JPS5882158A - 超音波顕微鏡装置 - Google Patents
超音波顕微鏡装置Info
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- JPS5882158A JPS5882158A JP56180297A JP18029781A JPS5882158A JP S5882158 A JPS5882158 A JP S5882158A JP 56180297 A JP56180297 A JP 56180297A JP 18029781 A JP18029781 A JP 18029781A JP S5882158 A JPS5882158 A JP S5882158A
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Classifications
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- G—PHYSICS
- G10—MUSICAL INSTRUMENTS; ACOUSTICS
- G10K—SOUND-PRODUCING DEVICES; METHODS OR DEVICES FOR PROTECTING AGAINST, OR FOR DAMPING, NOISE OR OTHER ACOUSTIC WAVES IN GENERAL; ACOUSTICS NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G10K11/00—Methods or devices for transmitting, conducting or directing sound in general; Methods or devices for protecting against, or for damping, noise or other acoustic waves in general
- G10K11/36—Devices for manipulating acoustic surface waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01H—MEASUREMENT OF MECHANICAL VIBRATIONS OR ULTRASONIC, SONIC OR INFRASONIC WAVES
- G01H3/00—Measuring characteristics of vibrations by using a detector in a fluid
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- G01H3/125—Amplitude; Power by electric means for representing acoustic field distribution
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/06—Visualisation of the interior, e.g. acoustic microscopy
-
- G—PHYSICS
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- G01S—RADIO DIRECTION-FINDING; RADIO NAVIGATION; DETERMINING DISTANCE OR VELOCITY BY USE OF RADIO WAVES; LOCATING OR PRESENCE-DETECTING BY USE OF THE REFLECTION OR RERADIATION OF RADIO WAVES; ANALOGOUS ARRANGEMENTS USING OTHER WAVES
- G01S7/00—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00
- G01S7/52—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00
- G01S7/52017—Details of systems according to groups G01S13/00, G01S15/00, G01S17/00 of systems according to group G01S15/00 particularly adapted to short-range imaging
- G01S7/52053—Display arrangements
- G01S7/52057—Cathode ray tube displays
