JPH095211A - 屈折力測定装置 - Google Patents

屈折力測定装置

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JPH095211A
JPH095211A JP18081395A JP18081395A JPH095211A JP H095211 A JPH095211 A JP H095211A JP 18081395 A JP18081395 A JP 18081395A JP 18081395 A JP18081395 A JP 18081395A JP H095211 A JPH095211 A JP H095211A
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JP
Japan
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optical
lens
light
position sensor
group
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JP18081395A
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Yoshi Kobayakawa
嘉 小早川
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 被検光学部材の屈折値を広い測定範囲で高精
度に測定する。 【構成】 光源からの光束は平行光となって被検レンズ
に入射し、被検レンズを透過屈折した光束はプリズム4
を通って光位置センサに受光される。プリズム4は中心
から放射方向に角度を有する8個の楔プリズム4a〜4
hから成り、楔プリズム4a〜4hには同一円周上に沿
って光透過域8a〜8hが形成されている。第1グルー
プの楔プリズム4a〜4gと第2の楔プリズム4b〜4
hのプリズム角度は、グループ毎に同じ大きさで、第2
グループの方が第1グループより大きくなっている。従
って、第1グループの光透過域8a〜8gと第2グルー
プの光透過域8b〜8hで光束が屈折される角度がな
り、両グループの光透過域を使用することにより、広い
範囲で被検レンズの屈折値を測定することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は、病院眼科や眼鏡店で眼
鏡レンズ等の屈折値を測定するために使用される屈折力
測定装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、眼鏡レンズの屈折値を測定す
るには、眼鏡レンズを透過させた光束をCCDやPSD
等の光位置センサで受光して屈折値を測定する屈折力測
定装置が使用されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
屈折力測定装置においては、広い測定範囲に渡って高精
度で眼鏡レンズの屈折値を測定することは難しく、特に
度の強い眼鏡レンズの屈折値の測定は困難であるという
問題点がある。
【0004】本発明の目的は、上述の問題点を解消し、
広い測定範囲において高精度で被検光学部材の屈折値を
測定する屈折力測定装置を提供することにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
の第1発明に係る屈折力測定装置は、屈折力を有する被
検光学部材の異なる位置を通りそれぞれに3経線を含む
複数の光束を該被検光学部材に投影する投影光学系と、
前記被検光学部材で屈折した前記複数の光束を光位置セ
ンサの異なる位置に受光する受光光学系と、該受光光学
系の信号により前記被検光学部材の屈折値を演算する演
算手段とを有することを特徴とする。
【0006】第2発明に係る屈折力測定装置は、屈折力
を有する被検光学部材に光束を投影する投影光学系と、
前記被検光学部材を透過した光束を切換手段で切換えた
2光路の何れかを介して同一の光位置センサに受光する
受光光学系と、該受光光学系の信号により前記被検光学
部材の屈折値を演算する演算手段とを有することを特徴
とする。
【0007】第3発明に係る屈折力測定装置は、屈折力
を有する被検光学部材に光束を投影する投影光学系と、
前記被検光学部材を透過した光束を凸レンズが自在に挿
脱する光路を介して光位置センサに受光する受光光学系
と、該受光光学系の信号により前記被検光学部材の屈折
値を演算する演算手段とを有することを特徴とする。
【0008】
