JPH0239760A - Isdn加入者線試験方式 - Google Patents

Isdn加入者線試験方式

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JPH0239760A
JPH0239760A JP19009888A JP19009888A JPH0239760A JP H0239760 A JPH0239760 A JP H0239760A JP 19009888 A JP19009888 A JP 19009888A JP 19009888 A JP19009888 A JP 19009888A JP H0239760 A JPH0239760 A JP H0239760A
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JP
Japan
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channel
test
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line
terminal
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Application number
JP19009888A
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English (en)
Inventor
Masao Hashimoto
雅男 橋本
Hanae Sawa
澤 花江
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Corp
Original Assignee
NEC Corp
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0239760A publication Critical patent/JPH0239760A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、加入者線の試験方式に関し、特に、l5DN
のBa5jc Accessインタフェース(2B+D
)の加入者線試験方式に関する。
従来の技術 従来のl5DN Ba5ic Accessインタフェ
ース(2B+D)の加入者線試験方式は、第2図に示す
ように、網終端装置22と加入者線終端装置23の間に
リレーをおいて、被試験加入者と試験用加入者を切替え
て加入者線疑似発信・疑似着信試験を行う。
次に従来の試験方式で発着信試験を行う場合の動作につ
いて説明する。加入者試験用端末31は回線がアイドル
状態であると確認すると網終端装置22と加入者線終端
装置23の間にあるリレーに指示を出して切替えること
により、被試験加入者と網とのリンクは切断され、試験
用端末と網がつながる。以後、試験用端末は一般加入者
と同じように網とアクセスすることで、加入者線の疑似
発信・疑似着信試験を行う。
以上の説明から判るように、試験用端末による加入者線
の疑似発信・疑似着信試験が行われている間、被試験加
入者は網と完全に切断され、試験用加入者のみが網とア
クセスして試験を行う。
発明が解決しようとする課題 上述した従来のl5DN Ba5ic Accessイ
ンタフェース(2B+D)の加入者線発着信試験方式は
、発着信試験を行うためにB、B、、Dの全チャネルを
試験用加入者に切替する必要があるので、試験を行わな
いチャネル上の通信も中断しなければならず、従って、
試験用加入者による発着信試験がおこなわれている間は
被試験加入者から網へアクセスすることは不可能という
欠点がある。
本発明は従来の上記実情に鑑みてなされたものであり、
従って本発明の目的は、従来の技術に内在する上記欠点
を解消することを可能とした新規なl5DN加入者線試
験方式を提供することにある。
課題を解決するための手段 上記目的を達成する為に1本発明に係るl5DN加入者
線試験方式は、加入者線試験端末と28+Dのベーシッ
クアクセスインタフェースで接続し被試験加入者線と試
験用加入者線の各々のB1.B。
を試験端末からの要求に応じて選択する回路と、試験用
端末との通信としてDチャネル終端回路とを具備して構
成され、しかして、被試験加入者のBチャネル、あるい
はDチャネルに影響を与えずに加入者の疑似発着試験が
可能となる。
実施例 次に本発明をその好ましい一実施例について図面を参照
して具体的に説明する。
第1図は本発明の一実施例を示すシステムブロック構成
図である。
第1図を参照するに、 l5DNベーシツクアクセスラ
イン100は、加入者宅内の網側終端装置2に接続され
、Sインタフェースバスを介してターミナルアダプタ、
l5DN端末3を収容している。又、網側はl5DNベ
ーシツクアクセスライン100をライン終端回路6によ
りB1チャネル7、B2チャネル9とDチャネル10に
分離される。加入者試験端末1も一般加入者と同様にl
