JPS58696Y2 - 試料処理装置 - Google Patents

試料処理装置

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JPS58696Y2
JPS58696Y2 JP1978108312U JP10831278U JPS58696Y2 JP S58696 Y2 JPS58696 Y2 JP S58696Y2 JP 1978108312 U JP1978108312 U JP 1978108312U JP 10831278 U JP10831278 U JP 10831278U JP S58696 Y2 JPS58696 Y2 JP S58696Y2
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JP
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sample
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conveyor
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carrier
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JP1978108312U
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JPS5526047U (ja
Inventor
英孝 城
Original Assignee
株式会社徳田製作所
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Publication date
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、試料処理装置に係り、特に真空または雰囲気
ガス中で、蒸着、スパッタリング、イオンエツチングな
どの処理を行なう試料処理装置に関する。
この種の試料処理装置においては、試料がシリコンウェ
ハー等のように外形が必ずしも一定でなく、薄くて破損
し易くかつ表面に微細なパターンが刻まれていて直接接
触できない種類のものである場合、従来、試料の移動の
ためには、その側面をプッシャーなどで押して摺動によ
り搬送する方法がとられていたが、この方法では、試料
の破損が多くかつ試料の上下の移動に困難を伴うことが
多がった。
本考案は、試料処理室と試料挿入取出室とにわたる試料
の移送の際に試料の下面のみに接するだけでよく、シか
も、単一の試料挿入取出室内へ未処理試料を支持するキ
ャリアを挿入しておくのみで同じ室内の空の試料キャリ
アに自動的に処理ずみ試料が収納され、また、操作、制
御、保守等の点で簡単な試料処理装置を提供するもので
ある。
以下、図面を参照して本考案の一実施例を説明する。
第1図において、1は試料処理室であって、これは図示
の場合には高真空スパッタリング室である。
なお、試料処理室1は真空蒸着室、イオンエツチング室
など他の種類の試料処理室であってもよい。
試料処理室1内には、回転軸2によって支持された試料
載置台3が設けられており、この載置台3は図示しない
モータにより縦方向の回転軸2を介して間欠回転および
連続回転しうるようになっている。
載置台3には、第2図に示すように、回転軸2を中心と
する円に沿って一連の孔4が設けられている。
この孔4は処理すべき試料M、例えばシリコンウェハー
、の寸法より小さく形成されており、これによって、試
料Mは孔4の位置で試料載置台3の表面に支持されうる
ようになる。
試料処理室1にはスパッタリング用ターゲット5が設け
られている。
公知のように、試料処理室1には、その内部を真空にす
るための高真空ポンプ系6が弁7を介して接続されてい
る。
試料処理室1の上部には、試料挿入取出室10が設けら
れており、試料挿入取出室10と試料処理室1との間に
は、画室を連通させることのできる開口11が設けられ
ている。
試料挿入取出室10の上部には油圧シリンダ12が固設
されており、このシリンダのピストンロッドの下端には
、開口11を閉鎖可能の弁体13が取付けられている。
油圧シリンダ12のピストンロッドが下降して、弁体1
3が第1図で仮想線で示す位置に達すると、開口11は
閉じられて上下の室10,1の連通は遮断される。
試料挿入取出室10も、その内部を真空にしうるように
真空ポンプ14に弁15を介して接続されている。
試料処理室1の下方には、試料搬送装置を構成する油圧
シリンダ20が設けられており、このシリンダのピスト
ンロッド21の上端には試料支持部材22が取付けられ
ている。
この試料支持部材22は孔4より小さく、シたがって試
料Mよりは勿論小さい。
油圧シリンダ20のピストンロッド21が最も伸長した
位置では、試料支持部材22は、その真上にある孔4お
よび開口11を経て、第1図の実線位置にある弁体13
の直下まで達する。
このように弁体13の直下まで上昇した試料支持部材2
