JPS59142474A - スイツチマトリツクス試験方式 - Google Patents
スイツチマトリツクス試験方式Info
- Publication number
- JPS59142474A JPS59142474A JP1696183A JP1696183A JPS59142474A JP S59142474 A JPS59142474 A JP S59142474A JP 1696183 A JP1696183 A JP 1696183A JP 1696183 A JP1696183 A JP 1696183A JP S59142474 A JPS59142474 A JP S59142474A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switch matrix
- contact
- closing
- contacts
- closed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
（ａ） 発明の技術分野
本発明はＭＸＭのスイッチマトリックスの全交点の接点
の開閉の試験方法に係り高速に試験出来るスイッチマト
リックスの試験方式に関する。
の開閉の試験方法に係り高速に試験出来るスイッチマト
リックスの試験方式に関する。
（ｂ） 従来技術と問題点
従来ＭＸＭのスイッチマトリックスの全交点の接点の開
閉試験を行う場合は下記に説明する方法で行っている。
閉試験を行う場合は下記に説明する方法で行っている。
該スイッチマトリックスの行方向（入側）＋＋で表わし
列方向（出側）をｊで表わすと（但しｉ、ｊ＝＝ｌ〜Ｍ
）交点（ｉ、ｊ）の接点の開閉の試験を行なうには、例
えば１行の端子に信号を入力し、交点（＋、ｊ）の接点
を閉とし、１行の端子に接続された測定器により所定の
信号の到達を見る方法で、全交点の接点を順次閉とし゛
て行っている。この方法だと接点を閉とするステップ数
はＭ２回となり大規模なスイッチマトリックスの全交点
の接点の開閉の試験を行うには試験時間が長くなる欠点
がある。
列方向（出側）をｊで表わすと（但しｉ、ｊ＝＝ｌ〜Ｍ
）交点（ｉ、ｊ）の接点の開閉の試験を行なうには、例
えば１行の端子に信号を入力し、交点（＋、ｊ）の接点
を閉とし、１行の端子に接続された測定器により所定の
信号の到達を見る方法で、全交点の接点を順次閉とし゛
て行っている。この方法だと接点を閉とするステップ数
はＭ２回となり大規模なスイッチマトリックスの全交点
の接点の開閉の試験を行うには試験時間が長くなる欠点
がある。
（ｅ） 発明の目的
本発明は上記の欠点に鑑み、ＭＸＭのスイッチマ） ＋
７ツクスの全交点の接点の開閉の試験を高速に行うこと
が出来るスイッチマトリックス試験方式の提供にある。
７ツクスの全交点の接点の開閉の試験を高速に行うこと
が出来るスイッチマトリックス試験方式の提供にある。
（ｄ） 発明の構成
本発明は上記の目的を達成するために、ＭＸＭ（俳し入
側出側弁端子番号を０〜Ｍ−１とする）のスイッチマト
リックスの入側のＭ個の端子に各々異号る信号を入力さ
せ、該スイッチマトリックスの交点の接点をステップ１
からステップＭ迄ステップもの場合（０，ｉ）、（１，
ｉ＋１）・・・（Ｍ−１，ｉ＋Ｍ−１）で示すＭ個の交
点〔但しｉｌｄ数値１をＭで割り商を整数で表わす場合
の余りでかつ１＋α（但しα＝０〜Ｍ−１）の値がＭ−
１を越えたら１越す炉に０から順次１づつ増加する値で
ある〕の接点を閉じ、出側のＭ個の端子に接続された測
定器により所定の信号の到達を見て該スイッチマトリッ
クスの全交点の接点の開閉の試験を行うことを特徴とす
る。
側出側弁端子番号を０〜Ｍ−１とする）のスイッチマト
リックスの入側のＭ個の端子に各々異号る信号を入力さ
せ、該スイッチマトリックスの交点の接点をステップ１
からステップＭ迄ステップもの場合（０，ｉ）、（１，
ｉ＋１）・・・（Ｍ−１，ｉ＋Ｍ−１）で示すＭ個の交
点〔但しｉｌｄ数値１をＭで割り商を整数で表わす場合
の余りでかつ１＋α（但しα＝０〜Ｍ−１）の値がＭ−
１を越えたら１越す炉に０から順次１づつ増加する値で
ある〕の接点を閉じ、出側のＭ個の端子に接続された測
定器により所定の信号の到達を見て該スイッチマトリッ
クスの全交点の接点の開閉の試験を行うことを特徴とす
る。
（ｅ） 発明の実施例
以下本発明の１実施例につき図に従って説明する。
第１図は本発明の実施例で３×３のスイッチマトリック
スの場合の各ステップの交点の接点を閉とした状況を示
す図で、（Ａ）はステップ１．（Ｂ）はステップ２．（
０はステップ３の状況を示す。
スの場合の各ステップの交点の接点を閉とした状況を示
