JPS59153373A - 光センサ装置 - Google Patents
光センサ装置Info
- Publication number
- JPS59153373A JPS59153373A JP58026270A JP2627083A JPS59153373A JP S59153373 A JPS59153373 A JP S59153373A JP 58026270 A JP58026270 A JP 58026270A JP 2627083 A JP2627083 A JP 2627083A JP S59153373 A JPS59153373 A JP S59153373A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sensor
- elements
- signal
- block
- circuits
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H04—ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
- H04N—PICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
- H04N1/00—Scanning, transmission or reproduction of documents or the like, e.g. facsimile transmission; Details thereof
- H04N1/04—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa
- H04N1/19—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays
- H04N1/191—Scanning arrangements, i.e. arrangements for the displacement of active reading or reproducing elements relative to the original or reproducing medium, or vice versa using multi-element arrays the array comprising a one-dimensional array, or a combination of one-dimensional arrays, or a substantially one-dimensional array, e.g. an array of staggered elements
- H04N1/192—Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line
- H04N1/193—Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line using electrically scanned linear arrays, e.g. linear CCD arrays
- H04N1/1931—Simultaneously or substantially simultaneously scanning picture elements on one main scanning line using electrically scanned linear arrays, e.g. linear CCD arrays with scanning elements electrically interconnected in groups
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Multimedia (AREA)
- Signal Processing (AREA)
- Facsimile Heads (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
技術分野
本発明は光センサ装置に関し、特に多数の光反応型セン
サ素子からなるセンサを多数の発光素子からなる光源の
発光により照射し、前記センサ素子のブロック毎に順次
電圧を印加し、印加されたセンサ素子の信号を読み出す
光センサ装置に関する。
サ素子からなるセンサを多数の発光素子からなる光源の
発光により照射し、前記センサ素子のブロック毎に順次
電圧を印加し、印加されたセンサ素子の信号を読み出す
光センサ装置に関する。
従来技術
この種の光センサ装置はファク7ミリ装置や複写機等の
画像読み取り部等に広く用いられている。
画像読み取り部等に広く用いられている。
その従来構成では、読み出し時にセンサの先頭のブロッ
クのセンサ素子の読み出しの開始から最後尾のブロック
の読み出しの終了までの間を継続して、センサ上の全セ
ンサ素子が光源の発光により照射されている。すなわち
、個々のセンサ素子が信号を形成するのに必要な時間よ
り以外に長い時間照射が行なわれている。
クのセンサ素子の読み出しの開始から最後尾のブロック
の読み出しの終了までの間を継続して、センサ上の全セ
