの
導通試験を行うようにする。

このような従来方式では、実際に使用するチャネルの導
通をすべて試験しておらず、捷た導通試験の結果が不良
と判明しても、不良箇所の切分けができない。さらに途
中段のハイウェイの不良によっては、導通試験装置の試
験では発見できず、別のチェック用の装置も必要となる
という欠点があった。

〔発明の目的〕

本発明の目的は、上記した従来技術の欠点をなくシ、実
際の通話に使用するチャネルについて全体の導通試験を
行うことができるとともに、導通不良時の障害箇所の切
分けが可能な導通試験方式を提供することにある。

〔発明の概要〕

本発明に係る導通試験方式の構成は、各種の回線を収容
する個別終端回路と、その１個または複数個と対応する
通信端末インターフェース回路と、その複数個が時分割
多重化接続をされるハイウェイと、その１組または複数
組を収容し、そのスイッチングを行う時間スイッチ１段
または複数段構成のものとからなる通話路系をその交換
接続制御を制御系によって行うようにした時分割交換器
において、特定の試験パターンを発生して、ハイウェイ
の任意のチャネルに送出するとともに、送出した試験パ
ターンを読み取って、同内容の照合をした後、その照合
結果を導通試験の結果として制御系に通知する機能を有
する導通試験装置を各ノ・イウエイごとに１台または複
数台接続・使用しうるようにしておき、サービス呼の交
換接続を行う前に、発呼側もしくは被呼側いずれか一方
から、または双方から順次に上記サービス呼と同一の交
換接続を行い、その各時間スイッチごとに折返し接続を
して上記導通試験装置による導通試験を順次に行うとと
もに、通信端末インターフェース回路捷たは個別終端回
路における端末部折返し接続をして上記と同様に導通試
験を行うことにより、上記サービス呼の交換接続そのも
の両端末部までをも含めた全接続について導通試験を行
いうるようにしたものである。

なお、最初に両端末部までの交換接続を行った後、いず
れか一方の端末部の折返し接続による全導通試験を行い
、その導通が不良であるときは、順次に各時間スイッチ
ごとの折返し試験を行うようにして試験の効率化を図る
こともできる。

〔発明の実施例〕

以下、本発明の実施例を図に基づいて説明する。

第２図は、本発明に係る導通試験方式の一実施例の方式
構成図である。

ここで、８Ａ、８Ｂは導通試験装置、その他の符号は第
１図における同符号のものと均等のもの−である。

第２図（イ）において、時間スイッチ６Ａ、６Ｂ。

７中の破線矢印は発呼側の加入者電話機ＩＡと被呼側の
加入者電話機ＩＢの通話中の接続を示す。

この破線矢印の接続を行う前に、時間スイッチ６人中の
幅広空白矢印の折り返し接続をし、発呼側の通信端末イ
ンターフェース回路３Ａが収容されているハイウェイ４
Ａ、５Ａに収容されている導通試験装置８Ａにより、上
記通話に使用するチャネルヘデイジタル試験パターンを
送出し、時間スイッチ６Ａで折り返した後、受信・くタ
ーンを送出パターンと比較してノ・イウエイ４Ａ、５Ａ
の導通試験をする。

導通が良好であることが確認された後、時間スイッチ６
Ａで破線矢印の接続を行い、通話路を時間スイッチ７ま
で延ばす。

時間スイッチ７では幅広空白矢印の折返し接続を行い、
上記と同様に導通試験装置８Ａの試験ノくターンの送出
、受信、照合の機能を用いて時間スイッチ７での折返し
試験を行う。

時間スイッチ７での折返し試験での導通が良好であった
ことを確認した後、時間スイッチ７では破線矢印の接続
を行い、時間スイッチ６Ｂまで接続を延ばす。

時間スイッチ６Ｂでは幅広空白矢印の折返し接続を行い
、同様に導通を確認する。

このように各時間スイッチ６Ａ、７，６１３の折返し接
続により、順次、導通を確認しながら接続を延ばす。導
通不良箇所があれば、その時点で直ちに発見ができ、制
御系（図示省略）への通知により、障害位置の切分けが
容易である。