【作用】上述の構成を有する第1発明の屈折力測定装置
は、3径線を含む複数の光束を被検光学部材の異なる位
置に投影し、被検光学部材で屈折したこれらの光束を光
位置センサの異なる位置で受光し、受光信号から被検レ
ンズの屈折値を演算する。
【0009】第2発明の屈折力測定装置は、被検光学部
材に光束を投影し、被検光学部材を透過した光束を切換
手段により2光路に切換え、何れかの光路を介して同一
の光位置センサに受光し、これらの受光信号から屈折力
を有する被検光学部材の屈折値を演算する。
【0010】第3発明の屈折力測定装置は、被検光学部
材に光束を投影し、被検光学部材を透過した光束を挿脱
自在な凸レンズを介して光位置センサに受光し、受光信
号から屈折力を有する被検光学部材の屈折値を演算す
る。
【0011】
【実施例】本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明
する。図1は第1の実施例の構成図を示し、LED等の
点状光源1から発する光束が進む光軸O1上には、レンズ
2、位置決め用の当接部材3に当接された被検レンズ
L、プリズム4、レンズ5、レンズ5の焦点に位置する
二次元CCD等の光位置センサ6が順次に配列されてお
り、光位置センサ6の出力は演算手段7に接続されてい
る。
【0012】図2は光軸O1方向から見たプリズム4の正
面図を示し、プリズム4は中心から放射方向に角度を有
する8個の楔プリズム4a〜4hから成り、それぞれの
楔プリズム4a〜4hには同一円周上に沿って光透過域
8a〜8hが形成されている。第1グループの楔プリズ
ム4a、4c、4e、4gと第2グループの楔プリズム
4b、4d、4f、4hのそれぞれのプリズム角度は同
じ大きさで、第2グループのプリズム角度の方が第1グ
ループのプリズム角度よりも大きくなっている。
【0013】光源1からの光束はレンズ2で平行光とさ
れ、被検レンズLで透過屈折されてプリズム4、レンズ
5を通り、光位置センサ6に受光される。
【0014】図3は光位置センサ6上の受光光束で、
(a) は被検レンズLがない場合、(b)は被検レンズLが
凹レンズの場合、(c) は被検レンズLが凸レンズの場合
を示している。第1グループの光束4a’、4c’、4
e’、4g’はそれぞれ光透過域8a、8c、8e、8
gを透過し、第2グループの光束4b’、4d’、4
f’、4h’はそれぞれ光透過域8b、8d、8f、8
hを透過する。
【0015】被検レンズLの屈折値によって、光束は光
軸O1から放射方向に移動し、被検レンズLが屈折力が大
きい凹レンズの場合は、(b) に示すように第2グループ
の光束4b’〜4h’は光位置センサ6の外に出てしま
うので、第1グループの光束4a’〜4g’を使用して
測定する。逆に、被検レンズLが屈折力が大きい凸レン
ズの場合は、(c) に示すように第1グループの光束4
a’〜4g’は中心付近に集まって分解できないので、
第2グループの光束4b’〜4h’が測定に使用され
る。
【0016】光位置センサ6の信号は演算手段7に入力
され、それぞれの光束位置が解析されて被検レンズLの
乱視を含む屈折値が計算される。被検レンズL上で一直
線にない3個所を通る光束位置を解析すれば、そのデー
タは各経線の情報を含んでいるので、乱視を含む屈折値
を求めることができる。なお、光位置センサ6としてC
CDではなくPSDを使用することもでき、また光透過
域8a〜8hそれぞれと共役な8個の光源を設けて、こ
れらを逐次に点灯するようにしてもよい。
【0017】図4は第2の実施例の構成図を示し、図1
と同じ機能の部材は同じ符号を付している。光軸O1の周
囲円周上には逐次に点灯する8個の小光源9a〜9hか
ら成る光源9が図5に示すように配置されている。光源
9はレンズ2により被検レンズLと共役位置に設けら
れ、光源9の前方の光軸O1上のレンズ2の前側焦点位置
には、図6に示すようなV字型開口10を有するマスク
板11が配置されている。更に、マスク板11の前方に
は、レンズ2、被検レンズL、プリズム12、レンズ5
が順次に配列され、レンズ5の焦点位置に一次元CCD
である光位置センサ13が配置されている。そして、光
位置センサ13の出力は演算手段7に接続されている。
【0018】図7はプリズム12の正面図を示し、プリ
ズム12は放射方向に角度を有する8個の楔プリズム1
2a〜12hから形成され、第1グループの楔プリズム
12a、12c、12e、12gと第2グループの楔プ
リズム12b、12d、12f、12hとは互いに逆方
向の角度を有する。
【0019】光源9の1個が点灯すると、その光束はマ
