JPS59121950A - 試料固定方法 - Google Patents
試料固定方法Info
- Publication number
- JPS59121950A JPS59121950A JP22869582A JP22869582A JPS59121950A JP S59121950 A JPS59121950 A JP S59121950A JP 22869582 A JP22869582 A JP 22869582A JP 22869582 A JP22869582 A JP 22869582A JP S59121950 A JPS59121950 A JP S59121950A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- sample
- glass substrate
- bag
- substrate
- same plane
- Prior art date
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- Pending
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(1)発明の技術分野
本発明は試料固定方法、詳しくはフォトマスク(レチク
ルともいう)の如き試料を固定する方法に関する。
ルともいう)の如き試料を固定する方法に関する。
(2)技術の背景
例えばウェハの焼付に用いるフォトマスクは第1図の断
面図に示される構造のもので、ソーダガラスまたは石英
ガラスの2mm〜3mm<約0.0eン)の厚さのガラ
ス基板1の上表面にクロムと酸化クロムの21M構成の
パターン2(通電の場合膜厚600人程度)が形成され
ている。なお図において、パターン2は誇張して示した
。
面図に示される構造のもので、ソーダガラスまたは石英
ガラスの2mm〜3mm<約0.0eン)の厚さのガラ
ス基板1の上表面にクロムと酸化クロムの21M構成の
パターン2(通電の場合膜厚600人程度)が形成され
ている。なお図において、パターン2は誇張して示した
。
このようなマスクを顕微鏡を用いて検査したりウェハに
焼付をなすに際し、ガラス基板Iを平坦な状態に保って
保持しなければならない。そのための1つの方法に第2
図(a)の斜視図に示される如きピン3を3本用いる3
点支持方法がある。かかる支持方法のための装置は第2
図fb)の側断面図に示され、この装置は枠4から成る
もので、枠4は平坦な底面4aをもち、底面4aに1m
m〜2mmの高さのピン3が3本固定されている。なお
第2図以下において既に図示した部分と同じ部分は同一
符号を付して表示し、パターンは省略し、またピンの高
さは誇張して図示される。
焼付をなすに際し、ガラス基板Iを平坦な状態に保って
保持しなければならない。そのための1つの方法に第2
図(a)の斜視図に示される如きピン3を3本用いる3
点支持方法がある。かかる支持方法のための装置は第2
図fb)の側断面図に示され、この装置は枠4から成る
もので、枠4は平坦な底面4aをもち、底面4aに1m
m〜2mmの高さのピン3が3本固定されている。なお
第2図以下において既に図示した部分と同じ部分は同一
符号を付して表示し、パターンは省略し、またピンの高
さは誇張して図示される。
(羽従来技術と問題点
上記したガラス基板1の上表面(以下に上表面とあるは
クロムパターンが形成される側の表面をいう)は6μm
〜15μmの平坦度に仕上げられるが、その反対側であ
る裏面は波うったように20μm〜30μm程度の平坦
度に仕上げられる。このようなガラス基板を用いると、
前記した3点支持方法では、表面が若干傾くことがある
。
クロムパターンが形成される側の表面をいう)は6μm
〜15μmの平坦度に仕上げられるが、その反対側であ
る裏面は波うったように20μm〜30μm程度の平坦
度に仕上げられる。このようなガラス基板を用いると、
前記した3点支持方法では、表面が若干傾くことがある
。
また上記の3点支持においては、ガラス基板が自M(約
90g)で中央部分が凹んだ形状に反ることが観測され
た。
90g)で中央部分が凹んだ形状に反ることが観測され
た。
上記の如き傾きまたは反りはウェハ上に焼付られるパタ
ーン精度に影響を与え、最近は集積回路の微細化が要求
されるので、僅かの傾斜または反りの影響も無視できな
いところまできている。
ーン精度に影響を与え、最近は集積回路の微細化が要求
されるので、僅かの傾斜または反りの影響も無視できな
いところまできている。
他方、フォトマスクはウェハの大型化に対応して15.