す図で、（Ａ）はステップ１．（Ｂ）はステップ２．（
０はステップ３の状況を示す。
図中１０．１１．１２は各々周波数の異なる発振器、２
０，２１．２２は周波数測定器を示す。
０，２１．２２は周波数測定器を示す。
先づ３×３のスイッチマトリックスの入側及出側の端子
番号２ｏ〜２とし、入側の端子θ〜２には各々周波数の
異なる発振器ｉｏ、１１．１２を接続し、出側の端子θ
〜２には周波数測定器２０゜２１．２２を接続しておく
。この状態では周波数測定器２０，２１．２２には何の
信号も来ていがいことを確認する。ステップ１では、ｉ
／Ｍ：１／３＝θ余９１であり、１＋２＝３はＭ−１＝
２を１つ越すので０とし、（２）に示す如くスイッチマ
トリックスの交点（０，１）（１，２）（２，０）の接
点を閉とし、周波数測定器２０，２１．２２にて、各々
発振器１２，１０．１１からの周波数の信号が到達して
いるか金兄て所定の交点の接点が閉にかったかを確認す
る。
番号２ｏ〜２とし、入側の端子θ〜２には各々周波数の
異なる発振器ｉｏ、１１．１２を接続し、出側の端子θ
〜２には周波数測定器２０゜２１．２２を接続しておく
。この状態では周波数測定器２０，２１．２２には何の
信号も来ていがいことを確認する。ステップ１では、ｉ
／Ｍ：１／３＝θ余９１であり、１＋２＝３はＭ−１＝
２を１つ越すので０とし、（２）に示す如くスイッチマ
トリックスの交点（０，１）（１，２）（２，０）の接
点を閉とし、周波数測定器２０，２１．２２にて、各々
発振器１２，１０．１１からの周波数の信号が到達して
いるか金兄て所定の交点の接点が閉にかったかを確認す
る。
ステップ２では２／３＝０余り２であフ、２＋１＝３は
Ｍ−１＝２を１つ越すのでＯとし、２＋２＝４はｌ／ｌ
−１＝２を２つ越すのでｊとし、（Ｂ）に示す如く、ス
イッチマトリックスの交点（０，２）（１，０）（２，
１）の接点を閉とし、上記と同じく周波数測定器２０，
２１．２２にて各々発振器１１．１２．１０からの周波
数が到達している力１を見て所定の交点の接点が閉にな
ったか管確認する。
Ｍ−１＝２を１つ越すのでＯとし、２＋２＝４はｌ／ｌ
−１＝２を２つ越すのでｊとし、（Ｂ）に示す如く、ス
イッチマトリックスの交点（０，２）（１，０）（２，
１）の接点を閉とし、上記と同じく周波数測定器２０，
２１．２２にて各々発振器１１．１２．１０からの周波
数が到達している力１を見て所定の交点の接点が閉にな
ったか管確認する。
ステップ３では３／３＝１余ｖＯであるので（Ｃ）＆こ
示す如くスイッチマトリックスの交点（０，０）（１，
１）（２，２）の接点を閉とし、上記と同じく周波数測
定器２０，２１．２２にて各々発振器１０．１１．１２
からの周波数が到達している２５）を見て所定の交点の
接点が閉にかりたかを確認する。これでスイッチマトリ
ックスの全交点を開とし、周波数測定器２０，２１．２
２で発振器１０゜１１．１２からの信号が到達していな
い力４確認する。このようにすればＭＸＭのスイッチ−
ｒ ） ＩＪ、クスの全接点の開閉の試験を行がうのに
、接点を閉とする回数をＭ回とすることが出来試験を高
速に行うことが出来る。
示す如くスイッチマトリックスの交点（０，０）（１，
１）（２，２）の接点を閉とし、上記と同じく周波数測
定器２０，２１．２２にて各々発振器１０．１１．１２
からの周波数が到達している２５）を見て所定の交点の
接点が閉にかりたかを確認する。これでスイッチマトリ
ックスの全交点を開とし、周波数測定器２０，２１．２
２で発振器１０゜１１．１２からの信号が到達していな
い力４確認する。このようにすればＭＸＭのスイッチ−
ｒ ） ＩＪ、クスの全接点の開閉の試験を行がうのに
、接点を閉とする回数をＭ回とすることが出来試験を高
速に行うことが出来る。
第２図は本発明の応用例で、ＭＸＮのスイッチマトリッ
クスでＭ）Ｎの場合で、３×２のスイッチマトリックス
の場合の各ステップの交点の接点を閉とした状況を示、
す図で（５）はステップ１．（Ｂ）はステップ２．（Ｏ
はステップ３の状況ヲテす。又第３図は本発明の応用例
でＭＸＮスイッチマトリックスでＭ（Ｎの場合で、３×
６のスイッチマトリックスの場合のブロック図である。
クスでＭ）Ｎの場合で、３×２のスイッチマトリックス
の場合の各ステップの交点の接点を閉とした状況を示、
す図で（５）はステップ１．（Ｂ）はステップ２．（Ｏ
はステップ３の状況ヲテす。又第３図は本発明の応用例
でＭＸＮスイッチマトリックスでＭ（Ｎの場合で、３×
６のスイッチマトリックスの場合のブロック図である。
図中第１図と同一機能の物は同一記号で示す。
スイッチマトリックスがＭＸＮでＭ）Ｎの場合’（Ｈ３
Ｘ２の場合を例にとり第２図で説明すると出側に端子番
