JPS59190636A - 屈折度測定装置 - Google Patents
屈折度測定装置Info
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- JPS59190636A JPS59190636A JP6625483A JP6625483A JPS59190636A JP S59190636 A JPS59190636 A JP S59190636A JP 6625483 A JP6625483 A JP 6625483A JP 6625483 A JP6625483 A JP 6625483A JP S59190636 A JPS59190636 A JP S59190636A
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- G—PHYSICS
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- G01M11/02—Testing optical properties
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- G01M11/0235—Testing optical properties by measuring refractive power by measuring multiple properties of lenses, automatic lens meters
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- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は屈折度測定装置に関し、特に可動部を持たず自
動的に屈折度測定が可能なものに関する。
動的に屈折度測定が可能なものに関する。
従来、市場に供されているレンズメータ、ケラトメータ
はその殆んどが屈折度測定を手動で行なうもので測定に
時間がかかり、又、煩雑性がある。一方、測定を自動的
に行なう自動レンズメータ、自動ケラトメータが知られ
ているが、これには可動部があって装置の複雑化、耐久
性といった問題点がある。これを解決するため、本件出
願人は、既に特願昭５７−１７５８４７に測定を自動的
に且つ可動部なく行なう新規な屈折度測定装置を提案し
ている。
はその殆んどが屈折度測定を手動で行なうもので測定に
時間がかかり、又、煩雑性がある。一方、測定を自動的
に行なう自動レンズメータ、自動ケラトメータが知られ
ているが、これには可動部があって装置の複雑化、耐久
性といった問題点がある。これを解決するため、本件出
願人は、既に特願昭５７−１７５８４７に測定を自動的
に且つ可動部なく行なう新規な屈折度測定装置を提案し
ている。
本発明はこれに関連する屈折度測定装置に関し、少なく
とも３本の光ビームを縦横のスリット開口を有するアパ
ーチャーを介して、被検、光学要素の異なる位置に照射
し、被検光学要素を経て来る光ビームを受光レンズに入
射させ、該受光レンズの焦点位置又はその共役位置にあ
つて、アパーチャーのスリット開口と平行に互いに直角
に配置された２箇の一次元光位置検出素子に受け、該検
出素子上でのビーム位置ずれの度合より各径線方向の屈
折度を算出することを特徴とする。
とも３本の光ビームを縦横のスリット開口を有するアパ
ーチャーを介して、被検、光学要素の異なる位置に照射
し、被検光学要素を経て来る光ビームを受光レンズに入
射させ、該受光レンズの焦点位置又はその共役位置にあ
つて、アパーチャーのスリット開口と平行に互いに直角