ンサ素子が光源の発光により照射されている。すなわち
、個々のセンサ素子が信号を形成するのに必要な時間よ
り以外に長い時間照射が行なわれている。
一方、この種の光センサ装置において、センサ素子とし
てアモルファス系素材から形成されたセンサ素子を用い
たものが提案されている。これはこの素子が光を照射さ
れている間に照射光の強弱に応じて電気抵抗が変化する
性質を持っていることを利用したものであり、この素子
に光を照射している間に電圧を印加すれば照射光の強弱
に応じた信号を取り出すことができる。
てアモルファス系素材から形成されたセンサ素子を用い
たものが提案されている。これはこの素子が光を照射さ
れている間に照射光の強弱に応じて電気抵抗が変化する
性質を持っていることを利用したものであり、この素子
に光を照射している間に電圧を印加すれば照射光の強弱
に応じた信号を取り出すことができる。
ところでこのアモルファス系素材のセンサ素子には光を
照射した時間に比例して感度特性が劣化するという性質
がある。例えば光照射0時間の時の感度を1.00%と
すると、100Luxの光を約80時間(4800分)
照射すると感度は5チ劣化し95係になる。この場合、
5係以上感度が劣化すると、センサとして有効な機能が
果たせなくなる。
照射した時間に比例して感度特性が劣化するという性質
がある。例えば光照射0時間の時の感度を1.00%と
すると、100Luxの光を約80時間(4800分)
照射すると感度は5チ劣化し95係になる。この場合、
5係以上感度が劣化すると、センサとして有効な機能が
果たせなくなる。
このようなアモルファス系素材のセンサ素子を用いた場
合、従来構成では先述したように、個々のセンサ素子が
信号を形成するのに必要な時間より以外に長い時間照射
が行なわれるので、その無、駄な照射時間の分だけよけ
いにセンサ素子の感度特性の劣化が進んでしまう。この
結果、センサが正常に機能は果たせる耐用期間は極めて
短くなってし捷う。
合、従来構成では先述したように、個々のセンサ素子が
信号を形成するのに必要な時間より以外に長い時間照射
が行なわれるので、その無、駄な照射時間の分だけよけ
いにセンサ素子の感度特性の劣化が進んでしまう。この
結果、センサが正常に機能は果たせる耐用期間は極めて
短くなってし捷う。
たとえはファクンミ1,1装置の画像読み取り部の光セ
ンサ装置の場合、A4サイズの原稿1枚当りの通信時間
が1分間であるとし、−日の通信枚数が20枚、−年間
の装置の稼動日数を250日とすると、−年間の通信時
間は5000分(約84時間)となる。通信時間すなわ
ち画像読み取り時間の間センサ」−のすべてのセンサ素
子が継続して光を照射されるので、照射時間は5000
分となり、先述した80時間(4800分)を越えセン
サ素子の感度劣化は5係以上となる。
ンサ装置の場合、A4サイズの原稿1枚当りの通信時間
が1分間であるとし、−日の通信枚数が20枚、−年間
の装置の稼動日数を250日とすると、−年間の通信時
間は5000分(約84時間)となる。通信時間すなわ
ち画像読み取り時間の間センサ」−のすべてのセンサ素
子が継続して光を照射されるので、照射時間は5000
分となり、先述した80時間(4800分)を越えセン
サ素子の感度劣化は5係以上となる。
すなわち上記の稼動条件によると従来構成の光センサ装
置では、わずか−年間の使用の後にセンサ機能に支障を
きたしてしまい、センサの交換を行なわなければならず
、その費用が高くついてI〜まう。
置では、わずか−年間の使用の後にセンサ機能に支障を
きたしてしまい、センサの交換を行なわなければならず
、その費用が高くついてI〜まう。
目 的
本発明は以上のような従来の欠点に鑑みてなされたもの
で、本発明の目的は冒頭に述べた種類の光センサ装置に
おいて、センサ素子として光の照射により経時的に感度
特性が劣化する素材からなるセンサ素子を用いた場合に
、感度特性の劣化を最小限に防止することが可能で、セ
ンサのU周年数が長く経済的な光センサ装置を提供する
ことにある。
で、本発明の目的は冒頭に述べた種類の光センサ装置に
おいて、センサ素子として光の照射により経時的に感度
特性が劣化する素材からなるセンサ素子を用いた場合に
、感度特性の劣化を最小限に防止することが可能で、セ
ンサのU周年数が長く経済的な光センサ装置を提供する
ことにある。
実施例
以下図面に示された実施例に基づいて、本発明の詳細な
説明する。ここではファン/ミリ装置の番 画像読み取り部の密着型ライセンサによる光センサ装置
に本発明を適用した例を実施例とする。
説明する。ここではファン/ミリ装置の番 画像読み取り部の密着型ライセンサによる光センサ装置
に本発明を適用した例を実施例とする。
第1図は本実施例の画像読取部の概略構成を示すもので
ある。
ある。
符号1で示すものは原稿であり、この原稿1の画像読み
敗り位置上には、原稿を照明する光源である2個のLE
Dアレイ2,2が配置されている。
敗り位置上には、原稿を照明する光源である2個のLE
Dアレイ2,2が配置されている。
L r>1)アレイ2,2から原稿1に照射された光の
反射光は、LEI)アレイ2,2間に配置された集束型
光導伝体(セルフォック)3に導かれて、光電変換器で
あるラインセンサ4を照射する。この反射光の強弱がラ