- G01S7/5206—Two-dimensional coordinated display of distance and direction; B-scan display
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は表向波を応用した超音波顕微鏡装置に闘するも
のである。
のである。
従来の超音波顕微鏡装置の構成を第1図に示す。
第1図において、ゲート発生回路lからのゲ、−ト偏号
により送信回路コでゲート発振させられた送信出力(数
十波)は、サキュレータ3によりマツチングボックス参
側に導かれ、マツチングボックスlによりインピーダン
ス盛合がなされて、振動子!に供給される。振動子Sか
ら発生した音波は曾曽レンズ6で媒体7(主に水)を逸
して試料l上に集束される。試料lからの反射信号は音
響レンズ6により受信においても集束を受けて振動子S
で受信され、マツチングボックスφおよびサーキュレー
タ−3を経て受信ゲート回wI9に導かれ、ここで試料
lからの反射信号のみが選択されて受信禰10で増幅、
漬液され、ビデオプルセス回路//で増幅及びピーク検
出がなされる。そして加lll−12により試料台13
を2次元的に走査することにより、反射信号のピーク値
の2次元的分布を得ることができ、この信号をスキャン
コンバータl事でTV走査に変換し、TVモニターlj
で表示する。なお、符号16はクリック発生回路である
。
により送信回路コでゲート発振させられた送信出力(数
十波)は、サキュレータ3によりマツチングボックス参
側に導かれ、マツチングボックスlによりインピーダン
ス盛合がなされて、振動子!に供給される。振動子Sか
ら発生した音波は曾曽レンズ6で媒体7(主に水)を逸
して試料l上に集束される。試料lからの反射信号は音
響レンズ6により受信においても集束を受けて振動子S
で受信され、マツチングボックスφおよびサーキュレー
タ−3を経て受信ゲート回wI9に導かれ、ここで試料
lからの反射信号のみが選択されて受信禰10で増幅、
漬液され、ビデオプルセス回路//で増幅及びピーク検
出がなされる。そして加lll−12により試料台13
を2次元的に走査することにより、反射信号のピーク値
の2次元的分布を得ることができ、この信号をスキャン
コンバータl事でTV走査に変換し、TVモニターlj
で表示する。なお、符号16はクリック発生回路である
。
以上述べたように従来の超音波−微鏡装置においては、
試料と音響レンズとの間に媒体として主に水を使用する
が、joo MH!の縦波はJ7”Cの水中において−
10dB7−の減衰があり、分解能を向上させるために
周波数を高くすると周波数の1乗に比例して減衰定数が
大゛きくなるため、周波数を轟くすることには限界があ
る。又、分解能を陶土させるために音響レンズの曲率を
大きくすることも、試料と音響レンズとが接してしまう
ために限界がある。又、加I!機により試料を走査させ
るためスキャナ一部が大きく、機械的なシステムが彼細
である。
試料と音響レンズとの間に媒体として主に水を使用する
が、joo MH!の縦波はJ7”Cの水中において−
10dB7−の減衰があり、分解能を向上させるために
周波数を高くすると周波数の1乗に比例して減衰定数が
大゛きくなるため、周波数を轟くすることには限界があ
る。又、分解能を陶土させるために音響レンズの曲率を
大きくすることも、試料と音響レンズとが接してしまう
ために限界がある。又、加I!機により試料を走査させ
るためスキャナ一部が大きく、機械的なシステムが彼細
である。
本発明の目的は、表向波を応用することにより上述した
不具合を解決し、分解能が烏い像情報を容易に得られる
よう適切に構成した超音波顕微鏡装置を提供することに
ある。
不具合を解決し、分解能が烏い像情報を容易に得られる
よう適切に構成した超音波顕微鏡装置を提供することに
ある。
本発明の超音波顕微鏡装置は、表面波伝搬媒体と、この
表面波伝搬媒体上に所定のピッチで一次元的に配列した
複数の表面波電極とを具え、この複数の表面波電極のう
ちの一部または全部の電極群を選択して前記表面波伝搬
媒体上に接触配置される被検体下に表向波を送波して該
被検体を走査し、該被検体での反射表面波および/また
は通過表面波を受波して前記表面波伝搬媒体に接する前
記被検体の像情報を得るよう構成したことを特徴とする
ものである。
表面波伝搬媒体上に所定のピッチで一次元的に配列した
複数の表面波電極とを具え、この複数の表面波電極のう
ちの一部または全部の電極群を選択して前記表面波伝搬
媒体上に接触配置される被検体下に表向波を送波して該
被検体を走査し、該被検体での反射表面波および/また
は通過表面波を受波して前記表面波伝搬媒体に接する前
記被検体の像情報を得るよう構成したことを特徴とする
ものである。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
先ず本発明の原理を第2図(11)を用いて説明する。
