JPS5870150A - 光学検査装置用照明器 - Google Patents

光学検査装置用照明器

Info

Publication number
JPS5870150A
JPS5870150A JP56167844A JP16784481A JPS5870150A JP S5870150 A JPS5870150 A JP S5870150A JP 56167844 A JP56167844 A JP 56167844A JP 16784481 A JP16784481 A JP 16784481A JP S5870150 A JPS5870150 A JP S5870150A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
shade
sample
inner face
illuminator
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP56167844A
Other languages
English (en)
Inventor
Yutaka Yunoki
裕 柚木
Michiaki Miyagawa
宮川 道明
Naoki Kumagai
直樹 熊谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fuji Electric Co Ltd
Original Assignee
Fuji Electric Co Ltd
Fuji Electric Manufacturing Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Electric Co Ltd, Fuji Electric Manufacturing Co Ltd filed Critical Fuji Electric Co Ltd
Priority to JP56167844A priority Critical patent/JPS5870150A/ja
Publication of JPS5870150A publication Critical patent/JPS5870150A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、例えばコンベアライン上を流れる青果物や工
業製品などの色事検出や廖状測定などを光学的に行なう
光学検査装置用として適した照明器に関するものである
一般に、サンプル(被検査物体)が青果物の如く、形状
が球体でかつ表面が光沢、或いは半光沢であるような物
体の場合には、その光学的検査は従来、非常に困難であ
った。それは、検査の対象物が立体的1千れも球体に近
いものであるため、従来の一面的な投光による照明では
、球体周辺部からの反射光量が大幅に低下し、正面中央
部からの反射光を検出して得られる信号のレベルと、周
辺部からの反射光を検出して得られる信号のレベルとの
差が大きくなることと、球体の表面に若干なりと光沢が
あると、該光沢部から強い正反射光が発生すること、等
によるものであった。
そこで球体に近い物体の光学検査のための照明器として
は、物体周辺部からの反射光量を増加させることができ
、さらに物体表面からの正反射光が光学検査装置の受光
部に入射鴫ないようにできること、が必要である◇周辺
からの反射光量を増加させるには、球形物体の側部に対
する照明光量を増加させることが必要であり1また強い
正夏射光の発生を防止するに41直接光によるM明でな
く、間接光による照明を採用するのがよい@このような
観点からの要求を満たす光学検査用の照明器として従来
からサークライン形式の螢光灯が知られている。しかし
、かかる螢光灯は、光量・温度特性、寿命特性に問題が
ある上、伊−タルの一部、電源ソケット部分に非発光部
分があるため、全体的に光量均一な間接光源にはなり■
く、長期間、高精度の光学検査を行なうに遺した照明器
とは云えなかったし、重た色彩検出等を行なうための照
明器としては分光特性が悪いという欠点もあった。
本発明は、上述の如き、従来技術の欠点を除き、青果物
の如き、形状が球体に近く、表面に光沢があるような物
体の光学検査用に遺した照明器を提供することにある。
本発明の構成の要点は、内面を拡散反射面とした笠形の
シェードと、該シェード内で笠形内面の中心を通る中心
線に対して増体的に配置された懐数個の白熱光源と、該
光源からの光をシェード内面の拡散反射面へ投射する反
射板とにより照明器を構成し、前記白熱光源からの直接
光および前記反射板による反射光がシェード内面の拡散
