JPS5856890B2 - トランジスタカイロ - Google Patents
トランジスタカイロInfo
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- JPS5856890B2 JPS5856890B2 JP49104176A JP10417674A JPS5856890B2 JP S5856890 B2 JPS5856890 B2 JP S5856890B2 JP 49104176 A JP49104176 A JP 49104176A JP 10417674 A JP10417674 A JP 10417674A JP S5856890 B2 JPS5856890 B2 JP S5856890B2
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- transistors
- circuit
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- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356086—Bistable circuits with additional means for controlling the main nodes
- H03K3/356095—Bistable circuits with additional means for controlling the main nodes with synchronous operation
-
- G—PHYSICS
- G11—INFORMATION STORAGE
- G11C—STATIC STORES
- G11C11/00—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor
- G11C11/21—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements
- G11C11/34—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices
- G11C11/40—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors
- G11C11/401—Digital stores characterised by the use of particular electric or magnetic storage elements; Storage elements therefor using electric elements using semiconductor devices using transistors forming cells needing refreshing or charge regeneration, i.e. dynamic cells
- G11C11/4063—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing
- G11C11/407—Auxiliary circuits, e.g. for addressing, decoding, driving, writing, sensing or timing for memory cells of the field-effect type
- G11C11/408—Address circuits
- G11C11/4082—Address Buffers; level conversion circuits
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- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K3/00—Circuits for generating electric pulses; Monostable, bistable or multistable circuits
- H03K3/02—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses
