JPS59123346U - 半導体装置 - Google Patents

半導体装置

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JPS59123346U
JPS59123346U JP1689183U JP1689183U JPS59123346U JP S59123346 U JPS59123346 U JP S59123346U JP 1689183 U JP1689183 U JP 1689183U JP 1689183 U JP1689183 U JP 1689183U JP S59123346 U JPS59123346 U JP S59123346U
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JP
Japan
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semiconductor equipment
semiconductor device
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holes
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Pending
Application number
JP1689183U
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English (en)
Inventor
岩崎　敏一
Original Assignee
三菱電機株式会社
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Publication date
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Publication of JPS59123346U publication Critical patent/JPS59123346U/ja
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  • Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【図面の簡単な説明】
第１図は従来の半導体装置を試験する場合を示す外形図
で、Ａは立面図、Ｂは正面図、Ｃは側面図、Ｄは試験概
念図、第２図はこの考案の一実施例を示し、°Ａは立面
図、Ｂは正面図、Ｃは側面図、Ｄは拡大見取図、Ｅは試
験概念図である。 図中、１はモールド部を有する半導体装置、２は半導体
装置を電気的特性チェックを行うテスター、３はソケッ
ト、４は恒温槽、５は穴６をもった半導体装置の外部導
出しリード、８は可動接触子７を絶縁物で固定し、操作
するハンドル、９は可動接触子７とテスター２を接続す
るリードである。なお、図中、同一符号は同一または相
当部分を示す。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 複数の外部導出しリードが等間隔且つ１例に導出してい
    る半導体装置において、試験効率を上げるため、前記外
    部導出しリードの一部に穴を設けたことを特徴とする半
    導体装置。
JP1689183U 1983-02-07 1983-02-07 半導体装置 Pending JPS59123346U (ja)

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JP1689183U JPS59123346U (ja) 1983-02-07 1983-02-07 半導体装置

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JP1689183U JPS59123346U (ja) 1983-02-07 1983-02-07 半導体装置

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JPS59123346U true JPS59123346U (ja) 1984-08-20

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ID=30148144

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