2に対する試料の授受のために、試料挿入取出室10の
両側に1、対の試料移送用コンベヤ25.26が設けら
れている。
これらのコンベヤのうち、右方のコンベヤ25は試料挿
入用コンベヤで、左方のコンベヤ26は試料取出用コン
ベヤであり、両者は実線で示す位置と仮想線で示す位置
の間で揺動変位する。
また、右方のコンベヤ25の側には挿入試料キャリア2
7が、左方のコンベヤ26の側には取出試料キャリア2
8がいずれも後述のように上下に移動自在に設けられて
いる。
同様に後述のように、試料キャリア27は、処理を受け
るべき試料を満載して、蓋29付き開口31を経て試料
挿入取出室10内へ挿入され、また、試料キャリア28
は、処理を受けた試料を満載して蓋30付き開口32を
経て試料挿入取出室10から取出される。
第3図には、第1図の右側にある試料キャリア27およ
びコンベヤ25の詳細を示す。
試料キャリア27は、対向する2枚の上下方向側壁板3
4.34を有し、これらの側壁板の上端どうしは2本の
連結部材35.35により、下端どうしは1本の連結部
材36により一体的に連結されて剛体構造をなしている
両側壁板34.34の内面には、上下方向に一定の間隔
をおいて多数の試料支承板37が取付けられており、水
平方向に対向する1対の試料支承板37.37は仮想線
で示す薄板状の試料Mの両端部を支承するようになって
いる。
したがって、支承板37の水平方向に対向する対の数と
等しい数の試料Mが試料キャリア27内に上下方向に一
定の間隔をおいて収納されうろことになる。
なお、試料キャリア27の側壁板34.34以外の側壁
部は開放されている。
試料キャリア27は、前述のように蓋29を開けて開口
31を経て試料挿入取出室10内へ入れたりまたは試料
挿入取出室10外へ出したりするものであって、試料挿
入取出室10へ挿入されて装着された後は第1図の仮想
線位置へ向って順次下降させられるようになっている。
試料キャリア27の装着下降装置としては、例えば第3
図に示すように、試料キャリア27の下端部を着脱自在
にはめ込むことのできるガイド片38.38を昇降台3
9の上面に固定し、昇降台39を図示しない案内により
上下方向に案内しつつ図示しない駆動手段により間欠的
に昇降させるようにした装置を用いることができる。
昇降台39は欠除部40を有し、この欠除部40の位置
に前述のコンベヤ25が設けられている。
すなわち、このコンベヤ25は昇降台39およびその上
に支持される試料キャリア27の昇降を妨げないように
設けられている。
コンベヤ25は1対の間隔をおいた平行な無端コンベヤ
ベル) 42.42を備えており、各コンベヤベルト4
2の両端はプーリ43゜44に掛は渡されている。
プーリ43.44は、コンベヤベルト42に沿って設け
られた腕46の両端に支持されており、腕46のプーリ
44側の端は、枢軸となる回転軸47に支持されている
回転軸47は、固定軸受48に回転自在に支持されてお
り、その両端に前述のプーリ44が取付けられている。
また、回転軸47の一方の先端には、伝動装置49を介
して図示しない駆動源に連なる駆動輪50が取付けられ
ている。
したがって、駆動輪50が駆動されると、その回転はプ
ーリ44.44を介してコンベヤベルト42.42に伝
えられ、コンベヤベルトは矢印方向に駆動される。
コンベヤベルト42.42によって構成されるコンベヤ
25の揺動運動は、回転軸47を枢軸として行なわれる
コンベヤベルト25の第1図の実線位置と仮想線位置と
の間の揺動すなわち回動は、例えば、コンベヤ25の腕
46の下面と試料挿入取出室10の底壁との間に介在す
る伸縮自在のシリンダ装置などによって行なうことかで
゛きるが、この回動は他の任意の方法で行なってよい。
第3図から明らかなように、前述の搬送用油圧シリンダ
20のピストンロッド21の上端の試料支持部材22は
、その最も上昇した位置では、水平位置におけるコンベ
ヤ25のベル) 42,42の上面とほぼ等しい高さに
あり、しかも両ベル) 42.42の先端側の間にある
反対側にある試料キャリア28およびコンベヤ26も、
以上に説明した試料キャリア27およびコンベヤ25と
実質的に同一の構成および関係を有しているので、それ
らについての説明は省略する。
次に、以上に説明した試料処理装置の作用を説明する。
いま、試料載置台3のすべての孔4の上に載置されてい
る試料Mのスパッタリング処理が完了したと仮定する。
この状態で、これから処理しようとする試料Mを満載し
た試料キャリア27を蓋29を開いて開口31から室1
0内に挿入し昇降台39(第3図)上に装着する。
この時、昇降台39は上昇位置にある。
一方、蓋30を開いて開口32から空の試料キャリア2
8を室10内に挿入し他方の昇降台39上に装着する。
この側の昇降台は下降位置にある。以上の作業が終った
後、蓋29および30を閉じて試料挿入取出室10を密
閉状態にする。
この時、弁体13は下降位置にあって開口11を塞いで
いる。
以上のようにして得られた状態は第4図に示す通りであ
り、コンベヤ25.26はいずれも下方に回動した位置
