JPS59100815A - クロツクパルス発生回路 - Google Patents
クロツクパルス発生回路Info
- Publication number
- JPS59100815A JPS59100815A JP21186182A JP21186182A JPS59100815A JP S59100815 A JPS59100815 A JP S59100815A JP 21186182 A JP21186182 A JP 21186182A JP 21186182 A JP21186182 A JP 21186182A JP S59100815 A JPS59100815 A JP S59100815A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- temperature
- oscillation
- circuit
- clock pulse
- ratio
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01D—MEASURING NOT SPECIALLY ADAPTED FOR A SPECIFIC VARIABLE; ARRANGEMENTS FOR MEASURING TWO OR MORE VARIABLES NOT COVERED IN A SINGLE OTHER SUBCLASS; TARIFF METERING APPARATUS; MEASURING OR TESTING NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01D3/00—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups
- G01D3/028—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure
- G01D3/036—Indicating or recording apparatus with provision for the special purposes referred to in the subgroups mitigating undesired influences, e.g. temperature, pressure on measuring arrangements themselves
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Indication And Recording Devices For Special Purposes And Tariff Metering Devices (AREA)
- Stabilization Of Oscillater, Synchronisation, Frequency Synthesizers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明はクロックパルス発生回路、特に被測定物理量
を測定するのに使用される基準クロックパルス発生用の
クロックパルス発生回路に関する。
を測定するのに使用される基準クロックパルス発生用の
クロックパルス発生回路に関する。
従来よシ、Ｎ量、圧力、温度その他の被測定物理量を測
定するのに、基準となるクロックパルスがしばしば使用
される。たとえば重量を測定するのにある種の弦を振動
させ、この弦の所定回数の振動で基準クロックパルスが
何回繰り返されるか計数することによシ弦の振動周波数
を求め、この振動周波数から重量を測定する。このよう
な基準クロックパルスを用いた被測定物理量の測定は。
定するのに、基準となるクロックパルスがしばしば使用
される。たとえば重量を測定するのにある種の弦を振動
させ、この弦の所定回数の振動で基準クロックパルスが
何回繰り返されるか計数することによシ弦の振動周波数
を求め、この振動周波数から重量を測定する。このよう
な基準クロックパルスを用いた被測定物理量の測定は。
基準クロックパルスの安定度が問題となるが、無視でき
ないのが温度特性である。すなわち基準クロックパルス
自体の周波数が温度によって父化し。
ないのが温度特性である。すなわち基準クロックパルス
自体の周波数が温度によって父化し。
測定誤差の原因となる。そこで、従来は上記温度変化に
