JPS5858843B2 - 演算増幅回路 - Google Patents

演算増幅回路

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JPS5858843B2
JPS5858843B2 JP53108769A JP10876978A JPS5858843B2 JP S5858843 B2 JPS5858843 B2 JP S5858843B2 JP 53108769 A JP53108769 A JP 53108769A JP 10876978 A JP10876978 A JP 10876978A JP S5858843 B2 JPS5858843 B2 JP S5858843B2
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JP
Japan
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transistor
electrode
output
mos transistor
amplifier circuit
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JP53108769A
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研二 松尾
哲也 飯田
八十二 鈴木
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Toshiba Corp
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Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
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    • HELECTRICITY
    • H03ELECTRONIC CIRCUITRY
    • H03FAMPLIFIERS
    • H03F3/00Amplifiers with only discharge tubes or only semiconductor devices as amplifying elements
    • H03F3/34DC amplifiers in which all stages are DC-coupled
    • H03F3/343DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only
    • H03F3/347DC amplifiers in which all stages are DC-coupled with semiconductor devices only in integrated circuits

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  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Amplifiers (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は出力電流の増大化等を可能とした演算増幅回路
に関する。
従来の演算増幅回路(オペアンプ)としては、バイポー
ラ型トランジスタ形成したバイポーラ型オペアンプ、バ
イポーラとMOSの混合型のもの等があるが、全MOS
型のオペアンプは未だ市販されていない。
全MOS型のオペアンプとした場合には、次のような利
点が具備される。
(イ)バイポーラ型の場合、トランジスタのVBB(ベ
ース、エミッタ間電圧)及びhFE(電流増幅率)は温
度依存性が大で、その上電流の温度係数が正であるため
、熱暴走しやすいが。
MOSトランジスタは電流の温度係数が零になる領域が
あり、たとえその領域から外れたとしても、飽和領域で
動作する限り電流の温度係数が負であるため、熱暴走す
ることはない。
(ロ)バイポーラ型の場合、成る程度大きな入力バイア
ス電流が必要であるが、MOS)ランジスタの場合、絶
縁ゲート型で入力インピーダンスが非常に高いため、入
力バイアス電流はpA(ピコアンペア)オー9め非常に
小さい値で済む。
(ハ)バイポーラ型に比較して、MOSトランジスタは
集積回路化しやすく、小さなチップ面積でオペアンプを
構成することができる。
ところでMOSトランジスタにより構成されたオペアン
プは、差動増幅段とリニア増幅段とが直流的に安定に結
合されることが要求される。
またオペアンプとしては、大出力電流が要求されること
が多い。
この大出力電流化の要求に対しては。出力インピーダン
スを下げるようにすればよいが、MOSトランジスタは