に配置された２箇の一次元光位置検出素子に受け、該検
出素子上でのビーム位置ずれの度合より各径線方向の屈
折度を算出することを特徴とする。
以下、本発明の詳細な説明に先立ち、第１図によって本
発明の詳細な説明を行なう。第１図において、ＩＡ、Ｉ
Ｂ、１０は３箇のＬＥＤ等の光源であり、これらを順次
点灯する。絞り板２には光源ＩＡ、ＩＢ、１０に対応し
た光軸上の点を中心とした円周上の３箇の穴２Ａ、２Ｂ
。
発明の詳細な説明を行なう。第１図において、ＩＡ、Ｉ
Ｂ、１０は３箇のＬＥＤ等の光源であり、これらを順次
点灯する。絞り板２には光源ＩＡ、ＩＢ、１０に対応し
た光軸上の点を中心とした円周上の３箇の穴２Ａ、２Ｂ
。
２Ｃがあり、この穴を通る光は３本の光ビームとなり、
被検レンズ３の３Ａ、３Ｂ、３０点にあたり、被検レン
ズ３で屈折した後、２次元光位置検出素子４に入る。検
出素子４は、アナログ信号の出る半導体装置検出器の如
き単一素子でも良く、またＣＯＤの如きアレイ素子でも
良い。
被検レンズ３の３Ａ、３Ｂ、３０点にあたり、被検レン
ズ３で屈折した後、２次元光位置検出素子４に入る。検
出素子４は、アナログ信号の出る半導体装置検出器の如
き単一素子でも良く、またＣＯＤの如きアレイ素子でも
良い。
光源ＩＡ、ＩＪ３，１０は光軸８から等距離にあり光源
から光軸に下した足は互いに１２０°を為す。絞り板２
の穴２Ａ、２Ｂ、２０も同様の関係にあり、従って３本
の光ビームは互いに平行かつ光軸８に平行となる。ここ
で被検レンズ３が無い時は、ビームは検出素子４上の点
４Ａ。
から光軸に下した足は互いに１２０°を為す。絞り板２
の穴２Ａ、２Ｂ、２０も同様の関係にあり、従って３本
の光ビームは互いに平行かつ光軸８に平行となる。ここ
で被検レンズ３が無い時は、ビームは検出素子４上の点
４Ａ。
４Ｂ、４０に至る。被検レンズ３が入るとビームは屈折
され、点４Ａ’、４Ｂ’、４０’にくる。ここで各点４
Ａ、４Ｂ、４０から屈折後の点４Ａ’、４Ｂ／、４０’
に至る偏位ベクトルＡ、ＢＸＯが被検レンズ３の屈折度
、即ち球面度数、乱視度数、乱視角及び光軸８からの被
検レンズ中心のずれに関する位置情報を与える。ここで
光ビームの被検レンズ３により屈折される角度は近軸的
に考えると被検レンズの屈折力とあたるビームとレンズ
中心Ｏとの距離に比例する。ベクトルＡ１Ｂ、Ｏの大き
さは、この角度の他、更に被検レン゛ズ３と検出素子４
の距離にも比例する。なおレンズ面を回転放物面と近似
すれば、レンズ上の２点に入射したビームの２点を結ぶ
方向の収れん、発散の度合は２点の間隔が一定なら入射
位置には無関係である。これによって、アライメントは
三つの偏位ベクトルＡ、Ｂ、Ｏのベクトル和がゼロとな
ることによって求まる。
され、点４Ａ’、４Ｂ’、４０’にくる。ここで各点４
Ａ、４Ｂ、４０から屈折後の点４Ａ’、４Ｂ／、４０’
に至る偏位ベクトルＡ、ＢＸＯが被検レンズ３の屈折度
、即ち球面度数、乱視度数、乱視角及び光軸８からの被
検レンズ中心のずれに関する位置情報を与える。ここで
光ビームの被検レンズ３により屈折される角度は近軸的
に考えると被検レンズの屈折力とあたるビームとレンズ
中心Ｏとの距離に比例する。ベクトルＡ１Ｂ、Ｏの大き
さは、この角度の他、更に被検レン゛ズ３と検出素子４
の距離にも比例する。なおレンズ面を回転放物面と近似
すれば、レンズ上の２点に入射したビームの２点を結ぶ
方向の収れん、発散の度合は２点の間隔が一定なら入射
位置には無関係である。これによって、アライメントは
三つの偏位ベクトルＡ、Ｂ、Ｏのベクトル和がゼロとな
ることによって求まる。
すなわち次のように３つのベクトルのＸ方向成分、Ｙ方
向成分が共にゼロとなるようにする。
