JPS5912411A - Icマスク検査機用対物レンズ - Google Patents

Icマスク検査機用対物レンズ

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JPS5912411A
JPS5912411A JP57121346A JP12134682A JPS5912411A JP S5912411 A JPS5912411 A JP S5912411A JP 57121346 A JP57121346 A JP 57121346A JP 12134682 A JP12134682 A JP 12134682A JP S5912411 A JPS5912411 A JP S5912411A
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JP
Japan
Prior art keywords
lens
group
group lens
biconvex
focal length
Prior art date
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Pending
Application number
JP57121346A
Other languages
English (en)
Inventor
Hiroyuki Kurita
裕之 栗田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Olympus Corp
Original Assignee
Olympus Corp
Olympus Optical Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Olympus Corp, Olympus Optical Co Ltd filed Critical Olympus Corp
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Priority to US06/509,798 priority patent/US4521086A/en
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Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B13/00Optical objectives specially designed for the purposes specified below
    • G02B13/24Optical objectives specially designed for the purposes specified below for reproducing or copying at short object distances
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B21/00Microscopes
    • G02B21/02Objectives

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Lenses (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、螢光物質を用いたフライングスポットスキャ
ナーによるICマスク検査機等に用いる対物レンズに関
するものである。
ICマスク検査機用の対物レンズは、マスクパターンが
微細であるために解像力が高く視野の中心から周辺まで
の像側が平坦で歪曲収差も小さく作動距離の長いレンズ
系であることが必要である。
また色収差も十分補正されている必要があり、しかも使
用する螢光の波長においても良好に補正されている必要
がある。
本発明の対物レンズに類似する構成のものとして特開昭
47−45741号および特開昭47−45742号公
報に記載された顕微鏡対物レンズが知られている。しか
しこれらの従来の対物レンズは、20X、40X程度の
低い倍率では使用し得るが、本発明の目的とするような
140X程度の高倍率では上述のような要求を満たすこ
とが出来ないため使用し得ない。また上記従来例のよう
な顕微鏡対物レンズで高倍(’1oox程度)のものは
、本発明の目的の一つとしている十分長い作動距離のも
のは存在しない。更に通常の色収差の他に螢光波長につ
いての色収差の補正されたものも知られていない。
本発明は、像面が平坦で、歪曲収差が極めて小さく、通
常の色収差と共に中心波長510nyrr+のガウシア
ンのスペクトルを有する螢光についての色収差も良好に
補正され、更に作動距離の長い高い倍率のICマスク検
査機用対物レンズを提供するものである。