この場合、通信端末インターフェース回路３Ｂに設けた
折返し機能（個別終端回路２Ｂに設けてもよい。）を使
って、通話に使用する全チャネルの導通試験を行うこと
も可能である。

さらに、最初に全体の通話路設定を行った後、まず上記
の端末例での折返し試験（全導通試験）のみを実施し、
導通不良時には、各時間スイッチ６Ａ、７．６Ｂの折返
し接続（幅広空白矢印の接に 続）を順へ９つて不良箇所の切分けを行うことも可能で
ある。

次に、第２図（ロ）について説明する。

ここでは、まず、時間スイッチ６Ａについてのみ幅広空
白矢印の接続を行い、時間スイッチ７゜６Ｂは破線矢印
の接続を行う。

次いで、導通試験装置８Ａ、８Ｂにより、時間スイッチ
６Ａの２つの発側１着側の折返し接続で導通試験を実施
し、導通が良好であることを確認した後、時間スイッチ
６Ａで破線矢印の接続に切り換える。導通不良時には、
時間スイッチ７捷たけ６Ｂで折返し接続を行い、障害位
置の切分けを行う。

上記で時間スイッチ６Ａで発側１着側の折返し接続を行
うようにしているが、時間スイッチ７−１８たけ６Ｂ行
っても本質的な差異はない。

〔発明の効果〕

以」二、詳細に説明したように、本発明によれば、実際
に通話に使用するチャネルの全導通を通話前に確実に試
験することができ、かつ導通不良時の障害切分けが容易
となるので、時分割交換機の信頼性向上、保守性向上に
顕著な効果が得られる。

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来の導通試験方式の一例の説明図、第２図
は、本発明に係る導通試験方式の一実施例の方式構成図
である。 ＩＡ、ＩＢ・・・加入者電話機、２Ａ、２Ｂ・・・個別
終端回路、３Ａ、３Ｂ・・・通信端末インターフェース
回路、４Ａ、４Ｂおよび５’Ａ、５Ｂ・・・送信および
受信のハイウェイ、６Ａ、６Ｂ、７・・・時間スイッチ
、８Ａ、８Ｂ・・・導通試験装置。 代理人　弁理士　福田幸作 （ほか１名）

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 Ｊ、各種の回線を収容する個別終端回路と、その１細首
   たは複数個と対応する通信端末インターフェース回路と
   、その複数が時分割多重化接続をされるハイウェイと、
   その１組または複数組を収容し、そのスイッチングを行
   う時間スイッチ１段または複数段構成のものとからなる
   通話路系を有し、その交換接続制御を制御系によって行
   うようにした時分割交換機において、特定の試験パター
   ンを発生してハイウェイの任意のチャネルに送出すると
   ともに、送出した試験パターンを読み取って同内容の照
   合をした後、その照合結果を導通試験の結果として制御
   系に通知する機能を有する導通試験装置を各ハイウェイ
   ごとに１台または複数を接続、使用しうるようにしてお
   き、サービス呼の交換接続を行う前に、発呼側もしくは
   被呼側いずれか一方から、または双方から順次に上記サ
   ービス呼と同一の交換接続を行い、その各時間スイッチ
   ごとに折返し接続をして上記導通試験装置による導通試
   験を順次に行うとともに、通信端末インターフェース回
   路または個別終端回路における端末　゛部折返し接続を
   して上記と同様に導通試験を行うことにより、上記サー
   ビス呼の交換接続そのものの両端末部までを含めた全接
   続について導通試験を行いうることを特徴とする導通試
   験方式。 ２、特許請求の範囲第１項記載のものにおいて、最初に
   両端末部までの交換接続を行った後、いずれか一方の端
   末部の折返し接続による全導通試験を行い、その導通が
   不良であるときは、順次に各時間スイッチごとの折返し
   試験を行うようにした導通試験方式。 ３、特許請求の範囲第１項記載のものにおいて、任意の
   途中段の時間スイッチで発呼側および被呼側の双方につ
   いて折返し接続を行い、発呼側および被呼側の導通試験
   装置により、それぞれ上記の途中段の時間スイッチまで
   の導通試験を各時間スイッチごとに順次に行うようにし
   た導通試験方式。