JPS59125272A - 溶接線検出装置 - Google Patents
溶接線検出装置Info
- Publication number
- JPS59125272A JPS59125272A JP23112982A JP23112982A JPS59125272A JP S59125272 A JPS59125272 A JP S59125272A JP 23112982 A JP23112982 A JP 23112982A JP 23112982 A JP23112982 A JP 23112982A JP S59125272 A JPS59125272 A JP S59125272A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- image
- line
- welding
- image information
- address
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Classifications
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B23—MACHINE TOOLS; METAL-WORKING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- B23K—SOLDERING OR UNSOLDERING; WELDING; CLADDING OR PLATING BY SOLDERING OR WELDING; CUTTING BY APPLYING HEAT LOCALLY, e.g. FLAME CUTTING; WORKING BY LASER BEAM
- B23K9/00—Arc welding or cutting
- B23K9/12—Automatic feeding or moving of electrodes or work for spot or seam welding or cutting
- B23K9/127—Means for tracking lines during arc welding or cutting
- B23K9/1272—Geometry oriented, e.g. beam optical trading
- B23K9/1274—Using non-contact, optical means, e.g. laser means
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Geometry (AREA)
- Plasma & Fusion (AREA)
- Mechanical Engineering (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は自動溶接装置の視覚センサ如月いる溶接線検出
装置に関するものである。
装置に関するものである。
この種の溶接線検出装置としては旧来の探触子（プロー
ブ）に代えて画像処理技術を駆使したものが各ｖｉ折案
されている。例えば、第１１回国際産業上ロボットシン
ポジウム（１９８１年１０月）において発表されたよう
に１溶接部付近の形状によって生じた光パターン（隅肉
溶接ならばＶ型）を撮像装置で読取り、この光パターン
と基準パターンとの相関関係が最大になるように溶接位
置の補正信号を出力するものが提案されている。
ブ）に代えて画像処理技術を駆使したものが各ｖｉ折案
されている。例えば、第１１回国際産業上ロボットシン
ポジウム（１９８１年１０月）において発表されたよう
に１溶接部付近の形状によって生じた光パターン（隅肉
溶接ならばＶ型）を撮像装置で読取り、この光パターン
と基準パターンとの相関関係が最大になるように溶接位
置の補正信号を出力するものが提案されている。
ところが、このような基準画像と実画像の相関関係を利
用したものでは、溶接部の形状（例えば７字形）に合せ
て基準画像を交換しなければなら□ず、逆に交換しない
場合には検出可能な対象ワークの形状が制限されてしま
うという欠点がある。
用したものでは、溶接部の形状（例えば７字形）に合せ
て基準画像を交換しなければなら□ず、逆に交換しない
場合には検出可能な対象ワークの形状が制限されてしま
うという欠点がある。
丑た、溶接部に輝線、汚れ、傷あるいは仮付は部分があ
ると、誤動作し易いという欠点がある。
