JPS59132320A - ガス濃度測定装置 - Google Patents
ガス濃度測定装置Info
- Publication number
- JPS59132320A JPS59132320A JP684383A JP684383A JPS59132320A JP S59132320 A JPS59132320 A JP S59132320A JP 684383 A JP684383 A JP 684383A JP 684383 A JP684383 A JP 684383A JP S59132320 A JPS59132320 A JP S59132320A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- light
- chopper
- mirrors
- sample
- gas
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- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 4
- 239000007789 gas Substances 0.000 description 13
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 2
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 2
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000004215 Carbon black (E152) Substances 0.000 description 1
- VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N Hydrochloric acid Chemical compound Cl VEXZGXHMUGYJMC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 206010041662 Splinter Diseases 0.000 description 1
- 230000002238 attenuated effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 229930195733 hydrocarbon Natural products 0.000 description 1
- 150000002430 hydrocarbons Chemical class 0.000 description 1
- 229910000041 hydrogen chloride Inorganic materials 0.000 description 1
- IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N hydrogen chloride Substances Cl.Cl IXCSERBJSXMMFS-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000001771 impaired effect Effects 0.000 description 1
- 238000010030 laminating Methods 0.000 description 1
- 230000031700 light absorption Effects 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J3/00—Spectrometry; Spectrophotometry; Monochromators; Measuring colours
- G01J3/02—Details
- G01J3/08—Beam switching arrangements
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、大気中の特定ガス例えば法化水素ガスの濃度
を測定するガス濃度測定装置に関する。
を測定するガス濃度測定装置に関する。
従来技術
この種ガス濃度測定装置の一つとして光源にHe−Ne
ガヌレーザ管を使用し、レーザ光をビームスプリッタに
て試料光古参照光に分割し、被測定力ス(炭化水累ガス
)による吸収を受けた試料光と、このガZによる吸収を
夕・けていない参照光の受光佑号強艮を比較して、被測
定ガスの濃度を検出する装置が知られている。かかる装
置にあっては、従来より、同一レーザ光を試料光と参照
光に分割するに際し、ビームスプリッタ例えばノ1−フ
ミラーが使用されている。しかし、通常/\−フミラー
は入射する光の1波長の厚さをもつ誘電体層を屈折率を
異ならせて交互にlO数層積層して構成されるが、He
−Neガヌレーザの如く、遠赤外レーザでは、その波長
が長いために各誘電体層の厚みも−1,り増加し、クラ
ンクが入υ易くなるという問題を生じる。発明量は実験
によp1積層5層目付近から特にこのクラックが多く発
生することを確認している。また他のハーフミラ−とし
て知られているアルミと金属の貼合せ構造を有するもの
では、アルミ、金属接合面で遠赤外光の吸収が大きく、
透過光、反射光ともに減衰してしまうという問題があり
、これらの理由から、ハーフミラ−等ビームスプリッタ
の使用時、この種赤外吸光法によるガス濃度測定装置に
は好ましくない。
ガヌレーザ管を使用し、レーザ光をビームスプリッタに
て試料光古参照光に分割し、被測定力ス(炭化水累ガス
)による吸収を受けた試料光と、このガZによる吸収を
夕・けていない参照光の受光佑号強艮を比較して、被測
定ガスの濃度を検出する装置が知られている。かかる装
置にあっては、従来より、同一レーザ光を試料光と参照