本発明のレンズ系は、正のメニスカスレンズの第1群レ
ンズと、両凸レンズの第2群レンズと、両凸レンズと両
凹レンズの接合レンズの第3群レンズと、両凹レンズと
両凸レンズの接合レンズの第4群レンズと、゛両凸レン
ズの第5群レンズと、負のメニスカスレンズの第6群レ
ンズより構成されている。
本発明レンズ系は、作動距離を長くするために第1群レ
ンズから第5群レンズまでの全体として正の屈折力を有
する前群と、第6群レンズの負の屈折力を有する後群と
にて構成した。又像面湾曲および歪曲収差を補正するた
めに前群をガウスタイプにし、このガウスタイプの互い
に向い合って配置された凹面(第3群レンズの像側の面
と第4群レンズのや体側の面)にて上記収差を補正する
ようにした。又後群(第6群レンズ)をメニスカスレン
ズにすることによっても像面湾曲と歪曲収差を良好に補
正するようにした。このようにして本発明レンズ系は、
像面湾曲と歪曲収差の極めて少ないレンズ系にしである
更に色収差を補正するために光線とのなす角の比較的大
きい第1群レンズ、第2群レンズおよび第3群レンズの
うちの正レンズ(物体側のレンズ)に分散の低い(アツ
ベ数の大きい)硝材を用い、前群のうちやや後方に配置
された第3群レンズの像側のレンズと第4群レンズの物
体側のレンズにはアツベ数の小さい硝材を用い、前群の
うちの後方に配置された第4群レンズの像側のレンズと
第5群レンズには分散の小さい(アツベ数の大きい)硝
材を用いている。このようにして前群の色収差を良好に
補正している。
本発明のレンズ系は、以上のような構成にすると共に次
の各条件を満足することを特徴とするものである。
(1)  1.2 f < fp< 1.8 f(2)
  1.5 f < fI (3)  d、 < 0.3.、、.6 f(4)  
1.27 f < r+3< 1..40 f(5) 
 1. Of < r14. < 1.、05 f(6
)  シ2.シ3.シロ〉65 ただしfは全系の焦点距離、f、は第1群レンズから第
5群レンズまでの(前群の)合成焦点距離、fIは第1
群レンズの焦点距離、dlは第1群レンズの肉厚、r+
s + r++は夫々第6群レンズの両面の曲率半径、
シ2.シ3.シロは夫々第2群レンズ、第3群レンズの
正レンズ(物体側のレンズ)、第4群レンズの正レンズ
(像側のレンズ)のアツベ数である。
庵 上記速性のうち、条件(1) 、 (2) 、(3)は
作動距離を長くするために設けたものである。前群の焦
点距離(第1群レンズから第5群レンズまでの合成焦点
距離)fpが小になり条件(1)の下限以下になると作
動距離を長くとれなくなる。又f が大になると作動距
離は長く出来るが条件(1)の上限を越えると軸上の色
収差が悪くなり好ましくない。
条件(3)において、d、が犬になると色収差補正にと
っては有利である。しかしd、が条件(3)からはずれ
ると作動距離を長くすることができなくなる。
第1群レンズの焦点距離f、が条件(2)よりはずれる
と作動距離を長くすることが出来なくなる。
次に条件(4) 、 (5)は像面湾曲、歪曲収差およ
びコマ収差を除去するために設けた条件である。
条件(4) 、 (5)においてr+3+ r14がこ
れら条件の上限を越えると像面湾曲が増大する○又r1
31 r14が小さければ像面湾曲の補正にとっては有
利である。しかしr131 r14が夫々条件(4)お
よび条件(5)の下限を越えると歪曲収差が増大し又コ
マ収差もバランスを損ない他の面での補正が出来なくな
る。
条件(6)は色収差を良好に補正するために設けたもの
である。つまり第2群レンズ、第3群レンズのうちの凸
レンズおよび第4群レンズのうちの凸レンズにアツベ数
の大きい硝材を用いることによって色収差を十分良好に
補正するものである。この条件において下限をこえると
2次゛スペクトルが増大し軸上色収差1倍率の色収差の
補正が不可能になる。
以上説明したように第1図に示すレンズ構成で条件(1
)乃至条件(6)を満足するようにしたレンズ系は、本
発明の目的にかなったものである。しかし次に示す条件
(7)乃至条件(10)を更に満足するようにすれば一
層収差の良好なレンズ系が得られる。
(7)  0.6 f<d+3<0.7 f(8)  
0.03 f < d+2< 0.13 f(9)  
n4・n5〉1・65 (10)ν4.ν、〈40 ただしd1□は第5群レンズと第6群レンズの間の空気
間隔、d13は第6群レンズの肉厚、n4. + n5
は夫々第3群レンズの負レンズ(像側のレンズ)および
第4群レンズの負レンズ(物体側のレンズ)の屈折率、
シ4.シ5は夫々第3群レンズの負レンズおよび第4群
レンズの負レンズのアツベ数である。
上記の条件(7)および条件(8)は像面湾曲に関する
ものである。条件(7)においてd13を犬にすると像