よる測定誤差を避けるのに基準クロックパルス発生回路
ユニットを一定温度となるように温度制御している。そ
のため、測定精度が要求されるほど温度制御が複雑にな
シ、又消費電力も大となる欠点がある。特に電池駆動の
測定器でｌ−１：温調に大なる電力を要することが大き
な障害となる。
よる測定誤差を避けるのに基準クロックパルス発生回路
ユニットを一定温度となるように温度制御している。そ
のため、測定精度が要求されるほど温度制御が複雑にな
シ、又消費電力も大となる欠点がある。特に電池駆動の
測定器でｌ−１：温調に大なる電力を要することが大き
な障害となる。
この発明の目的は、上記従来のクロックパルス発生回路
の欠点を解消し１回路ユニット自体に特に温度制御ＩＩ
Ｊをなさずとも、温度補正の可能なり口ツクパルヌ発生
回路を提供するにある。
の欠点を解消し１回路ユニット自体に特に温度制御ＩＩ
Ｊをなさずとも、温度補正の可能なり口ツクパルヌ発生
回路を提供するにある。
上記目的を達成するためにこの発明のクロックパｐヌ発
生回路は、温度変化の非常に小さい第１の発振素子を含
む第１の発振回路の他に、温度変化の大なる第２の発振
素子を含む第２の発振回路を備え、前記第１と第２の発
振素子を同一温度環境下におき、さらに前記第１と第２
の発振回路より出力される信号の周波数の比率を算出す
る回路を備え、前記第１の発振回路からはクロックパル
スを、前記比率算出回路よシは温度情報として比率値ｆ
’にそれぞれ導出するようにしている。
生回路は、温度変化の非常に小さい第１の発振素子を含
む第１の発振回路の他に、温度変化の大なる第２の発振
素子を含む第２の発振回路を備え、前記第１と第２の発
振素子を同一温度環境下におき、さらに前記第１と第２
の発振回路より出力される信号の周波数の比率を算出す
る回路を備え、前記第１の発振回路からはクロックパル
スを、前記比率算出回路よシは温度情報として比率値ｆ
’にそれぞれ導出するようにしている。
以下９図面に示す実施例により、この発明をさらに詳細
に説明する。
に説明する。
第１図はこの発明の一実施例を示す基準クロックパルス
発生回路のブロック図である。同図において１は基準ク
ロックパルス発振用の発振素子（たとえば水晶振動子〕
であって、この発振素子の振動周波数ｆ８は温度によっ
てごくわずかに変化する。２は１発振素子１と同一温度
環境乙に置かれる他の発振素子でありこの発振素子２は
１発振素子１よシも温度によシその振動周波数ｆｔがは
るかに大きく変化する。なおここではｆｓ）ｆｔに選定
されている。４は発振素子１とともに発振回路を形成す
る′電子回路であって１周波数ｆ８の信号ｅｓ（ｆｓ）
（第２図のｅｓ（ｆｓ ）参照〕全出力し。
発生回路のブロック図である。同図において１は基準ク
ロックパルス発振用の発振素子（たとえば水晶振動子〕
であって、この発振素子の振動周波数ｆ８は温度によっ
てごくわずかに変化する。２は１発振素子１と同一温度
環境乙に置かれる他の発振素子でありこの発振素子２は
１発振素子１よシも温度によシその振動周波数ｆｔがは
るかに大きく変化する。なおここではｆｓ）ｆｔに選定
されている。４は発振素子１とともに発振回路を形成す
る′電子回路であって１周波数ｆ８の信号ｅｓ（ｆｓ）
（第２図のｅｓ（ｆｓ ）参照〕全出力し。
この信号を基準クロックパルスＦｓとして導出するとと
もにゲート回路５に加えている。
もにゲート回路５に加えている。
６は発振素子２とともに発振回路を形成する電子回路で
あって周波数ｆｔの信号ｅｔ（ｆｔ）（第２図の６ｔ（
ｆｔ）参照〕を出力している。信号ｅｔ（ｆ ｔ ）は
、さらに分周器７で分周され、その分周された信号ｅｎ
（ｆも／ｎ）〔第２図のｅｎ（ｆ ｔ ／ｎ）参照〕が
ゲート回路８に加えられるようになっている。
あって周波数ｆｔの信号ｅｔ（ｆｔ）（第２図の６ｔ（
ｆｔ）参照〕を出力している。信号ｅｔ（ｆ ｔ ）は
、さらに分周器７で分周され、その分周された信号ｅｎ
（ｆも／ｎ）〔第２図のｅｎ（ｆ ｔ ／ｎ）参照〕が
ゲート回路８に加えられるようになっている。
９は制御回路であって信ｖｅｎ（ｆｔ／ｎ ）の１周期
分を含む一定の期間ハイとなる信号ｅｃ（Ｃ）（第２図
のｅｃ （Ｃ）参照〕を出力し、ゲート回路８に加える
ようになっている。ゲート回路８は信＋ｊｅ ｃ （Ｃ
）がハイの期間において信号６ｎ（ｆｔ／ｎ）の立上シ
から次の立上シまでの期間、すなわち信号ｅｎ（ｆｔ／
ｎ）の１周期間だけハイとなる信号ｅＧ（Ｇ）（第２図
