JPS59142506A - 焦点検出装置 - Google Patents

焦点検出装置

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JPS59142506A
JPS59142506A JP1588783A JP1588783A JPS59142506A JP S59142506 A JPS59142506 A JP S59142506A JP 1588783 A JP1588783 A JP 1588783A JP 1588783 A JP1588783 A JP 1588783A JP S59142506 A JPS59142506 A JP S59142506A
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Takeshi Utagawa
健 歌川
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Nikon Corp
Nippon Kogaku KK
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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/34Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane
    • G02B7/346Systems for automatic generation of focusing signals using different areas in a pupil plane using horizontal and vertical areas in the pupil plane, i.e. wide area autofocusing

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Focusing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の技術分野) 本発明は対象物体の光像を形成する結像光学系の焦点調
節状態を検出するカメラ等の光学装置用の焦点検出装置
に関する。
(発明の背景) 従来の一眼レフカメラ用焦点検出装置は、撮影レンズの
瞳上の異った領域を通った光束による被写体のほぼ同一
部分に関する2像を、多数の光電変換素子が配列されて
成る一対の光電変換素子アレイ上に導き、上記光電変換
素子アレイの光電出力を演算処理して上記光電変換素子
アレイ上の光像の相対的変位を検出し、この検出結果か
ら焦点検出を行う相対変位検出方式と、撮影レンズによ
り形成された被写体像を、撮影レンズの予定焦点面の少
々くとも前後に夫々配電された一対の光電変換素子アレ
イに導き、その光電出力を演算処理して被写体像の鮮明
度を検出し焦点検出する鮮明度検出方式とに大別できる
。このように被写体像を光電変換素子プレイに投影しそ
の光電出力を演算処理することは、その被写体像中のあ
る空間周波数帯域に関する周波数成分について演算処理
することにほかならない。この演算処理される空間周波
数成分が比較的低次のもののみである場合、たとえ撮影
レンズが合焦位置から大きく離れ被写体像が著しくボケ
た時にも上記低次空間周波数成分は、被写体像中に即ち
光電出力中に残存している為、大きなデフォーカス量(
デフォーカス量とは結像光学系の予定焦点面と被写体像
面との光軸方向のずれ量)に対しても前ビン又は後ピン
の判定が可能であると言う利点があるが、しかしながら
低次空間周波数成分は電気的又は光学的な諸誤差要因の
影響を受けやすぐ合焦位置そのものを決定する場合に高
い検出精度が得られないと言う欠点があるg他方、演算
処理される空間周波数成分が比較的高次のもののみであ
る場合には上記諸誤差要因による影響を受けに〈〈合焦
位置近傍で正確にデフォーカス量を求め得る即ち、゛高
精度の焦点検出が行えると言う利点があるが、しかし方
から撮影レンズが合焦位置から太きく離れると被写体像
中の高次空間周波数成分が激減してしまう為焦点検出は
精度が著しく低下し前後ビンの判定すら不可能とがると
言う欠点がある。さらに上記相真の合焦位置からある程
度離れた位置にある時にも合焦信号(以下、これを偽合
焦信号と言う。)を発生することがあると言う欠点があ
る、!た、高次空間周波数成分と低次空間周波数成分と
が分離されず混在したものを演算処理した場合には、被
写体の性質によっては高次空間周波数成分と低次空間周
波数成分の一方の欠点が顕在化し他方の長所を損ってし
まう。
即わち焦点検出能力の内容緯、■合焦位置近傍で正確に
デフォーカス量を求める事、■合焦位置から大きく離わ
た晴天まかなデフォーカス量あるいは前後ビンを4I]
定する事、の2つに大別され前者は高次空間周波数情報
を主体として又後者は低次空間周波数情報を主体として
扱う事により理想的な焦点検出を行なう事が可能となる
。又この事は鮮明度検出方式に対し7ても同様にいえる
事である。
(発明の目的) そこで、本発明の目的は光像の高次空間周波数成分と低
次空間周波数成分との特長を有効に使用して常に合焦近
傍は高精度でかつ前後ビン判定域の広い焦点検出を達成
できる焦点検出装置を提供することである。
(発明の概要) この目的を達成する為に、本発明は一対の光電変換素子
アレイの光電出力を人力しそれにフィルタリング処理を
施こす第1及び第2フィルタ手段と、上記第1または第
2フィルタ手段の出力を人力しそれに基づき結像光学系
の焦点調節状態を表わす信号を作成する演算手段と、さ
らに上記第1フイルタ゛手段の出力に基づく上記演算手
段の出力信号と、上記第2フィルタ手段の出力に基づく
上記演算手段の出力信号とを共に選択し合成するか若し
くはいずれかを択一的に選択する選択手段とを具備し、
上記第1フィルタ手段と第2フィルタ手段の夫々のMT
Fの周波数帯域に差異を与えるものである。
(発明の実施例) 以下に本発明の焦点検出装置の一実施例を図面を診照し
て説明する。
焦点検出光学系を示す第1図において、焦点検出される
撮影レンズ等の結像光学系1の予定結像面JJ、−直線
上に配列された多数の小レンズ2a 、 2b・・・2
nから成る小レンズアレイ2が配置されている。この小
レンズアレイ2は平凸レンズ6の平面側に形成されてい
る。この小レンズアレイ2には結像光学系1の瞳面上の
領域1人および1Bを夫々通過して来た光束による第1
.第2被写体像が形成される。この両袖写体像の光軸に
垂直方向の、ずれ量は結像光学系1のデフォーカス量に
対応している。この画像の、ずれ量を2光電検出する為
の光電変換装置4は小レンズアレイ2の直後に配置され
、この装置は各小レンズ2a〜2nに対向[7た一対の
光電変換素子群(at 、bt )、(am 、、bi
)・・・(a n t b n )を有する。これらの
一対の光電変換素子のうちその上部に位置する第1光電
変換素子了レイax I &z・・・i は上記第1被
写体像を、下部に位置する第2光電変換素子アレイ柘、
田・・・−は上記第2袖写体像を夫々光電変換する。と
れらの光電変換素子i・・・a Rg [1・・・bn
 の光電出力を各素子の符号に対応させてa++・・・
an、 bt +・・・bnとすると、光電変換装置4
は、これらの光電出力を時系列的にal 1b+ 、a
l gb*・・・an 、bnの順に出力する。このよ
う々焦点検出光学系はU、S、P 4,185,191
に詳細に開示されている。なお、ここで言う光電出力と
は光電変換素子の出力を線形増幅又は対数増幅したもの
を含む。また、上記小レンズアレイ2の各小しン゛ズ2
a・・・2nの形状から決るMTF特性は第2図に示す
ように、零に近い低次の周波数からレンズアレイのピッ
チpaの関数として与えられ−るナイキスト周波数域以
上までにわたって高い値を呈している。小レンズアレイ
2に投影される第」。