向成分が共にゼロとなるようにする。
Ａｘ＋Ｂｘ十Ｃｘ＝０（１）
ＡＹ十ＢＹ十〇Ｙ＝０（２）
ここでＡｘｌＢｘｌｏｘはベクトルＡＳＢ、Ｏのｘ＠分
、ＡＹｌＢＹｌｏＹはペクトＡ／Ａ、Ｂ、ＯのＹ成分で
ある。
、ＡＹｌＢＹｌｏＹはペクトＡ／Ａ、Ｂ、ＯのＹ成分で
ある。
このようにアライメントを行なうことによって次の屈折
度測定が精確になされる。なお被検レンズ３がプリズム
作用を含む場合又はレンズを偏心させて用い故意にプリ
ズム効果を出す場合は（１）、（２）式の左辺の値がそ
の位置でのプリズム度数を与える。
度測定が精確になされる。なお被検レンズ３がプリズム
作用を含む場合又はレンズを偏心させて用い故意にプリ
ズム効果を出す場合は（１）、（２）式の左辺の値がそ
の位置でのプリズム度数を与える。
さて、被検レンズは一般に乱視を含んでいるが、各径線
方向の屈折力を求めるには少なくとも二径線方向の屈折
力を求めれば良い。
方向の屈折力を求めるには少なくとも二径線方向の屈折
力を求めれば良い。
すなわち、θを基準径線方向からの円周方向の角度とす
ると、対応する屈折力りはθの関数として Ｄ（θ） ：＝ａｓｉｎ２（θ十β）＋ｒ （３
）と表わされる。
ると、対応する屈折力りはθの関数として Ｄ（θ） ：＝ａｓｉｎ２（θ十β）＋ｒ （３
）と表わされる。
ここでα、β、γは定数であり、各々乱視度、乱視角、
球面度数を表わす。第１図で被検レンズ３のレンズ面が
回転放物面に近似しているとし、且つ屈折に関するスネ
ルの法則に関し近似式を用いると、レンズの２点に一定
間隔で照たったビームの屈折後の偏位度合は、その２点
間を結ぶ方向に平行な如何なる２点間における場合につ
き同様となる。
球面度数を表わす。第１図で被検レンズ３のレンズ面が
回転放物面に近似しているとし、且つ屈折に関するスネ
ルの法則に関し近似式を用いると、レンズの２点に一定
間隔で照たったビームの屈折後の偏位度合は、その２点
間を結ぶ方向に平行な如何なる２点間における場合につ
き同様となる。
従って、被検レンズ３の３Ａ３Ｂ方向と平行な径線方向
の屈折力をＤＡＢとし、３Ｂ３０方向、３０３Ａ方向と
平行な径線方向の屈折力を各々ＤＢｏ１ＤｏＡとすると
各々の屈折力は対応するベクトルＡ、Ｂ、Ｏの対応する
径線方向成分の和で表わされる。すなわち、 ＤＡＢ＝ＡＡＢ＋ＢＢＡ（４） ＤＢＯ” ＢＢＯ＋ＣＯＢ （５）Ｄｏ
ｈ ＝ ＣＧＡ ＋ ＡＡＯ（６）ここでＡＡＢはベク
トルＡの３Ａ３ＢＡ３Ｂ方向大きさを表わし、３人から
３Ｂに向かうときプラス、３Ｂから３Ａに向かうときマ
イナスとする。他の符号についてもこれに準する。
の屈折力をＤＡＢとし、３Ｂ３０方向、３０３Ａ方向と
平行な径線方向の屈折力を各々ＤＢｏ１ＤｏＡとすると
各々の屈折力は対応するベクトルＡ、Ｂ、Ｏの対応する
径線方向成分の和で表わされる。すなわち、 ＤＡＢ＝ＡＡＢ＋ＢＢＡ（４） ＤＢＯ” ＢＢＯ＋ＣＯＢ （５）Ｄｏ
ｈ ＝ ＣＧＡ ＋ ＡＡＯ（６）ここでＡＡＢはベク
トルＡの３Ａ３ＢＡ３Ｂ方向大きさを表わし、３人から
３Ｂに向かうときプラス、３Ｂから３Ａに向かうときマ
イナスとする。他の符号についてもこれに準する。
上述の３式により求まった二径線方向の各屈折力ＤＡＢ
、 ＤＢＯ’ ＤＯＡを（３）式に代入すれば連立方
程式より乱視度α、乱視角β、球面度数γが求まる。
、 ＤＢＯ’ ＤＯＡを（３）式に代入すれば連立方
程式より乱視度α、乱視角β、球面度数γが求まる。
因みに、３Ａ、３Ｂ、３０を円周上、１２０゜毎の点と
し、３Ａ３Ｂ方向に平行な径線方向を基準径線方向とす
ると、次のようになる。
し、３Ａ３Ｂ方向に平行な径線方向を基準径線方向とす
ると、次のようになる。
ＤＡＢ＝ＡＡＢ十ＢＩＩＡ＝α５ｉｎ２β十ｒＤＢｏ−
