JPS59148807A - 磁気デイスク検査方法 - Google Patents

磁気デイスク検査方法

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Publication number
JPS59148807A
JPS59148807A JP2316583A JP2316583A JPS59148807A JP S59148807 A JPS59148807 A JP S59148807A JP 2316583 A JP2316583 A JP 2316583A JP 2316583 A JP2316583 A JP 2316583A JP S59148807 A JPS59148807 A JP S59148807A
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JP
Japan
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magnetic disk
slider
flat
flatness
magnetic
Prior art date
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Granted
Application number
JP2316583A
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English (en)
Other versions
JPH0372922B2 (ja
Inventor
Masahiko Miyake
正彦 三宅
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
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Publication of JPH0372922B2 publication Critical patent/JPH0372922B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Classifications

    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B33/00—Constructional parts, details or accessories not provided for in the other groups of this subclass
    • G11B33/10—Indicating arrangements; Warning arrangements
    • G—PHYSICS
    • G11—INFORMATION STORAGE
    • G11B—INFORMATION STORAGE BASED ON RELATIVE MOVEMENT BETWEEN RECORD CARRIER AND TRANSDUCER
    • G11B5/00—Recording by magnetisation or demagnetisation of a record carrier; Reproducing by magnetic means; Record carriers therefor
    • G11B5/74—Record carriers characterised by the form, e.g. sheet shaped to wrap around a drum
    • G11B5/82—Disk carriers

Landscapes

  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Manufacturing Of Magnetic Record Carriers (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ａ０発明の技術分野 本発明は、磁気ディスクの平面性を検査する方法に関す
るものである。
ｂ、技術の背景 第１図は、書き込み、読み出し時の磁気へソドを有する
スライダと磁気ディスクの状態を示し。
１はスライダ、２はヘッド、３，１３．２３は磁気ディ
スクをそれぞれ示す。
第１図（ａｌに示すように、磁気ディスク３がフラット
な時は、磁気ヘッド２は、磁気ディスク３よりやや浮上
して、書き込み、読み出しを行っている。
ところで、（ｂ）のように磁気ディスク１３が凹にそっ
ていると、磁気ヘッド２と磁気ヘッド１３の距離が著し
く離れ、書き込み、読み出しに支障をきたす。さらに、
（Ｃ）のように、磁気ディスク２３が凸にそっていると
、磁気ヘッド２と磁気ディスク２３が接触し、双方に傷
がついてしまう。
また、スライダの幅は数鰭であるのに対し、浮上量は０
．１μｍ程度であるために、磁気ディスクの微小なそり
さえ問題となる。
Ｃ０従来技術と問題点 そこで、磁気ディスクの平面性を棲査する方法としては
、まず、磁気ディスクの表面を、直接。
表面形状測定器等で触れながら、磁気ディスクの表面の
状態を測定する方法がる。
ところで、このような検査方法では、磁気ディスクの表
面を傷つけることがある。磁気ディスク前面の状態がわ
からない測定が面倒である等の欠点がある。
磁気ディスクの平面性を検査するもう一つの方法として
、フラットガラスを磁気ディスク上に置を、フラットガ
ラスと磁気ディスク間に生じる干渉縞を見る方法が考え
られる。ところで、このような方法では、フラットガラ
スのちょっとした置き方の違いや、フラットガラスと磁
気ディスク間に何かが入ってしまったりすると、干渉縞
の様子が変化してしまい信頼性がなくなる。
４１発明の目的 そこで１本発明は、磁気ディスク上を浮上する。
平坦で透明なスライダを介して２回転する磁気ディスク
に光を当て、スライダと磁気ディスク間に生じる光干渉
縞を観察することにより、簡単で。
能率的で、信頼性ある磁気ディスクの平面性検査方法を
提案しようとするものである。
０１発明の構成 そのため１本発明では、磁気ディスクを回転させながら
、その磁気ディスク上を浮上する平坦で透明なスライダ
を介して前記磁気ディスクに光をあて、前記スライダと
前記磁気ディスク間に生じ１０発明の実施例 第２図は２本発明の一実施例である媒体検査装置を示し
、３１は磁気ディスク、３２ばスピンドル、３３は透明
フラットスライダ、３４は支持部。
３５は移動部、３６は光学装置、３７は表示部をそれぞ
れ示す。又、第３図（ａ）は磁気ディスク４１がフラッ
トな場合、第３図（ｂ）は磁気ディスク５１がそってい
る場合をそれぞれ示す。
磁気ディスク３１の平面性を検査する時は、まずスピン
ドル３２に磁気ディスク３１をセットして、磁気ディス
ク３１を回転させる。゛回転・ず議磁気ディスク３２上
を、平坦で透明なフラットスライダ３３．は移動部３５
により、浮上しながら移動する。光学装置３６は、移動
するフラットスライダ３３に伴い移動しながら、フラッ
トスライダ３３を介して、磁気ディスク３１に光をあて
る。又。
光学装置３６は、磁気ディスク３１とフラントスライダ
３３の間に生じる光干渉縞を２表示部３７に映し出すよ
うにしである。本実施例によれば。
フラットな磁気ディスク４１では第３図ｔａ＋に示すよ
うな、直線状の干渉縞が観察され、そった磁気ディスク
５１では、第３図（ｂ）に示すようなカーブ状の干渉縞
が観察される。単色光の場合には濃淡の縞が、白色光の
場合には色縞が観察される。
８０発明の効果 本発明によれば、簡単で、能率的で、信頼性のある平面
（生検査ができる。
有するスライダと磁気ディスクの状態を示し、１はスラ
イダ、２はヘッド、３，１３．．２３は磁気ディスクを
それぞれ示す。
第２′図は２本発明の一実施例である媒体検査装置を示
し、３１ば磁気ディスク、３２はスピンドル、３３は透
明フラットスライダ、３４は支持部。
３５は移動部、３６は光学装置、３７は表示部をそれぞ
れ示す。
・　第３図（ａｌは磁気ディスク４１がフラットな場合
。
第３図（ｂ）は磁気ディスク５１がそった場合をそれ（
１１）　　　　　　　　　　　　　　　　　（ｂ）第　
１　図 ／ （Ｃ）