ると、誤動作し易いという欠点がある。
本発明はこのような欠点に鑑みなされたもので、その目
的は対象ワークの形状に制限がなく、かつ輝線あるいは
仮利は部分があっても誤動作しない溶接線検出装置を提
供することにある。
的は対象ワークの形状に制限がなく、かつ輝線あるいは
仮利は部分があっても誤動作しない溶接線検出装置を提
供することにある。
このために本発明は溶接部の濃淡に応じた画像情報を取
出し、この画像情報を複数組積算して原画像情報とし、
この原画像情報に基づき溶接線に和尚する線画像アドレ
スを検出し、この線画像アドレスと基準溶接線アドレス
との偏差に応じた溶接位置補正信号を送出するようにし
たものである。
出し、この画像情報を複数組積算して原画像情報とし、
この原画像情報に基づき溶接線に和尚する線画像アドレ
スを検出し、この線画像アドレスと基準溶接線アドレス
との偏差に応じた溶接位置補正信号を送出するようにし
たものである。
以下、図示する実施例に基づき本発明の詳細な説明する
。 。
。 。
第１図（ａ）および（ｂ）は隅肉溶接部およびＶ字形溶
接部の一例を示す斜視図である。本発明において隅肉溶
接部については線分１ａが、またＶ字形溶接部について
は線分２ａｐ２ｂのうちいずれかが溶接線として検出さ
れる。
接部の一例を示す斜視図である。本発明において隅肉溶
接部については線分１ａが、またＶ字形溶接部について
は線分２ａｐ２ｂのうちいずれかが溶接線として検出さ
れる。
このような溶接線１ａ＋２ａ、２ｂは、溶接部の濃淡に
応じた画像情報を撮像装置によって取出し、この画像情
報を演算処理することによって検出される。例えばＶ字
形溶接部における溶接線２ａは次のようにして検出され
る。すなわち、検出対象の溶接線２ａの近傍の溶接部２
ｃが第２図の破線で示すように所定サイズ（１×ｊ画素
）の２次元平面上で溶接方向ＷＫ沿って順次走査される
。すると、非溶接部２ｄには暗褐色の保護塗料が塗布さ
れ、溶接部２ｃにおいてはその保護塗料が研磨された状
態となっているため、非溶接部２ｄＫついては１暗〃の
画像情報が、また溶接部２ｃについては１明〃 の画像
情報が取出される。そこで、このような所定サイズの２
次元平面上における画像情報に対してたたみ込み演算な
どの演算処理が加えられるとと傾より、１暗〃部分から
気門〃部分への境界線が抽出され、この境界線が溶接線
２＆として検出される。第３図はこのようにして検出き
れた溶接線２ａの表示画像を示す図である。
応じた画像情報を撮像装置によって取出し、この画像情
報を演算処理することによって検出される。例えばＶ字
形溶接部における溶接線２ａは次のようにして検出され
る。すなわち、検出対象の溶接線２ａの近傍の溶接部２
ｃが第２図の破線で示すように所定サイズ（１×ｊ画素
）の２次元平面上で溶接方向ＷＫ沿って順次走査される
。すると、非溶接部２ｄには暗褐色の保護塗料が塗布さ
れ、溶接部２ｃにおいてはその保護塗料が研磨された状
態となっているため、非溶接部２ｄＫついては１暗〃の
画像情報が、また溶接部２ｃについては１明〃 の画像
情報が取出される。そこで、このような所定サイズの２
次元平面上における画像情報に対してたたみ込み演算な
どの演算処理が加えられるとと傾より、１暗〃部分から
気門〃部分への境界線が抽出され、この境界線が溶接線
２＆として検出される。第３図はこのようにして検出き
れた溶接線２ａの表示画像を示す図である。
このようにして検出対象の溶接線２ａが検出されると、
基準の溶接線ＷＬｉ＋ｏｆ （第３図）との偏差Δｊが
算出された後、この偏差Δｊに対応した時間幅の溶接位
置補正信号が出力される。なお、隅肉溶接部の場合は線
分１ａの両側の面がしずれも暗褐色となっているため、
光源の角度θを約３０度以下に設定し、線分１ａの部分
が他の部分よシ明るくなるようにして検出する。
基準の溶接線ＷＬｉ＋ｏｆ （第３図）との偏差Δｊが
算出された後、この偏差Δｊに対応した時間幅の溶接位
置補正信号が出力される。なお、隅肉溶接部の場合は線
分１ａの両側の面がしずれも暗褐色となっているため、
光源の角度θを約３０度以下に設定し、線分１ａの部分
が他の部分よシ明るくなるようにして検出する。
第４図は本発明の一実施例を示す全体ブロック図である
。同図において、１゛０は検出対象となる溶接線近傍の
溶接部を順次走査し、その濃淡に応じたレベルの画像信
号Ｇを出力する撮像装置である。この撮像装置１０は例
えばＣＣＤイメージセンサで構成され、その水平走査線