ＢＢｏ十〇。Ｂ＝α５ｉｎ２（１２０°十β）＋γＤｏ
Ａ＝ＣｏＡ＋ＡＡｏ＝α５ｉｎ２（２４０°＋β）十γ
なお（４）乃至（６）式を（３）式に代入し、連立方程
式を解いて未知数α、β、γを求めるのには公知の自動
演算手段が用いられる。
ＢＢｏ十〇。Ｂ＝α５ｉｎ２（１２０°十β）＋γＤｏ
Ａ＝ＣｏＡ＋ＡＡｏ＝α５ｉｎ２（２４０°＋β）十γ
なお（４）乃至（６）式を（３）式に代入し、連立方程
式を解いて未知数α、β、γを求めるのには公知の自動
演算手段が用いられる。
ところで２次元光位置検出素子４として、アナログ信号
の出るポジションディテクターを用いる場合、各ビーム
が照射する位置を検出するため３本のビームを順次被検
レンズに入射しなければならない。
の出るポジションディテクターを用いる場合、各ビーム
が照射する位置を検出するため３本のビームを順次被検
レンズに入射しなければならない。
ポジションディテクターに複数のビームが同時に照射す
ると、照射位置が求まらず、単に平均化された照射位置
しか求まらないからである。
ると、照射位置が求まらず、単に平均化された照射位置
しか求まらないからである。
但し検出素子４としてＣＯＤ等のアレイ型の素子を用い
る場合は、３本のビームを同時に照射することが可能で
あり、この場合光源は３箇でなく１箇で足りる。
る場合は、３本のビームを同時に照射することが可能で
あり、この場合光源は３箇でなく１箇で足りる。
わ
さて、第２図は本発明に係Ｊ屈折度測定装置の実施例の
図である。光源ＩＡ、ＩＢ、１０から出た光ビームはリ
レーレンズ５、アパーチャー６を通り、コリメータレン
ズ７により互いに光軸１０と平行となり、被検レンズ３
を照射する。被検レンズ３で屈折を受けた光ビームは受
光レンズ８を通り、その後側焦点位置に置かれた１次元
光位置検出素子９Ａ、９Ｂに受光される。なお被検レン
ズ３が無いときの光ビームを鎖線で示す。アパーチャー
６と検出素子９Ａ。
図である。光源ＩＡ、ＩＢ、１０から出た光ビームはリ
レーレンズ５、アパーチャー６を通り、コリメータレン
ズ７により互いに光軸１０と平行となり、被検レンズ３
を照射する。被検レンズ３で屈折を受けた光ビームは受
光レンズ８を通り、その後側焦点位置に置かれた１次元
光位置検出素子９Ａ、９Ｂに受光される。なお被検レン
ズ３が無いときの光ビームを鎖線で示す。アパーチャー
６と検出素子９Ａ。
９Ｂまた光源ＩＡ、ＩＢ、１０と被検レンズ３は各々光
学的に共役である。被検レンズを光源の共役点におくこ
とにより光束が小さくなり精度が上がる。
学的に共役である。被検レンズを光源の共役点におくこ
とにより光束が小さくなり精度が上がる。
ここで第３図、第４図は各々光軸１０の方向から眺めた
検出素子９Ａ、９Ｂ、アパーチャー６を示す。検出素子
９Ａ、９Ｂは互いに直交して設けられ、アパーチャー６
は直交する縦方向、横方向に各々６Ａ、６Ｂのスリット
開口を有し、各々検出素子９Ａ、９Ｂと平行に配置され
る。
検出素子９Ａ、９Ｂ、アパーチャー６を示す。検出素子
９Ａ、９Ｂは互いに直交して設けられ、アパーチャー６
は直交する縦方向、横方向に各々６Ａ、６Ｂのスリット
開口を有し、各々検出素子９Ａ、９Ｂと平行に配置され
る。
検出素子９Ａ、９Ｂはアナログ信号の得られる半導体装
置検出器でもデジタル信号の得られる００Ｄの如きもの
でも良い。
置検出器でもデジタル信号の得られる００Ｄの如きもの
でも良い。
第５図は、光源ＩＡ、ＩＢ、１０の配置を示し、光軸１
０を重心とする正三角形の各頂点に位置する。これによ
り、対称性より屈折力の算出が容易となる。
０を重心とする正三角形の各頂点に位置する。これによ
り、対称性より屈折力の算出が容易となる。