インセンサ4により電気信号に変換されて出力されるこ
とにより画像の読み取りが行なわれる。
反射光は、LEI)アレイ2,2間に配置された集束型
光導伝体(セルフォック)3に導かれて、光電変換器で
あるラインセンサ4を照射する。この反射光の強弱がラ
インセンサ4により電気信号に変換されて出力されるこ
とにより画像の読み取りが行なわれる。
第2図はラインセンサ4とL EI)アレイ2の構成お
よび両者の素子の位置の対応関係を示すものである。
よび両者の素子の位置の対応関係を示すものである。
ラインセンサ4は先述したアモルファス系素材からなる
多数(m個)のセンサ素子81〜Smが一列に配置され
て構成されている。これらのセンサ素子81〜S[nは
連続した5個ずつで1個のブロックを構成している。
多数(m個)のセンサ素子81〜Smが一列に配置され
て構成されている。これらのセンサ素子81〜S[nは
連続した5個ずつで1個のブロックを構成している。
またLEDアレイ2に多数(n個)のT、EDからなる
発光素子D1〜Dへ、−列に配置されて構成されている
。これらの発光素子1) 1〜1)3iは隣り合う2個
ずつがペアとなっており、この発光素子のペアの発光の
位置がラインセンサ4のセンサ素子s1〜Smの各ブロ
ックの受光の位置と対応している。
発光素子D1〜Dへ、−列に配置されて構成されている
。これらの発光素子1) 1〜1)3iは隣り合う2個
ずつがペアとなっており、この発光素子のペアの発光の
位置がラインセンサ4のセンサ素子s1〜Smの各ブロ
ックの受光の位置と対応している。
すなわち第1のペアの発光素子D 1 、 D 2の発
光による原稿からの反射光は第1のブロックのセンサ素
子S1〜S5に受光される。以下配置順に各ブロックと
各ペアが対応している。
光による原稿からの反射光は第1のブロックのセンサ素
子S1〜S5に受光される。以下配置順に各ブロックと
各ペアが対応している。
なお、ラインセンサ4のセンサ素子S1〜Smは次に述
べる信号読み出し回路に接続されており、LEDアレイ
2の発光素子D1〜l)nは後述するブロック選択回路
に接続されている。
べる信号読み出し回路に接続されており、LEDアレイ
2の発光素子D1〜l)nは後述するブロック選択回路
に接続されている。
次に第3図に本実施例の信号読み出し回路の構成を示し
説明する。但し以下説明を簡略化する/ζめに、ライン
センサ4は15個のセンサ素子S1〜815から構成さ
れ、LEDアレイ2は6個の発光素子から構成されてい
るものとする。
説明する。但し以下説明を簡略化する/ζめに、ライン
センサ4は15個のセンサ素子S1〜815から構成さ
れ、LEDアレイ2は6個の発光素子から構成されてい
るものとする。
図において符号toで示すものは電源V十に接続された
電源線であり、電源線toには符号5W1Th SW3
で示される3個のブロック選択スイッチが並列に接続さ
れている。このブロック選択スイッチSWI〜SW3は
ブロック選択回路から制御線Ct1〜C13を介して送
られるブロック選択信号SWI −ON −SW3−
ONによりオンされる。ブロック選択回路については後
に詳しく説明する。
電源線であり、電源線toには符号5W1Th SW3
で示される3個のブロック選択スイッチが並列に接続さ
れている。このブロック選択スイッチSWI〜SW3は
ブロック選択回路から制御線Ct1〜C13を介して送
られるブロック選択信号SWI −ON −SW3−
ONによりオンされる。ブロック選択回路については後
に詳しく説明する。
ブロック選択スイッチ5W1−8W3のそれぞれの後段
には先述のラインセンザ4のセンサ素子S1〜S15が
5個ずつのブロックとなって接続されている。
には先述のラインセンザ4のセンサ素子S1〜S15が
5個ずつのブロックとなって接続されている。
センサ素子S1〜815はブロック内の順序に対応して
それぞれの信号線St1〜5t15が読み出し線r41
〜r45に接続されている。信号線St1〜5t15と
読み出し線rlA〜r55とでマトリクス回路が構成さ
れている。
それぞれの信号線St1〜5t15が読み出し線r41
〜r45に接続されている。信号線St1〜5t15と
読み出し線rlA〜r55とでマトリクス回路が構成さ
れている。
読み出し線rt1〜rt5のそれぞれの後段にはそれぞ
れOPアンプOPI〜OP5と抵抗R1〜R5からなる
増幅回路5−1〜5−5が接続されている。
れOPアンプOPI〜OP5と抵抗R1〜R5からなる
増幅回路5−1〜5−5が接続されている。
この増幅回路5−1〜5−5は読み出し時に読み出し線
r11〜rt5を介して印加されるセンサ素子S1〜8
15の信号を増幅して後段に出力する回路である。
r11〜rt5を介して印加されるセンサ素子S1〜8
15の信号を増幅して後段に出力する回路である。
増幅回路5−1〜5−5のそれぞれの後段にはサンプル
ホールド回路6−1〜6−5が接続されている。サンプ
ルホールド回路・6−1〜6−5はそれぞれ同時に作動
する共通スイッチSW9〜5W13とコンデンサ01〜
C5とから構成されており、それぞれ増幅回路5−1〜
5−5の出力信号を一時的に保持する回路である。この
サンプルホールド回路6−1〜6−5のそれぞれのスイ
ッチSW9〜SWI 3は制御線を介して印加されるサ