は概略２５鉢で構成されている。１１は画像信号Ｇをこ
れに対応するにビット構成の画像情報ＧＤに変換するＡ
Ｄ変換器、１２および１３は画像情報ＧＤに対したたみ
込み演算などの各種演算処理を加えるための演算器およ
び乗算器である。この場合、演算器１２は加減演算処理
のみを担当し、乗算処理は乗算器１３によって行なわれ
る。乗算処理を専用の乗算器Ｂによって行々うようにま
たのは、たたみ込み演算などの処理時間を短くするため
である。
。同図において、１゛０は検出対象となる溶接線近傍の
溶接部を順次走査し、その濃淡に応じたレベルの画像信
号Ｇを出力する撮像装置である。この撮像装置１０は例
えばＣＣＤイメージセンサで構成され、その水平走査線
は概略２５鉢で構成されている。１１は画像信号Ｇをこ
れに対応するにビット構成の画像情報ＧＤに変換するＡ
Ｄ変換器、１２および１３は画像情報ＧＤに対したたみ
込み演算などの各種演算処理を加えるための演算器およ
び乗算器である。この場合、演算器１２は加減演算処理
のみを担当し、乗算処理は乗算器１３によって行なわれ
る。乗算処理を専用の乗算器Ｂによって行々うようにま
たのは、たたみ込み演算などの処理時間を短くするため
である。
次に１４は画像情報ＧＤおよび各種演算処理後の画像情
報等を記憶するメモリである。このメモリ１４には第５
図（、）に示すように、溶接部の原画像Ａ。に対応した
画像情報ＧＤ（Ａｏ）ｙ原画像Ａ。
報等を記憶するメモリである。このメモリ１４には第５
図（、）に示すように、溶接部の原画像Ａ。に対応した
画像情報ＧＤ（Ａｏ）ｙ原画像Ａ。
の１次微分画像Ａ□に対応した画像情報ＧＤ（ＡＩ ）
。
。
原画像Ａｏの２次微分画像Ａ２に対応した画像情報ＧＤ
（Ａ２） をそれぞれ記憶するメモリ領域ＭＥＭ（Ａ
ｏ） 、 ＭＥＭ（Ａｔ ） ｖ ＭＥＭ（Ａｘ ）が
設けられると共に、各種の演算処理結果を一時記憶する
ための作業データメモリ領域ＭＥＭ（Ｗ）が設けられて
いる。
（Ａ２） をそれぞれ記憶するメモリ領域ＭＥＭ（Ａ
ｏ） 、 ＭＥＭ（Ａｔ ） ｖ ＭＥＭ（Ａｘ ）が
設けられると共に、各種の演算処理結果を一時記憶する
ための作業データメモリ領域ＭＥＭ（Ｗ）が設けられて
いる。
さらに第５図（ｂ）に示すように、たたみ込み演算に使
用する演算パラメータＰ１〜Ｐ４を記憶したメモリ領域
ＭＥＭ（Ｐｌ）〜ＭＥＭ（Ｐ４）と、位置検出用の定数
等を記憶したメモリ領域ＭＥＭ（ＣＤ ）が設けられて
いる。
用する演算パラメータＰ１〜Ｐ４を記憶したメモリ領域
ＭＥＭ（Ｐｌ）〜ＭＥＭ（Ｐ４）と、位置検出用の定数
等を記憶したメモリ領域ＭＥＭ（ＣＤ ）が設けられて
いる。
１５は溶接位置調整用のサーボ装置（図示せず）からの
各種信号を入力すると共に、リレー回路１６を介して溶
接位置調整用の信号ＡＤＪを出力する入出力インタフェ
ースである。
各種信号を入力すると共に、リレー回路１６を介して溶
接位置調整用の信号ＡＤＪを出力する入出力インタフェ
ースである。
１Ｔは溶接線を検出するためのプログラム情報を記憶し
たプログラムメモリ、１８はプログラムメモリー７から
読出されたプログラム情報に基づき演算器１２などの演
算動作制御あるいはメモリ１４における情報の読出し・
書込み制御を行なうプログラムコントローラである。
たプログラムメモリ、１８はプログラムメモリー７から
読出されたプログラム情報に基づき演算器１２などの演
算動作制御あるいはメモリ１４における情報の読出し・
書込み制御を行なうプログラムコントローラである。
１９は撮像装置１０から得られた画像信号Ｇに対して溶
接線の検出位置を示すビデオマーカ信号を重畳させて表
示装置２０に表示させるビデオマーカ発生器である。
接線の検出位置を示すビデオマーカ信号を重畳させて表
示装置２０に表示させるビデオマーカ発生器である。
なお、Ｂ＠ＢＵＳは演算器１２の入力バスラインを構成
し、ここにはＡＤ変換器１１１乗算器１３゜メモリー４
、入出力インタフェース１５の各出力が結合されている
。また、Ｃ−ＢＵＳは演算器１２の出力バスラインを構
成し、ここには乗算器１３゜メモリー４．入出力インタ
フェース１５．プログラムメモリーＴの入力が結合され
ている。
し、ここにはＡＤ変換器１１１乗算器１３゜メモリー４
、入出力インタフェース１５の各出力が結合されている
。また、Ｃ−ＢＵＳは演算器１２の出力バスラインを構
成し、ここには乗算器１３゜メモリー４．入出力インタ
フェース１５．プログラムメモリーＴの入力が結合され
ている。