第2光像中に夫々低次の空間周波数成分から上記ナイキ
スト周波数付近の高次の空間周波数−盛会までが充分に
含まれているとすると、上記MTF特性により上記光電
出力も上記低次から高次までの空間周波数成分をすべて
含んでいる。
第6図において、光電装置4の出力端子には第1フィル
タ手段5と第2フィルタ手段6との入力端子が接続され
ている。こわらの第1.第2フイルタ手段5,6は夫々
上述の如く光電装置4から時系列的に出力される光電出
力tL11b+ 、k 、bl・・・afi。
1)−n fフィルタリング処理して時系列的にA+ 
BISん、B愼・・・AII、Bn  ?出力する。こ
れらの第1゜第2フイルタ手段5,6のMTF特性は夫
々第4図(a)、第5図(a)に示されている。各図か
ら明らかなように、第1フィルタ手段5のMTFは低次
の周波数において充分大きく、そこから連続的に低下し
ナイキスト周波数5においてほぼ零となっており第2フ
ィルタ手段6のMTFはナイキスト次周波数とナイキス
ト周波数”7Fにおいてほぼ零に斤っている。従って、
第1フィルタ手段5は低次空間周波数成分に比べ病欠空
間周波数成分を抑制し主に低次空間周波数成分を通過さ
せるのに対し、第2フィルタ手段6は逆に、高次に比べ
低次空間周波数成分を抑制し主として高次空間周波数成
分を通過させる。フィルタ選択手段7は第1フィルタ手
段5の出力と第2フィルタ手段乙の出力とを択一的に選
択しA/D変換器8を介してメモリ手段9に送出する。
このメモリ手段9il−t、光電、装置4の光電出力1
に+ 1bt gam l bt v ・・’ a++
 l b”に対応するA/’D変換器8の出力のすべて
を一度に記憶できる記憶容量を有する。演算手段10は
、メモリ手段9に記憶されたフィルタ済出力ん・・A1
1を一般には互いに重複しながら少しずつずれた複数の
領域A(1) 、A(2)・・・A(i)・・・A(1
)に区切り、又他方のフィルタ済出力B、・・・Bnを
同様に複数の領域B(1)B(2)・・・B (j)・
B(L)に区切り、これらの領域の複数の対A(1) 
+ B (J)に関してその整合性を演算しその最も整
合性の良い相関度の高い組合せ(ZWj)を知る事によ
り、第1.第2光電変換素子アレイ上の第1.第2光像
の相対的変位量、即ちデフォーカス量を表わす焦点検出
信号Zi及び演算に用いた情報の確かさを表わす情報量
信号DIとを算出する。この信号ztHその符号が前ビ
ン、後ビンの区別をその絶対値がデフォーカス量の絶対
値を示しており信号Diはそれが所定値Do以上である
時、焦点検出信号が充分信頼できることを保証するもの
である。この演算手段の具体的−例は特開昭57−45
510号に開示されている。この焦点検出信号Ziと情
報!信号Pi (特開昭57−45510ではDmと表
現)は制御手段11に人力される。この制御手段11は
焦点検出信号21の絶対値が所定値Zoより大きいか否
かを比較し、大きいときフィルタ選択手段7に第1フィ
ルタ手段5を、選択させる第1フィルタ手段選択信号と
、小さいとき第2フィルタ手段6を夫々選択させる第2
フィルタ手段選択信号とを発生する。
次にこの作用を説明する。
結像光学系1が第1及び第2被写体像を夫々小レンズア
レイ2上に形成すると、第1光電変換素子アレイ社・・
・a;は上記第1被写体像の照度分布パターンを光電出
力a、・・・anに変換[7同様に第2光電変換素子ア
レイbr 、−、−bnは第2光像を光電出力bt・・
・b、 K変換する。光電装置4は第1.第2光電変換
素子アレイの光電出力を、al tl)+ 11L+ 
、bn・・・aII、bnの如く時系列的に交互に出力
する。この一連の光電5出力は成る時間間隔で繰り返え
し出力される。もし選択手段7が第2フィルタ手段6を
選択1〜でいるとすると、上記一連の光電出力勧。
b+・・・aII、bnは第2フィルタ手段乙によりフ
ィルタリング処理を受け、フィルタ済出力AIBI・・
・A。
B!Iに変換された後、A/1)変換器8を介してメモ
リ手段9に記憶される。演算手段10はこの記憶内容に
基づき焦点検出信号ziと演算に用いた情報の確度を表
わす情報量信号DIとを算出する。
尚以後第1フィルタ手段選択時と第2フィルタ手段選択
時トノ信号Zi; Di f夫/r Zi (1) ;
 Di (1) 。
zi(2) ; Di (2)と表わす。制御手段11
1ritずDi(2)が所定のレベルDoに達している
か否か及び焦点検出信号の絶対値IZi(231が所定
値zOより大きいか否かを判定する。もしDi(2)ン
DOでかつ1Zi(2) l (Zo々ら情報は有効な
ので制御手段11はこの信号zi(2)に基すいて表示
装置12と駆動装置13とを制御すると共に第2フィル
タ手段選択信号を出力し続ける。これにより表示装置1
2と駆動装置13il″を夫々焦点調節状態を表示1.
また結像光学系1を合焦位置の方へ駆動する。他方Z 
l (2) s D 1(2)が上記以外の場合には情
報の確度が低く、前記第1゜第2被写体像は犬きくボケ
でおり高次空間周波数成分゛が少なく相対的に低次空間
周波数成分が多く方っているので、今回の情報での表示
拳駆動に行なわず制御手段11は第1フィルタ選択信号
を選択手段7に送る。選択手段7による第1フィルタ手
段5の選択により、次に発生した一連の光電出力aIb
I・・・aIIbnは、第1フィルタ手段5によりフィ
ルタリング処理され、上述と同様に演算手段10により
焦点検出信号Zi(1)、情報量信号Di(1)゛が演
算される。もしDi (1)ンDoであれば制御手段1
1は信号Zi(1)にもとづいて表示装置12.駆動装
置13の制′@を行りう。第1フィルタ手段5が選択さ
れている場合に次にどのフィルタ手段管選択するかは、
結像光学系駆動のさせ方によっているいろ考えられる。
例えば結像光学系1會停止して像ズレ検出演算を行ない
、その結果にもとすいて算出されたデフォーカス量だけ
結像光学系を動かして止め、再び像ズレ検出演算を行な
いその結果にもとすいて再び結像光学系を駆動するとい
う間欠的結像光学系駆動を行なう場合について考えてみ
る。
この場合には第1フィルタ手段5が選択されて信号Zi
(1)が有効に定められたなら、この結果にもとず〈結
像光学系駆動で次回の像ズレ検出時には合焦近傍にある
事が想定されるので次回には第2フィルタ手段6f選択
するのが適当である。従ってこの様な間欠的結像光学系
駆動の場合にはある時第1フイルタ手段が選択されると
その時の演算結果Zt[1)、 Di(1)の内容に無
関係に必ず次回には第2フイルタを選択するのが妥当と
なる。
一方結像光学系駆動と焦点検出が並行して行なわれてい
る場合にはDi(t))Doでかツl Zi(1) l
>Z。
の場合には次回にも第1フイルタを選択し、それ以外の
I)l 、 Ziの場合には次回に第2フィルタ手段を
選択するのが良い。即わちDi (1):) Doで1
Zi(1)1(Zoの場合には合像近傍に来たので高次
の空間周波数成分を中心とする第2フイルダを選択する
のが良いし、又Di(1)< Doの場合にも被写体に
よっては低次の空間周波数成分を含まず高次成分のみの
場合もあるので、第1フイルタ使用゛結果が情報不足(
Di (1)< Do )であったとしても第2フイル
タを用いたら検出可能(DI(2)>Do)となる場合
があるのでやはり第2フイルタに切り換えるのが適当だ
からである。上述のごとく制御手段11は第1フィルタ
手段5又は第2フィルタ手段6を選択手段7に選択させ
る。
以上のように、結像光学系が合焦位置の近傍に位置し即
ちデフォーカス量が小さく第1.第2光像中の高次空間
周波数成分が多い時は低次の空間周波数成分を抑制する
第2フィルタ手段6が自動的に選択されるので、合焦位
置近傍においては、低次空間周波数成分に影響されるこ
と々〈高次空間周波数成分に基づぐ高n度の焦点検出が
可能となり、逆に結像光学系1が合焦位置から犬きく離
れており、上記光像中の高次空間周波数成分が減少[2