- H03K3/353—Generators characterised by the type of circuit or by the means used for producing pulses by the use, as active elements, of field-effect transistors with internal or external positive feedback
- H03K3/356—Bistable circuits
- H03K3/356017—Bistable circuits using additional transistors in the input circuit
- H03K3/356026—Bistable circuits using additional transistors in the input circuit with synchronous operation
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Logic Circuits (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はトランジスタ回路に関するもので、とくに絶縁
ゲート型電界効果トランジスタ(以下IGFETと称す
)を用いた信号増巾回路に関するものである。
ゲート型電界効果トランジスタ(以下IGFETと称す
)を用いた信号増巾回路に関するものである。
IGFETの1種であるMOS FETを用いた回路
は、メモリ回路から演算回路まで各種のものが発表され
用いられている。
は、メモリ回路から演算回路まで各種のものが発表され
用いられている。
最近のMOS FETを用いた回路の特長の1つにT
TL()ランジスタ・トランジスタ・ロジック)コンパ
ティプルということがとり上げられており、MOS F
ETを用いた回路の入力信号出力信号共にTTLレベル
そのままを用いることができるようになっている。
TL()ランジスタ・トランジスタ・ロジック)コンパ
ティプルということがとり上げられており、MOS F
ETを用いた回路の入力信号出力信号共にTTLレベル
そのままを用いることができるようになっている。
MOS FETで構成される回路の内部は一般にMO
S信号レベルで動作しており、電源電圧に+12■を使
用すれば、内部では5■〜IOVの信号が動作している
。
S信号レベルで動作しており、電源電圧に+12■を使
用すれば、内部では5■〜IOVの信号が動作している
。
一方入力信号として受けとる電圧は2.2■〜3.5■
程度の小さなものであり、MO8回路の入口に当る所で
外部より来るTTLレベルの入力信号をMOSレベルの
信号に増巾する必要がある。
程度の小さなものであり、MO8回路の入口に当る所で
外部より来るTTLレベルの入力信号をMOSレベルの
信号に増巾する必要がある。
さらにもう一つの問題として、内部では入力信号の真、
補の両方の信号を必要とする場合がある。
補の両方の信号を必要とする場合がある。
入力信号は端子制限の関係から真あるいは補の一方だけ
を与えられる場合が多く、MO8回路の入口では入力信
号をTTLレベルからMOSレベルに変換すると共に真
、補の両信号を作り出す必要がある。
を与えられる場合が多く、MO8回路の入口では入力信
号をTTLレベルからMOSレベルに変換すると共に真
、補の両信号を作り出す必要がある。
本発明の目的は、TTLレベルのような比較的小さな信
号を、MOSレベルに増巾すると共に、真補の両信号を
得る効率良い方法を提供することである。
号を、MOSレベルに増巾すると共に、真補の両信号を
得る効率良い方法を提供することである。
以下NチャンネルMO8I−ランジスタの場合を例にと
って具体的な回路について訝明を行なう。
って具体的な回路について訝明を行なう。
尚、使用するMOSトランジスタは、ソース、ドレイン
及び制御電極であるゲート電極を有するものであって、
ソース及びドレイン電極はそれぞれドレイン及びソース
電極として用いてもよいことは勿論である。
及び制御電極であるゲート電極を有するものであって、
ソース及びドレイン電極はそれぞれドレイン及びソース
電極として用いてもよいことは勿論である。
第1図は従来より知られている入力バッファ回路の1例
である。
である。
3段のインバータ回路よりなりインバータ回路の増巾機
能を利用してTTLレベルあるいはそれに近い小信号を
MOSレベルに増巾すると同時に、2段目からは真信号
を、3段目からは補信号を取り出している。
能を利用してTTLレベルあるいはそれに近い小信号を
MOSレベルに増巾すると同時に、2段目からは真信号
を、3段目からは補信号を取り出している。
この回路の特徴は、単純で安定な動作を行なう点にある