面湾曲を補正する上では有利であるが、この条件の上限
を越えると色収差が悪化(軸上の色収差の曲がりが増大
)し補正できなくなる。d+3が条件(7)の下限を越
えると像面湾曲1球面収差が増大しまた非点収差が大き
くなって補正し得なくなる。またd1□はd13とは逆
に条件(8)の上限を越えると像面湾曲1球面収差、非
点隔差が増大し、下限を越えると軸上色収差の曲りが大
きくなる。
条件(9) 、 (10)は色収差を補正するためのも
のである。
ガウスタイプのレンズ系の互いに凹面を向い合わせて配
置されたレンズの屈折率を高くすることによりコマ収差
、像面湾曲を補正すると共にこれらレンズのアツベ数を
低くすることによって軸上の色収差の絶対量を小さくし
ている。したがってn4 + nsが条件(9)を満足
しないとコマ収差、像面湾曲が悪化する。又ν4.ν、
が条件(10)を満足しないと軸上の色収差が悪くなる
次に以上説明した本発明対物レンズの実施例を示す。
実施例1 r+ ニー0.907 d+ = 0.347   n、l = 1.7291
6  シ、=54.68r2=  0.692 d2= 0.017 r3” 1.287 d3= 0.268   n2= 1.49700 1
’2 = 81.61r4 =  1.517 d4=0.017 r5 = 0.789 di = 0.33On3 =、1.49700  シ
3=81.61r6=  7.468 da−0,267n4= 1.65128  ν4=3
8.25rt = 0.573 d7= 0.309 rB=−0,419 d8.= 0.124   ni = 1.72047
  ν5 = 34.72r9 = 1.892 do ” 0.361   ni = 1.51728
  νa”69.56rlO= −0,758 d+o = 0.019 rll = 7.471 do =0.253   n7= 1.65830  
 シ?=57.33r1□= −1,314 du = 0.050 rl、= 1.354 dos = 0.699   n8= 1.78650
   シフ=50.0Or++ = 1.032 f=1.  NA=0.4.  倍率140Xf  =
1.31  、   fl=2.38  、   WD
=0.478実施例2 rl = 0.903 d+ ” 0.343   nl = 1.72916
  シ、=54.68r2= −0,651 d、=0.017 rs = 1.652 ds ” 0.266   n2= 1.49700 
 シ2=81.61r4:  1.333 a、=0.017 r5 ” o、a 41 ds = 0.327    ns = 1.4970
0   シ3=81.61r、:  3.387 da =0.265    ni = 1.65412
   ’4 = 39.70rt = 0.514 d7= 0.306 r6 = −0,426 da =0.265    ni = 1.72047
   シ5=34.72rQ = 1.579 do=0.327   na=1.51821  1/
6=55.Q4r+o=  0.803 d+o = 0.018 rH=4.165 dII =  0.266      nl ”F  
1.65830      シ?=57.33r+2=
  1.636 d+2= 0.049 rls = 1.286 dos = 0.615    n8= 1.7865
0   νg=50.0゜rll = 1.023 f=1.  NA=0..4.  倍率140Xfp=
1.22. f1=1.8551 wD=0.425実
施例3 r、 =−0,901 d+ ” O,’317   ni = 1.7291
6  J = 54.68r2=  0.645 d2= 0.017 rs ” 1.396 da =0.266   n2= 1.49700  
シ2=81.61r+=  1.569 d4= 0.017 r、=0.749 d5 = 0.328   ns = 1.49700
  シ3=81.61ra”  5.979 da ” 0.266   n4 = 1.66998
  シ、=39.32r7= 0.534 d7= 0.307 ra”  0.408 da =0.123   ns = 1.72047 
 Vs = 34.72r9= 6.597 do =0.359’   nB = 1.49700
  ra = 81.61rlo=  0.647 d、。= 0.018 rll = 4.339 d++ = 0.252    n7= 1.6583
0   シ?=57.33r12 =−1,6’17 (n2= 0.127 rl3= 1.341 di = 0.617   nB = 1.’7865
0   ’B = 50.0Or++ = 1.016 f=1.  NA=0.4.  倍率140Xfp =
 1.26 、f+ = 2.03 lWD = 0.