相対的に低次空間周波数成分が多くなった時には低次周
波数成分を通す第1フイルタ5が自動的に選択され、低
次空間周波数′成分に基づく焦点検出が行われる。
なお、フィルタ選択手段7は図示位置に限ることなく、
光電装置4の出力端子と、第1.第2)〃 イルタ手段5,6の人國端子との間に配置してもよく、
更に演算手段10の後に配置してもよい。
この後者の場合には一連の光電出力は第1および第2フ
イルタ手段5,6で処理され、演算手段10が第1およ
び第2フイルタ手段5,6の出力を夫々演算処理1−前
者に基づく焦点検出信号Zi(1)と、後者に基づく焦
点検出信号Z l (2)とを共に求めた後、上記選択
手段7がこの両檜号Zl(1)、 Zl (2)を択一
的に選択するものであってもよい。このように本発明で
は、第1フィルタ手段と第2フィルタ手段を択一的に選
択するとは図示例の如′〈演算手段10に入力すべき第
1フィルタ手段の出力と第2フィルタ手段の出力とを択
一的に選択する場合と、第1フィルタ手段の出力に基づ
く演算手段の出力と第2フィルタ手段の出力に基づく演
算手段の出力とを択一的に選択する場合とを含むもので
ある。
第1.第2フイルタ手段5,6の具体的構成例を夫々第
4図(b)、第5図(b)に示す。
第4図(b)において、一画素分の遅延回路Th、D、
D、が直列に接続され、加算回路T1が遅延回路り。
とり、の出力を加算する。これにより光電装置4から時
系列光電、出力a+ 、bl 、as tbs 、aa
山・・・が順次遅延回路り、〜D、に入力されると、加
算回路T1は順次(ate at) 、 (bi tb
s) 、 (at +in ) −・・を出力する。
第5図(b)の構成は、直列接続の一画素遅延回路DI
 、D、 、D、 、D4 、D、のうちの第1と第5
の遅延回路り、とDIの出力の差(a、  aa )+
(bI−b−) −f減算回路SIによって求める。な
お、もし第1光電変換素子アレイの出力がすべて門出さ
れた後に第2光電変換素子アレイρ出力が読出される場
合、換言すると光電装置4“の時系列光電用カフ5Ka
l 、lLw・・・ate。
bI tbs・・・bllである場合には、第1第2フ
イルヂ手段5.乙の具体的構成例は第4図(C)、第5
図(C)の如くなる。もちろん、フィルタ手段5,6は
上述の如くハードで構成する代りに、マイクロコンピー
タ等を用いて、(ate a−)、(aIa−)等の演
算ヲ行うようにしてもよい〇 捷た、本実施例の@1フィルタ手段5はそのMTF特性
を表わす第4図(a)と原信号のMTF特性を表わす第
2図の比較から分るよ−うに光電出力の高次空間周波数
成分を抑制する様にフィルタリング処理しているが、こ
の第1フィルタ50作用は少々くとも低次空間周波数成
分を通過させることであるから、このフィルタ5として
、例えば無限の周波数帯域のフィルタを用いる。具体的
には、光電出力を直接に選択手段7?介してA/D変換
器8に接続するようにしてもよい。この様な4’合の第
1フィルタ手段5は実質的にフィルタリンク処理を行わ
ない事に相当しているが、本明細書では第2フィルタ手
段6のMTFの周波数帯域とは異った帯域を持つという
観点から、このような実質的にフィルタリング処理を行
わない仮想上のフィルタ手段も、フィルタ手段の概念に
含めることとする。
次に第1フィルタ手段として上記仮想上のフィルタ手段
を用い第2フィルタ手段のフィルタリング処理を演算手
段10内におφて実行する例を説明する。この場合上記
のごとく光電出力を直接にA/D変換器8に入力する。
従ってメモリ手段9には第2図の帯域を有するデータが
蓄潰される。
演算手段10はこのメモリ手段9に記憶されたデータ?
相関演算し焦点検出信号Zl(1)及び情報信号Di(
1) ?算出する。ここでZi (1)< Zoの場合
には演算手段10にすで、にメモリされているデータか
ら1つおき差分データA+−a、 −as ・−Ai=
 at−ate1・・・B+=bt  bs・・・Bj
碕j−bj+1・・・ 全演算しこのフィルタ済出力k
IAJ ”・kn−r IB+ B、+++ Bn −
1を求ぬ、このフィルタ済出力に対して再9相W演算を
行なって焦点検出信号Zi(2)+情報量信号Di(2
)?求める。この時、制御手段11は、Zi(1) >
−zoの時、焦点検出信号Zi(1)に基づき、またZ
i(1)< Zoの時、焦点検出信号Z i (2)に
基づき、表示装置12と駆動装置13とを夫々制御する
。次の一連の光電出力に関しても上記と全く同様に演算
手段10tI′i最初、信号Zi(1)、 Di(1)
?算出し、この信号Zi(1)が所定値zOより小さい
とき高次空間周波数成分を抽出するフィルタリング処理
した後、信号Zi(2)、 Di(2) ?算出する。
以上の説明からも明らかなように、フィルタ手段の選択
の仕方は、第3図の実施例に示した如く、信号Zi、D
iの大きさに応じセ―連の光電出力に関し第1 、第2
フィルタ手段を択一的に選択したり、または第1フィル
タ手段の後には一義的に第2フィルタ手段を選択したり
、または、上記最後の例の如く一連の光電出力に関し必
ず第1フィルタ手段(上側ではこの第1フィルタ手段は
仮想的フィルタ手段であった。)を選択し、このときの
演算結果Zi(1)[基づき、第2フィルタ手段を選択
するか否かを決定する等、適宜設定できるものであるが
、いかなる選択の仕方であっても、結像光学系が合焦位
置近傍にありかつ高次空間周波数成分が充分存在する場
合には必ず第2フィルタ手段のフィルタ済出力に基づ〈
焦点検出信号Zi(2)f用いて表示及び結像光学系駆
動な行うように宇めることか必要である。
第1フィルタ手段5と第2フィルタ手段6との組合せは
、上記第1実施例の第4図(a)及び第5図(a)のM
TF特性の外に、第6図(a)〜(c)に示す如く種々
のものがあり得る8第6図(a)VC実線で示す第1フ
ィルタ手段のMTF特性に、高次空間周波数成分を抑制
【7、比較的低次の空間周波数成分を通過させる様に、
また一点鎖線で示す第2フィルタ手段のMTF特性は低
次から高次までの空間周波数成分を通す様に夫々定めら
れている。この様に第1フィルタ手段は、高次空間周波
数成分を充分抑−制してい晶ので、たとえ被写体が低次
に比べて高次の空間周波数成分を多く含む場合であって
も、第1フィルタ手段の使用時に前記偽合焦信号の発生
を防止できる。第6図(b)に示した第1.第2フィル
タ手段のMTF特性は、−1夫々第4図(a) l か
5図(a)のそれと類似しており、相違点は第6図(b
)の第1フィルタ手段が第4図(、)に比べて高次空間
周波数成分を一層抑制【7たことである。これπより第
6図(a)と同様に偽合焦信号の発生を防止できる。
即わちこの場合にけ合焦近傍では第6図(b)の第2フ
ィルタ一手段を用いる事で低次の空間周波数成分を除去
し高次の空間周波数成分を主体とした信号により合憔判
定を行なうので合焦検出精度は非常に高捷り、かつデフ
ォーカスの大きい所でに第6図(b)の第1フイルター
を用いる事で偽合焦発生の原因とかり得る高次の空間周
波数成分を除いゼ低次の空間周波数成分のみでデフォー
カス量の判定を行なうので、合焦位置から大きく離れて
いても偽合焦の発生々く、前後ビンが判定可能という理
想的な作用を有するフィルターの組み合わせとなる。第
6図(c)の第1フィルタ手段のMTF特性をかなり抑
制[7この零かられずかに高次周波数側にピークを持つ
ものであり、第2フィルタ手段のMTFu第1フィルタ
手段よりも更に高次周波数側にビークチ有するものであ
る。このように、第1、第2フィルタ手段ともり、C成
分を抑制する様に定めることは以下の利点を有す名。即
ち、第1光電変換素子アレイ社・・・gnの光電出力の
感度及びり、C成分と第2光電変換素子アレイ払・・・
しの出電出力の感度及びり、C成分とに差が生ずること
がありこの差は焦点検出精度の低下を招来する。I7か
し上記り、C成分の抑制はこの様な差の効果を除去でき
る。尚、上記感度及びり、C成分の差は例えば、第1.