スク板11のV字型開口10、レンズ2、被検レンズ
L、プリズム12、レンズ5を通って、光位置センサ1
3に至り、図8に示すように光束10’と光位置センサ
13は2点で交差する。この2点の中心位置で横方向の
屈折値が分かり、2点の間隔で縦方向の屈折値が分か
る。
【0020】光源9を逐次に点灯して、第1グループの
小光源9a、9c、9e、9g及び第2グループの小光
源9b、9d、9f、9hと、光位置センサ13との交
点位置をそれぞれ演算手段により演算して、被検レンズ
Lの屈折値を求める。なお、第1グループの楔プリズム
12a〜12gと第2グループの楔プリズム12b〜1
2hとが逆方向の角度となっているので、楔プリズム1
2a〜12hを通過する光束の内の何れかの光束が光位
置センサ13に掛かり、屈折力が大きい被検レンズLで
も屈折値の測定が可能である。
【0021】図9は第3の実施例の構成図を示し、投影
光学系は図1と同じなので省略してあり、同じ符号は同
じ部材を表している。被検レンズLとレンズ5の間に
は、図10に示すようなプリズム14が設けられてお
り、プリズム14は8個の楔プリズム14a〜14hか
ら成り、第1グループの楔プリズム14a、14c、1
4e、14gは、第2グループの楔プリズム14b、1
4d、14f、14hより中心に近い円周上に沿って光
透過域を有し、第1グループの楔プリズム14a〜14
gの方が楔角度が大きい。
【0022】図11は各光透過域を通った光束14a’
〜14h’の光位置センサ6上の位置を示し、被検レン
ズLがない場合の各光束14a’〜14h’は光軸O1周
囲の同じ円周上に入射する。光軸O1からより離れた円周
上にある第2グループの楔プリズム14b〜14hの光
透過域からの光束の方が動きが大きいので、屈折力が大
きい被検レンズLの場合には第2グループの光束14
b’〜14h’は光位置センサ6の外に出たり又は中心
付近に重なったりするが、このとき第1グループの光束
14a’〜14g’は光位置センサ6上に分離されて残
るので、これらの位置を演算手段7により解析して屈折
値を求めることができる。
【0023】なお、屈折力が大きい被検レンズLの測定
に限らず、コンタクトレンズの測定にも応用することが
でき、コンタクトレンズは大きな光束径で測定すると収
差の影響を受けるので、コンタクトレンズの測定の場合
には小さな光束径の第1グループの光束14a’〜14
g’で測定するように構成することが好適である。
【0024】図12は第4の実施例の構成図を示し、図
4と同じ符号は同じ部材を表している。光軸O1の周囲に
配置された複数の小光源15a〜15hから成る光源1
5の前方の光軸O1上には、レンズ16、光軸O1方向に可
動な図13に示すようなN字形の開口17を有するマス
ク板18、レンズ19、被検レンズL、レンズ20、リ
ニアCCDの光位置センサ13が順次に配列され、光位
置センサ13の出力は演算手段7に接続されている。
【0025】図14は光軸O1方向から見た光源15の正
面図を示し、第1グループの小光源15a、15c、1
5e、15gは光軸O1に近い小さい円周上に沿って配置
され、第2グループの小光源15b、15d、15f、
15hは大きい円周上に沿って配置されている。
【0026】光源15からの光束はレンズ16で平行光
となり、レンズ19により被検レンズLに集光する。被
検レンズLを透過した光束がレンズ20の焦点位置にあ
る光位置センサ13に結像するように、被検レンズLの
屈折値に応じてマスク板18が移動され、その位置で小
光源15a〜15hのそれぞれを逐次に点灯する。
【0027】図15は光源15の1個が点灯したときの
光位置センサ13に掛かる光束17’を示し、縦線の位
置で横方向の屈折値が分かり、斜線両側の間隔の違いで
縦方向の屈折値が分かる。小光源15a〜15hのそれ
ぞれを逐次に点灯し、それらと光位置センサ13との交
点位置を演算手段7で解析して、被検レンズLの屈折値
を求める。被検レンズLの度が強い場合は、第2グルー
プの小光源15b〜15hからの光束は、光位置センサ
13と交差しない場合があるが、第1グループの小光源
15a〜15gからの光束は動きが小さいので、光位置
センサ13に掛かり測定することができる。
【0028】図16は第5の実施例の構成図を示し、ハ
ーフミラー21に入射する略直交する2つの光軸O1、O2
上には、小光源22a、22b、レンズ23a、23
b、図17、18に示すようなリング開口24a、24
bを有するマスク板25a、25bがそれぞれ順次に配
