JPS59103259A - マクロアナライザ−の検出感度補正装置 - Google Patents

マクロアナライザ−の検出感度補正装置

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Publication number
JPS59103259A
JPS59103259A JP21245682A JP21245682A JPS59103259A JP S59103259 A JPS59103259 A JP S59103259A JP 21245682 A JP21245682 A JP 21245682A JP 21245682 A JP21245682 A JP 21245682A JP S59103259 A JPS59103259 A JP S59103259A
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JP
Japan
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data
periodicity
significant
difference
correction
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Pending
Application number
JP21245682A
Other languages
English (en)
Inventor
Sanenori Oka
岡 実乗
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Seiko Instruments Inc
Original Assignee
Seiko Instruments Inc
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Filing date
Publication date
Application filed by Seiko Instruments Inc filed Critical Seiko Instruments Inc
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Publication of JPS59103259A publication Critical patent/JPS59103259A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/252Tubes for spot-analysing by electron or ion beams; Microanalysers

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はマクロアナフィザー(粒子ビーム励起マツピン
グ分析装晋〕における装置固有の周期性を有する検出感
度特性を、その周期成分を除去して、フヲソトな特性に
改善する事に関するものである。
粒子ビームを照射する際、ビームの走査を行ない、粒子
ビームにより試料を励起し、それによ多発生するX線強
度の情報から分析を行なう装置において、ビームの走査
を行なうため、ビーム位置によ5X線が検出器に入射す
る経路が異なってくる。そのため検出感度がビーム位置
によフ異なつてくる、従って大きい試料をビーム走査と
試料の機械的移動の組合せで全面をマツピングすると、
X線強度がビーム走査中の周期をもってくる。この周期
性をもった検出感度特性が、測定精度に重大な悪影響を
及はしていた。
従来、この特性を改善する方法として、X線分光系の改
善のような物理的な方法と、パワースペクトルを求め、
周期成分を抽出し、それを除去するデーター処理による
方法があった。前者は、調整が困難でかつ多大の時間を
要し、後者はF B’ T等の膨大な計算を要するため
、高速処理するにはアレイプロセッサーを用いなければ
ならず、小形計算機には適していなかった。本発明は、
隣接するデーターの差分を求め、さらにその結果を量子
化し、統計変動と有志デークー及び境界データーの識別
をし、装置固有の周期の近似量子化値のピークの有無に
よシ、周期性の有無を判定し、周期性が認められた時は
、量子化値の平均値を用いて帰還をかける事なく、補正
を行なう事を特徴とブるマクロアナフィザーの検出感度
補正装置である。
以下発明の実施例について説明する。
装置構成は、第1図のようになっておシ、マクロアナフ
ィザ−5により得られた2次元マツピングデーターを記
憶する記憶装置1.前記差分演算、量子化、及び量子化
値の平均演算をする演算装置21周期性の有無を判定す
る周期性判定器3及びデーター補正を行なうデーター補
正器4からなっている。
今記憶装置1には第二図のようなマツピングデーターが
記憶され、X方向に検出感度が周期性をもっていたとす
る。まず1式によυプロフィルを求めると、第3図のよ
うになる。
M(’ p j)は2次元マツピングデーター■〔j〕
はX方向に1式によシ加算した結果でX方向に沿ったプ
ロフィルを表わす。
一般に検出感度特性は、ノコギリ波状になっておシ、デ
ーターとしては第1図のように前記ノコギリ波に、有意
なデーターPが重なっている。
ここで、隣接するデーターの差分を2式により求めると
、第4図のようになる。
D(lj) =工1j)=1(j−1)  、 、 、
 (21D(i)は差分 さらに、統計変動と有意なデーターの識別を行なうため
に、統計変動(2α〜3α)程度で、3式によシ量子化
を行なうと、第5図のようになる。
DqCi) = D+j)/(−6百π石〒−1)) 
+$6 +31これによシ装置固有の周期性があれば、
第5図のように装置固有の周期でピークPgがあられれ
る。
従って周期性判定器3により Bqの有無によシ周期性
有無を判定する。なお実際は有意なデーターPdがPg
に重さなる場合があるので、境界の80チ以上の箇所で
Pl、・が認められた場合の時のみ周期性があると判定
をする。
以上のようにして、周期性が認められた時、有意なデー
ターPd及び境界データPqを除去して残ったDlj)
の平均値Aを、4式によシ求める。
A=址Dlj)  、。、【4) この人が前記ノコギリ波の傾向になるので5式によシ各
データーに補正を行なう。
M(jlj)=M(itj)−(j−1−’NT(?:
/T)*T−T/2)*A、、、15+Tは装置固有周
期 この補正をデーター補正器4によシ行ない、補正データ
ーを出力する。そのデーターが第6図である。
以上の補正を行なう事によシ、測定精度に重大な悪影響
を及ばず装置固有の周期性を有する検出感度特性を、一
様な検出感度特性に改善する事ができ、測定精度を向上
させる事ができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、装置の構成図で、lは記憶装置、2は演算装
置、3は周期性判定器、4はデーター補正器、5はマク
ロアナフィザーである。 第2図は、記憶装置1に記憶されている2次元マツピン
グデーター、第3図は装置固有周期成分を含んだ測定デ
ーター、Pは有意なデーターのピーク、Cはノコギリ波
の中点、第4図は、2式によル求めた差分データP(Z
:)でPbは境界データーのピークを示す。 第5図は、差分量子化値Dglj)のデーターでPgは
境界データーのピークをなす。 第6図は、本発明による補正を行なったデーターである
。 以   上 出願人 株式会社第二精工舎 代理人 弁理士最 上  務 第1図 第2図 % 第3図 ■ 。     第4図 肩