号２がないのでここには測定器２２は接続しないが他は
囚に示す如く第１図の場合と同様とし、又各ステップの
接点を閉とするのは、仮想的に端子番号２の出側がある
として第１図σ）場合と同じくステップ１でＴＩ′１（
５）に示す如（（０，１）（２，０）の交点の接点を閉
とし、ステップ２では（Ｂ）に示す如＜ （１，０）（
２，１）の交点の接点を閉とし、ステップ３では（Ｃ）
に示・Ｔ如＜（０，０）（１，１）の交点の接点を閉と
するようにすれば高速に試験出来る。
Ｘ２の場合を例にとり第２図で説明すると出側に端子番
号２がないのでここには測定器２２は接続しないが他は
囚に示す如く第１図の場合と同様とし、又各ステップの
接点を閉とするのは、仮想的に端子番号２の出側がある
として第１図σ）場合と同じくステップ１でＴＩ′１（
５）に示す如（（０，１）（２，０）の交点の接点を閉
とし、ステップ２では（Ｂ）に示す如＜ （１，０）（
２，１）の交点の接点を閉とし、ステップ３では（Ｃ）
に示・Ｔ如＜（０，０）（１，１）の交点の接点を閉と
するようにすれば高速に試験出来る。
又ＭＸＮでＭ（Ｈの場合は出側をＭＸＭにかるように分
けて考へる。３×６の場合を例にとって第３図で説明す
ると、発振器１０，１１．１２を入側の茹゛４子０，１
．２に接続し、周波数測定器２０゜２１．２２を出側の
端子０． １． ２に接続し、入側出側のＯ〜２，０〜
２の交点の接点を第１図の場合と同様に試験し、次に周
波数測定器２０．２１゜２２を出側の端子３，４．５に
接続し、端子３゜４．５を端子０，１．２と考え第１図
の場合と同様に試験を行なえばやはり高速に試験するこ
とが出来る。
けて考へる。３×６の場合を例にとって第３図で説明す
ると、発振器１０，１１．１２を入側の茹゛４子０，１
．２に接続し、周波数測定器２０゜２１．２２を出側の
端子０． １． ２に接続し、入側出側のＯ〜２，０〜
２の交点の接点を第１図の場合と同様に試験し、次に周
波数測定器２０．２１゜２２を出側の端子３，４．５に
接続し、端子３゜４．５を端子０，１．２と考え第１図
の場合と同様に試験を行なえばやはり高速に試験するこ
とが出来る。
（ｆ） 発明の効果
以上詳細に説明せる如く本発明によれば、接点を閉とす
る回数を大巾に減少出来、特に大規模なスイッチマトリ
ックスの場合は接点の開閉の試験時間を大巾に減少出来
る効果がある。
る回数を大巾に減少出来、特に大規模なスイッチマトリ
ックスの場合は接点の開閉の試験時間を大巾に減少出来
る効果がある。
第１図は本発明の実施例で３×３スイツチマトリツクス
の場合の各ステップの交点の接点を閉とした状況金量す
図、第２図は本発明の応用例で３×２スイツチマトリツ
クスの場合の各ステップの交点のり点を閉とした状況を
示す図、第３図は本発明の応用例で３×６スイツヂマト
リツクスの場合のブロック図である。 図中１０．１１．１２は各々周波数の異なる発振器、２
０，２１．２２は周波数測定器を示す。 第 １ 月 （Ａ） （Ｂ）
（Ｃ）−一一一μ 第 ２ 図 （ＩＩ’） （１３）
とＣ′。 峯 ３ 閃
の場合の各ステップの交点の接点を閉とした状況金量す
図、第２図は本発明の応用例で３×２スイツチマトリツ
クスの場合の各ステップの交点のり点を閉とした状況を
示す図、第３図は本発明の応用例で３×６スイツヂマト
リツクスの場合のブロック図である。 図中１０．１１．１２は各々周波数の異なる発振器、２
０，２１．２２は周波数測定器を示す。 第 １ 月 （Ａ） （Ｂ）
（Ｃ）−一一一μ 第 ２ 図 （ＩＩ’） （１３）
とＣ′。 峯 ３ 閃
Claims (1)
- ＭＸＭ（但し入側出側共端子番号を０−Ｍ−１とする）
のスイッチマトリックスの入側のＭ個の端子に各々異な
る信号を入力させ、該スイッチマトリックスの交点の接
点をステップ１からステップＭ迄ステップｌの場合（０
，り、（１，＋＋１）・・−・・値１をＭで割り商を整
数で表す場合の余りでかつ；＋α（但しαは０〜Ｍ−１
）の値がＭ−１を越えたら１越す毎に０から順次１づつ
増加する値である〕の接点を閉じ、出側のＭ個の端子に
接続された測定器により所定の信号の到達を見て該スイ
ッチマトリックスの全交点の接点の開閉の試験を行なう
