JPS587073B2 - カゴウブツハンドウタイソウチノセイサクホウ - Google Patents

カゴウブツハンドウタイソウチノセイサクホウ

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JPS587073B2
JPS587073B2 JP50125053A JP12505375A JPS587073B2 JP S587073 B2 JPS587073 B2 JP S587073B2 JP 50125053 A JP50125053 A JP 50125053A JP 12505375 A JP12505375 A JP 12505375A JP S587073 B2 JPS587073 B2 JP S587073B2
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JP
Japan
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thin
compound semiconductor
crystal
pieces
cut
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Expired
Application number
JP50125053A
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JPS5248987A (en
Inventor
伊藤真
清英夫
瀧川宏
辻野佳規
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Fujitsu Ltd
Original Assignee
Fujitsu Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd filed Critical Fujitsu Ltd
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Publication of JPS5248987A publication Critical patent/JPS5248987A/ja
Publication of JPS587073B2 publication Critical patent/JPS587073B2/ja
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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、化合物半導体を用いた光導電装置などの半導
体装置の多量生産に適する製作法に関する。
現在シリコン半導体技術ではシリコンウエハの上に多数
の半導体素子能動部分の他、基板や電極リード線が接続
されるボンデイングバンド部分などを同時に形成し、後
でスクライプすることによって各チ7プに分離しており
、通常の化合物半導体技術でもこれと同様に各部分を半
導体結晶(ウエハ)上に形成しているが、この方法には
次のような欠点がある。
即ち、複数元素から成る半導体例えば光検出器の光導電
材料として用いられるテルル化カドミウムー水銀(Hg
CdTe)やテルル化スズー鉛(PbSnTe)のウエ
ハ(これらは2種の金属間化合物から成っているので化
合物半導体と呼ぶ)は、シリコンウエハに比べて一般に
得られるウエハ径が小さく、かつ非常に高価である。
このため化合物半導体結晶をできるだけ有効に使用する
ことが必要であり、具体的には結晶を全て素子の能動部
分として使用することが望ましい。
しかるにか5るものに対してもシリコン半導体技術と同
様な方法を適用したのでは、利用しない部分が多くなる
例えば第1図は既知の光導電装置を示し,1はサファイ
ヤなどの絶縁性基板、2はHgCdTeなどの化合物半
導体結晶、3は受光面であり、この装置は第3図に示す
基板1の上にエポキシ系などの接着剤により貼り付けら
れた大きい面積の化合物半導体結晶2を、パターニング
により略H型に形成し、その表面に中央の受光面3を残
して電極材料を蒸着して電極4,5を作り、更に電極4
,5にリード線6,7を接続して作られる。
この装置では図から明らかなように能動部分即ち受光面
3として利用されている化合物半導体結晶2は全体に対
して極めて僅かであり、それ以外の広い結晶部分は光導
電性を利用する有効部分としては用いていない。
このように素子の能動部分以外の配線部分、ボンデイン
グパッド基板などに貴重な化合物半導体結晶を用いるこ
とは、経済性に欠ける。
またこの種の化合物半導体結晶は一般に機械的強度が小
さく、ボンデイングによって結晶が破壊されることがあ
るので、ボンデイングパッド基板として利用することは
適当ではない。
これらの問題点を解決する一つの方法は、電極の配線部
分やボンデイングパツド部分に、化合物半導体結晶以外
の他の材料、特に機械的強度が大きくかつ安価な材料を
用いることである。
第2図はか5る光導電装置を示し、基板1の上に化合物
半導体結晶2′及びその両側に該結晶2′を挟むように
ほゞ同じ厚みの絶縁体8,9を接着削で固着したもので
ある。