光に分割するに際し、ビームスプリッタ例えばノ1−フ
ミラーが使用されている。しかし、通常/\−フミラー
は入射する光の1波長の厚さをもつ誘電体層を屈折率を
異ならせて交互にlO数層積層して構成されるが、He
−Neガヌレーザの如く、遠赤外レーザでは、その波長
が長いために各誘電体層の厚みも−1,り増加し、クラ
ンクが入υ易くなるという問題を生じる。発明量は実験
によp1積層5層目付近から特にこのクラックが多く発
生することを確認している。また他のハーフミラ−とし
て知られているアルミと金属の貼合せ構造を有するもの
では、アルミ、金属接合面で遠赤外光の吸収が大きく、
透過光、反射光ともに減衰してしまうという問題があり
、これらの理由から、ハーフミラ−等ビームスプリッタ
の使用時、この種赤外吸光法によるガス濃度測定装置に
は好ましくない。
発明の目的
零発814は、前述したようなビームスプリッタを使用
することなく、試料光及び参照光を−っの光源から安定
に、かつ効率よく取り出すことを目的とする。
することなく、試料光及び参照光を−っの光源から安定
に、かつ効率よく取り出すことを目的とする。
発明の構成
本発明は、2光線方式のガス濃度測定装置において、光
源からの光を分割するチョッパとして、その回転面が光
入射方向に対し90’以外の所定の角度に設定され、か
つ回転軸を中心とする同心円上に試料光を得るスリット
と参照光を得るミラーが交互に設けられ、さらにスリッ
ト、ミラー間領域は該領域に入射した光が上記試料光及
び参照光とは異なる方向へ反射すべくその反射面が決定
されてなる回転体を使用して彦るものである。
源からの光を分割するチョッパとして、その回転面が光
入射方向に対し90’以外の所定の角度に設定され、か
つ回転軸を中心とする同心円上に試料光を得るスリット
と参照光を得るミラーが交互に設けられ、さらにスリッ
ト、ミラー間領域は該領域に入射した光が上記試料光及
び参照光とは異なる方向へ反射すべくその反射面が決定
されてなる回転体を使用して彦るものである。
実施例
第1図において、+11はHe−Neガスレーザ管で、
波長3.89μの遠赤外光を出力する。その出力光を実
線矢印aで示す。(2)は偏平な円垂形回転体よりなる
チョッパでその中心には、回転@(3jが設けられ、モ
ータ(図示せず)に連結されている。
波長3.89μの遠赤外光を出力する。その出力光を実
線矢印aで示す。(2)は偏平な円垂形回転体よりなる
チョッパでその中心には、回転@(3jが設けられ、モ
ータ(図示せず)に連結されている。
このチョッパ(2)の構造につき第2図を用いて説明す
るとt+ )(4)及び(505)は、チョッパ(2)
の同心円上に交互に配列されたスリット及びミラーで、
この同心円上にレーザ管(1)からの出力光aが入射す
る。
るとt+ )(4)及び(505)は、チョッパ(2)
の同心円上に交互に配列されたスリット及びミラーで、
この同心円上にレーザ管(1)からの出力光aが入射す
る。
上記同心円を含む回転体回転面は、出力光aの入射方向
に対し、90°以外の任意の角度に傾けられて配置され
る。それ故、回転面に平行に設けられたミラー(6)に
よる反射光(破線すで示す)は、入射方向とは異なる方
向へ反射する。スリット(4)とミラー(5)の間の中
間領域(6)は鏡面にて形成され、この領域に入射した
光は、入射光の、反射光すとは、異なる方向(破線Cで
示す)へ反射される。
に対し、90°以外の任意の角度に傾けられて配置され
る。それ故、回転面に平行に設けられたミラー(6)に
よる反射光(破線すで示す)は、入射方向とは異なる方
向へ反射する。スリット(4)とミラー(5)の間の中
間領域(6)は鏡面にて形成され、この領域に入射した
光は、入射光の、反射光すとは、異なる方向(破線Cで
示す)へ反射される。
これよりチョッパ(2)の回転によシ、スリット(4)
、ミラー(5)及び中間領域(6)が光路に到来すると
、試料光a及び参照光b1さらに中間領域反射光Cが交
互にそれぞれ異なる方向へ出射する。(7)は、被測定
ガスを流入させた光吸収セルで、スリット(4)を透過
した光aが、入射し、被測定ガス中を通過して受光素子
(8)に到達する。(9)はミラー(6)にて反射され
た参照光すが入射する受光素子、(Ml)(M2 )
CMs )はチョッパー回転軸(3)に取9つけられた
8個のマーク帯、(Sl) (S2 ) (S’8 )
は、これらマーク帯(M 1) (M 2) (Ma)
に近接して配置されそのマークを検知するセンサである
。これらのマーク帯(Ml) (M2 ) (Ma )
及びセンサ(Sl ) C52) (S a)は、チョ
ッパ(2)の回転位置を検出するもので、マーク帯(M
l)及びセンサ(Sl)にて、中間反射領域(6)、マ
ーク帯(M2)及びセンサ(S2)にてスリット(<
l In、またマーク帯(Ma)及びセンサ(S8)に
てミラー(5)(5)の各位置が検出され信号が出力さ
れる。(lO)(11)は、それぞれ・受光素子(9)
(8)からの信号を増幅するアンプ、C2)θ3)は各
アンプ(101(l 1)の出力信号を受けそのゼロ点
を決定するゼロ点決定回路で、センサ(Sりからの信号
に同期しで動作する。ゼロ点決定回路θ21 (13)
の出力はスイッチQJ (151及び信号蓄積用コンデ
ンサHQ7+を介してローパヌフィルり(Ial19+
に入力される。スイッチ(14,lidセンサ(祖8)
の検出信号により閉成動作し、また他のスイッチ(+5
)は、センサ(S2)の検出信号によシ閉成動作する。
、ミラー(5)及び中間領域(6)が光路に到来すると
、試料光a及び参照光b1さらに中間領域反射光Cが交
互にそれぞれ異なる方向へ出射する。(7)は、被測定
ガスを流入させた光吸収セルで、スリット(4)を透過
した光aが、入射し、被測定ガス中を通過して受光素子
(8)に到達する。(9)はミラー(6)にて反射され
た参照光すが入射する受光素子、(Ml)(M2 )