次に以上のように構成された溶接線検出装置の動作を舘
６図に示すフローチャートおよび第７回に示す溶接部画
像の変遷図を用いて説明する。
６図に示すフローチャートおよび第７回に示す溶接部画
像の変遷図を用いて説明する。
検出動作が開始はれると、第６図のステップ１００にお
いて撮像装置１０とＡＤ変換器１１との協働によって取
出された溶接部近傍の画像情報ＧＤの入力処理がプログ
ラムコントローラ１８の制御によって実行される。この
画像情報ＧＤの入力処理は、溶接時に瞬間的に発生する
スパッタなどの不要画像成分を除去するためにＮ（Ｎン
２）回実行される。
いて撮像装置１０とＡＤ変換器１１との協働によって取
出された溶接部近傍の画像情報ＧＤの入力処理がプログ
ラムコントローラ１８の制御によって実行される。この
画像情報ＧＤの入力処理は、溶接時に瞬間的に発生する
スパッタなどの不要画像成分を除去するためにＮ（Ｎン
２）回実行される。
このような複数回の入力処理によって読込まれた同一溶
接部に関する８画面分の画像情報ＧＤ１〜ＧＤＮはステ
ップ１０１において積算される。これにより、スパッタ
などの不要画像成分は抑圧される。
接部に関する８画面分の画像情報ＧＤ１〜ＧＤＮはステ
ップ１０１において積算される。これにより、スパッタ
などの不要画像成分は抑圧される。
すなわち、第７図（ａ） Ｋ示すようなｉＸｊ画素の溶
接部画像の中忙、同図（ｂ）の濃度分布グラフに記号Ｓ
Ｐで示すスパッタの気門４圃像が存在したとしても、８
画面分の画像情報ＧＤ１〜ＧＤＮを積算すると、スパッ
タに対応する気門４圃像は非溶接部の気晴〃画像によシ
抑圧される。この結果、積算処理後の画像は第７図（ｃ
）に示すように非溶接部に対応する部分がさらに暗い方
向に強調され、その濃度分布は第７図（ｄ）に示すよう
に非溶接部と溶接部との境界で急峻な変化を示すものと
なる。
接部画像の中忙、同図（ｂ）の濃度分布グラフに記号Ｓ
Ｐで示すスパッタの気門４圃像が存在したとしても、８
画面分の画像情報ＧＤ１〜ＧＤＮを積算すると、スパッ
タに対応する気門４圃像は非溶接部の気晴〃画像によシ
抑圧される。この結果、積算処理後の画像は第７図（ｃ
）に示すように非溶接部に対応する部分がさらに暗い方
向に強調され、その濃度分布は第７図（ｄ）に示すよう
に非溶接部と溶接部との境界で急峻な変化を示すものと
なる。
なお、第７図において斜線部分は非溶接部に対応する暗
画像を示している。
画像を示している。
ステップ１０１における画像情報ＧＤ１〜ＧＤｙ（Ｄｉ
算処理は演算器１２によって行なわれ、その積算結果は
メモリ１４の内部のメモリ領域ＭＥＭ（Ａｏ）に原画像
情報ＧＤ（Ａｏ）に原画像情報ＧＤ（ＡＯ）として記憶
される。
算処理は演算器１２によって行なわれ、その積算結果は
メモリ１４の内部のメモリ領域ＭＥＭ（Ａｏ）に原画像
情報ＧＤ（Ａｏ）に原画像情報ＧＤ（ＡＯ）として記憶
される。
ステップ１０１の積算処理が終了すると、次のステップ
１０２において原画像情報ＧＤ（Ａｏ）に基づきその微
分画像がフィルタリング処理によって形成され為。この
フィルタリング処理においては、まずステップ１０２１
において第７図（ｆ）に示すような濃度分布を示す原画
像Ａ。の１次微分画像Ａ１がたたみ込み演錯によって形
成される。次にステップ１０２２において、第７図（ｇ
） Ｋ示すような濃度分布０２２次微画像Ａ、がたたみ
込み演算によって形成される。さらにステップ１０２３
において、１次微分画像Ａ１の最大明度近傍の画像が２
次微分画像Ａ２を用いて抽出される。これによって、第
７図（ｈ）Ｋ示すように１次微分画像Ａ１を尖鋭化した
シャープニング画像Ａ！′が形成される。この場合、１
次微分画像Ａ！はメモリ領域ＭＥＭ（Ａｌ）Ｉｃ一時記
憶され、また２次微分画像Ａ２はメモリ領域ＭＥＭ（Ａ
２）に一時記憶される。さらにシャープニング画像Ａ
、／は１次微分画像Ａ１を消去した後メモリ領域ＭＥＭ
（Ａ１）に一時記憶される。
１０２において原画像情報ＧＤ（Ａｏ）に基づきその微
分画像がフィルタリング処理によって形成され為。この
フィルタリング処理においては、まずステップ１０２１
において第７図（ｆ）に示すような濃度分布を示す原画
像Ａ。の１次微分画像Ａ１がたたみ込み演錯によって形
成される。次にステップ１０２２において、第７図（ｇ
） Ｋ示すような濃度分布０２２次微画像Ａ、がたたみ
込み演算によって形成される。さらにステップ１０２３
において、１次微分画像Ａ１の最大明度近傍の画像が２