ンプルホールド信号S T−1によりオンされる。
ホールド回路6−1〜6−5が接続されている。サンプ
ルホールド回路・6−1〜6−5はそれぞれ同時に作動
する共通スイッチSW9〜5W13とコンデンサ01〜
C5とから構成されており、それぞれ増幅回路5−1〜
5−5の出力信号を一時的に保持する回路である。この
サンプルホールド回路6−1〜6−5のそれぞれのスイ
ッチSW9〜SWI 3は制御線を介して印加されるサ
ンプルホールド信号S T−1によりオンされる。
サンプルホールド回路6−1〜6−5のそれぞれの後段
には読み出し線選択スイッチSW4〜4W8が接続され
ている。読み出し線選択スイッチSW4〜′9W8ばそ
れぞれに制御線を介して印加される読み出し線選択信号
SW4− ON −SW8− ONによりオンされる。
には読み出し線選択スイッチSW4〜4W8が接続され
ている。読み出し線選択スイッチSW4〜′9W8ばそ
れぞれに制御線を介して印加される読み出し線選択信号
SW4− ON −SW8− ONによりオンされる。
これらの読み出し線選択スイッチSW4〜SW8は後段
の出力端子ouTに接続されている。
の出力端子ouTに接続されている。
次に先述のブロック選択回路の構成を第4図に示し説明
する。
する。
図において符号7−1〜7−3で示すものはフリップフ
ロップ回路で、図中それぞれの上側の七ツト入力がrO
Jで出力が「1」となり、図中それぞれの下側のリセッ
ト入力が「O」で出力が「0」となる。これらのぞれそ
れの「月の出力はブロック選択信号SWI −0N−8
W3−ONとなって先述の読み出し回路の制御線C/=
1〜Ct3を介してブロック選択スイッチSW1〜SW
3 r導かれる。
ロップ回路で、図中それぞれの上側の七ツト入力がrO
Jで出力が「1」となり、図中それぞれの下側のリセッ
ト入力が「O」で出力が「0」となる。これらのぞれそ
れの「月の出力はブロック選択信号SWI −0N−8
W3−ONとなって先述の読み出し回路の制御線C/=
1〜Ct3を介してブロック選択スイッチSW1〜SW
3 r導かれる。
壕だフリップフロップ回路7−1〜7−3のそれぞれの
出力はバッファ回路B1〜B3を介してLEI)アレイ
2の発光素子D1〜D6のそれぞれのベアに接続されて
いる。このバッファ回路B1〜B3はノリツブフロップ
回路7−1〜7−3から[1−1の信号を入力されて「
1」の信号を出力する回路である。発光素子D1〜D6
のそれぞれのペアは、バッファ回路B 1〜B3の出力
が「1」になることにより抵抗R6〜R7を介して電源
■1から電流を印加されて発光する。
出力はバッファ回路B1〜B3を介してLEI)アレイ
2の発光素子D1〜D6のそれぞれのベアに接続されて
いる。このバッファ回路B1〜B3はノリツブフロップ
回路7−1〜7−3から[1−1の信号を入力されて「
1」の信号を出力する回路である。発光素子D1〜D6
のそれぞれのペアは、バッファ回路B 1〜B3の出力
が「1」になることにより抵抗R6〜R7を介して電源
■1から電流を印加されて発光する。
一方フリップフロップ回路7−1〜7−3はそれぞれの
セット入力が、微分回路8−1〜8−3に接続されてい
る。この微分回路8−1〜8−3のそれぞれは電源V+
とナンドゲ−1−N 11〜N3のそれぞれの出力に接
続されている。ナントゲートN1〜N3の出力が「1」
から10」に変化する時の微分回路8−1〜8−3の出
力によってそれぞれの7リツプフロツプ回路7−1〜7
−3が七ノドされる。
セット入力が、微分回路8−1〜8−3に接続されてい
る。この微分回路8−1〜8−3のそれぞれは電源V+
とナンドゲ−1−N 11〜N3のそれぞれの出力に接
続されている。ナントゲートN1〜N3の出力が「1」
から10」に変化する時の微分回路8−1〜8−3の出
力によってそれぞれの7リツプフロツプ回路7−1〜7
−3が七ノドされる。
但し、微分回路8−1はインバータ110を介して不図
示の制御回路から送られるセット信号81’:Tによっ
ても作動される。
示の制御回路から送られるセット信号81’:Tによっ
ても作動される。
ナンドゲー+−N 1〜N3のそれぞれの一方の入力は
不図示の制御回路からイン・(−タ■1〜■3を介して
送られるザンプルホールド信号S T−1の〕くルスの
立ち下がりにより「0」から「1−4に変化する。
不図示の制御回路からイン・(−タ■1〜■3を介して
送られるザンプルホールド信号S T−1の〕くルスの
立ち下がりにより「0」から「1−4に変化する。
寸だナントゲートN1〜N3のそれぞれの他方の入力は
ナンドゲ−1・のN1がフリツプンロソフ。
ナンドゲ−1・のN1がフリツプンロソフ。
回路の7−3の出力に、N2が7−1の出力に、N3が
7−2の出力に接続されている。
7−2の出力に接続されている。
すなわちフリップフロップ回路7−1の出力が「月の時
のサンプルホールド信号の立ぢ下がシによりす/ドゲー
トN2の出力が「1」から10」になり゛、微分回路8
−2が作動して、フリップフロップ回路7−2がセット
される。同様にフリップフロップ回路7−2の出力が1
1」の時のサンプルホールド信号S I−(の立ち下が
りにより、フリップフロップ回路7−3がセットされる
。さらにクリップフロノゾ回路了−3の出力が「月の時
