JPS59112681A - セラミツク回路基板 - Google Patents

セラミツク回路基板

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Publication number
JPS59112681A
JPS59112681A JP22200182A JP22200182A JPS59112681A JP S59112681 A JPS59112681 A JP S59112681A JP 22200182 A JP22200182 A JP 22200182A JP 22200182 A JP22200182 A JP 22200182A JP S59112681 A JPS59112681 A JP S59112681A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
circuit board
ceramic circuit
plating
palladium
tungsten
Prior art date
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Pending
Application number
JP22200182A
Other languages
English (en)
Inventor
及川 昇司
高井 輝男
徳増 良夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明は、湿式セラミック基板に係り、特にタングステ
ン導体と、金属厚膜導体の接続安定性を改良するのに好
適なセラミック回路基板の構成に関するものである。
〔従来技術〕
従来のセラミック回路基板では、タングステン導体と、
Af/Pdのような、ガラス質含有金属ペースト導体と
の接続方法は、ニッケルめっき後に金めつきを施してい
だが、コスト的に高価なばかりではなく、金が銀、パラ
ジウムペースト焼成時に、早い時期にペースト中に拡散
してしまい 接続抵抗が高くなることがあり、シンタリ
ングをめっき後に行なわなくては十分な信頼性が得られ
ないという欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、セラミック上のタングステン導体と、
ガラス質を含む金属ペーストを信頼度が高く接続できる
ニッケルとパラジウムめっきをタングステン導体上に施
した後にガラス質を含む金属ペーストを焼成したことよ
シバターンを形成したセラミック回路基板を提供するこ
とにある。
〔発明の概要〕
タングステン導体とガラス質を含む金属ペーストを信頼
度高く接続するためには、金属ペーストと接するめっき
膜の材質により大きな影響を受ける。すなわち金属ペー
ストの焼成時にめつき膜とほどよい拡散を起す状態が理
想であり、たとえばタングステン上にNLめつき後、A
Vめっきを施した場合、AWの両側の拡散温度や速度が
異々るために一方の接続材料にのみ拡散が起り他方には
拡散ができなくなる。この為に、接線抵抗が高くなり極
だんな例でld: )はく離が発生する。本発明では、
ニッケル上にパラジウノ、めっきを施すことによシ拡散
速度を均一にするため、銀、パラジウムのガラス含有ペ
ーストが最も好適な例である。銀めっきを施す例もある
が、マイグレーションや、ホイスカーを発生しやすく、
パラジウムがのぞましい。また、ガラス質含有の金属ペ
ーストで、一般的に存在する”/PえやC1Lペースト
等についても本発明の効果が得られる。また、焼成温度
は500〜9006Cでよいが、めっきしたパラジウム
の還元性が発生する900C付近の焼成温度が最適であ
り、この理由からガラス質含有の金属ペーストについて
も、900’(E付近で焼成できる性質のペーストが望
捷しい。
また、本発明に供するめつき被膜は、電解めつき瞳、無
電解めっき膜のいずれによる方法でも可だが、タングス
テン上に接するニッケルめっきは、無電解ニッケルめっ
き膜を必要とする。
〔発明の実施例〕
〈実施例〉 グリーンシート上にタングステン導体2を160DCに
て焼結した、セラミック基板1上に無電解ニッケル膜5
と、電解パラジウムめっき膜4を施し、その上に、ガラ
ス質を含有する銀、パラジウム膜5を印刷し、900°
Cの酸化雰囲気で焼成したところ、接続抵抗の小さい、
密着が良好なセラミック回路基板が得られた。
〔発明の効果〕
本発明によれば、従来性なわれていためつき後のシンタ
リング工程を省くことができ、かつ、接続部の信頼度が
、向上し、従来比約2倍の寿命を得ることが可能となる
。また、工程省略ができるためコスト低減も可能となる
【図面の簡単な説明】
図は、本発明によるセラミック回路基板の断面図である
。 1・・・・・セラミック基板、 2・・・・・・タングステン導体、 6・・・・・・無電解ニッケル膜、 4・・・・・電解ノくラジウムめっき膜、5  銀・ノ
くラジウム膜。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 タングステン焼結導体を有するセラミック回路基板
    に於いて、タングステン上にニッケルめっきを施し、し
    かる後にパラジウムめっきを施して後、ガラス質を含む
    金属厚膜ペーストを印刷し、500’C〜900’C’
    の酸化雰囲気にてペーストを焼成したことによりタング
    ステン導体と釧、パラジウム厚膜導体を接続したことを
    特徴とするセラミック回路基板。
JP22200182A 1982-12-20 1982-12-20 セラミツク回路基板 Pending JPS59112681A (ja)

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JP22200182A JPS59112681A (ja) 1982-12-20 1982-12-20 セラミツク回路基板

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JPS59112681A true JPS59112681A (ja) 1984-06-29

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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4898805A (en) * 1987-01-29 1990-02-06 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method for fabricating hybrid integrated circuit
US4946709A (en) * 1988-07-18 1990-08-07 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method for fabricating hybrid integrated circuit
JPH04372191A (ja) * 1991-06-21 1992-12-25 Kyocera Corp 回路基板

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4898805A (en) * 1987-01-29 1990-02-06 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method for fabricating hybrid integrated circuit
US4946709A (en) * 1988-07-18 1990-08-07 Mitsubishi Denki Kabushiki Kaisha Method for fabricating hybrid integrated circuit
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