次微分画像Ａ２を用いて抽出される。これによって、第
７図（ｈ）Ｋ示すように１次微分画像Ａ１を尖鋭化した
シャープニング画像Ａ！′が形成される。この場合、１
次微分画像Ａ！はメモリ領域ＭＥＭ（Ａｌ）Ｉｃ一時記
憶され、また２次微分画像Ａ２はメモリ領域ＭＥＭ（Ａ
２）に一時記憶される。さらにシャープニング画像Ａ
、／は１次微分画像Ａ１を消去した後メモリ領域ＭＥＭ
（Ａ１）に一時記憶される。
ところで、１次微分画像八１は、例えば水平走査方向（
１方向）が８画素、垂直走沓方向（ｊ方向）が８画素の
フィルタリング操作窓を順次設定し、この操作窓の中に
存在する画素の画像情報を演算パラメータＰ１を用いて
たたみ込み演算することによって形成される。２次微分
画像Ａ２も同様にして演算パラメータＰ２を用いてたた
み込み演算することによって形成される。
１方向）が８画素、垂直走沓方向（ｊ方向）が８画素の
フィルタリング操作窓を順次設定し、この操作窓の中に
存在する画素の画像情報を演算パラメータＰ１を用いて
たたみ込み演算することによって形成される。２次微分
画像Ａ２も同様にして演算パラメータＰ２を用いてたた
み込み演算することによって形成される。
このようなフィルタリング処理の結果、第７図（ｅ）に
示すように溶接部と非溶接部の境界に対応した位置に気
門〃の画像が尖鋭化されて抽出される。
示すように溶接部と非溶接部の境界に対応した位置に気
門〃の画像が尖鋭化されて抽出される。
次にステップ１０３において、シャープニング画像Ａ、
／に基づき溶接方向（水平走査方向）とほぼ平行に分布
している線画像の２次元平面上におけるアドレスが検出
される。この線画像アドレス検出処理においては、オず
ステップ１０３０においてシャープニング画像Ａ１′の
水平走査方向における平均化処理が実行される。この平
均化処理は、シャープニング画像Ａｌ′を第７図Ｑ）の
破線で示すように８区画の画像区画に分割し、各区画に
おいて同一水平走査線上に存在する例えば４画素のシャ
ープニング画像Ａ 、Ｉを加算することによって行なわ
れる。これによって、各画像区画においては水平走査方
向における平均的なシャープニング画像Ａｒが抽出され
る。このシャープニング画像Ａ １ｙは第７図（Ｊ）に
＾すように各画像区画における垂直走査方向の濃度分布
を表わしており、次のステップ１０３１において演算パ
ラメータＰ３を用いてたたみ込み演算される。これによ
シ、溶接方向とほぼ平行に分布している線画像Ａ３が抽
出され、平行で力い線画像は消去される。この後、ステ
ップ１０３２において線画像Ａ３の２次元平面上におけ
るアドレスが検出される。
／に基づき溶接方向（水平走査方向）とほぼ平行に分布
している線画像の２次元平面上におけるアドレスが検出
される。この線画像アドレス検出処理においては、オず
ステップ１０３０においてシャープニング画像Ａ１′の
水平走査方向における平均化処理が実行される。この平
均化処理は、シャープニング画像Ａｌ′を第７図Ｑ）の
破線で示すように８区画の画像区画に分割し、各区画に
おいて同一水平走査線上に存在する例えば４画素のシャ
ープニング画像Ａ 、Ｉを加算することによって行なわ
れる。これによって、各画像区画においては水平走査方
向における平均的なシャープニング画像Ａｒが抽出され
る。このシャープニング画像Ａ １ｙは第７図（Ｊ）に
＾すように各画像区画における垂直走査方向の濃度分布
を表わしており、次のステップ１０３１において演算パ
ラメータＰ３を用いてたたみ込み演算される。これによ
シ、溶接方向とほぼ平行に分布している線画像Ａ３が抽
出され、平行で力い線画像は消去される。この後、ステ
ップ１０３２において線画像Ａ３の２次元平面上におけ
るアドレスが検出される。
このようにして溶接方向とほぼ平行に分布している線画
像Ａ３が抽出されると、ステップ１０４において溶接線
に相当する線画像のみを抽出するフィルタリング処理が
実行される。
像Ａ３が抽出されると、ステップ１０４において溶接線
に相当する線画像のみを抽出するフィルタリング処理が
実行される。
このフィルタリング処理においては、寸ずステップ１０
４０において線画像Ａ３の周囲における原画像Ａ。の濃
度分布が算出される。この濃度分布は線画像Ａ３を中心
とする±２０本の水平走差線上に存在する原画像ＡＯを
、第８図に示すようにＡ、Ｂ、Ｃの画像区画に分割し、
各区画における原画像Ａ０の各画像情報に演算パラメー
タＰ３を 。
４０において線画像Ａ３の周囲における原画像Ａ。の濃
