JPS589008A - 曲率半径測定装置 - Google Patents

曲率半径測定装置

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Publication number
JPS589008A
JPS589008A JP56106865A JP10686581A JPS589008A JP S589008 A JPS589008 A JP S589008A JP 56106865 A JP56106865 A JP 56106865A JP 10686581 A JP10686581 A JP 10686581A JP S589008 A JPS589008 A JP S589008A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
mirror
curvature
radius
optical system
Prior art date
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Pending
Application number
JP56106865A
Other languages
English (en)
Inventor
Masao Noda
納田 昌雄
Makoto Uehara
誠 上原
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nikon Corp
Nippon Kogaku KK
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Filing date
Publication date
Application filed by Nikon Corp, Nippon Kogaku KK filed Critical Nikon Corp
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Publication of JPS589008A publication Critical patent/JPS589008A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/245Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures using a plurality of fixed, simultaneously operating transducers
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01BMEASURING LENGTH, THICKNESS OR SIMILAR LINEAR DIMENSIONS; MEASURING ANGLES; MEASURING AREAS; MEASURING IRREGULARITIES OF SURFACES OR CONTOURS
    • G01B11/00Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques
    • G01B11/24Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures
    • G01B11/255Measuring arrangements characterised by the use of optical techniques for measuring contours or curvatures for measuring radius of curvature