。
。
この回路の悪い点は、消費電力の大きな点である特にa
i、aiに大きな容量負荷がある場合、これを高速で動
かすためには、トランジスタQ4゜Q5.Q7 、Q8
の大きさが大きくなり、消費電力も比例して大きくなっ
てゆく。
i、aiに大きな容量負荷がある場合、これを高速で動
かすためには、トランジスタQ4゜Q5.Q7 、Q8
の大きさが大きくなり、消費電力も比例して大きくなっ
てゆく。
このため、負荷容量の比較的小さな所や、低速でよい所
には良く用いられるが、大負荷、高速を要求される場合
は不利である。
には良く用いられるが、大負荷、高速を要求される場合
は不利である。
第2図の回路は、第1図の回路の消費電力の点を改良し
たものである。
たものである。
3段のインバータ回路の負荷トランジスタのゲート端子
にタイミング信号f1を加え、flが高レベルの期間だ
け電力を消費するようにしたものである。
にタイミング信号f1を加え、flが高レベルの期間だ
け電力を消費するようにしたものである。
第3図は第1図の回路の動作波形図で、flを高レベル
にし、ai。
にし、ai。
キのレベルを決定した後は、flを低レベルに下げても
、ai、aiの負荷が容量性のものだけであれば、ダイ
ナミックにai、aiのレベルを保持する。
、ai、aiの負荷が容量性のものだけであれば、ダイ
ナミックにai、aiのレベルを保持する。
すなわち、flはai、aiがレベルを決定するに必要
な時間だけ高レベルにして電力を消費するだけである。
な時間だけ高レベルにして電力を消費するだけである。
第2図の回路におけるR信号は、リセット信号とも呼ば
れ、flが低レベルになった後、ai 、ai信号を共
に低レベルにする働きをする。
れ、flが低レベルになった後、ai 、ai信号を共
に低レベルにする働きをする。
メモリ回路のアドレス信号のように、ai、aiがデコ
ーダ回路の入力として用いられる場合、デコーダ回路が
ダイナミック型のプリチャージを必要とするものであれ
ば、ai、aiをスタート以前に低レベルにリセットし
ておくことが必要である。
ーダ回路の入力として用いられる場合、デコーダ回路が
ダイナミック型のプリチャージを必要とするものであれ
ば、ai、aiをスタート以前に低レベルにリセットし
ておくことが必要である。
したがって、第2図のような回路は最近のダイナミック
型回路ではしlit、ば用いられる。
型回路ではしlit、ば用いられる。
第2図の出力airaiを受けて動作するMO8回路と
しては、1例として第4図に示すデコーダ回路があり、
第5図はその動作波形図である。
しては、1例として第4図に示すデコーダ回路があり、
第5図はその動作波形図である。
第2図の回路は消費電力の点ではかなり優れているが、
入力信号Aiのレベルが小さくなったときに問題である
。
入力信号Aiのレベルが小さくなったときに問題である
。
Ai信号が高レベルのとき、1段目のインバータ回路の
出力は低レベルとならなければならないがそのためには
トランジスタQ1.Q2で構成するインバータにおいて
Q2のON時のインピーダンスがQlのON時のインピ
ーダンスに十分勝つ必要がある。
出力は低レベルとならなければならないがそのためには
トランジスタQ1.Q2で構成するインバータにおいて
Q2のON時のインピーダンスがQlのON時のインピ
ーダンスに十分勝つ必要がある。
しかし、MOSトランジスタのインピーダンスはゲート
端子に加えられる電圧に強く依存しており、Ai入力に
加えられる高レベルが2.5v〜2,2■と小さくなる
に従い、Q2のインピーダンスはQlのインピーダンス
に比べ高くなってしまう。
端子に加えられる電圧に強く依存しており、Ai入力に
加えられる高レベルが2.5v〜2,2■と小さくなる
に従い、Q2のインピーダンスはQlのインピーダンス
に比べ高くなってしまう。
このため、Aiへ加えられる高レベルが小さくても1段
目のインバータ回路の出力が低レベルになるようトラン
ジスタQ2の大きさをQlに比べて十分大きくとる・必
要がある。
目のインバータ回路の出力が低レベルになるようトラン
ジスタQ2の大きさをQlに比べて十分大きくとる・必
要がある。
この大きさの比は100以上になる場合もある。
このため、速晩を考えてQlの大きさを大きくすればQ
2の大きさは非常に大きくなり、製造面からは不利にな
ってしまう。
2の大きさは非常に大きくなり、製造面からは不利にな
ってしまう。
さらに別の問題としてflが低レベルから高しベルに変
化すると、ai、ai出力は一方が高レベルになり、他