のサンプルホールド信号S Hの立ち下がりでフリップ
フロップ回路7−1がセットされる。
のサンプルホールド信号の立ぢ下がシによりす/ドゲー
トN2の出力が「1」から10」になり゛、微分回路8
−2が作動して、フリップフロップ回路7−2がセット
される。同様にフリップフロップ回路7−2の出力が1
1」の時のサンプルホールド信号S I−(の立ち下が
りにより、フリップフロップ回路7−3がセットされる
。さらにクリップフロノゾ回路了−3の出力が「月の時
のサンプルホールド信号S Hの立ち下がりでフリップ
フロップ回路7−1がセットされる。
一方フリップフロップ回路7−1〜7−3はそれぞれの
り七ツト入力がナントゲートN4〜N6の出力に接続さ
れており、この出力が「0」となることによりリセット
される。但し、フリップフロップ回路7−1.742は
それぞれの他のりセラ]・入力に接続された初期リセッ
ト回路9の出力に1−−−−)ブd・リセットされる。
り七ツト入力がナントゲートN4〜N6の出力に接続さ
れており、この出力が「0」となることによりリセット
される。但し、フリップフロップ回路7−1.742は
それぞれの他のりセラ]・入力に接続された初期リセッ
ト回路9の出力に1−−−−)ブd・リセットされる。
ナントゲートN4〜N6のそれぞれの一方の入力は、ナ
ンドグ−1・のN4がフリップフロップ回路の7−2の
出力に、N5が7−3の出力に、N6が7−1の出力に
接続されておりそれらの出力が「1」の時「1」になる
。寸だナンドグ−1−NL、N5のそれぞれの他方の入
力は1.ナントゲートN4がインバータ丁4を介してナ
ンドグ−1−N ’2に、ナントゲートN5がインバー
タ■5を介してナンドグー1− N 3に接続されてい
る。ナントゲートの処方の入力は、サンプルホールド信
号を供給する制御回路にインバータ■6を介して接続さ
れている。
ンドグ−1・のN4がフリップフロップ回路の7−2の
出力に、N5が7−3の出力に、N6が7−1の出力に
接続されておりそれらの出力が「1」の時「1」になる
。寸だナンドグ−1−NL、N5のそれぞれの他方の入
力は1.ナントゲートN4がインバータ丁4を介してナ
ンドグ−1−N ’2に、ナントゲートN5がインバー
タ■5を介してナンドグー1− N 3に接続されてい
る。ナントゲートの処方の入力は、サンプルホールド信
号を供給する制御回路にインバータ■6を介して接続さ
れている。
先述したフリップフロップ回路7−2がセットされてそ
の出力が「1」となる時、ナンドグ−1・N2の出力は
「0」であるため、ナンドグ−1・N4は入力がIll
、 rl−1となって、出力が[(月となる。これ
によりフリップフロップ回路7−1かりセットされる。
の出力が「1」となる時、ナンドグ−1・N2の出力は
「0」であるため、ナンドグ−1・N4は入力がIll
、 rl−1となって、出力が[(月となる。これ
によりフリップフロップ回路7−1かりセットされる。
同様にしてフリップフロップ回路7−3がセットされる
と同時にフリップフロップ回路7−2がリセットされ、
フリップフロップl」路1−1がセットされると同時に
フリップフロップ回路7−3がり七〕]・される。
と同時にフリップフロップ回路7−2がリセットされ、
フリップフロップl」路1−1がセットされると同時に
フリップフロップ回路7−3がり七〕]・される。
次に以上の構成からなる本実施例の動作を第5図を参照
して説明する。第5図は本実施例の動作時における各信
号のタイミングチャート図である。
して説明する。第5図は本実施例の動作時における各信
号のタイミングチャート図である。
動作の開始にあたって電源がONとなるとブロック選択
回路において初期リセット回路9が作動し、その時に出
力が不定であるフリップフロップ回路7−1.7−2を
リセットする。続いてインバータロ0にセット信号SE
Tのパルスが印加されることにより、微分回路8−1が
作動してフリップフロップ回路7−1をセットする。こ
の時フリップフロップ回路7−1のセットにより、出力
が不定だったフリップフロップ回路7−3かりセットさ
れる。
回路において初期リセット回路9が作動し、その時に出
力が不定であるフリップフロップ回路7−1.7−2を
リセットする。続いてインバータロ0にセット信号SE
Tのパルスが印加されることにより、微分回路8−1が
作動してフリップフロップ回路7−1をセットする。こ
の時フリップフロップ回路7−1のセットにより、出力
が不定だったフリップフロップ回路7−3かりセットさ
れる。
力\°゛
フリップフロップ回路7−1のセットされてその出力が
「1」となることにより、ブロック選択信号SWI−O
Nがオンされ、電源電圧V十が第1のブロックのセンサ
素子S1〜S5に印加される。
「1」となることにより、ブロック選択信号SWI−O
Nがオンされ、電源電圧V十が第1のブロックのセンサ
素子S1〜S5に印加される。
これと同時にフリップフロップ回路7ー1の11」の出
力によりバッファ回路B1の出力が「]」となり、抵抗
R6を介して発,光素子D 1 、 I’) 2に電流
が印加される。これにより発光素子DI,D2が発光し
て原稿1を照明し、その反射光が集光型光導伝体3を介
して導かれ発光素子Di,I)2に対応した第1ブロツ