高インピーダンス素子であるため、出力インピーダンス
を低くするのが容易でない。
そこで出力バッファとして使用するMOSトランジスタ
のチャネル幅を広くしたり、チャネル長を短くして出力
インピーダンスを低くする方法が考えられるが、これに
も限度がある。
またオペアンプは、他の回路と共に集積回路化しなけれ
ばならないので、この要求にも適合するものでなければ
ならない。
そこで本発明の目的とするところは、差動増幅段とリニ
ア増幅段間の閾値マツチングをはかり、また出力バッフ
ァをエミッタフォロワによるミラー回路構成とすること
により、前述の各要求にこたえ得る演算増幅回路を提供
することにある。
以下第1図、第2図を参照して本発明の一実施例を説明
する。
第1図の回路は、大きく分けて定電流源バイアス回路1
、差動増幅回路2、オフセット補償回路3、閾値マツチ
ング回路4、リニア増幅回路5からなる。
上記定電流源バイアス回路1では、Pチャネル型MOS
トランジスタTr1のソース端は電源電位(+VDD)
の供給端子6に接続され、トランジスタT r 1のド
レイン端は抵抗Rを介して他の電源電位(Vss)の供
給端子7に接続され、トランジスタTr1はゲートとド
レインを共通接続してここから一定電圧を得ている。
差動増幅回路2では、定電流源用Pチャネル型MOSト
ランジスタT r 2のソース端が電源端子6に接続さ
れ、トランジスタT r 2のドレイン端は差動入力段
素子用Pチャネル型MOSトランジスタTrs 、 T
r4のソース端に共通接続されている。
トランジスタTr3 、 Tr4のドレイン端はNチャ
ネル型負荷MOSトランジスタTr5 、 Tr6をそ
れぞれ介して電源端子7に接続されている。
トランジスタTr2のゲートはトランジスタTrlのド
レイン端に接続され、トランジスタT r 3のゲート
はオペアンプ入力電圧供給端子inlに接続され、トラ
ンジスタTr4のゲートはオペアンプ入力電圧供給端子
in2に接続され、トランジスタTr5 、 Tr6の
ゲートは共通接続されている。
オフセット調整回路3では、定電流源用Pチャネル型M
OSトランジスタTr7のソース端が電源端子6に接続
され、トランジスタTr7のドレイン端は一対のPチャ
ネル型MO8I−ランジスタTrg 、 Trgのソー
ス端に共通接続され、該トランジスタTrB 、 Tr
gのドレイン共通接続部つまり出力端OgはNチャネル
型負荷MO8I−ランジスタT r 16を介して電源
端子7に接続されている。
トランジスタT r 7のゲートはトランジスタT r
1のドレイン端に接続され、トランジスタTr8のゲ
ートは入力端子in2に接続され、トランジスタTrg
のゲートは入力端子in1に接続され、上記出力端Og
はトランジスタTr、5゜’][’ r6 s T r
tOのゲートに共通接続される。
閾値マツチング回路4では、電源端子6がPチャネル型
負荷MOSトランジスタTr1.Nチャネル型部動用M
OSトランジスタTr12を介して電源端子1に接続さ
れている。
トランジスタTr1□のドレイン端つまり出力端03は
該トランジスタTr11のゲートに接続され、トランジ
スタT r 1□のゲートは差動増幅回路2のトランジ
スタTr−,のドレイン端つまり出力端01に接続部τ
a)る。
リニア増幅回路5では、電源端子6がPチャネル型負荷
MOSトランジスタTr13.Nチャネル型部動用MO
SトランジスタTr14を介して電源端子7に接続され
ている。
トランジスタT r 13のゲートは閾値マツチング回
路4の出力端03に接続され、トランジスタT r 1
3のドレイン端はオペアンプ出力端子outに接続され
、トランジスタT r 14のゲートは差動増幅回路2
のトランジスタT r4のドレイン端つまり出力端02
に接続されている。
次に上記構成でなる第1図の回路動作を説明する。
差動増幅回路2では、定電流源トランジスタT r 2
がバイアス回路1からの直流バイアスで飽和動作し、入
力in2に例えば一定の直流電圧が。
入力in1には一定の直流電圧に交流分がのった信号が
、負荷トランジスタTr5.Tr6のゲートにはオフセ
ット補償回路3の出力Ogのバイアス電圧がそれぞれ与
えられて動作する。
ここでトランジスタT r 2が飽和領域で動作する限
り、該トランジスタTr2のドレイン電流は一定に保た
れている。
またオフセット補償回路3の定電流源トランジスタTr
7が飽和領域で動作する範囲では、そのドレイン電流は
一定であるから、入力in1゜in2の電圧に係わらず
出力Ogの電圧は略−走化され、従って差動増幅段の負
荷トランジスタTr5 jTr6のケートバイアスは変
化しない。
ただし、入力in1 、in2の直流電圧レベルが共に
高くなった場合には、差動増幅段の定電流トランジスタ
T r 2は非飽和領域に入り、該トランジスタTr2
のドレイン電流が減少し、差動増幅段の出力01,02
の直流電圧レベルが低くなってしまう。