方は低レベルに留まるのであるが、低レベルに留まる側
の出力が少しの間、高レベルに持上りかけ、いわゆるヒ
ゲ′が出るのである。
化すると、ai、ai出力は一方が高レベルになり、他
方は低レベルに留まるのであるが、低レベルに留まる側
の出力が少しの間、高レベルに持上りかけ、いわゆるヒ
ゲ′が出るのである。
このヒゲは比較的小さなものであるが、次段の回路の感
度によっては問題になる場合がある。
度によっては問題になる場合がある。
以上のような点から、第2図の回路も入力信号Aiの高
レベルが小さくなってくると必ずしも良い回路とは言え
なくなる。
レベルが小さくなってくると必ずしも良い回路とは言え
なくなる。
第6図の回路は、本発明の参考例としての回路を表わす
図である。
図である。
トランジスタQl 1 、Ql 2゜Ql 3 、 Q
l 4は左右対称のフリップ・フロップ回路を構成し、
+1が低レベルであれば左右の出力、この場合、ai、
aiは共に低レベルであるが、flが高レベルになると
フリップ・フロップは活性化され、左右どちらかにセッ
トされようとする。
l 4は左右対称のフリップ・フロップ回路を構成し、
+1が低レベルであれば左右の出力、この場合、ai、
aiは共に低レベルであるが、flが高レベルになると
フリップ・フロップは活性化され、左右どちらかにセッ
トされようとする。
トランジスタQ15 、Ql 6はフリップ・フロップ
を左右どちらヘセットするかを決定するトリガーのトラ
ンジスタである。
を左右どちらヘセットするかを決定するトリガーのトラ
ンジスタである。
Ql5のゲート入力にはAi信号を加え、Ql6のゲー
ト入力にはAi信号を加えており、Ql5.Ql6のど
ちらか電力がON他方がOFFとなってフリップ・フロ
ップに差動的に働きかける。
ト入力にはAi信号を加えており、Ql5.Ql6のど
ちらか電力がON他方がOFFとなってフリップ・フロ
ップに差動的に働きかける。
フリップ・フロップそのものが左右バランスになってい
れば、このQl5.Ql6による働きかけはトリが−の
役目をはたすだけでよく、働きかけが差動的なものであ
れば、その強さそのものはかなり小さなものでも効果的
である。
れば、このQl5.Ql6による働きかけはトリが−の
役目をはたすだけでよく、働きかけが差動的なものであ
れば、その強さそのものはかなり小さなものでも効果的
である。
したがって、例えばトランジスタQ16は入力信号Ai
の高レベルが小さく、Ql2とQl6のトランジスタで
構成するインバータ回路において、ai点を低レベルに
おさえる程Q16を大きくする必要はなく、Ql6はa
iの立上りがaiの立上りより少し遅れる程度におさえ
の機能をはたせばよい。
の高レベルが小さく、Ql2とQl6のトランジスタで
構成するインバータ回路において、ai点を低レベルに
おさえる程Q16を大きくする必要はなく、Ql6はa
iの立上りがaiの立上りより少し遅れる程度におさえ
の機能をはたせばよい。
第6図において、トランジスタQ17.Q16はK]信
号を作るための反転回路であり、P1信号にflと逆相
のタイミングを入れておけば、f1立上り時にはPlが
低レベルとなり、Ai信号の高レベルが比較的小さくて
もトランジスタQ15の入力となるAI信号は高速にて
作り出せる。
号を作るための反転回路であり、P1信号にflと逆相
のタイミングを入れておけば、f1立上り時にはPlが
低レベルとなり、Ai信号の高レベルが比較的小さくて
もトランジスタQ15の入力となるAI信号は高速にて
作り出せる。
第6図において、R信号はai、ai信号を低レベルに
リセットする役目をしており、flの低レベル時にai
、aiを低レベルにリセットしておくことにより、次の
f1立上り時におけるフリップ・フロップのセットを左
右対称な状態からスタートさせ、Aiによるトリガーを
掛り易くするのである。
リセットする役目をしており、flの低レベル時にai
、aiを低レベルにリセットしておくことにより、次の
f1立上り時におけるフリップ・フロップのセットを左
右対称な状態からスタートさせ、Aiによるトリガーを
掛り易くするのである。
第7図は第6図の回路動作を説明する図である。
第6図の回路は、外部よりの入力信号Aiに対しては小
さな信号でも動作するという特長を有しており、左右バ
ランス型フリップ・フロップの導入により動作も安定で
あるが、flが高レベルの期間中は電力を消費するとい
う欠点を有している。
さな信号でも動作するという特長を有しており、左右バ
ランス型フリップ・フロップの導入により動作も安定で
