JPS5890632A - 焼付け原画を予備検査する方法 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、一つの原画の帯にまとめられた画像鮮明度の
異なる焼付は原画の焼付け一過性を光電走査を用いて予
備検査するための方法に関する。

アマチュアのフィルムの焼付けを自動的に行なう装置は
今日通常非常に複雑な自動露光制御装置を有する。この
装置を用いれば完全に露光オーバーか露光不足であって
もはや補正のできないようなネガの焼付けを取り除くこ
とができる。このような自動焼付は装置が開発されるに
つれて、それがぶれた原画であれあるいはピント調節の
誤って撮影された原画であれ不鮮明なネガを自動的に識
別しかつそれを焼付は工程から除外することが望まれる
ようになった。この種のプリントはアマチュ°アにとっ
て通常例の価値も持たずそれに対してお金を取ることは
一般的に怒りをかうことになるからである。

従って焼付は原画を撮影の細部にわたって光電的に測定
し、互いに隣接する領域の値の差を限界値と比較し、こ
の限界値を越える差値の数ないし大きさを合計しそれを
画像の鮮明度に対する尺度として設定値と比較する方法
が既に提案されている（ドイツ公開公報第２２４４３４
０号）。この設定値が得られない場合には焼付は工程は
断念しなければならない。しかしこの方法は、画像のコ
ントラストが低い場合あるいは細部の構造が僅かである
場合には鮮明な像内容と不鮮明な像内容を完全に識別す
ることができない。

また、鮮明度の判定に重要な役割を果たす空間周波数領
域において領域における濃度コントラスト測定に基づき
鮮明度の測定を行なう方法が知られている。（像及び音
声（Ｂｉ、ｌｄ　ｕｎｄ　Ｔｏｎ）　１９７０／８巻、
２２８〜２３６ページ）、シかしこの方法もまた空間周
波数ないし濃度勾配測定が被写体及びコントラストにか
なり影響するために大きな誤差を伴う場合が多く自動的
に像の鮮明度を識別するの１　　　には使用することが
できない。

従って本発明の課題は、像のコントラスト及び像の被写
体に本質的に無関係に確実な鮮明度の測定を実施でき、
それによって不鮮明ないし鮮明な画像の原画を確実に分
類することができる冒頭に述べた種類の焼付は原画を予
備検査する方法を提供することである。

本発明は次の原理に基づいている。すなわち被写体撮影
時に発生する撮影被写体の輪郭の鮮明さは光電層のコン
トラスト伝達特性によって定められる最大の輪郭鮮明さ
より常に小さいか等しい。

技術的あるいは科学的な目的でもって行なわれない撮影
の場合には通常少なくとも縁を有する被写体が存在する
。鮮明な画像に何ら急勾配の、従って鮮明な濃度変化が
存在しない確率は極めて僅かである。従って像を調べる
場合にどこにも急勾配の濃度変化が発見できない場合に
は、この像は他の像内容たとえば被写体像を考慮するこ
となく不鮮明であると判定することができる。さらに各
画像は少なくとも、１つの画像面素子において最大の濃
度をかつ少なくとも他の１つの画像面素子において最小
の濃度を有する。１この２つの濃度差は画像の濃度範囲
Ｄ　ｗａｘ　−Ｄ　ｗｉｎに対応する。今像点面積を等
しくして測定すれば、直接隣接する２つの画像面素子間
の濃度差はこの画像濃度範囲よりは決して大きくならな
い、すなわち少なくとも任意の一つの場所の画像におい
て求められる２つの隣接する像点の最大濃度差と濃度範
囲との商が１に等しいときには可能な限り最大の鮮明度
が存在する。このことは像点の大きさが等しいときのみ
あてはまる。この場合大切なことは、原画を走査する場
合画像走査点の大きさは小さく従って空間周波数バンド
幅は広く選択されるので、（また逆に画像走査点を大き
くするとバンド幅は狭くなり原画の内容は高周波領域が
取り除かれて不鮮明となる）視覚による鮮明度判定に対
して重要な空間周波数が得られるということである。濃
度差の代わりに濃度勾配を測定してもよい。