クのセンサ素子s1〜s5を照射する。センサ素子S1
〜S5に信号が形成される。
力によりバッファ回路B1の出力が「]」となり、抵抗
R6を介して発,光素子D 1 、 I’) 2に電流
が印加される。これにより発光素子DI,D2が発光し
て原稿1を照明し、その反射光が集光型光導伝体3を介
して導かれ発光素子Di,I)2に対応した第1ブロツ
クのセンサ素子s1〜s5を照射する。センサ素子S1
〜S5に信号が形成される。
ここでセンサ素子S1〜S5および発光素子I)1。
D2への通電は1ms強の所定時間桁なわれる。この間
にセンサ素子S1〜S5の出力信号が安定し、後段の増
幅回路5−1〜5−5に導かれて増幅される。
にセンサ素子S1〜S5の出力信号が安定し、後段の増
幅回路5−1〜5−5に導かれて増幅される。
次にサンプルホールド信号S I−Iのパルスがサンプ
ルホールド回路6−1〜6−5の共通スイッチSW9〜
SWI 3に印加される。どのパルスの立ち」二すによ
り共通スイッチSW9〜SW13けオンされ、立ち下が
りによりオフされる。このオンの間に増幅回路5−1〜
5−5のそれぞれの出力すなわち第1ブロックのセンサ
素子S1〜S5の増幅された信号出力は、サンプルホー
ルド回路6−1〜6−5のそわぞれのコンデンサ01〜
C5に印加され保持される。
ルホールド回路6−1〜6−5の共通スイッチSW9〜
SWI 3に印加される。どのパルスの立ち」二すによ
り共通スイッチSW9〜SW13けオンされ、立ち下が
りによりオフされる。このオンの間に増幅回路5−1〜
5−5のそれぞれの出力すなわち第1ブロックのセンサ
素子S1〜S5の増幅された信号出力は、サンプルホー
ルド回路6−1〜6−5のそわぞれのコンデンサ01〜
C5に印加され保持される。
一方、ブロック選択回路においては、上記のサンプルホ
ールド信号SHのパルスの立ち上がりの後の立ち下がり
により、フリップフロップ回路7−2がセットされる。
ールド信号SHのパルスの立ち上がりの後の立ち下がり
により、フリップフロップ回路7−2がセットされる。
これにより同時にフリップフロップ回路7−1がリセッ
トされる。
トされる。
フリップフロップ回路7−2がセットされ、その出力が
「1」と々ることにより、今度は第2のブロック選択信
号5W2−ONがオンとなるとともに第2のペアの発光
素子D 3 、 D 4への通電が行なわれ、第2ブロ
ツクのセンサ素子S6〜810に信号が形成される。
「1」と々ることにより、今度は第2のブロック選択信
号5W2−ONがオンとなるとともに第2のペアの発光
素子D 3 、 D 4への通電が行なわれ、第2ブロ
ツクのセンサ素子S6〜810に信号が形成される。
但し、サンプルホールド信号の立ち下がりにより共通ス
イッチSW9〜5W13はオフとなっているので、セン
サ素子S6〜S10の出力はサンプルホールド回路6−
1〜6−5のコンデンサ01〜C5には印加されない。
イッチSW9〜5W13はオフとなっているので、セン
サ素子S6〜S10の出力はサンプルホールド回路6−
1〜6−5のコンデンサ01〜C5には印加されない。
寸だフリップフロップ回路7−1かりセットされ、その
出力が「0」となることにより、第1のブロック選択ス
ーイソチSW1がオフされて、センサ素子S1〜S5へ
の電圧の印加は遮断される。同時に発光素子D 1 、
D r’は通電を遮断されて消灯する。
出力が「0」となることにより、第1のブロック選択ス
ーイソチSW1がオフされて、センサ素子S1〜S5へ
の電圧の印加は遮断される。同時に発光素子D 1 、
D r’は通電を遮断されて消灯する。
次にサンプルホールド信号S Nの立ち下がりに同期し
て読み出し線選択スイッチSW4に読み出し線選択信号
SW4− ONのパルスが印加される。
て読み出し線選択スイッチSW4に読み出し線選択信号
SW4− ONのパルスが印加される。
そして以下読み出し線選択スイッチSW5〜SW8に所
定間隔で読み出し線選択信号SW5− ON −8W8
−ONのパルスが印加される。これにより読み出し線選
択スイッチSW4〜SW8が次々にオン、オフされ、コ
ンデンサ01〜C5に保持された第1ブロツクのセンサ
素子S1〜S5の出力信号が次々に出力端子0[JTに
導かれ、出力されて信号が読み出される。
定間隔で読み出し線選択信号SW5− ON −8W8
−ONのパルスが印加される。これにより読み出し線選
択スイッチSW4〜SW8が次々にオン、オフされ、コ
ンデンサ01〜C5に保持された第1ブロツクのセンサ
素子S1〜S5の出力信号が次々に出力端子0[JTに
導かれ、出力されて信号が読み出される。
以下同様の動作の繰り返しによって、第2および第3ブ
ロツクのセンサ素子S6〜815の信号の読み出しがブ
ロック毎に順次行なわれる。
ロツクのセンサ素子S6〜815の信号の読み出しがブ
ロック毎に順次行なわれる。
以上の構成によれは、セ/す素子S1〜815にブロッ
ク毎に順次電圧が所定時間ずつ印加されるとともに、電
圧を印加されたセンサ素子のブロックに対応した発光素
子D1〜D6のペアが同じり遺ツ イミノグで同時間電源を印加されて発光し、その発光の
反射光が電圧を印加されたセンサ素子を照射して画像読
み取りの信号が形成される。
ク毎に順次電圧が所定時間ずつ印加されるとともに、電