CMs )はチョッパー回転軸(3)に取9つけられた
8個のマーク帯、(Sl) (S2 ) (S’8 )
は、これらマーク帯(M 1) (M 2) (Ma)
に近接して配置されそのマークを検知するセンサである
。これらのマーク帯(Ml) (M2 ) (Ma )
及びセンサ(Sl ) C52) (S a)は、チョ
ッパ(2)の回転位置を検出するもので、マーク帯(M
l)及びセンサ(Sl)にて、中間反射領域(6)、マ
ーク帯(M2)及びセンサ(S2)にてスリット(<
l In、またマーク帯(Ma)及びセンサ(S8)に
てミラー(5)(5)の各位置が検出され信号が出力さ
れる。(lO)(11)は、それぞれ・受光素子(9)
(8)からの信号を増幅するアンプ、C2)θ3)は各
アンプ(101(l 1)の出力信号を受けそのゼロ点
を決定するゼロ点決定回路で、センサ(Sりからの信号
に同期しで動作する。ゼロ点決定回路θ21 (13)
の出力はスイッチQJ (151及び信号蓄積用コンデ
ンサHQ7+を介してローパヌフィルり(Ial19+
に入力される。スイッチ(14,lidセンサ(祖8)
の検出信号により閉成動作し、また他のスイッチ(+5
)は、センサ(S2)の検出信号によシ閉成動作する。
(20,・は、ローパヌフィルタ(till!(19)
にて各々平滑された試料光信号SIG及び参照光信号R
EFを入力し、その対数比を饅出するログアンプであり
、その出力としてガス濃度に比例した伯EF 号log(−)が出力されるっ IG 発明の効果 本発明は、チョッパの回転軸を光路に対し、900以外
の所定の角度傾斜させ、スリットとミラーを交互に配す
ることにより、試料光と参照光を時系列に振り分け、後
にそのタイミングでサンプリングすることによってビー
ムスプリンタを用いることなく、これと同様の機能を実
現することができる。これにより、遠赤外光を使用した
場合であっても、測定の安定性及び光の効率が損われる
ことはない。また本発明によれば、チョッパーに傾斜面
を設け、これをスリット、ミラー中間領域として光が2
つの受光素子にともに入射しないタイミングをと9、ゼ
ロ点決定を行なっているから、チョッパの一部を利用し
てゼロ点決定を容易に行なうことができる。
にて各々平滑された試料光信号SIG及び参照光信号R
EFを入力し、その対数比を饅出するログアンプであり
、その出力としてガス濃度に比例した伯EF 号log(−)が出力されるっ IG 発明の効果 本発明は、チョッパの回転軸を光路に対し、900以外
の所定の角度傾斜させ、スリットとミラーを交互に配す
ることにより、試料光と参照光を時系列に振り分け、後
にそのタイミングでサンプリングすることによってビー
ムスプリンタを用いることなく、これと同様の機能を実
現することができる。これにより、遠赤外光を使用した
場合であっても、測定の安定性及び光の効率が損われる
ことはない。また本発明によれば、チョッパーに傾斜面
を設け、これをスリット、ミラー中間領域として光が2
つの受光素子にともに入射しないタイミングをと9、ゼ
ロ点決定を行なっているから、チョッパの一部を利用し
てゼロ点決定を容易に行なうことができる。
第1図は、本発明実施例回路ブロック図、第2図はチョ
ッパを示す平面図である。
ッパを示す平面図である。
Claims (1)
- (1)光源からの光をチョッパによシ試料光及び参照光
に分割し、試料光のみ被測定ガス中を透過させてその透
過光受光信号と、上記参照光受光信号とを比較して被測
定ガスの濃度を測定するガス濃度測定装置において、上
記チョッパは、その回転面が光入射方向に対し90°以
外の所定の角度に設定され、かつ回転軸を中心とする同
心円上に試料光を得るスリットと参照光を得るミラーが
交互に設けられ、さらにスリット、ミラー間領域は該−
領域に入射した光が上記試料光及び参照光とは異なる方
向へ反射すべくその反射面が決定されてなる回転体にて
構成されたことを特徴とするガス濃度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP684383A JPS59132320A (ja) | 1983-01-18 | 1983-01-18 | ガス濃度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP684383A JPS59132320A (ja) | 1983-01-18 | 1983-01-18 | ガス濃度測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59132320A true JPS59132320A (ja) | 1984-07-30 |
Family
ID=11649521
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP684383A Pending JPS59132320A (ja) | 1983-01-18 | 1983-01-18 | ガス濃度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59132320A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013003081A (ja) * | 2011-06-21 | 2013-01-07 | Shimadzu Corp | セクターミラー |
-
1983
- 1983-01-18 JP JP684383A patent/JPS59132320A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2013003081A (ja) * | 2011-06-21 | 2013-01-07 | Shimadzu Corp | セクターミラー |
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