度分布が算出される。この濃度分布は線画像Ａ３を中心
とする±２０本の水平走差線上に存在する原画像ＡＯを
、第８図に示すようにＡ、Ｂ、Ｃの画像区画に分割し、
各区画における原画像Ａ０の各画像情報に演算パラメー
タＰ３を 。
乗算し、この各乗算値を積算することによって算出され
る。
る。
なお、第８図において１６Ｈは１６本の水平走査期間を
表わし、８Ｈは８本の水平走査期間を表わしている。
表わし、８Ｈは８本の水平走査期間を表わしている。
線画像Ａ３の周囲における原画像Ａ。の濃度分布が算出
されると、次のステップ１０４１において溶接線とは無
関係の不要線画像を除去する処理が実行される。この処
理はステップ１０４０において算出したＡ、Ｂ、Ｃの各
区画如おける濃度分布ＤＡ、ＤＢ、ＤＣを相互に比較す
ることにより行なわれ、まずＤｎ）Ｄ＊＋ａでかつＤｉ
＞Ｄｃ十ａの関係が成立する線画像成分は除去され、残
りの線分の中からＤ ｃ ）Ｄ ａの関係の線画像成分
のみが抽出される。
されると、次のステップ１０４１において溶接線とは無
関係の不要線画像を除去する処理が実行される。この処
理はステップ１０４０において算出したＡ、Ｂ、Ｃの各
区画如おける濃度分布ＤＡ、ＤＢ、ＤＣを相互に比較す
ることにより行なわれ、まずＤｎ）Ｄ＊＋ａでかつＤｉ
＞Ｄｃ十ａの関係が成立する線画像成分は除去され、残
りの線分の中からＤ ｃ ）Ｄ ａの関係の線画像成分
のみが抽出される。
す々わち、非溶接部と溶接部との境界に汚れ、あるいは
傷または理線外どの線分が存在しない揚台、溶接部境界
の濃度分布は溶接部（第８図の区画Ｃに相当）は明るく
、非溶接部（第８図の区画Ａに相当）は暗く、また区画
Ｂが区画Ａ、Ｃに比べて柄だって明るいことはない。従
って、とのよ゛うな関係を満足し力い線分は賞の溶接線
とは無関係の不要な線分と見做すことができる。そこで
、上述したような比較処理を行なうことにより、第９図
に示すように真の溶接線に相当する線画像Ａ４のみが抽
出される。
傷または理線外どの線分が存在しない揚台、溶接部境界
の濃度分布は溶接部（第８図の区画Ｃに相当）は明るく
、非溶接部（第８図の区画Ａに相当）は暗く、また区画
Ｂが区画Ａ、Ｃに比べて柄だって明るいことはない。従
って、とのよ゛うな関係を満足し力い線分は賞の溶接線
とは無関係の不要な線分と見做すことができる。そこで
、上述したような比較処理を行なうことにより、第９図
に示すように真の溶接線に相当する線画像Ａ４のみが抽
出される。
この後ステップ１０５において、線画像Ａ４ のアドレ
スと基準溶接線ＷＬ Ｒｅ ｆ のアドレスとの偏差Δ
ｊが算出された後、この偏差Δｊに対応した時間幅の溶
接位置補正信号ＡＤＪがリレー回路１６から送出される
。
スと基準溶接線ＷＬ Ｒｅ ｆ のアドレスとの偏差Δ
ｊが算出された後、この偏差Δｊに対応した時間幅の溶
接位置補正信号ＡＤＪがリレー回路１６から送出される
。
なお、ステップ１０４１においてＤｉ＋＞Ｄ＊十ａ。
Ｄ Ｂ＞Ｄ Ｃ十ａ の関係を比較する場合の「ａ」
は定数であり、メモリ領域ＭＥＭ（ＣＤ）から読出され
る。
は定数であり、メモリ領域ＭＥＭ（ＣＤ）から読出され
る。
また、比較処理は演算器１２を用いて一方の比較値から
他方の比較値を減算することによって実現される。
他方の比較値を減算することによって実現される。
以上の説明から明らかなように本発明においては、同一
溶接部に関する複数組の画像情報を積算した後溶接線の
検出処理に移行しているため、スパッタなどの瞬時的な
不要画像成分による誤動作を防止することができる。ま
た、溶接方向と平行に存在する線画像を検出した後、そ
の周囲における原画像の濃度分布との関係を比較してい
るため、輝線、汚れ、傷あるいは仮付は部分があっても
真の溶接線に相当する線画像のみを抽出することができ
、輝線などの不要８分による誤動作を防止することかで
きる。さらに、溶接部の光パターンでなく線画像を抽出
するものであるため、溶接部の形状に制限がないなどの
効果がある。
溶接部に関する複数組の画像情報を積算した後溶接線の
検出処理に移行しているため、スパッタなどの瞬時的な
不要画像成分による誤動作を防止することができる。ま
た、溶接方向と平行に存在する線画像を検出した後、そ
の周囲における原画像の濃度分布との関係を比較してい
るため、輝線、汚れ、傷あるいは仮付は部分があっても
真の溶接線に相当する線画像のみを抽出することができ
、輝線などの不要８分による誤動作を防止することかで
きる。さらに、溶接部の光パターンでなく線画像を抽出