圧を印加されたセンサ素子のブロックに対応した発光素
子D1〜D6のペアが同じり遺ツ イミノグで同時間電源を印加されて発光し、その発光の
反射光が電圧を印加されたセンサ素子を照射して画像読
み取りの信号が形成される。
すlわちラインセンサ4の一ライン分の読み取りにおい
て、個々のセンサ素子S1〜815への光の照射時間は
、−ライン分の読み取り時間をブロック数で除した時間
となる。
て、個々のセンサ素子S1〜815への光の照射時間は
、−ライン分の読み取り時間をブロック数で除した時間
となる。
実際のラインセンサでは、例えばファク/ミリ装置のラ
インセンサはA4サイズ用のもので1728個のセンサ
素子から構成され、1ブロツクのセンサ素子数が32個
で、ブロック数が54に設定されているものがある。こ
の場合、本発明を適用すれば、センサ素子への光の照射
時間は従来に比して1154になる。単純に考えれはセ
ンサ素子すなわちセンサの4用期間が従来の54倍とな
る。
インセンサはA4サイズ用のもので1728個のセンサ
素子から構成され、1ブロツクのセンサ素子数が32個
で、ブロック数が54に設定されているものがある。こ
の場合、本発明を適用すれば、センサ素子への光の照射
時間は従来に比して1154になる。単純に考えれはセ
ンサ素子すなわちセンサの4用期間が従来の54倍とな
る。
なお、本発明の適用範囲は実施例に限らず、冒頭に述べ
た種類の光センサ装置のすべてに適用できる。
た種類の光センサ装置のすべてに適用できる。
効 果
以上の説明から明らかなように、本発明によれば冒頭に
述べた種類の光センサ装置において、電圧を印加された
センサ素子のみを、それに対応する発光素子のみの発光
によって照射する構成を採用しだので、光の照射により
経時的に感度特性が劣化する素材からなるセンサ素子を
用いた場合に、感度特性の劣化を最小限に防止でき、セ
ンサの面1用年数が極めて長く、経済的な光センサ装置
を提供することができる。
述べた種類の光センサ装置において、電圧を印加された
センサ素子のみを、それに対応する発光素子のみの発光
によって照射する構成を採用しだので、光の照射により
経時的に感度特性が劣化する素材からなるセンサ素子を
用いた場合に、感度特性の劣化を最小限に防止でき、セ
ンサの面1用年数が極めて長く、経済的な光センサ装置
を提供することができる。
図は本発明の一実施例を説明するもので、第1図は要部
の概略構成図、第2図はラインセンサとLEDアレイの
構成と対応関係を示す説明図、第3図は信号読み出し回
路の構成を示す回路図、第4図はブロック選択回路の構
成を示す回路図、第5図は読み出し動作時の各部の信号
状態を示すタイミングチャート図である。 2・・・LEDアレイ 4・・・ラインセ/す6−
1〜6−5・・・サンプルボールド回路7−1〜7−3
・ フリップフロップ回路1]〜I)n・発光素子
81〜8m・・・センサ素子SWI〜SW3・ブロック
選択スイッチSW4〜SW8・・読み出し線選択スイッ
チB 1〜B3・・・バッファ回路 特許出願入′ キャノン株式会社 第1図 第2図
の概略構成図、第2図はラインセンサとLEDアレイの
構成と対応関係を示す説明図、第3図は信号読み出し回
路の構成を示す回路図、第4図はブロック選択回路の構
成を示す回路図、第5図は読み出し動作時の各部の信号
状態を示すタイミングチャート図である。 2・・・LEDアレイ 4・・・ラインセ/す6−
1〜6−5・・・サンプルボールド回路7−1〜7−3
・ フリップフロップ回路1]〜I)n・発光素子
81〜8m・・・センサ素子SWI〜SW3・ブロック
選択スイッチSW4〜SW8・・読み出し線選択スイッ
チB 1〜B3・・・バッファ回路 特許出願入′ キャノン株式会社 第1図 第2図
Claims (1)
- 多数の光反応型上ンサ素子からなるセンサを多数の発光
素子からなる光源の発光により照射し、前記センサ素子
のブロック毎に順次電圧を印加し、印加されたセンサ素
子の信号を読み出す光センサ装置行において、前記の印
加されたセンサ素子に対応する発光素子のみを発光させ
るように構成したことを特徴とする光センサ装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58026270A JPS59153373A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 光センサ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP58026270A JPS59153373A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 光センサ装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59153373A true JPS59153373A (ja) | 1984-09-01 |
Family
ID=12188583