この装置はほゾ受光面3部分のみを化合物半導体結晶2
′で作り、その他の電極配線部分やボンデイングパッド
用部分は、機械的強度の大きな材料例えばきわめて比抵
抗の高い高純度のシリコン片8,9で構成している。
こうすれば高価な化合物半導体結晶の使用量が少なく、
また結晶2′がボンデイングなどにより破損することも
ない。
しかも第2図の光導電装置を製造するには第4図に示す
ような絶縁性基板1上で化合物半導体結晶2′を機械的
強度の大きい材料の絶縁体又はこれと同等の作用をする
半導体8,9で挟んだ形状のウエハが必要となる。
本発明はかXる構造のウエハを、高価な化合物半導体結
晶の浪費を避けながら一度に多量に生産する製作法を提
供しようとするもので、その特徴とするところは化合物
半導体結晶薄片を、機械的強度の大きい補助薄板で挟ん
で接着してこれらを一体化し、しかる後にこれらを細断
して多数の薄片を形成した後、これらの薄片の切断面を
平坦面に仕上げかつ薄層化を行ない、更にこの薄層化し
た薄片を所定間隔で幅方向に切断して多数の半導体装置
形成用のチップを製作する点にある。
以下図面の実施例を参照しながら本発明を詳細に説明す
る。
第5図〜第17図は本発明の方法により光導電装置を作
る場合の製作工程を示す。
まず第5図に示す化合物半導体結晶のインゴット11を
点線で示すように切断し、第6図に示すウエハ12を得
る。
次いでウエハ12が必安な厚さとなるまで、その両面を
ポリツシング、ラツピングなどにより粗研磨、鏡面研磨
を行ない、更にエッチングにより仕上げて、第7図に示
す所望厚みの化合物半導体結晶薄片(以下結晶薄片とい
う)13を形成する。
結晶薄片13の厚さdは後述するこの光導電装置の受光
面の幅よりもやト大きい程度にし、縦横の寸法は例えば
15mmにする。
一方ボンデイングパッド用薄板の材料として例えば第8
図に示す2枚の高純度シリコン半導体の薄板14.15
(以下補助薄板という)を用意し、その表裏両面を粗研
磨し、更に2枚とも一方の面を精密研磨、エッチングに
より鏡面仕上げを行なう。
この補助薄板14.15の厚さは、この部分がのちに光
導電装置の電極配線およびボンデイングパッド用基板と
なるため広い面積を必要とするので、結晶薄片13の厚
さdよりもかなり大きい厚さDにする。
例を挙げるとd = 0. 5mm,D= 2mmであ
る。
次に2枚の薄板14.15の鏡面仕上げした面を内側に
して、これらの間に結晶薄片13を挟み込み、エポキシ
系接着削で第9図に示すように接着する。
この場合補助薄板14.15の両側から圧力を加えて接
着層が充分に薄くなる様にしながら行なう。
この接着は結晶薄片13及び2枚の薄板14.15の共
に接触する面が鏡面仕上げされているので良好に行なわ
れる。
こうして薄板14.15間に結晶薄片13を挟んだサン
ドインチ状合板を作ったら、一群の点線で示すように所
要の間隔Hで主表面と垂直な方向に細断し、第10図に
示すような構造の細長い薄片20を多数枚作る。
次いでこの得られた多数の薄片20の片面を同時に鏡面
仕上げして、例えば幅Xが4.5mm、長さZが15m
m、厚さHが0, 5 mm位の寸法に成形する。
次にこの薄片20を第12図に示すようにサファイヤな
どの絶縁性基板21に貼り付けるが、この場合サファイ
ヤ基板21は、幅Bが薄片20の幅Xよりもやメ大きめ
(1間程度)のものを用い、そして適当なワックス(溶
剤又は加熱により溶けるもの)により予め第11図に示
すように適当な基板22に多数密接させて貼り付けてお
く,このサファイヤ基板21の上に、薄片20を第12
図に示すように貼り付ける。
これは薄片20の鏡面仕上げした面を接着面とし、エポ
キシ系接着剤を用いて行なう。
この薄片20の貼り付けは、次の工程で薄片20のパタ
ーニングを行なうためサファイヤ基板21と平行に、か
つ一方に片寄ることなく基板21の略中心にくるように
行なうことが望ましいが,薄片20がサフどイヤ基板2
1の鏡界21Aを越えない限り実際上の問題はない。
第13図はサファイヤ基板21の上にこのように薄片2
0を接着した状態を拡大して示すがこの例えば第13図
の状態で薄層に研魔後そのまトフオトエッチングを行な
うとしても、そのパターンが単純であれば全面露光する
ことも可能である。
又複雑なパターンでも各薄片毎に露光を行なうことによ
って容易に所定の素子パターンを得ることができる。
次にこのサファイヤ基板21上の多数の薄片20の表面
を研磨、エッチングして鏡面仕上げを行なう。
この場合薄片20の厚みHがこの光導電装置の性能に影
響するため所望の厚さまで薄層化する。
こうして第14図に示す薄片の集合体を得る。
次いで薄層化した各薄片20の結晶薄片13をフォトエ
ッチングにより受光面およびその近傍を残して除去し、
更にこの受光面近傍と補助薄板14.15の結晶薄片と
の接触部附近の表面に電極材料を蒸着し、各薄片20上
に複数の光導電装置を形成する。
こうして多数の光導電装置を形成したら、薄片20をダ
イヤモンドカツタあるいはスクライバにより多数のサフ
ァイヤ基板21の各鏡界21Aに沿って薄片の幅方向に
切断し、次いで加熱あるいは溶剤を用いて基板22に多
数のサファイヤ基板21を固定(仮止め)しているワッ
クスを溶かし、除去する。