列されている。光軸O1の延長上のハーフミラー21の透
過方向には、小開口絞り26、レンズ27、被検レンズ
L、図19に示すような二重リング開口28a、28b
を有する開口板29、図20の正面図及び図21の断面
図に示すような、それぞれ角度の異なる逆円錐形の周辺
部30aと中心部30bから成るプリズム31、レンズ
32、レンズ32の焦点位置にあるエリアアレイセンサ
から成る光位置センサ6が順次に配列されており、光位
置センサ6の出力は演算手段7に接続されている。
【0029】小光源22a、22bからの光束は、それ
ぞれレンズ23a、23b、マスク板25a、25bを
介してハーフミラー21に至る。小光源22aの光束は
ハーフミラー21を透過し、小光源22bの光束はハー
フミラー21を反射して、それぞれ小開口絞り26に結
像する。小開口絞り26からの光束はレンズ27で平行
光となって被検レンズLに至り、被検レンズLからの透
過光は開口板29、プリズム31、レンズ32を通り、
光位置センサ6に図22に示すようなリング光束像28
a’、28b’を結像する。そして、演算手段7により
これらの光束像28a’、28b’の位置が認識され、
楕円に近似された屈折値が求められる。
【0030】開口28aを通った光束はプリズム31の
周辺部30aで屈折され、開口28bを通った光束はプ
リズム31の中心部30bで屈折されて、被検レンズL
がない場合は光位置センサ6の同じ円周上に入射する。
屈折力が大きい被検レンズLの場合には、小光源22a
による光束28a’は光位置センサ6からはみ出るか又
は中心付近に集まることになるが、小光源22bによる
光束28b’は光位置センサ6上に解析可能に受光され
るので、屈折値の測定が可能である。小光源22a、2
2bは逐次に点灯し、初めに小光源22aを使用して測
定ができない場合には、小光源22bを使用して測定す
るようにする。
【0031】図23は第6の実施例の構成図を示し、図
1と同じ符号は同じ部材を表している。光源1の前方の
光軸O1上には、レンズ2、当接部材3に当接された被検
レンズL、図24に示すようなリング開口33を有する
マスク板34、軸35aを中心にしてソレノイドによっ
て回動する切換えミラー35が順次に配列され、切換え
ミラー35の反射方向の光路O3上には光位置センサ6が
配置されている。また、切換えミラー35が光軸O1上か
ら回動されて光軸O2上に切換えられた場合の光軸O1上に
ミラー36が配置され、ミラー36の反射方向にミラー
37が配置され、ミラー37の反射方向に切換えミラー
35が存在し、光路O3よりも長い光路長の光路O4が形成
されている。そして、切換えミラー35の反射光路O3に
は光位置センサ6が配置され、光位置センサ6の出力は
演算手段7に接続されている。
【0032】光源1からの光束は、レンズ2、被検レン
ズL、マスク板34の開口33を通り、切換えミラー3
5に反射されて光位置センサ6に受光される。また、マ
スク板34を光軸O2上に回動した場合は、マスク板34
を通った光束はミラー36、37で反射され、更に切換
えミラー35で反射され、長い光路O4を通って光位置セ
ンサ6に受光される。この受光光束像33’は被検レン
ズLの屈折値によってその大きさが変化し、乱視レンズ
の場合は図25に示すように楕円形となる。この形状を
演算手段7により演算して、被検レンズLの屈折値を求
める。
【0033】屈折値による光束像33’の変化は受光光
学系の光路長に比例するが、切換えミラー35が光軸O1
上にあるときの光路O3より光軸O2上にあるときの光路O4
の方が長くなるので、屈折力が大きい被検レンズLを透
過した光束を光路O3で受光したときに、その光束像3
3’が光位置センサ6からはみ出てしまうことがあって
も、切換えミラー35を鎖線位置に切換えて光路O4を通
って受光するようにすれば、光束像33’を光位置セン
サ6内に入れて測定することができる。
【0034】図26は第7の実施例の構成図で、図23
と同じ符号は同じ部材を示し、マスク板34と光位置セ
ンサ6の間の光軸O1に挿脱自在な凸レンズ38が設けら
れている。屈折力が大きい被検レンズLの場合は、凸レ
ンズ38が光軸O1に挿入されていないと、マスク板34
からの光束は実線Mのように光位置センサ6からはみ出
してしまうが、凸レンズ38を光軸O1に挿入すると、光
束は鎖線Nのように屈折されて光位置センサ6に入射し
測定することが可能となる。
【0035】なお、被検プリズムについても、被検レン
ズと同様に測定をすることができる。
【0036】
【発明の効果】以上説明したように第1発明に係る屈折