最大の濃度勾配ｄＤ／ｄｉと最大の原画濃度差との商を
鮮明度の商Ｑにで表わすと、次の式９式％（）） 種々の異なる原画を多数測定した結果、鮮明度の商は本
質的に被写体に無関係であり、かつ写真フィルムの濃度
勾配曲線の直線部分ではまたコントラストにも無関係で
あることがわかった。

本発明によれば、この鮮明度の商が所与のしきい値と比
較され鮮明／不鮮明の分類基準として利用される６本発
明の一実施例によれば適当な手段により検査すべき原画
のコントラスト範囲を表わす信号が一定の同じ値にされ
、続いて測定された最大の濃度勾配が直接比較用の鮮明
度尺度として利用される。すなわち 本発明によればたとえ原画のコントラストが低くまた詳
細部分が僅かな場合でも、すなわちごく僅かの被写体の
みが撮影されている場合でも鮮明な原画内容と不鮮明な
原画内容とをほぼ大きな信頼性を持って識別することが
できる。

本発明の方法には２つの実施例が考えられる。

その１つの特徴は、鮮明度に対して重要な役割を果たす
空間周波数の高い領域を除外することによって、すなわ
ち画像走査点を大きくすることによって不鮮明にされた
原画内容で同じ原画から得られる最大の濃度勾配に対す
る原画の最大の濃度勾配の比を識別に対する分類用の鮮
明度の商Ｑｖとして利用することである。すなわち の公式に基づいて鮮明度の商が求められる。この場合、
原画内容の高周波部分すなわち微細なディテール部分及
び輪郭の鮮明度を除外してもコントラスト範囲は本質的
に変わらないということが前提になっている。

第２番目の実施例は次の原理に基づく、一般的に鮮明な
像は不鮮明な像よりもディテール部分が、　　　大きい
。一つの画像内での濃度勾配のしきい値を越える頻度は
直接鮮明度の尺度として利用することはできない。しか
し本発明により画像原画を高周波数帯域幅のみならず低
周波数帯域幅を用いて走査し一定のしきい値Ｓを越える
頻度Ｈを濃度勾配によって比較するならば、鮮明／不鮮
明の識別基準、鮮明不鮮明を識別するための追加的な基
準として利用できる。すなわち 鮮明度の商−ＱＨを得ることができる。

本発明の実施例によればさらに原画の粉末粒子あるいは
傷が濃度勾配を高くし本来不鮮明な原画を鮮明と判断す
るというようなしばしば起こりがちな誤差を除外しなけ
ればならない。

同様な効果は、例えば鏡面の表面（ガラス、金属、ラン
プ）の場合あるいは逆光撮影（樹冠を通した太陽光線等
）の場合に発生するように部分的りが鮮明でコントラス
トの高い極端な濃度のはん点が得られるので、それによ
り最大の濃度勾配は著しく大きくなり、原画は本来不鮮
明であっても鮮明度の商の大きなものであると判断され
てしまう。

この欠点を避けるために、それぞれ最大の濃度勾配が何
回も現われたときにのみそれを商の形成に利用するよう
な分離補正が用いられる。これは濃度勾配の確定に対し
て頻度のしきい値を導入することによって行なわれる。

本発明の他の実施例では、鮮明度の商を形成するために
画像細部の縁における広がりが最小であるような濃度勾
配のみが認められる。部分的なオ、５＜−露光による誤
差はまた、一定の最大濃度を越えない画像細部の濃度勾
配のみを認めることによって除去することができる。こ
のような分離補正は上に述べた実施例と関連して非常に
有効であることが判明した。

要約すると、本発明では画像走査点を小さくしたときと
大きくしたときの測定値に基づき画像の鮮明度の尺度と
しているので、コントラストや被写体の大きさに無関係
に鮮明度を判別することができる。また、本発明によっ
て、粉末粒子や鏡面における反射によって問題となる。

ような像に無関係にコントラストが低い場合でも不鮮明
な像をほぼ一義的に識別できることである。これらの鮮
明度の商を組み合わせて掛算ＱＫ＠Ｑｖ−ＱＨを求めれ
ば統計的な識別はさらに改良される。例えば多数のサン
プル原画を測定した結果鮮明で焼付けのできるネガとし
て判断すべき原画は一つも「不鮮明」として識別されず
、それに対して多数の不鮮明な原画を識別することがで
きた。