第2光電変換素子アレイを別々のチップ上に形成I−た
場合に生ずる各アレイ間の感度の差異や各プレイ間の温
度ドリフト量の差異等に基づいて生起される。
これまでの説明でMT″Fの帯域が高次空間周波数成分
を主体とする場合及び低次空間周波数成分を主体とする
場合という議論を行なっているが、本質的に有効な帯域
の上限は小レンズアレイ2のピッチPoから決るナイキ
スト周波数%を上限とするので上記高次・低次♀議論も
このナイキスト周波数以下の周波数帯域内での話である
本発明の第2実施例を以下に説明する。
第7図において、撮影レンズの如き結像光・学系1の予
定焦点面の近傍に、フィールドレンズ15が配置され、
このフィールドレンズ15はその中央部に矩形の光透過
領域15a?有し、その領域15a以外は遮光領域とな
っている。はぼ直方体状の透明ブロック16はガラスや
プラスチック等の高屈折率物質から成り、この一端面1
6a Kは上記フィールドレンズ15が貼付されている
。この一端面16&に対向した他端面16bl/lj、
互に逆方向にわずかに傾いた一対の凹面鏡17.18が
設けられている。この両端面16a?i6bの間のブロ
ック16中には所定の間隙金隔てて一対のミラー19.
20がほぼ45°の角度で斜設されている。透明ブロッ
ク16の下方には、夫々光電変換装置21が配置されて
いる。この光電変換装置21は、上記ミラー19.20
の下方に未々に対応した光重、変換素子アレイ22.2
3が形成されている。
結像光学系1を通過【7た光束はフィールドレンズ15
の光透過領域15af通過しブロック16内に入り、ミ
ラー19 、20の間の間隙を通って一対の凹面鏡17
.18に入射する。一方の凹面鏡17は入射光をミラー
19の方へ、他方の凹面鏡18は入射光ヲミラー20の
方へ夫々反射し、各反射光はミラー19.20?介して
夫々光電変換素子アレイ22,23に到達する。こうI
7てほぼ同一被写体についての一対の被写体像がプレイ
22.23上に形成される。
この光電装置21からの光電出力を処理する回路系を第
8図により説明する。
第8図において、光電装置21は、CCDイメージセン
サ−であり第1光電変換素子アレイ22と、第2光電変
換素子アレイ26と、トランスファーケート24と、転
送部25.26とを少なくとも含み、これらの外に光電
出力を線形又は対数増幅する増幅器等を含んでいてもよ
い。勿論光電装置として1MO8型イメージセンサやそ
の他の構造のものであっても構わない。第1光電変換素
子アレイ22を構成する光電変換素子i・・・iは互に
極〈近接した状態で一列状にピッチPGで配列され、第
2光電変換素子アレイ26の構成も全く同一である。こ
の光電装置21は第1アレイ゛22の光電出力a+・・
・肋と、第2アレイ26の光電出力bI−bnとを、第
1実施例と同様に、&l、b+ 、am 1b*・・・
an 、 l)nの如く互に交互に出力すると共に、こ
の一連の光電出力ILI、b1・・an、bnf所定時
間間隔で繰返し出力する。この様な光電変換素子アレイ
22.23は夫々第9図(&)の如きMTF特性を有す
る。
第1.第2フイルタ手段27.28は入力端子が光電装
置21の出力端子に接続されている。この第1フィルタ
手段27は第9図(b)に示す如く低次空間周波数成分
を通すが、周波数%Po付近以上の高次空間周波数成分
を充分抑制するようなMTF特性を有し、第2フィルタ
手段28は第9図(c)K示す如く低次空間周波数成分
を通すが、周波数174Po付近以上の高次空間周波数
成分を充分抑制するようなMTF特性を有する。このよ
うに第2フィルタ手段28は第1フィルタ手段27に比
べて高次側の空間周波数成分をも通過するように定めら
れている。尚、第9図(b) 、 (c)と第4図(a
)又は第5図(、)とを比べると分る様に、本実施例の
第1゜第2フイルタ手段27,28のMTF周波数帯域
の端ば1/8Po t V4R,の如く、第1実施例の
周波数帯域内舅よりも低次周波数側にずれている。選択
手段29は第1実施例のものと同一で、第1゜・第2フ
イルタ手段27.28の出力を択一的に選択し、サンプ
ルホールド手段3oに送る。このサンプルホールド手段
60は互に直列接続された前段サンプルホールド回路3
0Aと後段サンプルホールド回路30Bとから構成され
ている。A/D変換器61はサンプルホールド回路30
Bの出力をA/D変換する。メモリ手段32は第1実施
例のものと同一である。
演算手段66の演算内容の例に関して簡単に以下に述べ
る。
一方の光電変換素子アレイに関するフィルタ済出力を複
数の領域A(1)、屓2) 、 A(3)・・・A(i
)・・・ACL)に区切り、′又他方の光電変換・素子
アレイに関するフィルタ済出力も対応してB(1) $
 B(2) t B(3)・・・B(j)・・B(L)
に区切り、これらの領域の複数のA(i)、B(j)の
対に関してその整合性を演算し、最も整合性の良い組合
せ(s 1j)及びその近傍の組合せの値を用いて両ア
レイ上の光像の相対的変位の量を演算しデフォーカス量
Ziを算出する。例えば各領域の構成要素の数が等t、
 < (M+1 )個である場合にはA(i)= (A
t + Ai+x l Al+2.・・・A4+M)B
(j)= (Bj・町・・、町・2.・・・町。M)で
ある。整合性の程度を表わす相関量は、1個分のデータ
位置だけ像のずれた場合に対してA−1−jを用い、[
x)をXを越えない最大整数を表わすものと(2,て C(1)= 、、、fiol At+y Bj+。l 
: (’ ”〔牛) 、! −11J )により与えら
れる。
この相関量C(A)?[−−(L−1)、・−−−1,
o、1−・・(t、−1)の各ずらし量に関して演算し
最大相関の位置即わちC(Aりが最も小さい値となるず
れの量1−1・が求まる。l・が両、端の値(1,−t
’iは一困)に等しくない時にはさらに細かいずれ量の
端数Δ6を例えば以下の式 %式%( )) により外挿する事ができる。
この様にして求められた端数を含むずれ量l。+Δll
oからデフォーカス量を表わす焦点検出信号Ziが求め
られる。
第2実施例では後述するように第1フィルタ手段を用い
る場合と第2フィルタ手段を用いる場合でサンプリング
ピッチが異なり、上記ずれ量l。+Δ1.からデフォー
カス量を算出するときの比例淀数が異なる。又第1フィ
ルタ手段選択の場合と第2フィルタ手段選択の場合で前
記区分された複数領域の数りも必ずしも同じでないので
演算手段66の演算内容は選択されたフィルタ手段によ
って幾分違う事になる。この事は第8図で判別手段34
からフィルタ手段選択信号34a f演算手段63にも
入力する事で識別され一部異なった演算が行なわれる。
又第1.第2フイルタ手段の出力中の情報量を表わす情
報量信号Diとlでは、例えはフィルタ手段の出力デー
タのうち最大のものと最小あものの差を用いる事もでき
るが、上記相関量C(功の最大(7’) 4 (2) 
C(Aり MAXと最小のものC(、/) arNの差
をとってもよい。又像ずれ量が像すれ判定領域−(L−
1)(lぐ(L−1)の範囲に入らない場合について考
えてみると、この場合にもC(A’)の値は上記範囲内
のlのある値で最小と方っており咬ぎられ【7い。
(−2かしこの様な場合には C(A)MrN/ (C(#)MAx  C(1)Ml
N)  は像ずれ量が判定領域の範囲内にある場合程に
小さくならないので適当なしきい値C,rHを設けて除
外することができる。
即わちC(1)MxN/ (C(功MAX  C(A’
)mXN) > CTHノ時td通常は正の値をとる前
記情報量信号DIに零又は負の値を付与する事により相
関外として除外する。
判別手段34fdこのような焦点検出信号Z+と情報量
信号Diとを入力し、第1.第2フィルタ手段選択時の
情報量信号Di(1)、 Di(2)が夫々の所定値D
o(1)、 Do(2)より小さい場合、焦点検出信号