のｅＧ（Ｇ）参照〕を出力いゲート回路５に加えるよう
になっている。ゲート回路５は信号ｅａ（Ｇ）がノＸイ
となる期間、すなわち信号ｅｎ（ｆｔ／ｎ）の１周期間
だけ電子回路４よりの信号６ｓ（ｆｓ）を通過させて信
号ｅ Ｍ（Ｓ）を出力し、計数回路１０に加える。計数
回路１０は、加えられた信号ｅ Ｍ’（Ｓ）のパルス数
を計数する。この信号ｅＭ（Ｓ）のパルス数はｍ ＝
ｎｆ ｓ／ｒｔであり、これは１発振素子１と電子回路
４で形成・ される発振回路と発振素子２と電子回路６
で形成される発振回路でそれぞれ発生される信号６ｓ（
ｆｓ）と信号ｅｔ（ｆｔ）の周波数比率である。この比
率ｍは温度変化に依存する値であシ、温度情報として出
力される。
分を含む一定の期間ハイとなる信号ｅｃ（Ｃ）（第２図
のｅｃ （Ｃ）参照〕を出力し、ゲート回路８に加える
ようになっている。ゲート回路８は信＋ｊｅ ｃ （Ｃ
）がハイの期間において信号６ｎ（ｆｔ／ｎ）の立上シ
から次の立上シまでの期間、すなわち信号ｅｎ（ｆｔ／
ｎ）の１周期間だけハイとなる信号ｅＧ（Ｇ）（第２図
のｅＧ（Ｇ）参照〕を出力いゲート回路５に加えるよう
になっている。ゲート回路５は信号ｅａ（Ｇ）がノＸイ
となる期間、すなわち信号ｅｎ（ｆｔ／ｎ）の１周期間
だけ電子回路４よりの信号６ｓ（ｆｓ）を通過させて信
号ｅ Ｍ（Ｓ）を出力し、計数回路１０に加える。計数
回路１０は、加えられた信号ｅ Ｍ’（Ｓ）のパルス数
を計数する。この信号ｅＭ（Ｓ）のパルス数はｍ ＝
ｎｆ ｓ／ｒｔであり、これは１発振素子１と電子回路
４で形成・ される発振回路と発振素子２と電子回路６
で形成される発振回路でそれぞれ発生される信号６ｓ（
ｆｓ）と信号ｅｔ（ｆｔ）の周波数比率である。この比
率ｍは温度変化に依存する値であシ、温度情報として出
力される。
それゆえ、比率ｍと温度および信号ｅｓ（ｆ））の関係
を予じめ較正データとして計算器に記憶しておけば、ｉ
量測定時に、基準クロックツくルヌＦｓと温度情報ｍを
計算機に取シ込むことにより。
を予じめ較正データとして計算器に記憶しておけば、ｉ
量測定時に、基準クロックツくルヌＦｓと温度情報ｍを
計算機に取シ込むことにより。
たとえ温度変化によって基準クロックツ＜ルスＦ８の周
波数が若干便化していても、温度情報ｍによシ温度補正
を行なうことができる。
波数が若干便化していても、温度情報ｍによシ温度補正
を行なうことができる。
ここで計数回路１０で計数される比率ｍが温度もに依存
すること、すなわち温度情報として導出できる点につい
て説明する。
すること、すなわち温度情報として導出できる点につい
て説明する。
今発振素子１および２が置かれる環境６の温度’ｔ ｔ
（Ｏとすると、１を子回路６および４の出力信号の周
波数および上記比率ｍはそれぞれ次式であられせる。
（Ｏとすると、１を子回路６および４の出力信号の周
波数および上記比率ｍはそれぞれ次式であられせる。
ｆも ＝ ｆｔ（ｔ）＝ ｆｌＯ−１−Ａｔも＋Ｂ
ｌ ｔ ２−１− Ｑｔ、 ３ ・・・・・・
（１）ｆｓ＝ｆｓ（ｔ）：ｆｏｏ−）−ＡＯｔ十ＢＯｔ
２−４−ＣＯｔ３ −−−−−−（２）ただしＡ１
・ＡＯ・Ｂ１・ＢＯ・Ｃ１・ＣＯは定数ここで、一般に
はＡ ”＞ Ｂ Ｓ） Ｃで、かつＡＩ＞ＡＯと言える
から、ｍ（１）は所定の温度範囲で温度もの１価関数と
考えることができる。
ｌ ｔ ２−１− Ｑｔ、 ３ ・・・・・・
（１）ｆｓ＝ｆｓ（ｔ）：ｆｏｏ−）−ＡＯｔ十ＢＯｔ
２−４−ＣＯｔ３ −−−−−−（２）ただしＡ１
・ＡＯ・Ｂ１・ＢＯ・Ｃ１・ＣＯは定数ここで、一般に
はＡ ”＞ Ｂ Ｓ） Ｃで、かつＡＩ＞ＡＯと言える
から、ｍ（１）は所定の温度範囲で温度もの１価関数と
考えることができる。
以上よシ比率ｍは温度ｔに依存することが明らかである
から、予じめ温度ｔに対し比率ｍの値を対応して求めて
おくと、測定時に逆に比率ｍの値から温度ｔｆ求めるこ
とができ、ｔの鎖と上記（２）式から、 ｆｓ（ｔ）す
なわち基準クロックパルスＦ８で計測した結果値を補正
することによシ、たとえ基準クロックパルスＦｓが温度
によって変化しても正しい敲測定物理量ｔ−得ることが
できる。
から、予じめ温度ｔに対し比率ｍの値を対応して求めて
おくと、測定時に逆に比率ｍの値から温度ｔｆ求めるこ
とができ、ｔの鎖と上記（２）式から、 ｆｓ（ｔ）す
なわち基準クロックパルスＦ８で計測した結果値を補正
することによシ、たとえ基準クロックパルスＦｓが温度