するものであるため、溶接部の形状に制限がないなどの
効果がある。
第１図は溶接部の一例を示す斜視図、第２図は溶接部画
像の入力形式を示す図、第３図は検出された溶接線の表
示画像を示す図、第４図は本発明の一実施例を示す全体
ブロック図、第５図はメモリの内部構成を示すメモリマ
ツプ、第６図は溶接線検出処理を示すフローチャート、
第７図は溶接部画像の変遷を示す図、第８図は不要ａ画
像成分を除去する場合の原画像の濃度分布算出区画を示
す図、第９図は溶接線として検出された線画像を示す図
である。 １ ａ ＊ ２ ａ ｐ ２ｂ・・・・溶接部の外縁線
、２Ｃ＠Φ・・溶接部、２ｄｅ・・・非溶接部、１０・
・ ・・撮像装置、１２働・・・演算器、１３・・・・
乗算器、１４−・・・メモリ）１７・・・・プログラム
メモリ、１８・・・・プログラムコントローラ、２０・
・・・表示装置。 特許出願人 三井造船株式会社 代理人 山川政樹（＃丘か１名）
像の入力形式を示す図、第３図は検出された溶接線の表
示画像を示す図、第４図は本発明の一実施例を示す全体
ブロック図、第５図はメモリの内部構成を示すメモリマ
ツプ、第６図は溶接線検出処理を示すフローチャート、
第７図は溶接部画像の変遷を示す図、第８図は不要ａ画
像成分を除去する場合の原画像の濃度分布算出区画を示
す図、第９図は溶接線として検出された線画像を示す図
である。 １ ａ ＊ ２ ａ ｐ ２ｂ・・・・溶接部の外縁線
、２Ｃ＠Φ・・溶接部、２ｄｅ・・・非溶接部、１０・
・ ・・撮像装置、１２働・・・演算器、１３・・・・
乗算器、１４−・・・メモリ）１７・・・・プログラム
メモリ、１８・・・・プログラムコントローラ、２０・
・・・表示装置。 特許出願人 三井造船株式会社 代理人 山川政樹（＃丘か１名）
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 所定サイズの２次元画像平面上で酒接部の濃淡に応じた
画像情報を取出す撮像装置と、との撮像装置から取出さ
れる同一溶接部に関する２次元画イぼ平面の画像情報を
複数組積算し、原画像情報として保持する画像積算手段
と）上耐原画像情報をたたみ込み演算し、版接部の碑分
画像を抽出する第１の画像フィルタと、上記微分画像の
画体情■１を溶接方向と平行な方向でＤ「定数単位毎に
加勢した後たたみ込み演ｐし、溶接方向とほぼ平行に分
布している線画像の２次元画１ｆ平面（でおりるアドレ
スを検出する録画像アドレス検出手段と、 上記紗画告のアドレスを中心として上記原画像情報を溶
接方向と垂直な方向領域で３分割した各領域における原
画像情報の平均値を算出し、この算出値と上記線画像の
画像情報とに基づき溶接線に相当する線画像を抽出する
第２の画像フィルタと、 上記溶接物の溶接線に相当するａ！動画像アドレスと基
準溶接線のアドレスとの偏差を求め、その偏差に応じた
時間幅の溶接位置補正信号を送出する補正信号発生手段
とを備えた溶接線検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23112982A JPS59125272A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 溶接線検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP23112982A JPS59125272A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 溶接線検出装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59125272A true JPS59125272A (ja) | 1984-07-19 |
Family
ID=16918733
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP23112982A Pending JPS59125272A (ja) | 1982-12-29 | 1982-12-29 | 溶接線検出装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59125272A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6240975A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-21 | Nippon Steel Corp | 鋼板の突合せ状態検出方法 |