このようなオフセット電圧にょる差動増幅段の出力直流
電圧レベルの変動を防止するため、オフセット補償回路
3には次のような機能がそなわったものとする。
即ち差動増幅段の定電流源トランジスタTr2のドレイ
ン電流が減少した場合には、それに見合った分だけ負荷
トランジスタ”5 s Tr6のゲート電圧を低くすれ
ば、差動増幅段の出力直流電圧レベルを一定化すること
ができ、そのためは上記各トランジスタ間のW/L比(
gm比つまりコンダクタンス比と考えても同じ)を。
2m3 :gm4’ gm5=gm61gmB=gmg
・・・・・・(1)2m2:2m3:gm5=gm
7:grn8:2m1o/2°−(2)のように設定す
る。
ただし上記WはMO8I−ランジスタのチャネル巾、L
は同じくチャネル長。
grn2はトランジスタT r 2のgms同様に2m
3〜g1111oトランジスタT r 3〜Tr1oの
gmとする。
上記(1) 、 (2)式の関係つまり定電流トランジ
スタTr2 、 Tr7間のgm比と、入力段トランジ
スタTr3 、 TrB間のgm比と、一対の負荷トラ
ンジスタTr5 、 Tr6のgmの和に対する負荷ト
ランジスタT rlOのgm比とが同じ関係に設定する
ことにより、オフセット補償回路3の定電流トランジス
タT r 7のドレイン電流も、上記トランジスタTr
2のドレイン電流と同じように減少するから、その部分
だけ負荷トランジスタTr1oのドレイン電流も減少す
る。
従って負荷トランジスタTr5゜Tr6のゲート電位も
、上記電流減少に応じて減少し、これで差動増幅段の出
力01,02の直流レベルが一定化されるものである。
一方、閾値マツチング回路4は差動増幅段の出力01,
02の直流レベルに係わらず、リニア増幅回路5の入出
力特性と差動増幅段の出力電圧との間のずれを防止し、
常にオペアンプの出力outの直流レベルを一定化しよ
うとする回路である。
即ち上記のように入力in1.in2の直流電圧レベル
が共に上った場合に、たとえ差動増幅段の出力01.0
2の直流電圧レベルが下ったとしても、これに対応して
閾値マツチング回路4の出力03の直流バイアスが上る
ので、オペアンプ出力outの直流電圧が一定化される
ことになる。
ただしこの場合も、トランジスタTr11〜T r 1
4のgm 比を調整しなけれはならないが、これら各ト
ランジスタ間のgm比(W/L比)を。
gm、 □ : 2m12: 2m13 二 gH1
x+ °°°°°°(3)のように設定す
る。
ただしgmllはトランジスタT r 11のgm、同
様にgm1□〜gm14はトランジスタT r 12〜
T r 14のgmである。
上記(3)式の関係、つまり負荷トランジスタTr11
、 Trl3の間のgm比と駆動用トランジスタ”1
2 、 Trl、間のgm比とを同じにすることにより
、オペアンプ出力outの直流レベルを一定にすること
ができる。
ただしこの場合、出力01,02が変動すると言っても
、これら出力電圧が等しいと言う条件が必要であるが、
この01,02は差動増幅段の出力であるため、前記の
ように差動増幅段が対称構成である限り、上記の条件は
満される。
このようにして入力inl、in2の直流電圧レベルに
係わらず。
オペアンプ出力間tの直流レベルを一定化できるもので
ある。
第2図はオペアンプ出力電流を増大化するための第1図
の出力バッファ回路である。
第2図の回路は、大きく分けて出力バツファ21.温度
補償回路22からなる。
出力バッファ21は、電源端子6,7間にバイポーラ型
のNPN トランジスタQ21.Nチャネル型MOSト
ランジスタT r 21を直列接続している。
トランジスタQ21のベースは。リニア増幅回路5の出
力端outに接続されている。
また温度補償回路22は、電源端子6,7間にNPNト
ランジスタQ2□、Nチャネル型MOSトランジスタT
r 22を直列接続している。
トランジスタQ22のベースはQ21のベースと共通接
続され。
トランジスタTr22のドレイン端とトランジスタTr
21 s Tr2□のゲートは相接続されている。
トランジスタQ2□z Q2□は同一電気特性を有し、
またトランジスタTr21 s Tr22も同じである
抵抗R1は寄生的ないし適宜設けられるもので、無視し
て考えてよい。
第1図の回路では、リニア増幅回路5に充分な電圧利得
が必要であるため1周波数特性があまりのびず、出力電
流を大きくすることができない。
即ちGB積一定により、電圧利得Gを大とすればバンド
幅Bが狭くなり、このバンド幅Bが狭いということは、
瞬時に大電流を流せないことに対応するから、出力電流
が小となる。
そこで第2図では、出力バッファ21をエミッタフォロ
ワ構成として出力電流を大幅に増加させるようにし、エ
ミッタフォロワの負荷としてMOSトランジスタTr2
1を用いている。
ここで問題になるのが、エミッタフォロワとして用いる
バイポーラトランジスタQ2□の温度特性である。
