JPS59121859A - Micモジユ−ルの製造方法 - Google Patents

Micモジユ−ルの製造方法

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JPS59121859A
JPS59121859A JP21013082A JP21013082A JPS59121859A JP S59121859 A JPS59121859 A JP S59121859A JP 21013082 A JP21013082 A JP 21013082A JP 21013082 A JP21013082 A JP 21013082A JP S59121859 A JPS59121859 A JP S59121859A
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JP
Japan
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mic
temperature
ribbons
boards
module
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JP21013082A
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JPS6249740B2 (ja
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Norio Yabe
谷辺 範夫
Hideo Ashida
秀夫 芦田
Toshio Takahara
高原 壽夫
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Publication date
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Publication of JPS59121859A publication Critical patent/JPS59121859A/ja
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    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L23/00Details of semiconductor or other solid state devices
    • H01L23/52Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames
    • H01L23/538Arrangements for conducting electric current within the device in operation from one component to another, i.e. interconnections, e.g. wires, lead frames the interconnection structure between a plurality of semiconductor chips being formed on, or in, insulating substrates
    • H01L23/5385Assembly of a plurality of insulating substrates
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2224/00Indexing scheme for arrangements for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies and methods related thereto as covered by H01L24/00
    • H01L2224/01Means for bonding being attached to, or being formed on, the surface to be connected, e.g. chip-to-package, die-attach, "first-level" interconnects; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/42Wire connectors; Manufacturing methods related thereto
    • H01L2224/47Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process
    • H01L2224/48Structure, shape, material or disposition of the wire connectors after the connecting process of an individual wire connector
    • H01L2224/4805Shape
    • H01L2224/4809Loop shape
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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (a)6発明の技術分野 複数個のMIC基板或いは複数個のキャリヤ搭載MIC
基板を、同一キャリャ或いは同一筐体に実装し構成する
MICモジュールに於いてMIC基板間の接続に関する
ものである。
(b)、従来技術と問題点 従来MICモジュール内の複数個のMIC基板間の接続
はMICを構成する誘電体基板上に設けたストリップ伝
送線路相互間に導体リボンをボンデングして接続してい
た。
第1図、第2図は従来の実施例を示し、キャリヤ搭載M
I C基板を複数個、筐体に実装した場合のMIC接続
部の主要部の断面図であり、キャリヤ搭載MIC基板1
.1′、入出カストリップ伝送線路3.3′が接続され
る状態を示す。
第1図に於いて、MIC基板1.1′は一般的にはアル
ミナセラミック等の誘電体基板2.2窃下面にはアース
導体4.4′をメタライズし、上面にはストリップ・パ
ターンを設けて構成されていて、MIC基板1.1′を
補強する為、キャリヤ5.5′にアース導体4.4′の
面で接合して搭載されている。
尚キャリヤ5.5′はMrC基板1.1′との熱応力を
小さくする為には、例えば誘電体基板2.2゛にアルミ
ナセラミックを使用するならば、アルミナセラミックに
近い熱膨張率のコバール等を使用するのが望ましい。
一方筺体6に選択される材料としては、筐体の重量から
の要求、熱設計上、加工上、材料の入手の難易等の条件
により、コバール等を使用することが出来なく、アルミ
ニューム合金、銅合金等の比較的熱膨張率の大きい材料
を使用する場合が多い。
此の為に第1図の従来例では熱ストレスを緩衝する構造
を持ら7.7′、8の様な形状の接続リード構造が採用
されている。
然しMICを構成する誘電体基板或いはMIC基板を保