表向波伝41媒体17の表面を進行していった表面波。
は、媒体17上に置かれた試料/Iと媒体17の音響イ
ンピーダンスの差に比例した反射が起き、通過した表向
波はそれに反比例した吸収減衰が起きる。
ンピーダンスの差に比例した反射が起き、通過した表向
波はそれに反比例した吸収減衰が起きる。
本発明はこの現象を応用して、試料/Iの媒体77に接
した面の音響インピーダンスのλ次元的分布を得ようと
言うものである。反射を利用する時はレーダーや超音波
診断装置と同じ原理で画像を得、吸収を利用する時は通
過波からOT (OomputedTomograph
y i til1機断層撮影)と同じI!cii”cw
像を得ることができる。表面波は媒体中の縦波や横波と
比較すると音速が非常に遅い(波長が勉くなる)ので、
高分解能を得るのに適している。みなみに従来の超音波
顕微鏡で使用している縦波の水中における音速は/j3
0 ml、。。であるが媒体17にぎりエチレン等を用
いた場合の表面波の音速はダ?Om/8゜。となる。又
、表面波は媒体を着用した圧電体上に第J図(b)に示
すようにすだれ状電極/!を設けることによって通常発
生させることができ、電極/9のすだれのピッチdによ
って、λ−コd。
した面の音響インピーダンスのλ次元的分布を得ようと
言うものである。反射を利用する時はレーダーや超音波
診断装置と同じ原理で画像を得、吸収を利用する時は通
過波からOT (OomputedTomograph
y i til1機断層撮影)と同じI!cii”cw
像を得ることができる。表面波は媒体中の縦波や横波と
比較すると音速が非常に遅い(波長が勉くなる)ので、
高分解能を得るのに適している。みなみに従来の超音波
顕微鏡で使用している縦波の水中における音速は/j3
0 ml、。。であるが媒体17にぎりエチレン等を用
いた場合の表面波の音速はダ?Om/8゜。となる。又
、表面波は媒体を着用した圧電体上に第J図(b)に示
すようにすだれ状電極/!を設けることによって通常発
生させることができ、電極/9のすだれのピッチdによ
って、λ−コd。
B伺7(λ;波長 11%極の長さ、Bj周波帯域幅)
から数GHz迄の表面波を扱うことができるから、使用
周波数を高くして高分解能を得ることが可能となる。又
、反射法により画像を得る彎\場合には、第コ醜(0)
に示すように表面波の電極19の形状をパルス圧縮にお
ける整合フィルタの電極の形状と同様にすだれの間隔が
順次狭くなるようにすれば、レーダで実用化されている
パルス圧縮(周波数合成)の技術がそのまま応用でき、
距離分解能を更に向上させることができる。又、表面波
の伝搬はλ次元の空間周波数と盲えるから、マツピング
レーダ(サイドルツキングレーダ)の原理をそのまま応
用した一口合成の技術により、方位分解能を触−的に向
上させることもできる。
から数GHz迄の表面波を扱うことができるから、使用
周波数を高くして高分解能を得ることが可能となる。又
、反射法により画像を得る彎\場合には、第コ醜(0)
に示すように表面波の電極19の形状をパルス圧縮にお
ける整合フィルタの電極の形状と同様にすだれの間隔が
順次狭くなるようにすれば、レーダで実用化されている
パルス圧縮(周波数合成)の技術がそのまま応用でき、
距離分解能を更に向上させることができる。又、表面波
の伝搬はλ次元の空間周波数と盲えるから、マツピング
レーダ(サイドルツキングレーダ)の原理をそのまま応
用した一口合成の技術により、方位分解能を触−的に向
上させることもできる。
又、通過波を応用してOTと同じ原理で像を得る場合に
は再生の領域の大きさとパラメータの数を増やぜば、完
像時間は増大するが分解能は原理的にはいくらでも向上
させることができる。
は再生の領域の大きさとパラメータの数を増やぜば、完
像時間は増大するが分解能は原理的にはいくらでも向上
させることができる。
第3図(〜は本発明の第1実施例の全体の構成を示す一
図である。本例では圧電体〃上に第71m(b)および
(0)に拡大平向図および断面図をも示すように検数の
表面波用広帯域電極nを所定のピッチで直線状に配列し
、これの一群、L2−/−22−kをマルチプレクサ−
nで烟択して、この電極群の各電極に送信回路2#から
の、送信パルスを遅延線(又は移相器)n−iNβ−k
にて電極群から送波される表面波パルスが試料ぶ上の反
射信号をサンプリングする点1に集束するように位相差
を与えて供給することにより表面波を送波する。試料ぶ
て反射された表向波は送波と同じ電極群n−/〜n−に
で受信し、送波と同じ位相差を遅延@B−/〜、25−
にで与えて加算を行なう(つまり受信におけるフォーカ
スを行なう)。この送波および受波を遅延@23−/
N25−にの値とマルチプレクサ−nによって選択する
電極の数とを可変することにより、同じ集束度にて7オ
一カス点1の位置を電極の配列の法線方向に可変すると