5DNベーシツクアクセスライン200を介してライン
終端回路12によりB1チャネル8.B2チャネル11
とDチャネル13に分離される。一般加入者、試験用加
入者共にDチャネルはレイヤ2 (LAPD)終端装置
14.15を具備し、一般加入者の終端装置15はシグ
ナリングメツセージ。
Dチャネルパケットの通信用に使用され、試験用加入者
の終端袋M14は回縁試験要求信号メツセージ、要求受
付後の呼処理信号メツセージにより使用される。
試験用端末1からDチャネル13により回線Noと81
、B、チャネル指定を指示して、レイヤ2終端装置14
を介してその要求メツセージを呼処理装置4は受けとる
。呼処理装置14は1回@No、 B、−B2チャネル
指定からその回線のチャネルB1.B。
使用状況を調べ、チャネルB1指示で使用中ならば試験
端末へ使用中メツセージを返答し、空状態ならばIlo
 20を介してB1チャネル選択回路16の試験用端末
のB1チャネル選択を設定し1選択後のB□チャネル1
8はl5DN交換機5に接続される。
又B、チャネル指示ならば、同様にIlo 20を介し
てB2チャネル選択回路17の試験用端末B8チャネル
を選択設定する。
選択後、試験用端末とB1あるいはB2チャネルの通信
ルートができるので、試験端末から疑似発信・着信が使
用中の一般加入者でもB1あるいはB2チャネルが空で
あれば回線試験が行える。
発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、ISDNベーシッ
クアクセスインタフェース(2B+D)の加入者線発着
信試験において、試験用端末を試験加入者としてISD
Nベーシックアクセスインタフェースで接続し、被試験
用加入者と試験用加入者の各々のB、、B、を試験用端
末から試験チャネルの要求により選択する回路と、試験
用加入者との通信用のDチャネル終端回路とを具備する
ことによって1通信中のBah、 Dchに影響を与え
ずに試験用端末からの指定Bチャネルにより、被試験加
入者線上指定Bチャネル空であれば疑似発着信試験でき
る効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示すブロック構成図、第2
図は従来の試験方式の一例を示すブロック図である。 100.試験用端末、2.、、網側終端装置、3.、。 ターミナルアダプタあるいはl5DN端宋、4.、、呼
処理装置、5 、、、l5DN交換機、606.ライン
終端装置、7.、、B1チャネル(被試験用)、8.、
、B1チャネル(試験用) 、9.、、B2チャネル(
被試験用)、10、、、Dチャネル(被試験用) 、 
11.、、B2チャネル(試験用) + 12.、、ラ
イン終端装置(試験用)。 13、、、 Dチャネル(試験用) 、 14.、、D
チャネル終端装置(試験用) 、 15.、、Dチャネ
ル終端装置(被試験用) 、 16.、、試験・被試験
B1チャネル選択回路、17.、、試験・被試験B2チ
ャネル選択回路、1.8.、、B1チャネル、19.、
、B2チャネル、20.、、試験・被試験B、、B2遭
択用I10ポート、 21.、、ターミナルアダプタ・
l5DN端末、 22.、、別個終端装置、23、、、
ライン終端装置、 24.、−Btチャネル、 25.
、。 B2チャネル、 26.、、Dチャネル、 27.、、
レイヤ2終端装置、 28.、、試験用端末用■刈ボー
ト、29.、。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. ISDNベーシックアクセスインタフェース(2B+D
    )の加入者線疑似発信・疑似着信試験において、試験用
    端末を試験加入者としてISDNベーシックアクセスイ
    ンタフェースで接続し、被試験用加入者と試験用加入者
    の各々のB_1、B_2チャネルを試験用端末から試験
    チャネルの要求により選択する回路と、試験用加入者と
    の通信用のDチャネルリンク終端回路とを具備すること
    で通信中のBチャネル、Dチャネルに影響を与えずに試
    験用端末からの指定Bチャネルにより加入者線疑似発信
    、疑似着信試験を行うことを特徴とする加入者線試験方
    式。
JP19009888A 1988-07-29 1988-07-29 Isdn加入者線試験方式 Pending JPH0239760A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH08307525A (ja) * 1995-04-28 1996-11-22 Nec Corp Isdn交換機及び回線の試験システム及び試験方法
GB2354906A (en) * 1999-08-30 2001-04-04 Fujitsu Ltd Line testing arrangement

Cited By (3)

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