反射面で反射されて被検査物体に投射されるようにした
点にある。
次に図を参照して本発明の一実施例を説明する。
第1Wiは本発明の一部114mを示す断WJWIであ
る。
同図において、lは搬送用のコンベヤ、2は被検査物体
であるサンプル、3は照明器を構成するシェードで、そ
の内面がほぼ半球状をなしている。
シェード3の内面は、効率の良い拡散反射面とするため
に通常、耐熱性の白色のつや消しペイント等を塗布され
ている・4は首振り可能な小WI夏射板、5は光源であ
るが、遷常小彫のハ田ゲン電球を用いるのが適当でiる
。小形反射板4と光H5は一体に結合されたものであり
、シェード3のほぼ中央部から支柱6により帛り下げで
ある。反射板4と光源5は首振り部7を中心に回動可能
である。8は、ベルトコンベヤ1上の検査視wな決定す
るレンズであり、10は光ファイバであり、9は保持金
具である。つまりレンズ8は、保持金具9によって光フ
ァイバ10に結合されると同時に、シェード3の中央部
に取り付けられている。
レンズ8は、サンプル2の外形寸法りや照明器の取付高
さHを考慮して、必要な視舒寸法を得るに足るだけの焦
点距離をもったものが使用される。
一般に青果物等はそのm*により外形寸法りが異なるの
で、青果物等からなるサンプル2を他の種類の青果物に
切り替えるときは、レンズ8も焦点距離の興なる他のレ
ンズに交換したり、或いは使用レンズがズームレンズで
あるときは、ズーム比を変えたりする。この際、従来の
照明器では、サンプル2の大きさDによって最適の取付
高さ寸法Hが極めて映い寸法範囲で決定されてしまうた
め、サンプル2の大きさが変わると、レンズ8を交換す
るのと同時に、照明器の取付高さを変更するとか、或い
は照明器自体を別種のものに取り替える必要があり、こ
のため、本発明のように、レンズ系と照明器を一体化し
て使用するのは困難であった0 さて第1図に示した本発明による照明器は、サンプル2
の大きさ寸法りが変化しても、照明器の取付高さHを変
更する必要がない。それは、本照明器がサンプル2の全
体を、全周方向から広い面光源として間接照明している
からである。光[5から出る光は光路Aに示す如く1 
直接シェード3の内面に照射され、そこから拡散反射光
となってサンプル2へ向かう光束と、光路Bに示す如く
、小形反射板4の内面の鏡面仕上部分で一度反射された
後、更にシェード3の内面で拡散反射されサンプル2へ
向かう光束とに大別される。その結果、サンプル2の側
からみると、シェード3の内閣全体(特にハツチング部
、なお右半分については図を簡明にするためハツチング
を特に示していない)が大広角の拡散面光源として見え
ることになり、サンプル2の位置ずれがあうでも、サン
プル2に対して一様な光束が照射されることになる。
小形反射板4の有用なる役割として次の四点を挙げるこ
とができる。
(イ)光源からサンプルへ直接光が照射されるのを防止
する。
(ロ)光源から360度方向にわたって出る光束を小形
反射板の鏡面で筐射し全光束がシェード内−に向かうよ
うにすることにより、照明器全体の光利用効率を高める
(ハ) シェード内面に種々の方向からの光を照射する
ことにより、シェード内面の広い領域を活用する。
に)反射板の若干の首振りで照明器全体の配光特′性を
コントルールする。
第2wJは、第1図においてシェード3を下より(サン
プル2側から)みた下面図である。なお11はシェード
3の中央平坦部である。1llliにおける光源5が、
サンプル2側からは直視されず、小形反射板4の陰にか
くされていることが判るであろう。小形反射板4の外側
のサンプル2傭から見える部分は、光学的には黒色散乱
画となるように表面処理されている。中央平坦部11は
、ファイバとレンズの保持金具9が取付は易いように平
面状をなしている。レンズ8としては、通常、焦点距1
mが25W〜135簡位のCマウントレンズが取付可能
である。
第3図は本発明の他の実施例を示す断Ii1wJである
。同図において%12は2次元撮像装置(工業用テレビ
カメラ)113はカメラ用レンズ、である。他の符号は
第1図におけるのと同じ符号は同じ物を指している。な
お1光源や反射板等は図示を省略しである。
すなわち第3[に示すように、工業用テレビカメラ12
は、レンズ13によって決定される視野内に入ったサン
プル2の大きさ等の外形的特徴を計測し、光ファイバ1
0は図示せざる色検出装置に接続されており、レンズ8
によって決定される視野内に入ったサンプル2の色彩を
検査する。このようにすれば、本発明による照@器は、