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP58026270A Pending JPS59153373A (ja) | 1983-02-21 | 1983-02-21 | 光センサ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59153373A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6080361A (ja) * | 1983-10-07 | 1985-05-08 | Mitsubishi Electric Corp | イメ−ジセンサ |
Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55165066A (en) * | 1979-06-11 | 1980-12-23 | Canon Inc | Photoelectric conversion unit |
JPS5698072A (en) * | 1979-12-26 | 1981-08-07 | Fujitsu Ltd | Driving system of original reader |
JPS59269A (ja) * | 1982-06-25 | 1984-01-05 | Toshiba Corp | 画像読取り用センサ− |
-
1983
- 1983-02-21 JP JP58026270A patent/JPS59153373A/ja active Pending
Patent Citations (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS55165066A (en) * | 1979-06-11 | 1980-12-23 | Canon Inc | Photoelectric conversion unit |
JPS5698072A (en) * | 1979-12-26 | 1981-08-07 | Fujitsu Ltd | Driving system of original reader |
JPS59269A (ja) * | 1982-06-25 | 1984-01-05 | Toshiba Corp | 画像読取り用センサ− |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6080361A (ja) * | 1983-10-07 | 1985-05-08 | Mitsubishi Electric Corp | イメ−ジセンサ |
JPH0135539B2 (ja) * | 1983-10-07 | 1989-07-26 | Mitsubishi Electric Corp |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
ATE163498T1 (de) | Photoelektrische wandlervorrichtung | |
KR950005593B1 (ko) | 이미지 센서용 ic | |
JPS6251550B2 (ja) | ||
JPH0123028B2 (ja) | ||
JPS59153373A (ja) | 光センサ装置 | |
US5027226A (en) | Contact type image sensor | |
JPS6156913B2 (ja) | ||
DE3888124D1 (de) | Hochleistungslichtquelle für Kameras. | |
US4646155A (en) | Image reader for image processing apparatus | |
JP2003244397A (ja) | イメージセンサー | |
US3471242A (en) | Densitometer analog-to-digital converter system | |
JPS5943868B2 (ja) | 原稿読取装置の駆動方式 | |
US3697760A (en) | Optical-electrical movement detector utilizing staggered rows of photodetectors and logic for determining the location of a luminous spot | |
US2907997A (en) | Automatic data conversion system | |
JPS59212071A (ja) | 光源の点灯装置 | |
JPS645508B2 (ja) | ||
JPS5941628B2 (ja) | 送受兼用ヘッド | |
JPS6126865B2 (ja) | ||
SU411521A1 (ja) | ||
US2862201A (en) | Decoder for automatic photorectification system | |
US3399305A (en) | Photosensitive systems for handling information | |
JPS60244062A (ja) | 光センサ | |
JPS6016110Y2 (ja) | 周波数コ−ド発生装置 | |
JPH0546137B2 (ja) | ||
GB2066543A (en) | Test circuit for optical display devices |