共に、!ルチプレクサーnによって選択する電#1M#
の位置を可変することにより、7オ一カス点lを電極の
配列方向L ”J 変L テ、7 t−カス点(反射信
号をサンプリングする点)lの位置を試料ム上において
1次元に走査して行ない、各フォーカス点で得られた受
信信号を増幅部コで増幅、検波すると共にフォーカス点
上の反射信号のみを取り出すサンプルホールドや距−に
対する減衰の補正であるi’Go (タイスキャンプン
バータyでTV走査に変換し1.Tv七墨ターx上に表
示する。なお、符号31は表面波の吸収剤で音響インピ
ーダンスが圧電体1と同じで減衰の大きい材料である。
図である。本例では圧電体〃上に第71m(b)および
(0)に拡大平向図および断面図をも示すように検数の
表面波用広帯域電極nを所定のピッチで直線状に配列し
、これの一群、L2−/−22−kをマルチプレクサ−
nで烟択して、この電極群の各電極に送信回路2#から
の、送信パルスを遅延線(又は移相器)n−iNβ−k
にて電極群から送波される表面波パルスが試料ぶ上の反
射信号をサンプリングする点1に集束するように位相差
を与えて供給することにより表面波を送波する。試料ぶ
て反射された表向波は送波と同じ電極群n−/〜n−に
で受信し、送波と同じ位相差を遅延@B−/〜、25−
にで与えて加算を行なう(つまり受信におけるフォーカ
スを行なう)。この送波および受波を遅延@23−/
N25−にの値とマルチプレクサ−nによって選択する
電極の数とを可変することにより、同じ集束度にて7オ
一カス点1の位置を電極の配列の法線方向に可変すると
共に、!ルチプレクサーnによって選択する電#1M#
の位置を可変することにより、7オ一カス点lを電極の
配列方向L ”J 変L テ、7 t−カス点(反射信
号をサンプリングする点)lの位置を試料ム上において
1次元に走査して行ない、各フォーカス点で得られた受
信信号を増幅部コで増幅、検波すると共にフォーカス点
上の反射信号のみを取り出すサンプルホールドや距−に
対する減衰の補正であるi’Go (タイスキャンプン
バータyでTV走査に変換し1.Tv七墨ターx上に表
示する。なお、符号31は表面波の吸収剤で音響インピ
ーダンスが圧電体1と同じで減衰の大きい材料である。
この実施例においては検出部すなわち圧電体Iの形状を
小さくできるから内視鏡、復腔鏡、am鏡、袷中用等の
顕微鏡として応用することができる。
小さくできるから内視鏡、復腔鏡、am鏡、袷中用等の
顕微鏡として応用することができる。
第参図(al)は本発明の第コ実施例の全体の構成を示
す411図である。本例では圧寛体参ノ上に第参図中)
および(0)に拡大平面図および断面図をも示すように
表面波用広帯域電極侵を所定のピッチで同一円周上に配
列し、これの7群02−/−42−kをマルチプレクサ
−Rで愈択して、この電極群の各II極に送信回路件か
らの送信パルスを遅jlk![i[(又は移相器)#3
−/−4!5−kにて電゛極群”から送波される1表(
2)波パルスが試料輻上の反射信号をサンプリングする
点(フォーカス点)桿に集束するように位相差を与えて
供給して表面波を送波する。試料らで反射された表面波
は送波と同じ電極群で受信し、て加算し、増幅部qで増
幅、検波すると共に、フォーカス点上の反射信号のみを
取り出すサンプルホールドや距離に対する減衰の補正で
あるTGO(タイムゲインコントロール)#Iiの信号
II!1iIAを信号処理部岬で行なって記憶回路yに
記憶する・次にマルチプレクサ−〇によって選択する電
Ik群の位置をq−2〜41J−(k+1)という具合
に7116ずらし、7オーカス点くサンプリンタ点)4
は同じ位置になるように遅延li1#j −/ N#3
− kの髄を可変設定して送受信を行ない、前述した信
号処理(サンプリングとTGO)を行なってから記憶回
路辺に記憶されていた前のデータと相関部!lにて相K
(加算乎均、相乗平M嶋)を取った後、再び記憶回路y
に記憶する。この動作を試料侮のフォーカス点くサンプ
リング点)Cの位置を一定□とし順次電極群の位置をず
らしながら電極の/鳩に沿って行なう。このl連の動作
が終った後にフォーカス点くサンプリング点)4の位置
を試料6上において、1次元的に少しずつ(得られる分
解能のhずつ)走査して同じ動作を繰り返し、得られた
サンプリング信号をスキャンコンバータSコで走査変1
換を行ない、TV七墨ターjJ上に表示する。なお、符
号yは不要反射を防止する吸収剤である。
す411図である。本例では圧寛体参ノ上に第参図中)
および(0)に拡大平面図および断面図をも示すように
表面波用広帯域電極侵を所定のピッチで同一円周上に配
列し、これの7群02−/−42−kをマルチプレクサ
−Rで愈択して、この電極群の各II極に送信回路件か
らの送信パルスを遅jlk![i[(又は移相器)#3
−/−4!5−kにて電゛極群”から送波される1表(