サンプルの外形的特徴と色彩を同時に検出するのにも用
い得るわけである。
第4wJは本発明の更に他の実施例を示す上面図である
◎同図において、31〜34はそれでれベルトコンベヤ
、35はシェード、36= 37はそれぞれ工業用テレ
ビカメラの開口−,38〜41はそれぞれ光7アイパ開
口、42〜47はそれぞれ光源である。小形反射板は図
示していない0114図においては、複数条(本例では
4本)のコンベヤライン31〜34上をそれぞれ流れる
被検査物体を、コンパクトな本発明による照明器で光学
検査せんとする場合を示している。照明−のシェード3
Sは4本のベル)コンベヤをカバーするに足りる大きさ
のものとしている。テレビカメラは2台で4本のベルト
コンベヤを受けもっている。すなわ号カメラ36はコン
ベヤ31と32を撮像し、撮像結果においてソフト的に
雨雪を分lして処理している。カメラ37も同様にコン
ベヤ33と34を受は持っている。光ファイバーは各コ
ンベヤ毎に設けられている。工業用テレビカメラで被検
査物体の色倉で判定するのは、安定性に欠け、適当でな
いので、テレビカメラは外形、形状の判定に用い、色の
判定には光ファイバを用いている。従来の照明器では、
複数条のコンベヤ上の被検査物体を一つの照明器でカバ
ーすることは1技術的に難しく・そのため、検査場所を
ずらして各コンベヤ毎に照明器を取付けざるを得なかっ
たため、検査のために広いスペースを要したが・本発明
ではこの点でも有利な構成腕っている0以上説明したと
おりであるから、本発明の照明器によれば次のような利
点がある◇ (1)間接照明光であるため、照明の均質性が高く、被
検査物体の大小によって照明器を交換したり、取付位置
を変更したりする必要がない。
(2)  上記の理由により、照明器と反射光の検出端
を一体化することができる。従って設置コスト、設置ス
ペース等が大幅に節減できる。
(3)  小形ハロゲン球を使用する場合には温度特性
、寿命特性、色温度特性が改善され、色彩検出装置を長
期間安定に動作させることができる。
(荀 間接光照明にもかかわらず、イ彩反射板の使用に
よって光利用効率が高い6 (5)  照明の立体角を大きくとれるため、立体的な
サンプルの周辺光量を大きくすることができも以上述べ
た如く本発明による照明器は、色彩検出を含む広い光計
測に適用できる。
【図面の簡単な説明】
第1iElは本発明の一実施例を示す断面図、第2図は
第19におけるシェード3の下よりみた下面図、第3図
は本発明の他の実施例を示す断面図、第4wiは本発明
の更に他の実施例を示す上面図、である。 符号説明 l・・・・・・コンベヤ、2・・・・・・サンプル、3
・・・・・・シェード、4・・・・・・小形反射板、5
・・・・・・光源、6・・・・・・支柱、7・・・・・
・首振り部、8・・・・・・レンズ、9・・・・・・保
持全黒、10・・・・・・光7アイパ、11・・・・・
・シェードの中央平坦部、12・・・・・・2次元撮像
装置(工業用テレビカメラ)、13・・・・・・カメラ
用レンズ、31〜34・・・・・・コンベヤ、35・・
・・・・シェード、36.37・・・・・・カメラ開口
、38〜41・・・・・・ファイバ開口、42〜47・
・・・・・光源 第4図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 l)内園を拡散夏射画とした笠廖のシェードと、該シェ
    ード内で笠廖内−の中心を選る中心線に対して財称的に
    配置された複数個の白熱光源と、譲光源からの光をシェ
    ード内面の拡散叉装置へ投射する夏射榎とを有して成り
    1前記白熱光源からの直接光および前記戻射板による夏
    射光ギシェード内閣の拡散戻射面で夏射されて被検査物
    体に投射されるようにしたことを特徴とする光学検査装
    置用層明−0 2)特許請求のl1lI嬉1項に記職の層嘴響において
    、前記笠屡の中央部に光学検査装置の検出端を取付けて
    なる光学検査装置用照明−03)特許請求の範囲第1項
    重たは第2項にIIIの照明器において、前記夏射板を
    首振自在に亀付けてなる光学検査装置眉履嘴器。
JP56167844A 1981-10-22 1981-10-22 光学検査装置用照明器 Pending JPS5870150A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56167844A JPS5870150A (ja) 1981-10-22 1981-10-22 光学検査装置用照明器