即ちバイポーラトランジスタの電流の温度係数は正であ
るのに対し。
MO8t−ランジスタのそれは逆の特性である。
従って第2図の回路では、エミッタフォロワの温度特性
(例えば温度ドリフト等)の改善を行なうために、ミラ
ー回路を構成している。
つまり出力段のエミッタフォロワと略同−の構成で温度
補償回路22を形成し、その出力をエミッタフォロワの
負荷MO8)ランジスタのゲートバイアスとするのであ
る。
このようにすれば、ベース電圧outに対して出力バッ
ファ21及び温度補償回路22は同様な変化をし、負荷
トランジスタT r 21のドレイン、ソース間電圧が
一定化されるようにゲートバイアスが印加されるので、
バッファ回路21の出力直流電圧Oが一定化されるもの
である。
第3図は第2図の回路の変形例である。
上記のように第2図の回路は、outの直流電圧が変化
しても、出力Oの直流電圧は変化しない。
しかしoutの直流電圧変動でMOSトランジスタTr
21゜Tr22を通る電流が変化する。
つまり出力インピーダンスが変化する問題がある。
これに対し第3図の回路では、温度補償回路22のトラ
ンジスタQ2□のベースを電源端子6に接続しているた
め。
outの直流電圧に係わらずトランジスタQ2□のコレ
クタ、エミッタ間電流は一定であり、トランジスタTr
2□の電流が一定化される。
従って第3図の回路は、第2図の回路における出力イン
ピーダンスの問題はない。
しかし完全なミラー回路構成ではないので、第2図の回
路はどの温度補償効果は期待できないものである。
上記の如く構成されたオペアンプにあっては、次の如き
利点が具備される。
即ち出力バッファ回路に出力インピーダンスが小さいバ
イポーラトランジスタを用いるから、オペアンプの出力
電流の増大化が期待できるし、また上記バイポーラトラ
ンジスタを用いたことによる温度補償も確実に行なわれ
ている。
また上記バッファに電流利得の良好なバイポーラトラン
ジスタを用いたことにより、周波数特性が改善され、こ
のためスルーレート(単位時間当りのオペアンプ出力電
圧変化)も増大する。
またオペアンプでは、オペアンプ入力に対しオペアンプ
出力が1800以上位相が遅れると、人、出力間で発振
現像が生じるから、これを防止するため位相補償用コン
デンサを用いるが、この位相補償を行なう場合、ミラー
効果によりリニア増幅回路5の入出力端子間で行なうの
が最も望ましい。
つまりリニア増幅回路5の入出力端子間に位相補償用コ
ンデンサCoを設けると、リニア増幅回路5の入力部と
接地間に上記Coより大きなコンデンサを付加したと等
価になるからである(ミラー効果)。
また上記位相補償は、リニア増幅回路5の周波数特性が
のびている方が、より良好に行なえる。
ところで第3図または第4図のバッファ回路がない場合
は、リニア増幅回路5の電圧利得が充分必要であること
から、周波数特性がのびず、従って位相補償効果が効き
にくくなるため。
大容量の位相補償コンデンサが必要となるが、第3図ま
たは第4図の回路を用いた場合は1周波数特性がのびる
ため1位相補償用コンデンサの容量値が充分小さくて済
み、該コンデンサの集積回路内への内蔵が可能となるも
のである。
第4図ないし第10図は本発明の他の実施例であるが、
前実施例と回路的に対応するから、同一符号を付して説
明を省略し、異なる部分のみの説明を行なう。
第4図は使用素子のチャネル型を反対化した点が第1図
の場合と異なるだけで、動作原理は全く同じである。
第5図は第1図のオフセット補償回路3を省略した場合
の例である。
従ってこの回路は入力ini、in2によるオフセット
補償は行なえない。
ただしこの場合負荷トランジスタT r 5のゲートと
ドレインを共通化し、その電位を負荷トランジスタTr
6のゲートバイアスとしているから、そのミラー回路の
効果により、第1図の場合よりも電圧利得が例えば10
dB程度増加する。
第6図は第5図の使用素子のチャネル型を反対化したも
のである。
第7図は第1図の閾値マツチング回路4を省略した例で
ある。
ただし負荷トランジスタT r 13のゲートバイアス
はバイアス回路1から与えるものとする。
この回路は第1図及び第5図の回路と比較して、差動増
幅段とリニア増幅段の回路閾値電圧をマツチングさせに
くいため、入力オフセット電圧が大きくなる可能性があ
る。
第8図は第7図の使用素子のチャネル型を反対化した場
合の例である。
第9図、第10図は第2図、第3図の使用素子の極性を
反対化した場合の例であり、対応する個所には同一符号
を付して説明を省略する。
以上説明した如く本発明によれば、オペアンプ出力段の
直流レベルの安定化、出力電流増大化、温度補償が可能
であり、また周波数特性が改善されるのでスルーレート
も良好になり、また位相補償用コンデンサも小型化でき
るので集積回路化に適した演算増幅回路が提供できるも