によって変化しても正しい敲測定物理量ｔ−得ることが
できる。
上記実施例回路において、たとえば温度環境６の′ｔＩ
ｉＡ灰が発振素子１および２の振動周波数を高くする方
向に変化したとすると、当然発振素子１の振動周波ｆｉ
＆ｆｓが大となシ、一定期間に電子回路４から出力され
る信号ｅ８（ｆｓ ）のパルス数も若干大とな９．この
パルスすなわち基準クロックパルスＦｓのみを用いて破
測定物理量を測定すると温度誤差を生じることになる。
ｉＡ灰が発振素子１および２の振動周波数を高くする方
向に変化したとすると、当然発振素子１の振動周波ｆｉ
＆ｆｓが大となシ、一定期間に電子回路４から出力され
る信号ｅ８（ｆｓ ）のパルス数も若干大とな９．この
パルスすなわち基準クロックパルスＦｓのみを用いて破
測定物理量を測定すると温度誤差を生じることになる。
しかし温度環境乙の温度貧化で発振素子２の振動周波数
ｆｔの方がはるかに大なる方向に変化しているので、電
子回路６から出力される盲号ｅｔ（ｆｔ）の周期が小さ
くなり、したがって分周器７の出力信号ｅｎ（ｆｔ／’
ｎ）の周期ｎ／ｆｔも小となる。この周期ｎ 、’ｆｔ
が小さくなる度合は、信号ｅｓ（ｆｓ）の周期が小さく
なる度合よシもはるかに大であるから、ゲート回路５よ
シ出力されるｅｌｓ）のパルス数が小さくなる。それゆ
え計数回路１０よシ出力される比率ｍが小さくなる。す
なわち温度環境６の温反駁化に依存して比率ｍが小さく
なる。この比率ｍによって変化湿灰が抽出され、この抽
出温度によシ上記若干変化した基準クロックパルスＦｓ
の周波数変化を補正できる。したがって基本クロックパ
ルスＦｓの周波数が温度によって若干変化しても、肢測
定物理量の測定にｆｌｉ［誤差が生じるの全極少におさ
えることができる。
ｆｔの方がはるかに大なる方向に変化しているので、電
子回路６から出力される盲号ｅｔ（ｆｔ）の周期が小さ
くなり、したがって分周器７の出力信号ｅｎ（ｆｔ／’
ｎ）の周期ｎ／ｆｔも小となる。この周期ｎ 、’ｆｔ
が小さくなる度合は、信号ｅｓ（ｆｓ）の周期が小さく
なる度合よシもはるかに大であるから、ゲート回路５よ
シ出力されるｅｌｓ）のパルス数が小さくなる。それゆ
え計数回路１０よシ出力される比率ｍが小さくなる。す
なわち温度環境６の温反駁化に依存して比率ｍが小さく
なる。この比率ｍによって変化湿灰が抽出され、この抽
出温度によシ上記若干変化した基準クロックパルスＦｓ
の周波数変化を補正できる。したがって基本クロックパ
ルスＦｓの周波数が温度によって若干変化しても、肢測
定物理量の測定にｆｌｉ［誤差が生じるの全極少におさ
えることができる。
なお破測定物理量がたとえば温度以外の重量や圧力等で
あシ、岐測定物理量をパルス信号に変換する素子もｔａ
度時特性有する場合には、この変換素子を上記両発振素
子と同一温度環境におくことによシ、同様に補正を行な
うことができる。
あシ、岐測定物理量をパルス信号に変換する素子もｔａ
度時特性有する場合には、この変換素子を上記両発振素
子と同一温度環境におくことによシ、同様に補正を行な
うことができる。
以上のように、この発明のクロックパルス発生回路によ
れば、クロックパルスとこのクロックパルスの温度特性
を補償するための湿灰情報を同時に得るものであるから
、たとえクコツクパルスの周波数が温度によって変化し
ても正確な補正が可能であシ、高精度の測定を行なうこ
とができる。
れば、クロックパルスとこのクロックパルスの温度特性
を補償するための湿灰情報を同時に得るものであるから
、たとえクコツクパルスの周波数が温度によって変化し
ても正確な補正が可能であシ、高精度の測定を行なうこ
とができる。
またクロックパルレス発生回路自体全渦友制岬するもの
でないから、装置ｍｔｘ＊確保するための電力消費はほ
とんど不要であシ、電池駆動型の測定器に用いると有効
である。
でないから、装置ｍｔｘ＊確保するための電力消費はほ
とんど不要であシ、電池駆動型の測定器に用いると有効
である。
第１図はこの発明の一実施例を示す基準クロックパルス
発生回路のブロック図、第２図は同基準クロックパルス
発生回路の各部信号波形図である。 １・２：発振素子、 ４・６：電子回路。 ５・８：ゲート回路、 ７：分周器。 ９二制呻回路、 １０：計数回路。 特許出願人 株式会社島津製作所代理人 弁理
士 中村茂信
発生回路のブロック図、第２図は同基準クロックパルス