次に本発明の方法に使用される装置の実施例を添付図面
を参照して説明する０図面には本発明の測定装置のブロ
ック図が図示されている。

図において１は画像走査装置、例えば検査位置にある原
画８０を走査するビデコンである０本質的に光源、レン
ズ、アパーチャー及び原画の搬送装置から構成される装
置 ている。撮像管位置によりビデオ信号が対数増幅器２を
介して並列の２つの周波数フィルタ３．４に供給される
．周波数フィルタ３は第１の微分回路５に接続され、高
周波部分を抑圧する周波数フィルタ４は微分回路６に接
続される。微分回路５の出力は、木質的に比較器７〜１
１ないし１２〜１６から成る識別回路に印加される。こ
れらの比較器の２つの入力は分圧器１７．１８に接続さ
れる。比較器７〜１１．１２〜１６にはプリセットカウ
ンタ２１〜２５゜２６〜３０が接続され、これらのプリ
セットカウンタはさらに記憶素子３１〜３５，３８〜４
０にそれぞれ接続される。これらの記憶素子の出力は抵
抗４１〜４５゜４６〜５０を介して加算増幅器５３．５
４に印加される。

加算増幅器５３の出力は比較器５５の入力に印加され。

一方加算増幅器５４の出力は比較器５５の他の入力に印
加される。

クロック発生器５７は同期線８４を介してビデコン１に
、また消去線５１　、５２を介してプリセットカウンタ
２１〜３０ないし記憶素子３１〜４０の第２の入力にそ
れぞれ接続される。加算増幅器５４と並列にポテンショ
メータ５８が接続され、このポテンショメータは最大濃
度勾配に対応するアナブクミ圧を比較器５５で比較する
場合しきい値を設定する働きをする。

次にこれまでに述べた装置の動作を説明する。

撮像管ないしビデコンｌは識別すべき原画８０ないしそ
の一部をライン状に走査し、そのとき発生するビデオ信
号を対数増幅器２を介して周波数フィルタ３，４に供給
する。低域フィルタ３は全体の周波数スペクトルを通過
させ、低域フィルタ４は鮮明度判定に重要な高周波数部
分を抑圧する。なお、前述したように全体の周波数スペ
クトルを通過させることは画像走査点を小さくすること
に対応し、また高周波数部分を抑圧させるフィルタを通
過させることは画像走査点を大きくすることに対応する
。このようにフィルタ作用を受けたビデオ信号はそれぞ
れ微分回路５．６で微分され、画像部の濃度勾配に対応
して微分されたビデオ信号は、それぞれ識別回路、すな
わち比較器７〜１１．１２〜１８に印加される。

調節可能な分圧器１７及び１８に印加される基準電圧１
９．２０により微分されたビデオ信号は比較器７〜１１
．１２〜ＩＢで次のようにして識別される０才なわち分
圧器１７．１８によって設定された設定値をそれぞれこ
えるごとに１つのパルスが対応するプリセットカウンタ
２１〜２５．２８〜３ｏに計数される。プリセットカウ
ンタのプリセットは次のように設定される。すなわち関
連する記憶素子３１〜３５　、３８〜４０がセットされ
る前にビデコンｌの各走査ラインごとに所定のパルス数
を計数するように設定される。ラインの終わりにおいて
ライン消去線５１を介してプリセットカウンタ２１〜２
５　、２８〜３０が再びリセットされる。プリセットカ
ウンタがオーバーランした場合には記憶素子３１〜３５
　、３８〜４０が設定される。このようにして素子７〜
４０はパルスの大きさ及びパルスの頻度を分析する装置
を表し、その記憶装置３１〜３５　、３８〜４０にはす
べての画像ライ−ンを走査した後最大の２つの濃度勾配
が二進のメモリビットパターンとして記憶される。−こ
のメモリどットハターンは抵抗４１〜４５．４６〜５ｏ
を介してそれぞれ最大の濃度勾配に対応するアナログ信
号に変換され、比較のために比較器５５に印加される。