Ziに無関係に、選択手段29が現在第1フィルタ手段
27を選択し7ているとL7たら、第2フィルタ手段2
8を選択させる第2フィルタ選択信号、具体的にはHレ
ベル出力を、逆に現在第2フィルタ手段28を選択して
いるとしたら第1フィルタ手段27f選択させる第1フ
ィルタ選択信号、具体的に[Lレベル出力を夫々出力端
子34aに発生【−7、他方、情報量信号Di(1)又
t/′1D12)が対応の所定量Do(1)、 Do(
2)以上である場合、焦魚検出信号Zi(1)又1Zi
(2)cn絶対値が対応の所定値zo(1) * Zo
 (2)より大きい時、上記第1フィルタ選択信号を、
所定値Zo(1)、 Zo(2)以下の時、上記第2フ
゛イルタ選択信号を夫々出力端子34aに発生する。更
にこの判別手段34は、情報量信号Di(1) s I
)i(2)が所定量Do(1) 。
Do(2)以上である時、記憶更新信号を出力端子34
bに発生する。この記憶更新信号に応じてメモリ回路3
5は、その時の焦点検出信号zif記憶する。
このメモリ回路35に記憶された焦点検出信号21に応
じて、表示装置3−6は焦点調節状態を表示し、駆動装
置67は結像光学系1?r合焦位置の方へ駆動する。サ
ンプルパルス発生回路38は判別手段64の出力端子3
1に接続され、サンプルホールド回路3(’IA、30
Bにサンプルホールドを開始させるサンプルパルスを給
供する。このサンプルパルスの周期は判別手段34の出
力に応じて変化し、それが第1フィルタ手段選択信号で
あるときの上記周期に、第2フィルタ手段選択信号のと
きよりも大きく、本実施例では2倍に選定さねている。
上記サンプルスパルス発生回路38u第1カウンタ69
の出力端子39aからスタート信号、具体的にはHレベ
ル信号を受けると、上記サンプルパルスの発生を開始し
、第2カウンタ40の出力端子40aからの終了信号、
具体的にはHレベル信号を受けると、上記サンフルパル
スの発生を停止する。
この第1カウンタ39はプリセッタブルカウンタで、設
定部41からゲート手段42′ft介して送られるプリ
セット値をプリセットすると共[、ANDゲート43か
らのパルス出力をダウンカウントし、内容が零になった
とき、Hレベルのスタート41i 号ケ出力する。第2
カウンタ40もプリセッタブルカウンタでありゲート手
段44ケ介した設定部41からのプリセット値にプリセ
ットされると共に、後段サンプルホールド回路30Bへ
のサンフルパルスをダウンカウントし、内容が零になっ
たときHレベルの終了信号を発生する。上記設定部41
は、第1フィルタ手段27の選択時に用いられる第1カ
ウンタ用第1プリセツト値と第2カウンタ用第1プリセ
ツト値及び第2フィルタ手段の選択時に用いられる第1
カウンタ用第2プリセツト値と第2カウンタ用第2プリ
セツト値が予め記憶・、されており、出力端子41a、
41cvc夫々第1フィルタ手段選択時の第1カウンタ
用第1プリセツト値と第2カウンタ用第1プリセツト値
が出方され出方端子41b、41dKH夫々第2フィル
タ手段選択時の第1カウンタ用第27′リセツト値と第
2カウンタ用第2プリセツト値とが出力され8端子41
aの第1プリセツト値は、出方端子41bの第2プリセ
ツト値より小さく、また出方端子41cの第1プリセツ
ト値は、出力端子/Ndの第2プリセツト値に等しく定
められている。
入力端子45には、光電装置21からの一連の光電出力
FA’r 1b+・・・am l bnの転送開始に同
期して図示なきシーフェンスコントロール部からHレベ
ル信号が入力される。この信号はすべてのデータのサン
プルホールド終了後から次回のプリセット値をブリセシ
トカウンター39.40にセットする壕での適当な時期
に゛Lレベルにリセットされる。入力端子46には、上
記一連の光電出力を転送する転送りロックに同期したク
ロックが入力される。
この作用を以下に説明する。
判別手段34が出力端子34aに第1フィルタ手段選択
信号であるLレベル出力を発生[7ているとする。この
選択信号により、選択手段29は第1フィルタ手段27
を選択し、ゲート手段42と44は設定部41の出力端
子41aと41eからの第1カウンタ用プリセツト値と
第2カウンタ用プリセツト値とを夫々第1カウンタ39
と第2カウンタ40とに人力し、それぞ−FJtのカウ
ンタをそのプリセット値にプリセットする。この後シー
フェンスコントロール部からの信号により光電装置21
から一連の光電出力&+ 、bI、am 、bs−HH
an、 bn が読み出される。この−蓮の光電出力a
・、b・・・・an、bn)うち−第1光電変換素子ア
レイ22からの光電出力&+9am・・・an ’+−
第10図(、)に示す。上記一連の光電出力al、b+
・・・am、l)−は第1フィルタ手段27によりフィ
ルタリング処理され、第11図(a)に示すフィルタ済
出力ん、Bl・・・AlB、に変換される。このフィル
タ済出力A、、B、・・・A、、B、のうち第1光電変
換素子了レイに関連するものA1.・・・A11?第一
10図(b) [示す。この第10図(b)と(a)と
を比べると、第1フィルタ手段27による高次空間周波
数成分の抑制効果が明らかである。一方、上記′光電装
fit、21からの読出に同期して入力端子45にHレ
ベル信号が人力されるので、ANDゲート43は人力端
子46からの転送りロックを出力する。第1カウンタ3
9は上記プリセット値から、転送りロック数を減算し、
人力クロック数が上記プリセット値に等しくなったとき
、スタート信号であるHレベル出力を発生する。このス
タート信号は、サンプルパルス発生回路38に人力°さ
れると共に、反転されてANDゲート43に人力されそ
のゲートを閉じる。サンプルパルス発生回路38は上記
スタート信号に応じて第11図(b)と(c)VC示す
前段用及び後段用サンプルパルスSP1.SP2を前段
及び後段サンプルホールド回路30Aと3[]Bとに夫
々給供する。前段サンプルホールド回路30Aは前段用
サンプルパルスSP 1に応じて、フィルタ済出力AI
 、131An、BfiからAa 、Ba 、Ar7B
* 、AuIBu・・・をサンプリングする。この前段
サンプルホールド回路30A Vi第11図(b)に矢
印の範囲で示した如く第1光電変換素子アレイに関連す
る出力A4 、A@・・・を短時間、第2光電変換素子
アレイに関連する出力B、 、B、・・・を比較的長時
間夫々保持する。この両者の保持時間を等しくする為に
、後段サンプルホールド回路30Bは、後段サンプルパ
ルスSP2に応じて前段サンプルホールド回路30Aの
出力をサンプルホールドする。第2カウンタ40は後段
用サンプルパルスSP2 f計数し、それが第1プリセ
ツト値に等しくなったとき終了信号を発生し前段及び後
段サンプルパルスSP1.8P2の発生を停止させる。
第10図(b)において、第1光電変換素子アレイに関
するフィルタ済出力A、・・・Anのうちサンプリング
されたフィルタ済出力Aa HAs @ん!・・・には
、その出力の下にマークMsが付されている。この図か
ら分るように、このサンプリングされたフィルタ済出力
の分布範囲(以下サンプリング領域という。)右はフィ
ルタ済出力ん・・・A、の範囲の大部分を占めているこ
とが分る。
〜勺変換器31は後段サンプルホールド回路30Bの出
力をA/D変換し、メモリ手段32に送る。尚、後段サ
ンプルホールド回路30B ?設けた理由は以下の通り
である。もし前段サンプルホールド回路30Aの出力を
直接A/D変換するならば、前段サンプルホールド回路
30Aの、出力B4.B、・・・の保持時間に比べて出
力A4.As・・・の保持時間が短かいので、その短い
方の保持時間内でA/D変換動作が終了するように、A
/D変換器31として高価な高速A/D9換器を使用し
なけれはならない。また高速A/D変換器を用い、でも