2)波パルスが試料輻上の反射信号をサンプリングする
点(フォーカス点)桿に集束するように位相差を与えて
供給して表面波を送波する。試料らで反射された表面波
は送波と同じ電極群で受信し、て加算し、増幅部qで増
幅、検波すると共に、フォーカス点上の反射信号のみを
取り出すサンプルホールドや距離に対する減衰の補正で
あるTGO(タイムゲインコントロール)#Iiの信号
II!1iIAを信号処理部岬で行なって記憶回路yに
記憶する・次にマルチプレクサ−〇によって選択する電
Ik群の位置をq−2〜41J−(k+1)という具合
に7116ずらし、7オーカス点くサンプリンタ点)4
は同じ位置になるように遅延li1#j −/ N#3
− kの髄を可変設定して送受信を行ない、前述した信
号処理(サンプリングとTGO)を行なってから記憶回
路辺に記憶されていた前のデータと相関部!lにて相K
(加算乎均、相乗平M嶋)を取った後、再び記憶回路y
に記憶する。この動作を試料侮のフォーカス点くサンプ
リング点)Cの位置を一定□とし順次電極群の位置をず
らしながら電極の/鳩に沿って行なう。このl連の動作
が終った後にフォーカス点くサンプリング点)4の位置
を試料6上において、1次元的に少しずつ(得られる分
解能のhずつ)走査して同じ動作を繰り返し、得られた
サンプリング信号をスキャンコンバータSコで走査変1
換を行ない、TV七墨ターjJ上に表示する。なお、符
号yは不要反射を防止する吸収剤である。
本実施例による鋏像形成は、第7実施例にくらべてシス
テムが複雑になり完像時間が増大するが、第1実施例よ
りもはるかに高分解能で高品位の画質(サイドループや
多重の抑制による〕が得られる。又、画像のボケはマツ
チドフィルターに相当する電気的処理により改善するこ
とができるので、更に分解能を向上さ姥ることも可能で
ある。
テムが複雑になり完像時間が増大するが、第1実施例よ
りもはるかに高分解能で高品位の画質(サイドループや
多重の抑制による〕が得られる。又、画像のボケはマツ
チドフィルターに相当する電気的処理により改善するこ
とができるので、更に分解能を向上さ姥ることも可能で
ある。
第5図(aJは本発明の第Jの実施例の全体の構成を示
す線図である。本例では試料の下を透過して来た表向波
を応用してOTと同じ原塩で訣像を形成するものである
。表向波の伝搬は2次元的(平向的な)な空間周波数と
考えられるから(つまり圧電体の表面に自直な方向の分
解は1考えなくて良いから)OTの再生アルゴリズムを
そのまま応用できる。本例では圧電体61上に第5図中
)に拡大平面図、をも示すように表面波用広帯域電極基
コを所定のピッチで同一円周上に配列し、これの7群6
コー/ A42− kをマルチプレクサ−43で選択し
て、この電極群の各電極に送信回路評からの送信パルス
を遅延II(又は移相器)45−/−4j−kにて送波
用電極群から送波される表面波が図に示すように圧電体
41上の点47に一旦集束するように位相差を与えて供
給して表面波を送波する。このようにすれば点67かも
あたかも扇状の表面波を試料44に向って送波したのと
陶じことになる。試料基6の下を通過して吸収減衰を受
けた表面波はマルチプレクサ−63で選択された送波用
電極群赫−7〜番−一にと対向する受波用電極群4J−
m〜4コーnで受波し、その受波信号を増幅部61で増
幅、検波してA/D変換変換器上ってディジタル信号に
変換して磁気ディ、スフ譜に一時貯えると共に計算機7
1ヘインター7エースする。次に!ルチプレタサー63
によって選択する送波及び受波用の電極群の位置をそれ
ぞれ4J−1〜−一(k+1)および62−(Il+1
)〜4J−(nil )と叢う具合に対向したまま順
次ずらしながらIn2に沿って同じ動作を繰り返す。反
復回数が足りない場合は、送波用の遅延II(又は移相
器)jj−/〜43−kを可変させて点6フの位置をす
こしく電極ピッチ以下)ずらせた會ま/Mlに沿って同
じ動作を行ない、計算機フlの解が再生アルゴリズムに
従って収束する迄、フォーカス点4フの位置を少しずつ
ずらせながら繰り返す。計算−フlによって再生された
両像信号は磁気ディスフッOに一時貯えられVム変換器
フコによ”) テア + aグ伽号に変換されてTvモ
品ターフ3上に表示される。なお、符号悼は不要反射を
防止する吸収剤である。
す線図である。本例では試料の下を透過して来た表向波
を応用してOTと同じ原塩で訣像を形成するものである
。表向波の伝搬は2次元的(平向的な)な空間周波数と
考えられるから(つまり圧電体の表面に自直な方向の分
解は1考えなくて良いから)OTの再生アルゴリズムを
そのまま応用できる。本例では圧電体61上に第5図中
)に拡大平面図、をも示すように表面波用広帯域電極基
コを所定のピッチで同一円周上に配列し、これの7群6
コー/ A42− kをマルチプレクサ−43で選択し