力測定装置は、被検光学部材の異なる位置を通る複数の
光束を光位置センサの異なる位置に受光して演算を行う
ことにより、屈折力が大きい被検光学部材でも高精度で
屈折値を測定することができ、測定範囲が広い簡素な装
置を形成することができる。
【0037】第2発明に係る屈折力測定装置は、被検光
学部材を透過した光束を切換手段で2光路に分離し、何
れかの光路を介して同一の光位置センサに受光して演算
を行うことにより、屈折力が大きい被検光学部材でも高
精度で屈折値を測定することができ、測定範囲が広い簡
素な装置を形成することができる。
【0038】第3発明に係る屈折力測定装置は、被検光
学部材を透過した光束を光路に挿脱可能な凸レンズを介
して光位置センサに受光して演算を行うことにより、屈
折力が大きい被検光学部材でも高精度で屈折値を測定す
ることができ、測定範囲が広い簡素な装置を形成するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施例の構成図である。
【図2】プリズムの正面図である。
【図3】光位置センサ上の光束像の説明図である。
【図4】第2の実施例の構成図である。
【図5】小光源の正面図である。
【図6】V字型開口のマスク板の正面図である。
【図7】プリズムの正面図である。
【図8】光束像と光位置センサの説明図である。
【図9】第3の実施例の構成図である。
【図10】プリズムの正面図である。
【図11】光位置センサ上の光束像の説明図である。
【図12】第4の実施例の構成図である。
【図13】N字型開口のマスク板の正面図である。
【図14】小光源の正面図である。
【図15】光束像と光位置センサの説明図である。
【図16】第5の実施例の構成図である。
【図17】リング開口のマスク板の正面図である。
【図18】円開口のマスク板の正面図である。
【図19】二重リング開口のマスク板の正面図である。
【図20】プリズムの正面図である。
【図21】断面図である。
【図22】光位置センサ上のリング光束像の説明図であ
る。
【図23】第6の実施例の構成図である。
【図24】リング開口のマスク板の正面図である。
【図25】光位置センサ上の光束像の説明図である。
【図26】第7の実施例の構成図である。
【符号の説明】
1、9、15、22a、22b 光源 4、12、14、31 プリズム 6、13 光位置センサ 7 演算手段 11、18、25a、25b、29、34 マスク板 21 ハーフミラー 26 小開口絞り 35 切換えミラー 38 凸レンズ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 屈折力を有する被検光学部材の異なる位
    置を通りそれぞれに3経線を含む複数の光束を該被検光
    学部材に投影する投影光学系と、前記被検光学部材で屈
    折した前記複数の光束を光位置センサの異なる位置に受
    光する受光光学系と、該受光光学系の信号により前記被
    検光学部材の屈折値を演算する演算手段とを有すること
    を特徴とする屈折力測定装置。
  2. 【請求項2】 屈折力を有する被検光学部材に光束を投
    影する投影光学系と、前記被検光学部材を透過した光束
    を切換手段で切換えた2光路の何れかを介して同一の光
    位置センサに受光する受光光学系と、該受光光学系の信
    号により前記被検光学部材の屈折値を演算する演算手段
    とを有することを特徴とする屈折力測定装置。
  3. 【請求項3】 屈折力を有する被検光学部材に光束を投
    影する投影光学系と、前記被検光学部材を透過した光束
    を凸レンズが自在に挿脱する光路を介して光位置センサ
    に受光する受光光学系と、該受光光学系の信号により前
    記被検光学部材の屈折値を演算する演算手段とを有する
    ことを特徴とする屈折力測定装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN109580178A (zh) * 2018-11-22 2019-04-05 四川网动光电子技术有限公司 光模块的光连接器元件的玻片检测记录系统

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CN109580178A (zh) * 2018-11-22 2019-04-05 四川网动光电子技术有限公司 光模块的光连接器元件的玻片检测记录系统
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