| WO1988000508A1 (en) * | 1986-07-15 | 1988-01-28 | Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Seisakusho | Method of detecting position data in arc welding |
| JPH02104476A (ja) * | 1988-10-08 | 1990-04-17 | Nkk Corp | 狭開先溶接における開先倣い方法 |
-
1982
- 1982-12-29 JP JP23112982A patent/JPS59125272A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS6240975A (ja) * | 1985-08-20 | 1987-02-21 | Nippon Steel Corp | 鋼板の突合せ状態検出方法 |
| WO1988000508A1 (en) * | 1986-07-15 | 1988-01-28 | Kabushiki Kaisha Yaskawa Denki Seisakusho | Method of detecting position data in arc welding |
| JPH02104476A (ja) * | 1988-10-08 | 1990-04-17 | Nkk Corp | 狭開先溶接における開先倣い方法 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP0532257B1 (en) | Weld bead quality determining apparatus | |
| US6184781B1 (en) | Rear looking vision system | |
| EP0156342B1 (en) | Three-dimensional vision system | |
| GB2234089A (en) | Machine vision controlled weilding system | |
| CN106990112A (zh) | 基于多视觉信息融合的多层多道焊接轨迹检测装置及方法 | |
| US6148098A (en) | Method and apparatus for electro-optically determining the contact pattern on tooth flanks of gears | |
| JPS59125272A (ja) | 溶接線検出装置 | |
| CN104504730A (zh) | 一种对停放车辆及抛落物的区分方法 | |
| EP3629292A1 (en) | Reference point selection for extrinsic parameter calibration | |
| EP0392961B1 (en) | Seam tracking between mating parts | |
| JP3018878B2 (ja) | 絵柄検査装置 | |
| JP3292543B2 (ja) | 線状パターン検出法及び溶接ロボット装置 | |
| JPH0483105A (ja) | 溶接位置検出方法及びその装置 | |
| JPH0475118B2 (ja) | ||
| JP2501150B2 (ja) | レ―ザ溶接方法 | |
| JPH0554107A (ja) | 外観検査による溶接状態判定方法 | |
| JP3787230B2 (ja) | 溶接状態監視装置およびその方法 | |
| JPH085350A (ja) | 溶接開先位置及び形状の測定方法 | |
| JPS61126455A (ja) | 画像処理方法 | |
| JP2941107B2 (ja) | ワーク表面検査方法 | |
| JP3357739B2 (ja) | 形状検出方法 | |
| JPS6261507A (ja) | 自動走行作業車用の境界検出装置 | |
| JP2966704B2 (ja) | 文字良否判定方法および装置 | |
| JPS61150083A (ja) | 画像処理方法 | |
| KR100457064B1 (ko) | 윤곽선정보검출방법 |