にあり、試料キャリア27の下端部はコンベヤ25の回
動枢軸近くにあり、試料キャリア28の上端部はコンベ
ヤ26の回動枢軸近くにある。
次に、弁15を開き真空ポンプ14を運転して、試料挿
入取出室10内の空気の荒技排気をし、室10と室1内
の圧力がかなり近づいた時点で弁15を閉じる。
ついで、シリンダ12を作動させて弁体13を上昇させ
ることにより開口11を開き、室10,1を連通させ、
同時に弁7を開いて高真空ポンプ系6を作動させ室10
を高真空に排気する。
室10を高真空に排気した後、シリンダ20を作動させ
てそのピストンロッド21および試料支持部材22を上
昇させる。
試料支持部材22は、試料載置台3の孔4内を上方へ移
動しつつその孔上の処理ずみ試料Mを下方から持上げて
第5図に示す位置まで搬送する。
この時、試料支持部材22は試料Mより小さいから試料
の下面の一部分(中央部分)のみに接している。
次に、左側のコンベヤ26がその枢軸を中心として上方
へ回動して第6図に示す水平位置に達し、かつ矢印方向
に駆動される。
コンベヤ26の走行ベルトは、第3図に示す反対側のコ
ンベヤ25の構造から想像できるように上昇した試料支
持部材22とほは゛同じ高さの位置をとるから、コンベ
ヤ26の1対の走行ベルトは、試料支持部材22からは
み出ている試料Mの下面部分に接し、試料を第6図にお
いて左方へ移送する。
コンベヤ26の左端には、それとほぼ同高をなして試料
キャリア28の最上段の試料支承板37(第3図参照)
が位置しており、コンベヤ26により運ばれてきた試料
は、第6図に仮想線で示す位置で試料キャリア28内の
最上段の試料支承板37上に載置される。
ついで、コンベア26は第7図に示すように枢軸を中心
として下方へ回動し、代りに同図に示すように右側のコ
ンベヤ25がその枢軸のまわりに上方へ回動して水平位
置をとる。
この状態は第3図に示す状態である。
コンベヤ25のベル)−42,42は、試料キャリア2
7の最下段試料載置板37と同高をなしているから、コ
ンベヤベル) 42.42が駆動されると、最下段試料
載置板37上の試料Mはベルl−42,42に運ばれて
試料支持部材22の位置に達し、第7図に仮想線で示す
ようにその上に載置される。
以上の操作完了後、コンベヤ25は第8図に示すように
下方位置へ回動し、シリンダ20の操作によって、試料
支持部材22は試料を支持したまま下方へ移動して第8
図の位置に達する。
その移動の過程で、試料Mは試料載置台3の孔4の上に
残され、試料支持部材22のみが孔4より下方へ移動す
る。
以上のようにして、試料載置台3の一つの孔4上の処理
ずみ試料Mが試料キャリア28に移され、新しい試料M
が試料キャリア27から孔4上へ載置されたわけである
が、同じ操作は、試料載置台3を孔4間の角度に等しい
角度にわたって順次インデックス回転させつつすべての
試料Mについて行なわれる。
そして、一つの孔4上の試料の交換が行なわれる度ごと
に、試料キャリア27は、その昇降台39が試料支承板
37の一つ分の間隔に等しい距離だけ下降することによ
って第8図に示すように下降し、また試料キャリア28
は同様に試料支承板37の一つ分の間隔だけ上昇する。
このようにして、試料キャリア27内の試料がすべて試
料載置台3上に移され、試料載置台3上の処理ずみ試料
がすべて試料キャリア28内に移されると交換作業は完
了し、シリンダ12の操作により弁体13を下降させて
開口11を閉じ、試料処理室1内で載置台3を連続回転
させて試料の処理、例えばスパッタリングを行ないつつ
、図示しないノークバルブを開いて試料挿入取出室10
内の圧力を高めた後、蓋29.30を開いて試料キャリ
アの交換を行なう。
以上の操作は自動的に行なうのが好ましい。
本考案では、試料の交換にあたって試料の側縁や表面に
一切触れることがない。
したがって、試料の破損および表面や側縁の汚れを伴う
ことなく試料の交換および処理を行なうことができる。
また、本考案では、同じ1つの試料挿入取出室内に、未
処理試料のみを支持するキャリアと、処理ずみ試料のみ
を受けるキャリアの2種類のキャリアを収容することに
よって試料処理室のほかに単一の収容室を設けるのみで
よいため、装置の制御、操作、保守が簡単になり、また
、未処理試料および処理ずみ試料は必ず別々のキャリア
に収容されることになり、両者の混在による問題が生じ
ることがない。
よって、本考案によれば、未処理試料を挿入試料キャリ
アに入れて試料挿入取出室内へ入れ、別に空のキャリア
をも同室に挿入しておくことによって、処理された多数
の試料が空のキャリア内に自動的に収納されるので、運
転完了後それを取出すのみでよく能率がよい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本考案の試料処理装置の概略を示す縦断面図、
第2図は試料載置台の斜視図、第3図は試料キャリアお
よびコンベヤの詳細斜視図、第4図乃至第8図は試料処
理装置の作用を順次示す説明図である。 M・・・・・・試料、1・・・・・・試料処理室、3・