あるが、flが高レベルの期間中は電力を消費するとい
う欠点を有している。
第8図は本発明の具体的実施例の1つである。
第6図の回路の欠点であったflの高レベル期間中の直
流的な電力消費をなくしている。
流的な電力消費をなくしている。
第9図は第8図の回路の動作波形の1例を示したもので
ある。
ある。
初め、Plが高レベル、flが低レベルの期間中bl、
b2のポイントは共に高レベルにプリセットされ、ai
、aiは共に低レベルにプリセットされている。
b2のポイントは共に高レベルにプリセットされ、ai
、aiは共に低レベルにプリセットされている。
この状態でflが低レベルから高レベルへ立上り、Pl
が低レベルへ下る。
が低レベルへ下る。
このとき、外部よりの入力信号Aiは低レベルであった
とすると、トランジスタQ26はオフであり、ai点の
持上りをおさえる要因はない。
とすると、トランジスタQ26はオフであり、ai点の
持上りをおさえる要因はない。
一方、トランジスタQ28もオフであり、点b3は高レ
ベルのままであり、トランジスタQ25はオンしている
。
ベルのままであり、トランジスタQ25はオンしている
。
したがってai点の持上りはQ25によって少しさまた
げられている。
げられている。
flの立上り時において、トランジスタQ21゜Q22
.Q23.Ql4はフリップ・フロップを構成しており
、トランジスタQ21 、 Q22は共にスタート時オ
ンしているためai、aiは共に高レベルに向って上り
はじめる。
.Q23.Ql4はフリップ・フロップを構成しており
、トランジスタQ21 、 Q22は共にスタート時オ
ンしているためai、aiは共に高レベルに向って上り
はじめる。
Q21とQ22、Q23とQl4の大きさを同じにし左
右対称にしておけば、初めai、aiは同じような速さ
で高レベルになろうとする。
右対称にしておけば、初めai、aiは同じような速さ
で高レベルになろうとする。
しかし、Aiが低レベルであればQ25がオンしている
ため、aiの立上りはaiに比べて少し遅くなる。
ため、aiの立上りはaiに比べて少し遅くなる。
ai点のレベルが高くなり、トランジスタQ24をオン
させるレベルまで上ると、Ql4がオンし、Q25と共
にai点のレベルの持上りをさらにおさえる。
させるレベルまで上ると、Ql4がオンし、Q25と共
にai点のレベルの持上りをさらにおさえる。
このとき、aiはトランジスタQ34もオンさせ、b2
点のレベルを下げるため、トランジスタQ22のオンの
程度もQ21のオンの程度より悪くなり、flの働きか
けによるai、aiの持上りはますます差が大きくなる
。
点のレベルを下げるため、トランジスタQ22のオンの
程度もQ21のオンの程度より悪くなり、flの働きか
けによるai、aiの持上りはますます差が大きくなる
。
一方、ai点のレベルが上るとコンデンサーc1を通し
てbl点のレベルを押上げるためトランジスタQ21の
オンはさらに強くなり、こうしてQ21 、Q22.Q
23.Q24で構成するフリップ・フロップは完全にa
iが高レベル、aiが低レベルとなって落着く。
てbl点のレベルを押上げるためトランジスタQ21の
オンはさらに強くなり、こうしてQ21 、Q22.Q
23.Q24で構成するフリップ・フロップは完全にa
iが高レベル、aiが低レベルとなって落着く。
ai点のレベルの持上りと共にQ、34を通してb2点
゛のレベルを下げ、ai点が高レベルに上り切った頃に
はb2点は完全に低レベルとなり、Q22はオフになる
。
゛のレベルを下げ、ai点が高レベルに上り切った頃に
はb2点は完全に低レベルとなり、Q22はオフになる
。
このため、aiが高レベル、aiが低レベルと落着いた
時点では第8図の回路の中には電流の流れるルートがな
く、ai、aiの負荷が容量性のものだけであると仮定
すれば直流的な電力消費はゼロである。
時点では第8図の回路の中には電流の流れるルートがな
く、ai、aiの負荷が容量性のものだけであると仮定
すれば直流的な電力消費はゼロである。
すなわち、第8図の回路はf1立上りの過渡時には電力
を消費するが定常的には電力消費ゼロである。
を消費するが定常的には電力消費ゼロである。
以上のことは、Aiが高レベルの場合についても同様で
ある。
ある。
この場合はトランジスタQ28゜Q29がオンしてb3
点を低レベルに下げるためQ25はオフし、トランジス
タQ26.Q30がオンしてai点をおさえ、aiが高
レベルに持上る。
点を低レベルに下げるためQ25はオフし、トランジス
タQ26.Q30がオンしてai点をおさえ、aiが高