て、この電極群の各電極に送信回路評からの送信パルス
を遅延II(又は移相器)45−/−4j−kにて送波
用電極群から送波される表面波が図に示すように圧電体
41上の点47に一旦集束するように位相差を与えて供
給して表面波を送波する。このようにすれば点67かも
あたかも扇状の表面波を試料44に向って送波したのと
陶じことになる。試料基6の下を通過して吸収減衰を受
けた表面波はマルチプレクサ−63で選択された送波用
電極群赫−7〜番−一にと対向する受波用電極群4J−
m〜4コーnで受波し、その受波信号を増幅部61で増
幅、検波してA/D変換変換器上ってディジタル信号に
変換して磁気ディ、スフ譜に一時貯えると共に計算機7
1ヘインター7エースする。次に!ルチプレタサー63
によって選択する送波及び受波用の電極群の位置をそれ
ぞれ4J−1〜−一(k+1)および62−(Il+1
)〜4J−(nil )と叢う具合に対向したまま順
次ずらしながらIn2に沿って同じ動作を繰り返す。反
復回数が足りない場合は、送波用の遅延II(又は移相
器)jj−/〜43−kを可変させて点6フの位置をす
こしく電極ピッチ以下)ずらせた會ま/Mlに沿って同
じ動作を行ない、計算機フlの解が再生アルゴリズムに
従って収束する迄、フォーカス点4フの位置を少しずつ
ずらせながら繰り返す。計算−フlによって再生された
両像信号は磁気ディスフッOに一時貯えられVム変換器
フコによ”) テア + aグ伽号に変換されてTvモ
品ターフ3上に表示される。なお、符号悼は不要反射を
防止する吸収剤である。
なお、本発明は上述した実施例にのみ限定されるもので
はなく、幾多の変形または変更が可能で・ある。例えば
表面波電極の配列は第3図においては円弧状に、第参図
においては直線状に、第j寵においては直線状に2列対
向して配置してもよい。
はなく、幾多の変形または変更が可能で・ある。例えば
表面波電極の配列は第3図においては円弧状に、第参図
においては直線状に、第j寵においては直線状に2列対
向して配置してもよい。
また、#I1図における同一フォ−カス点での異なる電
極群から送波された表面波の受波信号の相関・唸第3図
および第参図に示す実施例にも1効に適用することがで
きる◎更に、上述した実施例では試料の反射表面波また
は通過表面波に基いて試料の断面像を得るようにしたが
、反射および通過表向波の両方を受波して断面像を得る
こともできる。
極群から送波された表面波の受波信号の相関・唸第3図
および第参図に示す実施例にも1効に適用することがで
きる◎更に、上述した実施例では試料の反射表面波また
は通過表面波に基いて試料の断面像を得るようにしたが
、反射および通過表向波の両方を受波して断面像を得る
こともできる。
以上述べたように、本発明によれば表面波伝搬媒体及び
表面波電極を有する信号検出部を従来の超音波顕微鏡に
比較して簡単°かつ小形にできるから内視鏡、腹腔鏡、
腹腔鏡等に装着をすることが可能となる。又手術中にお
いても本発明の顕微鏡による検査が可能となる。また、
表面波は音速が従来の超音波顕&鏡で使用している縦波
にくらべると遅いため高分解能を得やすい。更に、表面
波電極の形状のみで周波数と帯域が決まるので高胸波、
広帯域の信号が得やすく、高分解能が得やすいと共に、
電極の形状を整合フィルタの形状にすれば、周波数合成
も可能となり分解能を向上させることができる。又、l
I向波の伝搬は2次元の壷tI4+胸波数を考慮すれば
良いから、開口合成やOTの従来技術をそのまま応用す
ることにより高分解能化が計れる。
表面波電極を有する信号検出部を従来の超音波顕微鏡に
比較して簡単°かつ小形にできるから内視鏡、腹腔鏡、
腹腔鏡等に装着をすることが可能となる。又手術中にお
いても本発明の顕微鏡による検査が可能となる。また、
表面波は音速が従来の超音波顕&鏡で使用している縦波
にくらべると遅いため高分解能を得やすい。更に、表面
波電極の形状のみで周波数と帯域が決まるので高胸波、
広帯域の信号が得やすく、高分解能が得やすいと共に、
電極の形状を整合フィルタの形状にすれば、周波数合成
も可能となり分解能を向上させることができる。又、l
I向波の伝搬は2次元の壷tI4+胸波数を考慮すれば
良いから、開口合成やOTの従来技術をそのまま応用す
ることにより高分解能化が計れる。
第1図は従来の超音波−執鏡装筺の構成を示す線図、第
J図(〜、Φ)および仲)は本発明の超音波顕微鏡装置
の原塊及び表面波電−の卿或を示す義を示す線図、第参
図(〜、Φ)および(0)は同じく第コ実施例を示す線
図、第5図(〜およびφ)は同じく第J実施例を示す線
図である。 /7−・表面波伝搬媒体% /I・・・試料、/9・・
・表面波電極、Jl e U * 4/・・・圧電体、
n、侵、6コ・・・表面波電極、2?、 413 、4
3・・・マルチプレクサ−124+、件、評・・・送信
回路、B−/ NB−に、ダj−/〜l1l−に、4!