発生回路の各部信号波形図である。 １・２：発振素子、 ４・６：電子回路。 ５・８：ゲート回路、 ７：分周器。 ９二制呻回路、 １０：計数回路。 特許出願人 株式会社島津製作所代理人 弁理
士 中村茂信
Claims (1)
- （リ 温度変化の非常に小さい第１の発振素子と温度変
化の大なる第２の発振素子を同一温度環境におくととも
に、前記第１の発振素子を含む第１の発振回路と、＠記
第２の発振素子を含む第２の発振回路と、１ｖｉｌＩ記
第１の発振回路よυ出力される信号の周波数と前記第２
の発振回路よ多出力される信号の周波数の比率を算出す
る回路とを備え、前記第１の発振回路よシの信号をクロ
ックパルスとして導出するとともに、前記算出回路で算
出される比率を温度情報として導出することを特徴とす
るクロックパルス発生回路。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21186182A JPS59100815A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | クロツクパルス発生回路 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21186182A JPS59100815A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | クロツクパルス発生回路 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS59100815A true JPS59100815A (ja) | 1984-06-11 |
Family
ID=16612815
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21186182A Pending JPS59100815A (ja) | 1982-11-30 | 1982-11-30 | クロツクパルス発生回路 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS59100815A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4679782B2 (ja) * | 1999-12-10 | 2011-04-27 | 富士通株式会社 | 温度センサ |
Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS517950A (ja) * | 1974-06-29 | 1976-01-22 | Casio Computer Co Ltd | |
| JPS5369685A (en) * | 1976-12-03 | 1978-06-21 | Toshiba Corp | Temperature measuring apparatus |
| JPS5542078A (en) * | 1978-09-21 | 1980-03-25 | Tokyo Keiso Kk | Device for measuring flow rate |
-
1982
- 1982-11-30 JP JP21186182A patent/JPS59100815A/ja active Pending
Patent Citations (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS517950A (ja) * | 1974-06-29 | 1976-01-22 | Casio Computer Co Ltd | |
| JPS5369685A (en) * | 1976-12-03 | 1978-06-21 | Toshiba Corp | Temperature measuring apparatus |
| JPS5542078A (en) * | 1978-09-21 | 1980-03-25 | Tokyo Keiso Kk | Device for measuring flow rate |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4679782B2 (ja) * | 1999-12-10 | 2011-04-27 | 富士通株式会社 | 温度センサ |
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