、保持時間の長い出力84 %Bl・・・のん小変換に
おいては、その高速性の特長が生かされない。ところが
、後段サンプルホールド回路30Bの使用により上述の
問題は解消される。尚、第11図(d)(e)に示され
るように第2フィルタ手段選択時のサンプリング周期は
第1フィルタ手段選択時のそれよりも小゛さいので、換
言すると後段サンプルホールド回路30Bの保持時間は
第2フィルタ手段選択時の方が短いので、A/D変換器
61の変換所要時間は、この第2フイルタ。
手段選択時の上記保持時間によって決定すれることに々
る。すると、当然第1フィルタ手段選択時には変換所要
時間に比べて径級サンプルホールド回路の保持時間が不
必要に長くなる。この無駄を避けるためには第1フィル
タ手段選択時の光電出力の転送りロックの周波数を第2
フィルタ手段選択時よりも太きくl〜、両選択時におけ
る後段サンプルホールド回路30Bの保持時間を等t、
、 <−ttlはよい。
演算手段63はメモリ手段32に記憶されたフィルタ済
出力を演算して焦点検出信号Zi(1)と情報量出力D
I(1)’!i”出力する。判別手段34は上記信号Z
i(IL Di(1)を対応する所定値Zo(1)、D
o(1)と比較する。 − (イ) Di(1)がDo(1)以上である場合この場
合、判別手段′54は記憶更新信号を出力端子34bに
発生し、このときの焦点検出信@Zi(1)をメモリ回
路35に記憶させる。表示装置36と駆動装置37はこ
の記憶された信号Zi(1)に基づき夫々焦点調節状態
の表示及び、結像光学系1の合焦位置への駆動を行う。
また、上記判別手段64は、信号Zi(1)が所定値Z
o(1)より大きい時、出力端子34aに第1フィルタ
手段選択信号を出力【−統、ける。従ってこの時、光重
装置21が更に一連の光電出力&+ 1b+・・・an
 + bn k出力する仁、この全回路は上述と同一動
作を行う。
信号Zi(1)が所定値Zo(1)以下である時は、判
別手段64は、第2フィルタ手段選択信号であるHレベ
ル出力を端子34aに出力する。この第2フィルタ手段
選択信号に応じて、選択手段29は第2フィルタ手段2
8を選択し、またゲート手段42゜44は設定部41の
出力端子41b、41dからの第1.第2カウンタ用第
2プリセツト値を夫々第1゜第2カウンタ39,40に
送る。その後に光電装置21から読出された一連の光電
出力a+1b+・・・Bn、bnは第2フィルタ手段2
8によりフィルタリング処理されA1.BI・・・AI
I、B!Iに変換される。このときの第1光電変換素子
アレイに関するフィルタ済出力A1+At・・’ A’
o f第10図(c)K示す。この第10図(C)と第
10図(b) ’i−比べると、第10図(C)の図形
の方が滑らかでなく、第2フィルタ手段28が第1フィ
ルタ手段27よりも高次空間周波数成分を通過させてい
ることが分る。−力筒1カウンタ59は上記光電出力の
読出に同期してANDゲート43の出力転送パルスを計
数し、その計数値が第2プリセツト値に一致したときス
タート信号を発生する。この第2フィルタ手段選択時の
第1カウンタ用第2プリセツト値は、第1フィルタ手段
選択時の第1カウンタ用第1プリセツト値よりも大きく
定められているので、この時のスタート信号発生、時点
ば、第1フィルタ手段選択時のスタート信号発生時点よ
りも遅くガっている。どゐスタート信号によりザンプル
パルス発生回路38は第11図(d)(e)にかす前段
及び後段用サンプルホルドSP3 。
SF3 ?発生する。このサンプルパルスSP3 、S
F3の周期け、判別手段34から送られる第2フィルタ
手段選択信号に従い、第1フィルタ手段選択時のサンプ
ルパルスSP1 、SF3よりも短かく、本実施例では
1/2@に定めらねでいる。従って、前段及び後段サン
プルホールド回路30A、301j第11図(d)(e
)V(示す如く、第1フィルタ手段選択時のη倍の周期
でフィルタ済出力A+IB+・・・AJ、、B、fサン
プリングし、As IB@ tA+。、BIe IA+
z 、Lm ”・を出力する。第2カウンタ40は、後
段用サンプルパルスSP4 ?計数しその計数値が第2
プリセツト値に一致した時、終了信号を発生し、サンプ
ルパルスSP3 、SF3の発生を停止させる。この第
2カウンタ用第2プリセツト値は第1フィルタ手段選択
時の第2、カウンタ用第1プリセツト値と等しく定めら
れているので、この第2フィルタ手段選択時にサンプリ
ングさ孔るフィルタリング済出力A、。
BI 、Ate gB+。・・・の数は第1フィルタ手
段選択時のそれと等L<ガっている。
こうしてサンプリングされたフィルタ済出力のうち第1
光電変換素子アレイに関するものが第10図(c)にマ
ークMsで示されている。本実施例では第1フィルタ手
段選択時のサンプリング周期及びサンプル数を夫々第2
フィルタ手段選択時の1/2及び同等とし、たので、第
10図(b)に示すサンプリング領域1.Jri、第1
0図(C)の領域12の2倍になっている。勿論両者の
サンプル数は必すしも等L7くなくても良い。方お、第
11図(d)t (e)のグラフは作図の関係上、サン
プリングの開始時点を早めて描いである。
上記サンプリングされた出力はA/D変換器31とメモ
リ手段32を介して演算手段33に送られ演算される。
この芦のフィルタ済出力は第1フィルタ手段選択時より
も高次空間周波数成分を多く含んでいるので、この′w
、2フィルタ手段選手段選択点検出信号Zi(2)は合
焦位置近傍において一層高精度トナッテイル。Di (
2)>Do(2) カッl zt(2)’l (Zo(
2)の時には判別手段34け第2フィルタ手段選択信号
を出力端子64&に出力し続けると共に記憶更新信号を
出力端子34bに送り、この時の焦点検出信号Zi(2
)?メモリ回路65に記憶させる。この記憶内容に応じ
て、表示及び結像光学系駆動が行われる。]] (2)
 > Do(2)で、l Zi(2) l > Zo(
2)の場合には、判別回路31;j第1フィルタ手段選
択信号を出力する。
(o)  Di(1)又1d Di(2)がDo(1)
又はDo(2)より小さい場合。
この場合は焦点検出信号Ziに無関係に判別手段34は
もしその時が第1フィルタ手段選択時であれば第2フィ
ルタ手段選択信号を、逆に第2フィルタ手段選択時であ
れば第1フィルタ手段選択信号を出力端子34aに夫々
出力する。これにより選択手段29は選択するフィルタ
手段を切換える。
またこの信号D1が所定値Doより小さい場合の焦点検
出信号Ziid精度的に極めて低いので、判別手段34
は記憶更新信号を発生しない。従ってこの時の信号Zi
は表示及び結像光学系の駆動には使用さ孔ない。尚、信
号z1に無関係なフィルタ手段の切換は以下の理由の為
に行われる。即ち、例えばその被写体が低次空間周波数
成分をほとんど含捷ず高次空間周波数成分を多量に含む
場合、第2フィルタ手段28の選択により必要な情報が
得られるからである。
本実施例では、第1フィルタ手段の選択時、即ちデフォ
ーカス量が大六く、第1.第2元電素子了しイ上の抽写
体像の相対的ずれ量が大きい時には、第10図(b)に
示す如くサンプリング領域踏を広く、第2フィルタ手段
選択時、即ち上記ずれ量が小さい時には、第10図(c
)に示す如くサンプリング領域1.を狭く定めている。
このことは焦点検出上、非常に有効である。即ち、サン
プリング領域を広くすると、上記被写体像が相対的に太
きくずれてもそのずれを検出できる。従って撮影レンズ
が合焦位置から太きく離れていてもデフォーカス量の検
出が可能となる。他方、サンプリング領域を広くするこ
とはそこに距離の異った被写体又は、奥行きのある被写
体が入って来る可能性が増大する。デフォーカス量が大
きい時の焦点検出は前ビンか後ピンかの判別かあるいは
おおよそのデフォーカス量の決定が出来れば充分で、デ
フォーカス量の絶対値の正確な測定σ必ず【7も必要な