のである。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図は本発明の一実施例の回路図、第3図は
第2図の変形例の回路図、第4図ないし第10図は本発
明の他の実施例の回路図である。 2・・・・・・差動増幅回路、4・・・・・・閾値マツ
チング回路、5・・・・・・リニア増幅回路、21・・
・・・・出力バッファ、22・・・・・・温度補償回路

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 一対の差動入力段MOSトランジスタの一端側共通
    接続部と電源の一方の電極との間に電流源MOSトラン
    ジスタを接続し、前記差動入力段MOSトランジスタの
    他端側と電源の他方の電極との間に負荷MOSトランジ
    スタを接続してなる差動増幅回路と、電源の一方の電極
    と他方の電極との間に負荷MOSトランジスタ及び駆動
    MOSトランジスタを直列接続してなり、該駆動MOS
    トランジスタのゲート電極に前記差動増幅回路の出力供
    給を受けるリニア増幅回路と、電源の一方の電極と他方
    の電極との間に閾値マツチング用負荷MOSトランジス
    タ及び駆動MOSトランジスタを直列接続してなり、該
    駆動MO8)ランジスタのゲート電極に前記差動増幅回
    路の出力供給を受け、前記閾値マツチング用負、荷MO
    Sトランジスタ及び駆動MOSトランジスタ間の出力を
    前記リニア増幅回路の負荷MOSトランジスタ及び閾値
    マツチング用負荷MOSトランジスタのゲート入力とし
    た閾値マツチング回路と、電源の一方の電極と他方の電
    極との間にバイポーラトランジスタ及びMOSトランジ
    スタを直列接続してなり。 前記バイポーラトランジスタのベース電極に前記リニア
    増幅回路の出力供給を受ける出力バッファと、電源の一
    方の電極と他方の電極との間に温度補償用バイポーラト
    ランジスタ及びMOSトランジスタを直列接続してなり
    、前記温度補償用バイポーラトランジスタのゲート電極
    に前記リニア増幅回路の出力供給を受け、前記直列接続
    された温度補償用バイポーラトランジスタ及びMO8I
    −ランジスタ間の出力を該MOSトランジスタ及び前記
    出力バッファのMOSトランジスタのゲ゛−ト入力とし
    た温度補償回路とを具備したことを特徴とする演算増幅
    回路。 2 一対の差動入力段MOSトランジスタの一端側共通
    接続部と電源の一方の電極との間に電流源MOSトラン
    ジスタを接続し、前記差動入力段MOSトランジスタの
    他端側と電源の他方の電極との間に負荷MOSトランジ
    スタを接続してなる差動増幅回路と、電源の一方の電極
    と他方の電極との間に負荷MOSトランジスタ及び駆動
    MOSトランジスタを直列接続してなり、該駆動MOS
    トランジスタのゲート電極に前記差動増幅回路の出力供
    給を受けるリニア増幅回路と、電源の一方の電極と他方
    の電極との間に閾値マツチング用負荷MOSトランジス
    タ及び駆動MOSトランジスタを直列接続してなり、該
    駆動MOSトランジスタのゲート電極に前記差動増幅回
    路の出力供給を受け、前記閾値マツチング用負荷MOS
    トランジスタ及び駆動MOSトランジスタ間の出力を前
    記リニア増幅回路の負荷MOSトランジスタ及び閾値マ
    ツチング用負荷MOSトランジスタのゲート入力とした
    閾値マツチング回路と、電源の一方の電極と他方の電極
    との間にバイポーラトランジスタ及びMOSトランジス
    タを直列接続してなり。 前記バイポーラトランジスタのベース電極に前記リニア
    増幅回路の出力供給を受ける出力バッファと、電源の一
    方の電極と他方の電極との間に温度補償用バイポーラト
    ランジスタ及びMOSトランジスタを直列接続してなり
    、前記温度補償用バイポーラトランジスタのゲート電極
    を電源の一方の電極に接続し、前記温度補償用バイポー
    ラトランジスタ及びMOSトランジスタ間の出力を該M
    O8)ランジスタ及び前記出力バッファのMOS )ラ
    ンジスタのゲート入力とした温度補償回路とを具備した
    ことを特徴とする演算増幅回路。
JP53108769A 1978-09-05 1978-09-05 演算増幅回路 Expired JPS5858843B2 (ja)

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JP2858755B2 (ja) * 1988-09-07 1999-02-17 三洋電機株式会社 増幅回路
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