41まただしrt T r2 +・・・、r14はレン
ズ各面の曲率半径、d4 + d2 +・・・、d13
は各レンズの肉厚およびレンズ間隔、nl r n2 
+・・・r nBは各レンズのd線に対する屈折率、シ
1.シ2.・・・、ν8は各レンズのd線に対するアツ
ベ数である。
上記各実施例に対する収差曲線は夫々第2図乃至第4図
に示しである。これらのうち球面収差。
O8C’はd、C,F線と波長510n’1rrlに対
するものを示しである0又フライングスボットキャスナ
−とじて中心波長が510nmで半値幅]、 OOnm
のスペクトルを持つ螢光に対する球面収差を実施例1乃
至実施例3について夫々第5図乃至第7図に示しである
。つまりこれら図に示す球面収差は、上記螢光の中心波
長である5 10 nmと上記螢光のスペクトルの両端
近くの波長である4 75 nm +575 nmに対
するものを示しである。尚第5図にはこれら波長のほか
にd線のものが又第6図。
第7図には720 nmのものが記載しである。
上記の各実施例およびその収差曲線図から明ら  区か
なように本発明の対物レンズは、像面が平坦で、 −歪
曲収差も小さく、色収差も通常光および螢光に  味つ
いて良好に補正されており、更に作動距離が長くなって
いる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明対物レンズの断面図、第2図乃至第4図
は本発明の実施例1乃至実施例3の収差曲線図、第5図
乃至第7図は夫々実施例1乃至実施例3の螢光について
の球面収差である。 出願人  オリンパス光学工業株式会社47− 球面収差   o s c’ 4図 非点収差   歪血収差

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 (1)正のメニスカスレンズの第1群レンズと、両凸レ
    ンズの第2群レンズと、両凸レンズと両凹レンズを貼合
    わせた接合レンズの第3群レンズと、両凹レンズと両凸
    レンズを貼合わせた接合レンズの第4群レンズと、両凸
    レンズの第5群レンズと、負のメニスカスレンズの第6
    群レンズとよりなり、次の条件(1)乃至条件(6)を
    満足するICマスク検査機用対物レンズ。 (1)  1.2 f < fp< 1.8 f(2)
      1.5 f < fI (3)  dl< o、 36 f (4)  1.27 f < r+3< 1.40 f
    (5)  1.Of < r++< 1.05 f(6
    )  シ2.シ3.シロ〉65 ただしfは全系の焦点距離、f、は第1群レンズから第
    5群レンズまでの合成焦点距離、fIは第1群レンズの
    焦5点距離、dlは第1群レンズの肉厚、r131 r
    14は夫々第6群レンズの各面の曲率半径、シ2.シ3
    .シロは夫々第2群レンズ、第3群レンズの物体側のレ
    ンズ、第4群レンズの像側のレンズのアツベ数である。 (2)下記の条件(7)乃至条件(10)を満足する特
    許請求の範囲(1)のICマスク検査機用対物レンズ。 (7)  0.6 f < d+a <o、 7 f(
    8)  0.03 f <dl2<0.13 f(9)
      n4.ns > 1.65 (10)ν4.ν、<40 ただしdl3は第6群レンズの肉厚、dl2は第5群レ
    ンズと第6群レンズの間の空気間隔、n4 * n5は
    第3群レンズの像側のレンズおよび第4群レンズの物体
    側のレンズの屈折率、ν4.ν、は第3群レンズの像側
    のレンズおよび第4群レンズの物体側のレンズのアツベ
    数である。
JP57121346A 1982-07-14 1982-07-14 Icマスク検査機用対物レンズ Pending JPS5912411A (ja)

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JP57121346A JPS5912411A (ja) 1982-07-14 1982-07-14 Icマスク検査機用対物レンズ
US06/509,798 US4521086A (en) 1982-07-14 1983-06-30 Objective for an IC mask testing device

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