いので、奥行きある被写体等がサンプリング領域に存在
17ても影響は少々い。ところが、デフォーカス量が小
さく、その絶対値を正確に測定しなければならない時に
は、上記奥行六ある被写体の存在は上記測定に太六斤誤
差を引き起こしがちである。
そこで高精度の焦点検出の必要な第2フィルタ手段選択
時には高次の空間周波数成分情報を用いる事で検出精度
を上げるとともにサンプリング領域を狭くして奥行きあ
る被写体がそこに入り込む可能性を少なくl−ている、 一般的Fはサンプリング領域を広くしたからといってサ
ンプリング周期を必すしも太きくする必要はなく−例え
ば第10図(b)の出力に関する11の領域を図示のサ
ンプリングピッチ4Poより小さくとりPOあるいは2
Poのピッチでサンプリングしても良い事は勿論である
。[7かし、サンプリングピッチ′(r−Po又U2P
oと小さくする事はサンプリング数がそれぞれ4倍、2
倍となりメモリ手段32の記憶容量や演算手段63の演
算規模の著しい増大を招きあまり好ましい事ではない。
従って本実施例のととぐサンプリン4グ領域を変えた場
合にも、サンプル数は同程度とする事が極めて有効であ
る、このように低次空間周波数成分のみ通過する第1フ
ィルタ手段の選択時にはサンプリング周期を4Poと大
e <’ 1.、高次空間周波数を通す第2フィルタ手
段の選択時にはサンプリング周期f2Poと小さくする
ことは情報の利用の点で極めて有利である。ここでサン
プリングピッチとフィルターのMTF%件の関係につい
て詳述すると、第1フィルタ選択時にはサンプリング周
期14Poとしたのンプリング定理からこの周波数8P
o以上の空間周波数成分は誤動作の原因ともなるので除
去されている事が望ましい。第9図(b)K示される様
に、第1フィルタ手段のMTFfl上記ナイキスト周波
数1ト付近以上の成分を充分抑制し、それ以下の成分を
通過させるの壬、この通過(7た成分を有効に利用で六
る。ところが第1フィルタ手段選択時にもしサンプリン
グ周期をPoとすると、この時のナイキスト周波数は柄
誓となり、この周波数以下の空間周波数成分を焦点検出
に利用できることになる。[2かし第9図(b)に示さ
れる様に周波数箱−以上の成分は第1フィルタ手段によ
って除去されているので、結局、サンプリング周期Po
は、サンプリング周期4Po K比ベサンプリング数f
4倍も増加しても、利用できる空間周波数成分の量は同
一となり、上記サンプリング数の増加は全く無駄に帰す
る。以上から明らかhようにサンプリング周期の決定は
、情報の有効利用と言う観点からは、その周期により決
まるナイキスト周波数がフィルタ手段のMTF周波数帯
域の端部付近に有するように定めることが望捷しい。ま
た、設定手段41のプリセット値を外部から変更可能に
すれば、サンプリング領域即ち焦点検出に使用する被写
体領域の広がりを任意に可変とすることができ、奥行き
ある被写体が上記領域内に入ることを防止できる。
次に第8図のブロックの具体・的構成例全説明する。
第12図け、フィルタ手段27.28の一例を示すもの
で一画素分の遅延回路D+ 、Da・・・])mが直列
に接続され、遅延回路DI 、D、 、D・・・・l)
mには夫々増幅器Al11?介]7て乗算器W□・・・
Wsに接続されている。これらの乗算器WI・・・Ws
は入力に夫々重みWl・・・Ws f乗する。この重み
は正又は負の数である。加算回路TIは各乗算器の出力
を加算する。
遅延回路D1に光電装置21からの一連の光電出力が順
次人力されると、加算回路T、からフィルタリング済出
力が出力される。所定のMTF特性を与える重みWl・
・・Wlのとり方はいろいろ考えられ一意的に決定され
るものではないが、以下に幾つか具体的彦例を示す。
第9図(e)の如*MTF特性のフィルタ手段を得るに
はD−= D−、Ws=W=とじ、w、・w、’pその
相互の大きさの傾向が第13−鉤(a)に示す如きもの
となる様に定める。具体的−例としてはWI= 0.2
8W、=0.76   W、=I   W、=0.76
   W、=0.28である。同様に第9図(b)のM
TF特性のフィルタ手段を得るにはり、二DI? T 
Wl ”児としWl・・W・を第16図(b)の如く定
める。具体的−例としてはW、=0.28  W、=0
.52  W謙=0.76  W、=0.94W== 
I  W−= 0.94  Wt= 0.76  Ws
= 0.52児= 0.28  である。巣9図(d)
の特性には第13図(C)又は(d)の重みを、第9図
(e)の点線(el)、実線(e3)の特性にはそれで
れ第16図(e)(f)の重みを、第9図(f)の特性
には第16図(g)の重みを夫々用いればよい。
このような第16図(a)〜(g)のMTF特性を適宜
組合せることにより第6図に示した第1フィルタ手段と
第2フィルタ手段との組合せが得られる。
またこのフィルタ手段としてCCDトランスバーサルフ
ィルタを使用すると簡単にフィルタ手段を構成する事が
できる。
第14図に第8図の判別手段34の具体的構成例を示す
第14図(IL)において第1メモリ640と第2メモ
IJ341j夫々所定値Do(1) + Do(2)、
t Zo(1)’、 Zo(2)をゲート手段342,
343.を介して、1コンパレータ644゜345 に
送る。このコンパレータ344けゲート手段342によ
り選択されたメモリ340 の出力Do(1) 、 D
o(2)の一方と演算手段33からの情報量信号Diと
を比較する。同様にコンパレータ645ハメモリ341
の出力Zo(1)、 Zo(2)の一方と焦点検出信号
Zlとを比較する。ゲート手段346ニコンパレータ6
44の出力αとコンパレータ345の出力βとこの判別
手段64の出力Iとを人力する。このゲート手段646
の具体的構成?第14図(b)に示す。D型フリップフ
ロップ647ハ上記α、βの出力が決定された後のタイ
ミングで発生するクロツクパルスヲ348に受はゲート
手段346の出力δを入力し\ 記憶する。このフリップフロップ6470更新された出
力が判別手段64の出力として使用される。
この判別手段64の動作例を以下の表に示す。
ただし Di(1)<Do(1) なり12)<Do(
2)で a = LDi(1)ンDo(1)又は Di
 (2) > Do (2)で 、=HIZi(1)I
<Zo(1) 又ハIZi(2)l<Zo(2)テβ=
L 上記以外で         β=H であるとする。
第2実施例の説明ではデフォーカス量21の大小により
複数のフィルタ手段を切り変えることを主題として話を
進め、それに従属する形でデフォーカス量の大小に応じ
てサンプリング領域の広がり金切り換えかつ対応してサ
ンプリングピッチを切り換える事を述べた。実際には第
2実施例のとと)2 くこの両者をかね具えるのが最も好ましいが、デフォー
カス量の大小でフィルターを切り換える事と、デフ式−
カス量の大小でサンプリング領域及びサンプリングピッ
チを切り換える事はナイキスト周波数に関連した問題は
あるものの一応別の事であり、後者だけを用いてもそれ
方りに有効な焦点検出装置を提供する事が可能である。
例えばフィルタ手段としては第9図(C)のMTF特性
のものを1つだけ用い、合焦近傍では第10図(C)の
どと〈サンプリング周期2Poでl、の領域にわたって
サンブリジグしたデータで演算を行ない、デフォーカス
の大きい所ではフィルタ手段はこの捷まとするがサンプ
リング周期4Poで第10図(b)の1.相当の広がり
の領域にわたってサンプリングLJtデータで前後ビン
判定の演算を行なう。この場合デフォーカスの大きい所
でフィルタ手段のMTF特性を第9図(b)のものに切
り換える場合に比べて、ナイキスト周波数以上の成分を
少し抽出してし捷うので幾分誤動作を起こ【7やすかっ
たり、高次の空間周波数成分の存在による偽合焦発生の
可能性は増大するが、これらの幾分の可能性を除けばデ