ことを特徴とするスイッチマトリックス試験方式。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1696183A JPS59142474A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | スイツチマトリツクス試験方式 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1696183A JPS59142474A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | スイツチマトリツクス試験方式 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59142474A true JPS59142474A (ja) | 1984-08-15 |
Family
ID=11930699
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1696183A Pending JPS59142474A (ja) | 1983-02-04 | 1983-02-04 | スイツチマトリツクス試験方式 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59142474A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6052999A (ja) * | 1983-07-11 | 1985-03-26 | エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン | メモリ装置 |
| CN103592542A (zh) * | 2013-11-07 | 2014-02-19 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于开关矩阵的信号分析接口智能化匹配方法 |
-
1983
- 1983-02-04 JP JP1696183A patent/JPS59142474A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6052999A (ja) * | 1983-07-11 | 1985-03-26 | エヌ・ベ−・フイリツプス・フル−イランペンフアブリケン | メモリ装置 |
| CN103592542A (zh) * | 2013-11-07 | 2014-02-19 | 中国电子科技集团公司第四十一研究所 | 一种基于开关矩阵的信号分析接口智能化匹配方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0242255A3 (en) | Circuit testing system | |
| FR2372471A1 (fr) | Dispositif de recapitulation d'etat | |
| JPS59142474A (ja) | スイツチマトリツクス試験方式 | |
| JPH02118476A (ja) | 半導体集積回路装置 | |
| JPS62261970A (ja) | 診断装置 | |
| JPH02159634A (ja) | データラッチ入出力装置 | |
| JPS6255955A (ja) | 集積回路 | |
| JPS62293736A (ja) | 試験回路つき集積回路 | |
| JPS59142475A (ja) | スイツチマトリツクスの試験方式 | |
| JP2838599B2 (ja) | テスト容易化回路 | |
| JPS63254567A (ja) | 論理回路設計検証用の表示装置 | |
| SU1256040A1 (ru) | Веро тностное устройство дл анализа сетей | |
| JPS63283345A (ja) | クロスコネクト装置の診断方式 | |
| JPH01192215A (ja) | 半導体集積論理回路 | |
| JPS58106478A (ja) | 試験方式 | |
| JPH0339672A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH01308064A (ja) | 集積回路 | |
| JPH04352238A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPH02105943A (ja) | シミュレーション方式 | |
| JPH02171667A (ja) | テスト回路 | |
| JPH0318775A (ja) | 論理回路の機能検証方法 | |
| JPS6154713A (ja) | ゲ−トアレイ装置 | |
| JPH03115873A (ja) | 半導体集積回路 | |
| JPS5942421A (ja) | 温度検出装置 | |
| JPS62249081A (ja) | 半導体集積回路 |