持するキャリヤ、筐体等の熱膨張率等の熱的特性の違い
により、MICモジュールが温度負荷を受けた場合、M
IC基板間或いはキャリヤ接続間が変動し1、MIC接
続部の導体リボンにストレスを受ける。特にMIC基板
間或いはキャリヤ接続間が拡がった場合、導体リボンは
引張られ、導体リボン及びボンデング接続部には大きい
引張り応力を受け、導体リボンの破損又はボンデング接
続部の剥脱等が発生する。
父上記の破損を防止する為第2図の21の様な最初から
たわみを設けた緩衝構造の導体リボンを使用することが
マイクロ波帯で行なわれているが、準ミリ波、ミリ波等
周波数の高いMICになるとMICパターンが小さくな
ると共に接続部等の形状が特性に及ぼず影響が大となり
作業上聞しものを作るのがむづかしくなる。
又これらの構造が電気的に許される範囲は第1図の構造
では1〜2GIlz帯まで、第2図の構造では6〜8 
G !lz帯までである。
従来の製造方法は上記の様な欠点を持ってし)る。
(C)0発明の目的 本発明の目的は上記の欠点を除去し、温度等により特性
変化の無い、故障の発生しないMICモジュールの製造
方法を提供することである。
(d)1発明の構成 上記の目的は本発明によれば、誘電体基板の両面又は片
面に平面回路パターン又はアース面を設けた複数個のM
IC基板をキャリヤGこ搭載し、該MIC基板の間をリ
ード・リボンで接続する場合、及び該キャリヤに搭載し
た複数個の該MIC基板を同一筐体に実装し、該MIG
基板の入出力間を該リード・リボンで接続し機能回路を
構成するMICモジュールの該MIC基板間をリード・
リポ1     77接続する場合、ユ於0.7、該7
.。ニジ、−21の許容温度範囲内で、接続すべき該M
IC基板間の間隔が最大となる熱的ストレスを加えた状
態の゛ もとで、該MIC基板間を該リード・すHζン
で;Iζンデング作業をして接続することを特徴とする
MICモジュールの製造方法を提供することにより達成
される。
(e)0発明の実施例 第3図は本発明の一実施例を示す図で、図中31は本発
明により取りつけられたリード−IJ 、Nンの形状、
31はリード・リボン31の常温に於ける形状を示す。
部具の他の数字は総て第1図、第2図の場合と全く同一
である。
本発明ばMIC基板相互の入出力、ストリップ・パター
ンの上に第3図のリード・リボン31の様な平坦に導体
リボンをボンデング接続する最も単純で精度の高い接続
方法を採り、且つMICを構成する誘電体基板或いはM
 I (Jl;板を保持するキャリヤ、筐体等の材料の
熱膨張率等の熱的特性の相違による生ずる熱ストレスを
予め考慮して、装置の使用を予定される最高温度(約6
0℃)に於いて、導体リボンをボンデング接続作業を実
施することにより、前記の障害を除去しようとするもの
である。
即ち第3図のリード・リボン31をボンデング接続する
に当たり、予め前記の温度以上に加熱された盤上に必要
な部品類を乗せておき、充分に温度が上昇してからリー
ド・リボン31のボンデング接続作業を実施することに
より此の目的は達成される。
此の様に装置の使用を予定される最高温度(約60°C
)に於いて、導体リボンをボンデング接続するならば、
常温では必ず此の温度より低い為、す−ド・リボン31
は31′の様にたわみ、決して引っ張られることは無い
。従って従来の製造方法により装作した場合のストレス
を生ずることは無く、導体リボンの破損又はボンデング
接続部の剥脱等は発生しない。
(f)0発明の効果 以上詳細に説明した様に本発明によれば、極めて簡単な
工程の改善により導体リボンの破損又はボンデング接続
部の剥脱等の発生を完全に除去出来る丈でなく、接続構
造が簡素である為、電気的に令名よりも高い周波数帯ま
で使用することが出来ると云う大きい効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は従来の実施例を示し、第3図は本発明
の一実施例を示す図で、図中31は本発明により取りつ
けられたリード・リボンの形状、31′はリード・リボ
ン31の常温に於ける形状を示す。部具の他の数字は総
て第1図、第2図の場合と全く同一である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 誘電体基板の両面又は片面に平面回路パターン又はアー
    ス面を設けた複数個のMIC基板をキャリヤに搭載し、
    該MIC基板の間をリード・リボンで接続する場合、及
    び該キャリヤに搭載した複数個の該MIC基板を同一筐
    体に実装し、該MIC基板の入出力間を該リード・リボ
    ンで接続し機能回路を構成するMICモジュールの該M
    IG基板間をリード・リボンで接続する場合に於いて、
    該MICモジュールの許容温度範囲内で、接続すべき該
    MIC基板間の間隔が最大となる熱的ストレスを加えた
    状態のもとで、該MIC基板間を該リード・リボンでボ
    ンデング作業をして接続することを特徴とするM l 
    ’Cモジュールの製造方法。
JP21013082A 1982-11-30 1982-11-30 Micモジユ−ルの製造方法 Granted JPS59121859A (ja)

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JP21013082A JPS59121859A (ja) 1982-11-30 1982-11-30 Micモジユ−ルの製造方法

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JPS59121859A true JPS59121859A (ja) 1984-07-14
JPS6249740B2 JPS6249740B2 (ja) 1987-10-21

Family

ID=16584281

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JP21013082A Granted JPS59121859A (ja) 1982-11-30 1982-11-30 Micモジユ−ルの製造方法

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JP (1) JPS59121859A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62190857A (ja) * 1986-02-18 1987-08-21 Mitsubishi Electric Corp マイクロ波デバイス

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS62190857A (ja) * 1986-02-18 1987-08-21 Mitsubishi Electric Corp マイクロ波デバイス

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JPS6249740B2 (ja) 1987-10-21

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