この比較器の二進出力信号は全体の像を走査した後走査
された画像情報が鮮明なのかあるいは不鮮明なのか（１
あるいはＯ）を示す。

比較器５５を読み出した後は記憶素子３１〜３５．３８
〜４０は消去線５２を介して再び消去されるので続いて
新しい原画を測定することができる。同期信号はクロッ
ク発生器５７によって作られる。

原画を走査する間に比較器５５による検出及び記憶素子
３１〜３５　、３１１１〜４ｏの消去がクロック発生器
５７によって制御されて消去線５２を介し何回も行なわ
れる場合には、鮮明度の判定は原画の部分領域に対して
も行なうことができる。極端な場合にはそのような検出
が各像ラインの後で行なうことができるので、比較器５
５の出力信号を後で統計的に分析する場合には「鮮明／
不鮮明」の情報に対する確実性はさらに高めることがで
き、特にコンピュータを用いた場合にはそうである。

これまで説明した実施例の場合には鮮明度の商Ｑｖが画
像鮮明度の基準として求められてきた。

スイッチ５８を切り換えれば十分な帯域幅を有するフィ
ルタ３からの微分されない映像信号が比較器１２〜１Ｂ
に印加させることができるので、加算増幅器５４には画
像情報の最大濃度範囲に比例するアナログ信号が発生す
る。それによって比較器５５において鮮明度の商Ｑにが
画像鮮明度に対する基準として求められる。

鮮明度の商Ｑｓを鮮明度の判定に対する二次的な尺度と
して利用するために、例えば比較器７の出力と比較器１
２の出力をそれぞれ大きなカウンタ５８　、５９’　に
接続し、その情報を変換器１３０．８１でＡ／Ｄ変換し
た後抵抗８２　、８３及び加算増幅器５３．５４を介し
て比較器５５に印加させ、鮮明度の比較に用いるように
することもできる。

上に説明した装置の一つの変形例では、走査は他の装置
例えばディジタル走査器、ニボー円板、Ｃ０Ｄ−装置等
を用いて行なうことができる。この場合ディジタル走査
器は好ましくは０．０７Ｘ　Ｏ，０７ｍ５”から０．Ｉ
　Ｘｏ、１　■の走査点を用いて好ましくは原画を走査
する。

本発明の実施例は主にライン状の走査に基づいて説明さ
れている。しかし他の線形状、それが直線状であれ、曲
った曲線であれ線状の走査を行なうことができることは
自明である。たとえば原画あるいはその領域をらせん状
、あるいは波形状。

あるいはりサージュ線状に走査することもできる。

さらに他の実施例では対数増幅器は、分圧器１７．１８
を対応きせて調節させることにょ°り鮮明度機能におい
て鮮明度識別に最適な識別回路が形成されるときには省
略することができる。

【図面の簡単な説明】

図は本発明を実施する装置の実施例を示すブロック図で
ある。 １″・・・画像走査装置　　３．４・・・周波数フィル
タ５．６・・・微分回路 ７〜１１．１２〜１８・・・比較器

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 ｌ）一つの原画の帯にまとめられた画像鮮明度の異なる
   焼付は原画の焼付は適性を光電走査を用いて予備検査す
   る方法において、検査位置にある焼付は原画を線状に走
   査し、画像走査点を小さくして走査したときの測定値と
   画像走査点を大きくして走査したときの測定値に基づき
   画像の鮮明度の尺度を形成するようにしたことを特徴と
   する焼付は原画を予備検査する方法。 ２）前記測定値は最大濃度勾配であることを特徴とする
   特許請求の範囲第１項に記載の焼付は原画を予備検査す
   る方法。 ３）画像走査点を小さくして走査したときの測定値を帯
   域幅の大きなフィルタを用いて求め、画像走査点を大き
   くして走査したときの測定値を高い空間周波数領域を取
   り除く帯域幅のフィルタを用いて求めることを特徴とす
   る特許請求の範囲第１項又は第２項に記載の焼付は原画
   を予備検査する方法。