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Eye Examination Apparatus (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は曲率半径の測定装置に関し、例えば人の眼など
のようにトーリック面を含む面の2つの主径線方向での
曲率半径を測定することのできる装置である。
従来、曲率半径を測定する装置として、畿検眼表面で反
射した2つの光源からの反射光を測定光学系に導き、測
定光学系の所定位置に得られる2つの光源の像間距離か
ら被検眼の曲率半径を測定するものが良く知られている
。しかしながら、この装置では1つの径線での曲率半径
しか知ることができず、従って、被検眼がトーリック面
を有する場合には、装置を回転して像間距離の最大もし
くは最小の位置を検出し、その1位置で像間距離を求め
、次に装置を90度回転して再び像間距離を求めること
が行なわれている。すなわち、従来の一般的な曲率半径
の測定装置では、被検眼(勿論眼に限るわけではないが
)がトーリック面を有する場合に、一方の主径線での像
間距離を測定し、装置を90度回転して他方の主径線で
の像間距離を測定することが必要であった。
本発明は、操作性を向上せしめた曲率半径測定装置を提
供することを目的とする。
以下、図面に示した実施例に基づいて本発明を説明する
第1図は本発明の曲率半径測定装置の一実施例の光学系
であり、第2図は第1図のA−A矢、夜回、第3図は第
1図のB″−B矢視図である。
測定光学系の光軸tに対して対称に一対の投影光学系の
光軸tI?’2が設けられている。また第2図からもわ
かるように光軸!、を含んで第1図の紙面と直角な面内
にも光軸tK対して対称に一対の投影光学系の光軸t3
゜t4が設けられている。なお、光軸tに対して光軸t
、乃至t4の成す角は等しくθである。また、光軸tを
含む同一平面内の投影光学系にハz#L形成する。投影
光学系は各々光に配設した絞り6、絞り6の位置に前側
焦点位置を有するレンズT、分割鏡8、分割鏡8で反射
された光を紙面内で2°度反射して一定量シフトするプ
リズム9、プリズム9がら゛射出した光を紙面手前方向
へ反射する反射鏡10、分割鏡8を透過した光を紙面手
前方向へ反射するプリズム11、−そして、第3図に現
われているように、プリズム11がら射出した光をプリ
ズム9を射出する光の向かう方向へ折り曲げるプリズム
12、プリズム1゜とプリズム12からの光を合致させ
る半透鏡13、従って、分割鏡8によって分割された光
が再び半透鏡13で合致するまでの光路長は各々等しい
、そして半透鏡13にて合致した光を受光し、スリット
像の位置に応じた信号を出力する一次元フオドダイオー
ドアレイ等の一次元受光素子14を有する。ど−ムスプ
リツタ5にて分岐した観察光学系は、対物レンズ14の
後側焦点位置に設けられた絞り15、光軸を90度曲げ
るミラー16、絞り15の位置を前側焦点とするレンズ
17、測定光学系の受光素□子14とスリット2に関し
共役な位置に配置されると共に、光軸で交鎖する十字線
であって、各線の方向が対を成す投影光学系の光軸を含
む面に平行な方向に一致する十字線を形成された焦点板
18.、接眼レンズ19を有する。このような光学系は
、枠体20内に一体に設けられてい、る。
4つの投影光学系から被検眼E、に4つのスリット2の
透過光が投影されると、検者馬は図示なき機構によって
被検眼E1に対し枠体20を移動させて焦点板18にス
リット像が鮮明に結像する如くピント合わせな行ない、
′次に枠体20を光軸tに垂直な面内で移動かつ回転し
てスリット像の中心が十字線に直交しかつ一致する如(
成す。被検@ E tのトーリック面の主径線の方向に
各々対を成す光学系からの光の入射方向が一致すること
になる。
すると周知の如く、枠体20の回転角が一方の主径線を
示し、対を成すスリット像の間隔がトーリック面の各主
径線における曲率半径を示すことになる。
上述の如(、被検III! E t と枠体20との位
置合わせが終了すると、分割鏡8、プリズム9.11.
反射鏡10.?2、半透鏡131Cよって、受光素子1
4上には第4図の如きスリット像が結像する。なお第4
図では対を成すものを便宜上視覚的に識別するために、
各各白抜き、斜線によって示した。
すなわち、プリズム9を射出する光束はプリズム11を
射出する光束に対して90度回転されることになる(第
1図のプリズム10゜11中に矢印をもって示した)。
従って、受光素子14上でのスリット像は、対を成すス
リット像が各々同一直線上に並ぶことになる。
−次元受光素子14がフォトダイオードアレイ等の自己
走査型素子である場合には、周知の如(各エレメントが
順次走査されて第5図の如き出力波形が得られるから、
第1のパルスP、と第4のパルスP、との時間間隔t。
と、第2のパルスP2と第3のパルスP3との時間間隔
t2とを求めれば各時間間隔は、対を成す像間隔に対応
するから各主径線における曲率半径を求めることができ
る。上記時間間隔は、−次元受光素子14の出力パルス
を電気処理して求めても良いし、簡単に行なうには、2
対の照明光学系の一方の光源と他方の光源とを交互に点
灯する如く成せば、第4図で白抜きの像と斜線の像とが
時間的に分離されて交互に生ずることになるので、複雑
な電気処理を必要とすることはなく簡単に時間間隔1.
.12を求めることができる。詳述すれば、光源の点滅
装置からの信号によつ゛ていずれの対からの光が被検眼
E、に投影されているかの判別信号を得る如く成し、受
光素子14から出力されるパルス間隔が、いずれの対か
らの光が被検眼E、に投影している場合に得られたかに
よって、間隔t、かt2か判別する回路を設ける如く成
せば良い。−次元受光素子14の走査速度は極めて早い
ので、点灯の切り換えも、人間がチラッキを感じない程
度で極めて高速に成□すことが可能である。一方の対が
点灯している時に、何回か走査が行なわれるが、それは
加算平均すれ゛ば良い。
なお、光源の点灯を切り換える代わりに光軸tに垂直な
面図で回転するチョッパにより、いずれの対かを選択す
る如く成すこともできる。
さらに、上記実施例では、被検眼E1から反射像間隔を
光電的に設ける例であったが、反射像の間隔を視覚的に
読み取って良いことは勿論である。その場合、いずれの
径線に対応する間隔かを容易に識別する意味で、投影光
学系の対を成すものの光路中に同色のフィルタを挿入し
て他の対のものと色別けすれば良い。勿論色別けは必ず
しも必要であるわけではなく、外側の2つの像の間隔と
内側の2つの像の間隔とを求める如く成しても上記目的
は達せられる。
さらに、スリットの代わりにピンホールを用いても嵐い
ことは誓うまでもない。
以上述べた如く、本発明によれば、投影光学系を2対設
け、しかも被検物での反射像を一直線上に並べる如き光
学系を測定光学系中に設けたので、従来の如く、一方の
主径線における像間隔を求め、装置を90度回転させて
、他方の主径線における像間隔を求める如き手間を必要
としないので、極めて操作性の良い曲率半径測定装置を
得ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の光学系を示す図、第2図は
第1図のA−A矢視図、第3図は第1図めB−B矢視図
、第4−は受光素子上へのスリット像の結像の様子を示
す図、第5図は受光素子が自己走査型素子である場合の
出力波形を示す図である。 〔主要部分の符号の説明〕 投影光学系・・・1,2.3

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 測光光学系の光軸に対称に一対の投影光学系を設け、被
    検物による反射光を測定光学系にて受光し、反射像の間
    隔から被検物の曲率半径を求める如く成した曲率半径測
    定装置において、 前記一対の投影光学系に直交する如くさらに一対の投影
    光学系を設けると共に、前記測定光学系には、光束を2
    分した後、一方を他方に対して90度回転させ、その後
    両光束を合致せしめる光学系を設けたことを特徴とする
    曲率半径測定装置。
JP56106865A 1981-07-10 1981-07-10 曲率半径測定装置 Pending JPS589008A (ja)

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JP56106865A JPS589008A (ja) 1981-07-10 1981-07-10 曲率半径測定装置

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JPS589008A true JPS589008A (ja) 1983-01-19

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ID=14444438

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