−/〜Aj−に、、・遅延線(又は移相器)、ム、 4
I4.46・・・試料、E、417.4’l・・・フォ
ーカス点、x、q、≦l・・、増幅部、Jl 、 52
・Xキャンコンバータ、30 、 jJ 、 73−T
V’!−晶ター、Jl 、 # 、芹・・・表面波吸収
剤、稈・・・伽を始[S、SO・・・記憶回路、Jl・
・・相関部、社・・・4/D変換@%70・・・a気デ
ィスク、7/・・・計算機、7コ・・・V□変換器。 第1図 第2図 第3図 (a) (C7
J図(〜、Φ)および仲)は本発明の超音波顕微鏡装置
の原塊及び表面波電−の卿或を示す義を示す線図、第参
図(〜、Φ)および(0)は同じく第コ実施例を示す線
図、第5図(〜およびφ)は同じく第J実施例を示す線
図である。 /7−・表面波伝搬媒体% /I・・・試料、/9・・
・表面波電極、Jl e U * 4/・・・圧電体、
n、侵、6コ・・・表面波電極、2?、 413 、4
3・・・マルチプレクサ−124+、件、評・・・送信
回路、B−/ NB−に、ダj−/〜l1l−に、4!
−/〜Aj−に、、・遅延線(又は移相器)、ム、 4
I4.46・・・試料、E、417.4’l・・・フォ
ーカス点、x、q、≦l・・、増幅部、Jl 、 52
・Xキャンコンバータ、30 、 jJ 、 73−T
V’!−晶ター、Jl 、 # 、芹・・・表面波吸収
剤、稈・・・伽を始[S、SO・・・記憶回路、Jl・
・・相関部、社・・・4/D変換@%70・・・a気デ
ィスク、7/・・・計算機、7コ・・・V□変換器。 第1図 第2図 第3図 (a) (C7
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 求 表面波伝搬媒体と、この表面波伝搬媒体上に所定の
ピッチで一次元的に配列した複数の表面波電極とを具え
、この複数の表面波電極のうちの一部または全部の電極
群を選択して前記表面波伝搬媒体上に接触配置される被
検体下に表面波を送波して該被検体を走査し、該被検体
での反射表面波および/または通過表面波を受波して前
記表面波伝搬媒体に接する前記被検体の像情報を得るよ
う構成したことを特徴とする超音波−微鏡装置。 & 前記侭敵の表面波電機を直線状に配列すると共に、
この複数の表面波電機から選択する電極群の数およびそ
の位置および選択された電極群の各電極から送波する表
面波の位相をそれぞれ可変にして、選択された電機−か
ら送波される表面波のフォーカス点を被検体下において
二次元的に走査し、各フォーカス点での反射表面波を送
波と同一の電極群で受波して前記表面波伝搬媒体に棲す
るFIF記被検体面の断面像を得るよう構成したことを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載の餡音波顧微鏡装
瀘。 & 前記表敷の表面波111機を同一円周上に配列する
と共に、この複数の表面波電機から鎌釈する11極群の
数およびその位置および嚢択されたv11100各電極
から送波する表面波の位相をそれぞれ可変にして、選択
されたm極群。 から送波される表面波のフォーカス点を被検体下におい
て二次元的に走査し、各フォーカス点での反射表面波を
送波と同一の電極群で受波して前記表面波伝搬媒体に接
するロリ記被横体面のIlrtmsを得るよう構成した
ことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の超音波顧
微廓装置0 4 前記複数の表面波amを同一円周上に配列すると共
に、この複数の表1波電極から選択する11L極群の位
置および選択された電極群の各電極から送波する表面波
の位相をそれぞれ可変にして、違択された電極群から送
波される表向波のフォーカス点を走査し、被検体下を通
過して吸収減衰を受けた通過表面波を前記lIl数の表
面波電極のうちの前記違択した送波用電極群と対向する
電極群で受波し、この受波用電極鮮からの信号を所定の
再生アルゴリズムに従って処理して前記表面波伝搬媒体
に接する前記被検体面の断面像を得るよう構成したこと
を特徴とする特許請求の範囲第1項記載の超音波顕微鏡
装置。 五 表向波を送波する電極群の違択位置を一■変して1
Wl−フォーカス点におけるそれぞれの受波信号を得、
これら受波信号の相関をとって尚該フォーカス点におけ
る像情報を得るよう構成したことを特徴とする特許請求
の範咄第1A、3または4項記載の超音波WA微鏡装置
。 6 ′前記表向波伝搬媒体中の主たる!!面波伝撤経路
以外の部分に表面波吸収部材を設け、この表面波吸収部
材で割記表面波伝搬媒体中での不要表面波を吸収し得る
よう構成したことを特徴とする特許請求の範囲第1項〜
第5項のいずれかに記載の超音波顕微鏡装置。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56180297A JPS5882158A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 超音波顕微鏡装置 |
US06/440,431 US4484476A (en) | 1981-11-12 | 1982-11-09 | Acoustic microscope device |
DE3241978A DE3241978C2 (de) | 1981-11-12 | 1982-11-12 | Schall-Bildgerät |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP56180297A JPS5882158A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 超音波顕微鏡装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5882158A true JPS5882158A (ja) | 1983-05-17 |