フォーカスの大きい所では光像のボケも大きい事も手伝
ってそれなりの効果が期待され得る。即わち前述したデ
フォーカス量によってサンプリング領域を変えかつサン
プリングピッチを変える事の効果はその捷ま期待される
。勿論単一フィルタとしてはそのMTFp性が第9図(
e)のものに限らず第9図(e)の点#(et)やその
他の特性のものであっても構わない。
以上の第1実施例及び第2実施例はいずれも第1フィル
タ手段のフィルタ済出力に基づ〈焦点検出信号と第2フ
ィルタリング手段のフィルタ済出力に基づく焦点検出信
号とを、デフォーカス量に応じて択一的に選択するもの
であった。次に、上記択一的選択の代りに、夫々の焦点
検出信号を所定の関係で同時に使用する本発明の第6−
実施例を説明する。
第15図において、光電装置5oがらの一連の光電出力
a+ 、bt・・・an 、 beは遅延手段51を介
して第1フィルタ手段52と、直接に第2フィルタ手段
53とを夫々送られる。上記光電装置50は第1又は第
2実施例のものと同様の構成、であら、第1・第2フイ
ルタ手段52.53も第1.第2実施例のものと同様で
、第1フィルタ手段52のMTF周波帯域の中心が第2
フィルタ手段53のそれよりも低次空間周波数側にずれ
ている。上記遅延手段51の遅延時間は、上記一連の光
重、出力について第2フィルタ手段53のフィルタ済出
力がすべてサンプルホールド手段54に送られた後に、
第1フィルタ手段52のフィルタ済出力が上記サンプル
ホールド手段54に送られる様に、設定されている。も
ちろんこの遅延手段51は第2フィルタ手段側に設ける
こともできる。このサンプルホールド手段54及びそれ
に続<AID変換器55、メモリ手段56.演算手段5
7は夫々第2実施例のものと同様の構成である。この演
算手段は最初に送られた第2フイルタチ段56のフィル
タ済出力について演算し、信号15i(2)、 Zi(
2) f算出し、次いで第1フィルタ手段52のフィル
タ済出力について信号Dt(1) + Zi(1) f
算出する。メモリ回路58は演算手段57からの信号D
i(1) 、 DI(2) 、 Zi (1) 、 Z
i(2)k。
すべて記憶する。合成手段59は、メ% IJ回路とZ
i (2)とを以下の所定の関係で合成した出力Z?算
出する。即ち Z=(1−a )Zi(1)+αZi(
2) ココテ、重みa Jd 0以上1以下の数で、信
号Zi(1)t Zi(2)。
Di(1) + Di (2)の大きさに応じて決定さ
引、る。具体的にはαの決定は、信号Zi(1)又はZ
i(2)が小さい時、即ち結像光学系が合焦位置の近傍
に位置している時には、帯域が高次空間周波数側の第2
フイルタ、手段56の出力に基づ〈信号Z 1(2)が
、強調されるようにa f 1又はそれに近い値とし、
逆に信号Zi(11+ Zr (2)が充分大きい時に
は帯域が低次空間周波数側のが1フィルタ手段52の出
力に基づく信号Zi(1)が強調される様にαを零又は
それに近い値とする。また、合焦近傍において信号Di
(2)が非常に小さい場合には信号Z i (2)は精
度的に低下しているので、このとき信号Di(1)が大
きければ、信号Zi(1)の重みが増加するようにし、
その逆に合焦位置が離れていても、信号Di (1)が
非常に小さい場合には信号Di (2)が大きければ、
信号Zi(2)の重みを増すようにする。
とも一方が対応の所定値Do (1) + Do(2)
 ?越えている時の合成出力2?記憶する。このメモリ
回路60の出力に応じて、第1.第2実施例と同様に表
示及び結像光学系駆動が行われる。サンプルパルス発生
回路61は第8図のそhと同様である。
(発明の効果) 以上の説明から明らかなように本発明によると、一対の
光電変換素子アレイの光重出力をフィルタリング処理す
る第1及び第2フィルタ手段と、上記第1.第2フィル
タ手段の出力に基づき結像光学系の焦点調節状態を表わ
す信号を作成する演算手段と、前回選択されたフィルタ
手段の記憶又は演算手段の出力信号に応じて、上記第1
フィルタ手段の出力に基づ〈上記演算手段の出力と上記
第2フィルタ手段の出力に基づく上記演算手段の出力と
を共に選択]2合成するか又はいすわかを択一的に選択
する選択手段とを具備し、上記第1.第2フィルタ手段
の夫々のMTF周波数帯域に異ならせているので、焦点
調節状態に応じて適宜の空間周波数成分に基づく焦点検
出を行うことが可能となり、高精度かつ前後ビン判定域
の広い迅速な焦点検出を達成できる。また、本発明のよ
うに周波数帯域の異なるフィルタ手段を切り換える事の
有効性は演算手段が相関演算のごとく全くフィルター効
果を持たない場合に著I7いが、演算手段がフーリエ変
換演算のようにそれ自体フィルター効果を持つ場合でも
フィルタ手段であらかじめナイキスト周波数以上の成分
を除去しておく等の有効な使い方が存在する。
【図面の簡単な説明】
第1図に本発明に係る焦点検出装置の一実施例の光学系
を示す光学図、第2図は第1図の小レンズアレイのMT
F特性を示すグラフ、第3図は上記第1実施例の回路系
を示すブロック図、第4図(N)は第1フィルタ手段の
MTF特性を示すグラフと、第4図(b) 、 (e)
は夫々第1ライルタ手段の具体的構成例ケ示すフロック
図、第5図(a)(b)(c)は第2フィルタ手段のM
TF特性のグラフとその具体的構成例のブロック図、第
6図(a)(b)(c)は第1第2フイルタ手段のMT
F特性を示すグラフ、第7図は本発明C第2実施例の光
学系を示す光学図、第8フ・口 図は第2実施例の回路系を示す耕ツク図、第9図(a)
fl光重変換素子アレイのMTF特性のグラフ、第9図
(b)〜(f)はフィルタ手段のMTF特性のグラフ、
第10図(a)、(b)、(c)は夫々光電出力、第1
フィルタ手段の出力及び第2フィルタ手段の出力を示す
波形図、第11図(a)〜(e)はフィルタ手段の出力
及びサンプルパルスを示すタイミングチャート、第12
図はフィルタ手段の具体的構成例を示すプロすブロック
図、第15図は本発明の第6実施例の回路系を示すブロ
ック図である。 4 ; 21;50 ・・・光電装置、5;27;52
・・・第1フィルタ手段、6;28;53・・・第2フ
ィルタ手段、7;29・・・選択手段、10;33;5
7・・・演算手段出願人 日本光学工業株式会社 代理人 渡 辺  隆  男 2「山        Σヒヒ        、〉、
ト匡オ11図 −A=/2図 −5ん8)−−= A=73図 (C)(d) (61ン

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)  m撒物の光像を形成する結像光学系の焦点調
    節状態を検出する焦点検出装置において。 (a)  光電変換素子が多数配列された一対の光電変
    換素子プレイと (b)  上記一対の光電変換素子アレイに夫々上記対
    象物のほぼ同一部分の2光像゛を投影する焦点検出光学
    系と、 (C)  上記一対の光電変換素子アレイの光電出力を
    入力【2それにフィルタリング処理を施す第1及び第2
    フィルタ手段と、 (d)  上記第1またけ第2フィルタ手段の出力全入
    力し、それに基づき上記焦点調節状態を表わす信号を作
    成する演算手段と、 (、)  前回に選択されたフィルタ手段の記憶内容あ
    るいは上記演算手段の出力信号に応じて、上記第1フィ
    ルタ手段の出力に基づく上記演算手段の出力信号と、上
    記第2フィルタ手段の出力に基づく上記演算手段の出力
    信号とを所定の関係で選択する選択手段とを具備し、 上記第1フィルタ手段と第2フィルタ手段の夫々のMT
    Fの周波数帯域が異っていることを特徴とする焦点検出
    装置。
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