24ctr1口から20.32cm口(6工′口がら8
すンロ)のものが作られるようになり、そうなると自重
による反りが大になる傾向にある。かくして、フォトマ
スクの大型化が進む一方で集積回路の微細化が求められ
るので、フォトマスクの如き試料を平坦に支持して固定
する方法が要望されている。
24ctr1口から20.32cm口(6工′口がら8
すンロ)のものが作られるようになり、そうなると自重
による反りが大になる傾向にある。かくして、フォトマ
スクの大型化が進む一方で集積回路の微細化が求められ
るので、フォトマスクの如き試料を平坦に支持して固定
する方法が要望されている。
(4)発明の目的
本発明は上記従来の問題点に鑑み、フォトマスクの如き
試料を平坦度を保って支持し固定し、それによって投影
されるマスクパターンの精度の低下を防止する試料固定
方法を提供することを目的とする。
試料を平坦度を保って支持し固定し、それによって投影
されるマスクパターンの精度の低下を防止する試料固定
方法を提供することを目的とする。
(5)発明の構成
そしてこの目的は本発明によれば、試料の上表面の4縁
を前記上表面が同一平面にある如くに固定保持し、該試
料の上表面とは反対側の裏面の全面にわたって前記上表
面に向は押圧力を加えて該試料を固定して保持すること
を特徴とする試料固定方法を提供することによって達成
される。
を前記上表面が同一平面にある如くに固定保持し、該試
料の上表面とは反対側の裏面の全面にわたって前記上表
面に向は押圧力を加えて該試料を固定して保持すること
を特徴とする試料固定方法を提供することによって達成
される。
(6)発明の実施例
以下本発明実施例を図面によって詳述する。
本願の発明者は、上記した如く、ガラス基板の上表面の
4縁を上表面の平坦度を維持する如くに固足し、枠によ
って保持し、ガラス基板全体をガラス基板の裏面から平
均した力で上方へ押圧する方法を考えついた。かがる方
法を実施するための装置を第3図に断面図で示す。
4縁を上表面の平坦度を維持する如くに固足し、枠によ
って保持し、ガラス基板全体をガラス基板の裏面から平
均した力で上方へ押圧する方法を考えついた。かがる方
法を実施するための装置を第3図に断面図で示す。
図示の試料固定装置5は、その側部分が断面コの字型に
形成され、コの字部分の上辺はガラス基板1の上表面を
押える押え部材5aとして構成され、コの字の中空部分
にガラス基板1の縁部分が収まり、押え部材5aのガラ
ス基板1の上表面と接触する下面は同一平面にある如く
精密仕上げをなす。
形成され、コの字部分の上辺はガラス基板1の上表面を
押える押え部材5aとして構成され、コの字の中空部分
にガラス基板1の縁部分が収まり、押え部材5aのガラ
ス基板1の上表面と接触する下面は同一平面にある如く
精密仕上げをなす。
固定装置5の押え部材5aと底面5bとによって形成さ
れる凹所6内には柔軟性をもった袋7を配置し、袋7に
はチューブ7aによって空気を供給し、装置5の底面5
bにはチューブ7aのための孔8を設ける。
れる凹所6内には柔軟性をもった袋7を配置し、袋7に
はチューブ7aによって空気を供給し、装置5の底面5
bにはチューブ7aのための孔8を設ける。
ガラス基板1の固定に際しては、袋7の上にガラス基板
1を上表面を上にして配置し、次いで2 kg/ cr
A 〜5 kg/ cn!の圧力で空気を袋7内に送る
と、袋7はふくらんで、第3図に示す如く、ガラス基板
1を上方にガラス基板1全体にわたり均一な力で押しや
る。押え部材5aのガラス基板1と接触する面は前記し
た如く同一平面にあるので、ガラス基板1はその上表面
が平坦な状態で固定して保持されることになる。
1を上表面を上にして配置し、次いで2 kg/ cr
A 〜5 kg/ cn!の圧力で空気を袋7内に送る
と、袋7はふくらんで、第3図に示す如く、ガラス基板
1を上方にガラス基板1全体にわたり均一な力で押しや
る。押え部材5aのガラス基板1と接触する面は前記し
た如く同一平面にあるので、ガラス基板1はその上表面
が平坦な状態で固定して保持されることになる。
前記した空気は、工場内に設けられた圧縮空気供給パイ
プから減圧用のバルブを用いて容易に袋7内に供給され
うる。
プから減圧用のバルブを用いて容易に袋7内に供給され
うる。
袋7は例えばゴムの如き柔軟性をもった材料で作るが、
ゴム以外の柔軟性と耐久性をもった材料を用いうろこと
はいうまでもない。
ゴム以外の柔軟性と耐久性をもった材料を用いうろこと
はいうまでもない。
(7)発明の効果
以上詳細に説明したように、本発明の方法によるときは
、ガラス基板の如き試料がその上表面は平坦に保たれた
状態で固定され、しかもそのための手段は通常の技術で
精密に形成可能であるので、フォトマスクの顕微鏡試験
や他のマスクまたはウェハの焼付が正確になされる効果
があり、半導体装置の製造歩留り・、と信頼性向上に効
果大である。
、ガラス基板の如き試料がその上表面は平坦に保たれた
状態で固定され、しかもそのための手段は通常の技術で
精密に形成可能であるので、フォトマスクの顕微鏡試験
や他のマスクまたはウェハの焼付が正確になされる効果
があり、半導体装置の製造歩留り・、と信頼性向上に効
果大である。
第1図はフォトマスクの断面図、第2図(alと(b)
は第1図のフォトマスクの固定状態を示す斜視図と側断
面図、第3図は本発明の方法の実施に用イル装置の断面
図である。 1−ガラス基板、2・−クロムパターン、3−ピン、4
−枠、4a−枠4の底面、5−ガラス基板の固定装置、
5a−・−押え部材、5b−底面、6−凹所、 7−袋、7a−チューブ、8一孔
は第1図のフォトマスクの固定状態を示す斜視図と側断
面図、第3図は本発明の方法の実施に用イル装置の断面
図である。 1−ガラス基板、2・−クロムパターン、3−ピン、4
−枠、4a−枠4の底面、5−ガラス基板の固定装置、
5a−・−押え部材、5b−底面、6−凹所、 7−袋、7a−チューブ、8一孔
Claims (1)
- 試料の上表面の4縁を前記上表面が同一平面にある如く
に固定保持し、該試料の上表面とは反対側の裏面の全面
にわたって前記上表面に向は押圧力を加えて該試料を固
定して保持することを特徴とする試料固定方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22869582A JPS59121950A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 試料固定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP22869582A JPS59121950A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 試料固定方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS59121950A true JPS59121950A (ja) | 1984-07-14 |
Family
ID=16880347
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP22869582A Pending JPS59121950A (ja) | 1982-12-28 | 1982-12-28 | 試料固定方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS59121950A (ja) |
-
1982
- 1982-12-28 JP JP22869582A patent/JPS59121950A/ja active Pending
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