第６図は、検出素子９Ａ、９Ｂ上にアノシーチャー６の
スリット開口６Ａ、６Ｂの像が映った状態を示す。ここ
で被検レンズ３が無いときの像を６Ａ’ 、６Ｂ’の鎖
線で示し、被検レンズ３が入った後の像を６Ａ’、６Ｂ
“で示す。この像６Ａ’、６Ａ″の方向性を考慮した位
置ずれ、及び像６Ｂ’、６Ｂ″の方向性を考慮した位置
ずれを合成した偏位ベクトルが被検レンズ３を経た光ビ
ームの偏位情報を与えることとなる。測定に際して番ま
、光源ＩＡ、ＩＢ、１０を順次点灯し、各々の場合の位
置ずれを求め、計６箇のデータカ）ら被検レンズ３の球
面屈折度、乱視度、乱視角を求める。コノ場合、被検レ
ンズ３の中心を光軸１０に合致させて測定する。すなわ
ち、光源ＩＡを点灯したときの検出素子９Ｂ、９Ａ上で
の像の位置ずれを方向性を考慮して各々ハ、Ａｙ、同様
に光源ＩＢ、１０に対し各ｋ ＢＸ、 ８７％ Ｏｘ、
ｃｙとすると、 Ａｘ −１−Ｂｘ ＋ Ｏｘ ＝ Ｏ（１）Ａｙ ＋
Ｂｙ ＋ ＯｙゴＯ−（２）となるようにレンズをもっ
てくる。被検レンズ３が乱視を含んでいれば各径線方向
の屈折力を求めるのに少なくとも二径線方向の屈折力を
測定すれば、他の径線方向の屈折力は算出される。
スリット開口６Ａ、６Ｂの像が映った状態を示す。ここ
で被検レンズ３が無いときの像を６Ａ’ 、６Ｂ’の鎖
線で示し、被検レンズ３が入った後の像を６Ａ’、６Ｂ
“で示す。この像６Ａ’、６Ａ″の方向性を考慮した位
置ずれ、及び像６Ｂ’、６Ｂ″の方向性を考慮した位置
ずれを合成した偏位ベクトルが被検レンズ３を経た光ビ
ームの偏位情報を与えることとなる。測定に際して番ま
、光源ＩＡ、ＩＢ、１０を順次点灯し、各々の場合の位
置ずれを求め、計６箇のデータカ）ら被検レンズ３の球
面屈折度、乱視度、乱視角を求める。コノ場合、被検レ
ンズ３の中心を光軸１０に合致させて測定する。すなわ
ち、光源ＩＡを点灯したときの検出素子９Ｂ、９Ａ上で
の像の位置ずれを方向性を考慮して各々ハ、Ａｙ、同様
に光源ＩＢ、１０に対し各ｋ ＢＸ、 ８７％ Ｏｘ、
ｃｙとすると、 Ａｘ −１−Ｂｘ ＋ Ｏｘ ＝ Ｏ（１）Ａｙ ＋
Ｂｙ ＋ ＯｙゴＯ−（２）となるようにレンズをもっ
てくる。被検レンズ３が乱視を含んでいれば各径線方向
の屈折力を求めるのに少なくとも二径線方向の屈折力を
測定すれば、他の径線方向の屈折力は算出される。
すなわち、各径線方向の屈折力をＤとし、径線角をθと
すれば Ｄ＝ｃｃｓｉｎ２（θ十β） ＋ ｒ −（３）と表わ
される。ここでαは乱視度、βは乱視角、γは球面度数
である。いま光源ＩＡ、ＩＢを結ぶ方向の径線の屈折力
をＤＡＢ ’光源ＩＢ、１０を結ぶ方向の径線の屈折力
をＤＢＯ’光源１０．ＩＡを結ぶ方向の径線の屈折力を
り。Ａとすれば、次式が成り立つ。
すれば Ｄ＝ｃｃｓｉｎ２（θ十β） ＋ ｒ −（３）と表わ
される。ここでαは乱視度、βは乱視角、γは球面度数
である。いま光源ＩＡ、ＩＢを結ぶ方向の径線の屈折力
をＤＡＢ ’光源ＩＢ、１０を結ぶ方向の径線の屈折力
をＤＢＯ’光源１０．ＩＡを結ぶ方向の径線の屈折力を
り。Ａとすれば、次式が成り立つ。
ＤＡＢ ＝ ＡＡＢ 十ＢＢＡ □ （４）
ＤＢＯ＝ Ｂｎｏ ＋ＣＯＢ （５）ＤＯ
Ａ ＝ ＣＯＡ ＋ＡＡＯ（６） ここで、ＡＡＢは光源ＩＡを点灯したときの検出素子９
Ａ、９Ｂ上の像の位置ずれを合成した合成偏位ベクトル
Ａの光源ＩＡ、ＩＢを結ぶ方向の成分を表わす。またＢ
Ｔ３Ａは光源ＩＢを点灯したときの検出素子９Ａ、９Ｂ
上の像の位置ずれを合成した合成偏位ベクトルＢの光源
ＩＢ、ＩＡを結ぶ方向の成分を表わす。ＢＢＯ％ ＣＯ
Ｂ ”ＯＡ。
ＤＢＯ＝ Ｂｎｏ ＋ＣＯＢ （５）ＤＯ