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 磁気ディスクを回転させながら、その磁気ディスク上を
    浮上する平坦で透明なスライダを介して前記磁気ディス
    クに光をあ°乙前記スライダと前記磁気ディスク間に生
    じる光干渉縞によって、前記磁気ディスクの平面性を検
    査することを特徴とする磁気ディスク検査方法。
JP2316583A 1983-02-15 1983-02-15 磁気デイスク検査方法 Granted JPS59148807A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2316583A JPS59148807A (ja) 1983-02-15 1983-02-15 磁気デイスク検査方法

Applications Claiming Priority (1)

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JP2316583A JPS59148807A (ja) 1983-02-15 1983-02-15 磁気デイスク検査方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS59148807A true JPS59148807A (ja) 1984-08-25
JPH0372922B2 JPH0372922B2 (ja) 1991-11-20

Family

ID=12103001

Family Applications (1)

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JP2316583A Granted JPS59148807A (ja) 1983-02-15 1983-02-15 磁気デイスク検査方法

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JP (1) JPS59148807A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP0186768A2 (de) * 1984-12-21 1986-07-09 Siemens Nixdorf Informationssysteme Aktiengesellschaft Einrichtung zum Inspizieren der Oberfläche von Magnetspeicherplatten
JPS61180989A (ja) * 1985-01-22 1986-08-13 Hitachi Electronics Eng Co Ltd フロツピ−デイスクの製造方法

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5658136A (en) * 1979-10-15 1981-05-21 Fujitsu Ltd Vanish head for magnetic recording medium

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JPH0458091B2 (ja) * 1985-01-22 1992-09-16 Hitachi Electr Eng

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0372922B2 (ja) 1991-11-20

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