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56167844A JPS5870150A (ja) 1981-10-22 1981-10-22 光学検査装置用照明器

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5870150A true JPS5870150A (ja) 1983-04-26

Family

ID=15857126

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56167844A Pending JPS5870150A (ja) 1981-10-22 1981-10-22 光学検査装置用照明器

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5870150A (ja)

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6140655U (ja) * 1984-08-18 1986-03-14 株式会社 町田製作所 光学的検査用プロ−ブ
JPS61191909A (ja) * 1985-02-14 1986-08-26 Ikegami Tsushinki Co Ltd 被検体の表面撮像装置
JPH02161339A (ja) * 1988-12-14 1990-06-21 Koyo Mach Ind Co Ltd 球面検査装置
JPH02189447A (ja) * 1989-01-18 1990-07-25 Nippon Columbia Co Ltd 基板表面の欠陥検査方法及び照明装置
FR2697075A1 (fr) * 1992-10-15 1994-04-22 Costa Sa Appareil de contrôle optique de l'état de surface d'un support peint.
FR2718239A1 (fr) * 1994-03-31 1995-10-06 Costa Sa Cabinet de contrôle optique de l'état de surface d'un support peint.
JPH085563A (ja) * 1994-06-20 1996-01-12 Shirayanagishiki Senkaki Kk 塊状青果物のカメラ選別機に用いる間接照明型多面撮影装置
EP0711994A3 (en) * 1994-11-10 1997-07-02 Texas Instruments Inc Lighting devices
EP0947827A1 (de) * 1998-04-03 1999-10-06 VH Lichttechnische Spezialgeräte GmbH Vorrichtung zur visuellen Inspektion von in verschiedenen Ebenen liegenden Oberflächen von Körpern
NL1024619C2 (nl) * 2003-10-24 2005-04-27 Staalkat Internat B V Inrichting voor het inspecteren van objecten.
JP2007223644A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Fukuda Masako 非常用物資備蓄装置
JP2010510475A (ja) * 2006-06-23 2010-04-02 ザ・スウォッチ・グループ・リサーチ・アンド・ディベロップメント・リミテッド 位置決めデバイス上の物体の位置および運動の光学認識システム
JP2011078922A (ja) * 2009-10-08 2011-04-21 Techman Kogyo Kk プラスチックペレット選別機
WO2012069664A1 (es) * 2010-11-22 2012-05-31 Fundación Robotiker Dispositivo de iluminación sin brillos para la inspección de objetos mediante visión artificial
US8192050B2 (en) 2009-03-31 2012-06-05 Sony Corporation Illumination device for visual inspection and visual inspection apparatus
JP2015007606A (ja) * 2013-05-27 2015-01-15 株式会社ケット科学研究所 操作パネル式情報端末を穀粒外観検査用手段として機能させるアプリケーションプログラム及び記憶媒体、並びに、撮像手段と操作パネル式情報端末とを組み合わせた穀粒判別システム、該穀粒判別システムのアプリケーションプログラム及び記憶媒体
WO2018012192A1 (ja) * 2016-07-12 2018-01-18 吉野石膏株式会社 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置