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. マクロアナフィザーの検出器感度特性が、装置固有の周
    期性を持つ時、その特性を一様な特性に改善する装置に
    関して、マクロアナフィザーからの検出データーを記憶
    する記憶装置と、この記憶装置から出書れるデーターに
    基づいて、隣接するデーターの差分演算、統計変動を単
    位とした前記演算結果に対する量子化及びその量子化値
    の平均演算をする演算装置と、周期性の有無を判定する
    周期性を判定器及びこの平均値にもとづき補正を行なう
    データー補正器とからなシ、前記量子化を行なう事によ
    シ有意なデーター及び各周期の境界にあるデーター(境
    界データー)と統計変動を識別し、前記装置固有の周期
    の所に量子化値のピーク有無によシ、周期性有無を判定
    し、周期性が認められた時は、前記検出感度特性をノコ
    ギリ波状と仮定し、前記量子化値の平均値をノコギリ波
    の傾きとし、データー補正器によシ、前記傾きに、ノコ
    ギリ波の中点から名データーまでの距離を乗算した値を
    前記名データーから減算して補正を行なう事によシ、装
    置固有の周期性をもった検出器感度特性を一様な特性に
    改善する事を特徴とする検出感度補正装置。
JP21245682A 1982-12-03 1982-12-03 マクロアナライザ−の検出感度補正装置 Pending JPS59103259A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60245533A (ja) * 1984-05-22 1985-12-05 Shinwa Tec Kk プラスチツク射出成形機用クリ−ンブ−ス
JPS60245532A (ja) * 1984-05-22 1985-12-05 Shinwa Tec Kk プラスチツク射出成形機用クリ−ンブ−ス

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS60245533A (ja) * 1984-05-22 1985-12-05 Shinwa Tec Kk プラスチツク射出成形機用クリ−ンブ−ス
JPS60245532A (ja) * 1984-05-22 1985-12-05 Shinwa Tec Kk プラスチツク射出成形機用クリ−ンブ−ス
JPH0150577B2 (ja) * 1984-05-22 1989-10-30 Shinwa Tetsuku Kk
JPH0150578B2 (ja) * 1984-05-22 1989-10-30 Shinwa Tetsuku Kk

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