Ａ ＝ ＣＯＡ ＋ＡＡＯ（６） ここで、ＡＡＢは光源ＩＡを点灯したときの検出素子９
Ａ、９Ｂ上の像の位置ずれを合成した合成偏位ベクトル
Ａの光源ＩＡ、ＩＢを結ぶ方向の成分を表わす。またＢ
Ｔ３Ａは光源ＩＢを点灯したときの検出素子９Ａ、９Ｂ
上の像の位置ずれを合成した合成偏位ベクトルＢの光源
ＩＢ、ＩＡを結ぶ方向の成分を表わす。ＢＢＯ％ ＣＯ
Ｂ ”ＯＡ。
ＡＡｏはこれに準する。次にプリズム作用が被検レンズ
３に含まれていた場合又はレンズを偏心させて用い故意
にプリズム効果を出す場合には（１）、（２１式の左辺
の値が、その位置でのプリズム度数を与える。なお光ビ
ームは３箇に限らず、それ以上であっても良く、例えば
４箇とし、そのうちの適当な３箇の値で計算し、それら
を比較し被検レンズの歪みをみることも可能である。
３に含まれていた場合又はレンズを偏心させて用い故意
にプリズム効果を出す場合には（１）、（２１式の左辺
の値が、その位置でのプリズム度数を与える。なお光ビ
ームは３箇に限らず、それ以上であっても良く、例えば
４箇とし、そのうちの適当な３箇の値で計算し、それら
を比較し被検レンズの歪みをみることも可能である。
また検出素子がＣＯＤ等であれば光源を順次点灯するこ
となく、同時に点灯しても各偏位ビームの検出が可能で
ある。ところで被検レンズに光ビームを照射する時、３
光束が互いに平行とし、検出素子９Ａ、９Ｂを受光レン
ズ８の焦点位置又はその共役位置に設けることにより被
検レンズの光軸上の位置に拘らず一定の偏角に対応した
一定の像の位置ずれが得られて都合が良い。
となく、同時に点灯しても各偏位ビームの検出が可能で
ある。ところで被検レンズに光ビームを照射する時、３
光束が互いに平行とし、検出素子９Ａ、９Ｂを受光レン
ズ８の焦点位置又はその共役位置に設けることにより被
検レンズの光軸上の位置に拘らず一定の偏角に対応した
一定の像の位置ずれが得られて都合が良い。
第７図は、本発明の第２実施例で、被検光学要素１１が
凹面鏡の場合を示す。この場合もアパーチャー６と検出
素子９Ａ、９Ｅは光分割部材１２を介して光学的に共役
となる。なおコリメータレンズ７は第２図に示した受光
レンズを兼ねる。
凹面鏡の場合を示す。この場合もアパーチャー６と検出
素子９Ａ、９Ｅは光分割部材１２を介して光学的に共役
となる。なおコリメータレンズ７は第２図に示した受光
レンズを兼ねる。
第８図は本発明の第３実施例で平面ミラー１３とコリメ
ータレンズ７の間に被検光学要素１４が置かれる。この
場合、光束が被検光学要素１４を２回透過するので偏角
は２倍になり検出精度が上がる。
ータレンズ７の間に被検光学要素１４が置かれる。この
場合、光束が被検光学要素１４を２回透過するので偏角
は２倍になり検出精度が上がる。
以上、本発明によれば、全く可動部が無く、また検出素
子からの電気出力を用い自動的な屈折度測定が可能とな
る。
子からの電気出力を用い自動的な屈折度測定が可能とな
る。
第１図は本発明の詳細な説明図、
第２図は本発明の第１実施例の図、
第３図、第４図は各々光軸方向から眺めた検出素子、ア
パーチャーの図、 第５図は光源の配置図、 第６図は検出素子上のアパーチャー開口像の説明図、 第７図、第８図は各々本発明の第２、第３実施例の図、 図中 ＩＡ、ＩＢ、１０は光源 ３は被検レンズ ５はリレーレンズ ６はアパーチャー ６Ａ、６Ｂはスリット開口 アはコリメータレンズ ８は受光レンズ ９Ａ、９Ｂは１次元光位置検出素子 １１．１４は被検光学要素 である。