Cited By (26)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6140655U (ja) * 1984-08-18 1986-03-14 株式会社 町田製作所 光学的検査用プロ−ブ
JPS61191909A (ja) * 1985-02-14 1986-08-26 Ikegami Tsushinki Co Ltd 被検体の表面撮像装置
JPH0352889B2 (ja) * 1985-02-14 1991-08-13 Ikegami Tsushinki Kk
JPH02161339A (ja) * 1988-12-14 1990-06-21 Koyo Mach Ind Co Ltd 球面検査装置
JPH02189447A (ja) * 1989-01-18 1990-07-25 Nippon Columbia Co Ltd 基板表面の欠陥検査方法及び照明装置
FR2697075A1 (fr) * 1992-10-15 1994-04-22 Costa Sa Appareil de contrôle optique de l'état de surface d'un support peint.
FR2718239A1 (fr) * 1994-03-31 1995-10-06 Costa Sa Cabinet de contrôle optique de l'état de surface d'un support peint.
JPH085563A (ja) * 1994-06-20 1996-01-12 Shirayanagishiki Senkaki Kk 塊状青果物のカメラ選別機に用いる間接照明型多面撮影装置
EP0711994A3 (en) * 1994-11-10 1997-07-02 Texas Instruments Inc Lighting devices
US5826974A (en) * 1994-11-10 1998-10-27 Texas Instruments Incorporated Spherical illuminator
EP0947827A1 (de) * 1998-04-03 1999-10-06 VH Lichttechnische Spezialgeräte GmbH Vorrichtung zur visuellen Inspektion von in verschiedenen Ebenen liegenden Oberflächen von Körpern
WO2005045406A1 (en) * 2003-10-24 2005-05-19 Staalkat International B.V. Inspection device for objects with a spherical surface
JP4823913B2 (ja) * 2003-10-24 2011-11-24 スタールカット インターナショナル ベスローテン フェンノートシャップ 球面を有する物体のための検査デバイス
JP2007509341A (ja) * 2003-10-24 2007-04-12 スタールカット インターナショナル ベスローテン フェンノートシャップ 球面を有する物体のための検査デバイス
NL1024619C2 (nl) * 2003-10-24 2005-04-27 Staalkat Internat B V Inrichting voor het inspecteren van objecten.
US7474392B2 (en) 2003-10-24 2009-01-06 Staalkat International B.V. Inspection device for objects with a spherical surface
JP2007223644A (ja) * 2006-02-23 2007-09-06 Fukuda Masako 非常用物資備蓄装置
JP2010510475A (ja) * 2006-06-23 2010-04-02 ザ・スウォッチ・グループ・リサーチ・アンド・ディベロップメント・リミテッド 位置決めデバイス上の物体の位置および運動の光学認識システム
US8192050B2 (en) 2009-03-31 2012-06-05 Sony Corporation Illumination device for visual inspection and visual inspection apparatus
JP2011078922A (ja) * 2009-10-08 2011-04-21 Techman Kogyo Kk プラスチックペレット選別機
WO2012069664A1 (es) * 2010-11-22 2012-05-31 Fundación Robotiker Dispositivo de iluminación sin brillos para la inspección de objetos mediante visión artificial
JP2015007606A (ja) * 2013-05-27 2015-01-15 株式会社ケット科学研究所 操作パネル式情報端末を穀粒外観検査用手段として機能させるアプリケーションプログラム及び記憶媒体、並びに、撮像手段と操作パネル式情報端末とを組み合わせた穀粒判別システム、該穀粒判別システムのアプリケーションプログラム及び記憶媒体
WO2018012192A1 (ja) * 2016-07-12 2018-01-18 吉野石膏株式会社 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置
JPWO2018012192A1 (ja) * 2016-07-12 2019-04-25 吉野石膏株式会社 検査方法、検査・通知方法、該検査方法を含む製造方法、検査装置及び製造装置
US10830707B2 (en) 2016-07-12 2020-11-10 Yoshino Gypsum Co., Ltd. Inspection method, inspection and reporting method, manufacturing method including the inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus
AU2017296488B2 (en) * 2016-07-12 2021-10-28 Yoshino Gypsum Co., Ltd. Inspection method, inspection/notification method, manufacturing method including inspection method, inspection apparatus, and manufacturing apparatus

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5870150A (ja) 光学検査装置用照明器
US5367439A (en) System for frontal illumination
JP4015421B2 (ja) 照明装置
KR101318483B1 (ko) 유리 시트의 표면 및 바디 결함을 식별하기 위한 검사 시스템 및 방법
US8989569B2 (en) Combination dark field and bright field illuminator
KR100967859B1 (ko) 전체 광속 측정 장치
US20200182801A1 (en) Lighting device and inspection apparatus
JP5192764B2 (ja) 間接的な照明を用いて表面の特性を解析する装置
CN107795960B (zh) 测量光源和用于检测反射光谱的测量系统
TW201415077A (zh) 用於一顯微鏡之多方向照明及顯微鏡
JPS5819804A (ja) 照明装置
US20160010809A1 (en) Lighting apparatus
JPH02167450A (ja) 半球状のぎらつかない照明装置及び照明方法
US3598482A (en) Optical projection system
JPH06109443A (ja) 照明装置
KR100326539B1 (ko) 조명장치
JP2002048713A (ja) 光学測定装置
KR101191230B1 (ko) 곡면 촬영을 위한 산업용 조명유닛
EP0711994B1 (en) Device and method for illuminating an object
US11442020B2 (en) On-axis and diffuse illumination for inspection systems
Uber Uniform illuminators for inspection
JPH0548179Y2 (ja)
JPS63133046A (ja) 検査用照明器具
Schwanengel Comparison of techniques for measuring luminous intensity distribution overall and across segments
CN114017709A (zh) 一种高亮度暗场照明装置