JPH0136587B2 JPH0136587B2 (ja) | 1989-08-01 |
Family
ID=16080738
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP56180297A Granted JPS5882158A (ja) | 1981-11-12 | 1981-11-12 | 超音波顕微鏡装置 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4484476A (ja) |
JP (1) | JPS5882158A (ja) |
DE (1) | DE3241978C2 (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE3417864A1 (de) * | 1984-05-14 | 1985-11-14 | Ernst Leitz Wetzlar Gmbh, 6330 Wetzlar | Verfahren und vorrichtung zum lokalselektiven nachweis und der erzeugung von polaren strukturausrichtungen in mikroskopischen objektbereichen |
US4751686A (en) * | 1985-05-14 | 1988-06-14 | Olympus Optical Co., Ltd. | Ultrasonic microscope |
US5641906A (en) * | 1988-03-23 | 1997-06-24 | Texas Instruments Incorporated | Apparatus and method for automated non-destructive inspection of integrated circuit packages |
GB9911878D0 (en) * | 1999-05-22 | 1999-07-21 | Marconi Electronic Syst Ltd | Identification tag |
US9804112B2 (en) | 2013-11-20 | 2017-10-31 | Transtech Systems, Inc. | Selective characterization of material under test (MUT) with electromagnetic impedance tomography and spectroscopy |
Family Cites Families (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US3647899A (en) * | 1969-06-11 | 1972-03-07 | Chevron Res | Linear alkylbenzene compositions |
US3845420A (en) * | 1973-03-02 | 1974-10-29 | Raytheon Co | Surface acoustic wave phase control device |
FR2405485A1 (fr) * | 1977-10-07 | 1979-05-04 | Thomson Csf | Systeme de visualisation par ultrasons d'une coupe mince d'un corps |
US4180790A (en) * | 1977-12-27 | 1979-12-25 | General Electric Company | Dynamic array aperture and focus control for ultrasonic imaging systems |
FR2417762A1 (fr) * | 1978-02-16 | 1979-09-14 | Anvar | Procede et dispositifs de mesure de la fatigue d'une eprouvette soumise a une sollicitation mecanique |
US4222274A (en) * | 1978-09-15 | 1980-09-16 | Johnson Steven A | Ultrasound imaging apparatus and method |
JPS5687912A (en) * | 1979-12-20 | 1981-07-17 | Toshiba Corp | Elastic surface wave filter |
-
1981
- 1981-11-12 JP JP56180297A patent/JPS5882158A/ja active Granted
-
1982
- 1982-11-09 US US06/440,431 patent/US4484476A/en not_active Expired - Lifetime
- 1982-11-12 DE DE3241978A patent/DE3241978C2/de not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
DE3241978A1 (de) | 1983-05-26 |
DE3241978C2 (de) | 1986-08-28 |
JPH0136587B2 (ja) | 1989-08-01 |
US4484476A (en) | 1984-11-27 |
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