パーチャーの図、 第５図は光源の配置図、 第６図は検出素子上のアパーチャー開口像の説明図、 第７図、第８図は各々本発明の第２、第３実施例の図、 図中 ＩＡ、ＩＢ、１０は光源 ３は被検レンズ ５はリレーレンズ ６はアパーチャー ６Ａ、６Ｂはスリット開口 アはコリメータレンズ ８は受光レンズ ９Ａ、９Ｂは１次元光位置検出素子 １１．１４は被検光学要素 である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、 少なくとも３本の光ビームを形成する手段と、縦
横のスリット開口を有するアパーチャーと、該アパーチ
ャーを通過し被検光学要素の異なる位置に照射され、該
被検光学要素を経て偏位した光ビームを受光する受光レ
ンズと、該受光レンズの焦点位置又はその共役位置に設
けられる前記スリット開口と平行に互いに直角に配置さ
れた２箇の一次元光位置検出素子を備え、該検出素子上
でのビーム位置ずれの度合より屈折度を測定することを
特徴とする屈折度測定装置。 ２、 前記光ビームを被検光学要素上に結像するリレー
レンズと、被検光学要素上に互いに平行な光ビームを照
射させるコリメータレンズを有する特許請求の範囲第１
項記載の屈折度測定装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6625483A JPS59190636A (ja) | 1983-04-13 | 1983-04-13 | 屈折度測定装置 |
| US06/503,234 US4609287A (en) | 1982-10-05 | 1983-06-10 | Method of and apparatus for measuring refractive characteristics |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP6625483A JPS59190636A (ja) | 1983-04-13 | 1983-04-13 | 屈折度測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59190636A true JPS59190636A (ja) | 1984-10-29 |
Family
ID=13310537
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP6625483A Pending JPS59190636A (ja) | 1982-10-05 | 1983-04-13 | 屈折度測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59190636A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02216428A (ja) * | 1988-03-05 | 1990-08-29 | Hoya Corp | 自動レンズメータ |
| EP1679499A3 (en) * | 2005-01-07 | 2009-11-18 | Nidek Co., Ltd. | Lens meter |
-
1983
- 1983-04-13 JP JP6625483A patent/JPS59190636A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02216428A (ja) * | 1988-03-05 | 1990-08-29 | Hoya Corp | 自動レンズメータ |
| EP1679499A3 (en) * | 2005-01-07 | 2009-11-18 | Nidek Co., Ltd. | Lens meter |
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