・・・・・試料載置台、4・・・・・・孔、5・・・・
・・スパッタリング用ターゲット、6・・・・・・真空
ポンプ系、10・・・・・・試料挿入取出室、11・・
・・・・開口、13・・・・・・弁体、14・・・・・
・真空ポンプ、20・・・・・・搬送シリンダ、22・
・・・・・試料支持部材、25゜26・・・・・・試料
移送用コンベヤ、27,28・・・・・・試料キャリア
、29.30・・・・・・蓋、37・・・・・・試料支
持板、38・・・・・・ガイド片、39・・・・・・昇
降台、42・・・・・・ベルト、47・・・・・・回転
軸(枢軸)、49・・・・・・伝動装置。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 1.試料処理室1と、この試料処理室内部に水平方向に
    設けられて縦軸線まわりに回転自在とされかつ周縁沿い
    に試料より小さい一連の孔4を有する試料載置台3と、
    試料処理室1の上部に隣接して設けた単一の試料挿入取
    出室10と、上記画室の間にあって画室の連通、遮断を
    行なう開閉自在の開口11と、試料処理室1の内部にお
    ける試料載置台3の下側の下降位置および試料挿入取出
    室10の内部の上方における上昇位置の間で試料載置台
    3の孔4の1つと前記開口11を経て直線的に上下方向
    に往復変位自在で、試料の下面の中央寄り部分に接して
    それを下方から支持する試料支持部材22を有する試料
    搬送装置20と、試料挿入取出室10の内部における試
    料支持部材22の軌跡の両側位置に上下に移動自在に設
    けられ、かつ複数枚の試料の端縁部を上下方向に間隔を
    おいて水平に支持する1対の挿入試料キャリア27およ
    び取出試料キャリア28と、試料挿入取出室10内の上
    昇位置にある試料支持部材22上へそれに対応する高さ
    にある挿入試料キャリア27内の試料を搬送する挿入コ
    ンベヤ25と、試料挿入取出室10内の上昇位置にある
    試料支持部材22上の処理ずみ試料を取出試料キャリア
    28内の対応する高さ位置に搬送する取出コンベヤ26
    とを備えた試料処理装置。 2、挿入および取出コンベヤ25.26がコンベヤベル
    トよりなり、挿入コンベヤベルト25の一端は挿入試料
    キャリア27の移動通路に固定位置で枢着され、この挿
    入コンベヤベルト25は、その他端部が上昇位置にある
    試料支持部材22の近傍位置にあって水平状態をとる試
    料搬入位置と他端部が試料支持部材22の軌跡からはず
    れる下降位置との間で前記一端を中心にして揺動変位自
    在とされ、また、取出コンベヤベルト26の一端は取出
    試料キャノア28の移動通路に固定位置で枢着され、こ
    の取出コンベヤベルト26は、その他端部が上昇位置に
    ある試料支持部材22の近傍位置にあって水平状態をと
    る試料搬出位置と他端部が試料支持部材22の軌跡から
    はずれる下降位置との間で前記一端を中心にして揺動変
    位自在とされている実用新案登録請求の範囲第1項記載
    の試料処理装置。
JP1978108312U 1978-08-07 1978-08-07 試料処理装置 Expired JPS58696Y2 (ja)

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JP1978108312U JPS58696Y2 (ja) 1978-08-07 1978-08-07 試料処理装置

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JPS5526047U JPS5526047U (ja) 1980-02-20
JPS58696Y2 true JPS58696Y2 (ja) 1983-01-07

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Families Citing this family (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5792838A (en) * 1980-12-02 1982-06-09 Anelva Corp Cassette to cassette substrate process device
JPS59177367A (ja) * 1983-03-25 1984-10-08 Matsushita Electric Ind Co Ltd 試料搬送機構を有する真空蒸着装置

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4839152A (ja) * 1971-09-22 1973-06-08
JPS4852683A (ja) * 1971-11-08 1973-07-24

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