これにより多数のサファイヤ基板21はそれぞれ分離さ
れ、第15図に示すような光導電装置が多数得られる。
この光導電装置では図示する如くサファイヤ基板21上
にパクーニングされた結晶薄片13A、絶縁薄板14,
15、これらの結晶薄片13Aと絶縁薄板14.15に
跨がり、その接合部附近の表面に蒸着形成された電極3
2.33などが形成される。
結晶薄片13Aの中央部は受光面31となり、また電極
32.33の薄板14.15側部分にボンデイングまた
は半田付けによりリード線の接続が行なわれる。
本発明の製作工程において、第10図で示したように薄
片20を形成した後、これを第12図に示すようにサフ
ァイヤ基板21に貼り付け、研磨やスクライビングを行
なう代りに、予めこの薄片20の段階でスクライビング
により第17図に示すような光導電装置に必要な大きさ
のウエハ40に切断してもよい。
この場合は切断した薄片20即ちウエハ40を予め所定
の大きさに形成した各サファイヤ基板21′に接着し、
この基板21′をワックスにより第16図に示す如く基
板22に仮止めし、然るのち表面の研磨、エッチングを
行なって鏡面仕上げし、更にこのウエハ40の結晶薄片
13のパクーニング、電極材料の蒸着を行なって光導電
装置の形成を行なう。
この装置製作工程は各ウエハ40毎に単独に行なっても
よく、また多数同時に行なってもよい。
更に別の方法で鏡面仕上げ及びスクライビングして第1
6図に示すように形成した薄片20を、第17図のよう
なウエハ40に分離し、然るのちに装置製作工程を行な
ってもよい。
また第14図に示したように基板22上のサファイヤ基
板21に貼り付けた各薄片20を鏡面仕上げした状態で
、グイヤモンドカツクなどを用いてスクライビングを行
ない第17図に示すようなウエハ40を形成し、然る後
に各ウエハ40毎に装置製作工程を行なってもよい。
以上詳細に説明したように本発明によれば、必要最少限
の極めて小さい化合物半導体結晶及びその両側に誘設す
る充分広い補助薄板からなる三層貼合せ構造の化合物半
導体ウエハを一度に多量に形成することができ、そして
電極リード線のボンデイングは補助薄板上の電極部分に
行なうことができる。
このため高価な化合物半導体結晶を有効1こ使い、また
ポンデイングによるウエハの破損を回避することができ
る。
なお本発明の実施例では三層構造の化合物半導体ウエハ
のみを説明したが、これは特許請求の範囲内において、
多層あるいは二層構造に変形することができるのはいう
までもない。
また本発明は光伝導装置のみならず他の類似の構造をも
つ各種装置にも応用することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図〜第4図は化合物半導体を用いた光導電装置およ
びその製造工程における中間段階の構造を示す斜視図、
第5図〜第17図は本発明の製作工程を説明する斜視図
及び平面図である。 図において13は化合物半導体結晶薄片、14,15は
補助薄板、20は薄片、40はウエハである。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 化合物半導体結晶薄片を、機械的強度め大きい補助
    薄板で挟んで接着してこれらを一体化して合板とし、し
    かる後に該合板を板面と垂直な面で所定間隔で細断して
    多数の薄片を形成した後、これらの薄片の切断面を鏡面
    に仕上げかつ厚さを所定値にし、更にこの薄片を所定間
    隔で幅方向に切断して多数の半導体装置の主体となるチ
    ップを製作することを特徴とする化合物半導体装置の製
    作法。
JP50125053A 1975-10-17 1975-10-17 カゴウブツハンドウタイソウチノセイサクホウ Expired JPS587073B2 (ja)

Priority Applications (1)

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JP50125053A JPS587073B2 (ja) 1975-10-17 1975-10-17 カゴウブツハンドウタイソウチノセイサクホウ

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JP50125053A JPS587073B2 (ja) 1975-10-17 1975-10-17 カゴウブツハンドウタイソウチノセイサクホウ

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JPS5248987A JPS5248987A (en) 1977-04-19
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JP2016192423A (ja) * 2015-03-30 2016-11-10 パイオニア株式会社 光伝導素子及び計測装置
JP2020198448A (ja) * 2020-08-26 2020-12-10 パイオニア株式会社 光伝導素子及び計測装置

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