レベルに持上る。
Aiが高レベルの場、合、b3が高レベルから低レベル
に下がるまでの期間、トランジスタQ25とQ26 、
Q30は共にオンであるが、トランジスタQ21 、
Q22 、Q23.Q24で構成するフリップ・フロッ
プは左右両方がオンしても対称性はくずれずQ25がや
がてオフするので正しい方向ヘセットされる。
に下がるまでの期間、トランジスタQ25とQ26 、
Q30は共にオンであるが、トランジスタQ21 、
Q22 、Q23.Q24で構成するフリップ・フロッ
プは左右両方がオンしても対称性はくずれずQ25がや
がてオフするので正しい方向ヘセットされる。
゛第8図の回路において、トランジスタQ2
9は、flが低レベルの間、Q27.Q28で構成する
反転回路が電力を消費しないようにしたものであり消費
電力の点を考えなければこれは無くてもよいまた、Al
信号が常時低レベルにあり、flの立上りの直前で高し
グルあるいは低レベルになる回路方式においてもQ29
は、はぶくことが可能である。
9は、flが低レベルの間、Q27.Q28で構成する
反転回路が電力を消費しないようにしたものであり消費
電力の点を考えなければこれは無くてもよいまた、Al
信号が常時低レベルにあり、flの立上りの直前で高し
グルあるいは低レベルになる回路方式においてもQ29
は、はぶくことが可能である。
トランジスタQ30は、flが高レベルに上り、ai、
aiのレベルが決定した後にAiのレベルが変化しても
この影響をaiに及ぼさないためのゲート回路である。
aiのレベルが決定した後にAiのレベルが変化しても
この影響をaiに及ぼさないためのゲート回路である。
flが高レベルになり、a I taiのレベルが決定
した時点でP2のレベルを低レベルに下げるとQ30は
オフし、Al信号の高、低に関係なくQ26.Q30で
構成する電流ルートは閉じフリップ・フロップへの影響
が但くなる。
した時点でP2のレベルを低レベルに下げるとQ30は
オフし、Al信号の高、低に関係なくQ26.Q30で
構成する電流ルートは閉じフリップ・フロップへの影響
が但くなる。
したがって、Aiのレベルが、flの高レベルの期間中
には変化しない回路方式、あるいはAiのレベルが変化
したらaiのレベルも変化して良い回路方式においては
トランジスタQ30並びにP2は不要である。
には変化しない回路方式、あるいはAiのレベルが変化
したらaiのレベルも変化して良い回路方式においては
トランジスタQ30並びにP2は不要である。
第8図のコンデンサcl、c2は先に述べたようにブー
トストラップコンデンサとして機能する。
トストラップコンデンサとして機能する。
これらのコンデンサc1.c2が存在しない場合、bl
、b2点のレベルは信号P1のレベルよりトランジスタ
Q31,0.32のスレッショールド電圧(v+h1)
分だけ下がり、さらにai+aiのレベルはbl、b2
点のレベルよりトランジスタQ21.Q22のスレッシ
ョールド電圧(■+h2)外下がる。
、b2点のレベルは信号P1のレベルよりトランジスタ
Q31,0.32のスレッショールド電圧(v+h1)
分だけ下がり、さらにai+aiのレベルはbl、b2
点のレベルよりトランジスタQ21.Q22のスレッシ
ョールド電圧(■+h2)外下がる。
一刀、信号P1の高レベルの最高は電源電圧VDDであ
る。
る。
よってaiyaiの高レベルは電源電圧VDDよりスレ
ッショールド電圧2段分低いものとなってしまう。
ッショールド電圧2段分低いものとなってしまう。
(■+h1−■+h2のとき■DD−2■+h1)コン
デンサcl、c2はこれを防止し、bl又はb2をブー
トストラップ効果によって押し上げひいてはai、ai
の高レベルの電圧を高くする。
デンサcl、c2はこれを防止し、bl又はb2をブー
トストラップ効果によって押し上げひいてはai、ai
の高レベルの電圧を高くする。
なお出力のレベルにこだわらない場合にはコンデンサc
1.c2は省略できる。
1.c2は省略できる。
第8図の回路は、Al信号の小さなレベルに対して強く
、且つ消費電力の小さな特長を有しているが、alya
lのどちらか電力の低レベルに留る側に少しヒゲの出る
欠点を有している。
、且つ消費電力の小さな特長を有しているが、alya
lのどちらか電力の低レベルに留る側に少しヒゲの出る
欠点を有している。
このヒゲは小さなものであり、普通の回路では問題とし
ない場合が多い。
ない場合が多い。
しかし、ある種の回路は次段の回路の特性のためにヒゲ
のないai、ai信号を必要とする。
のないai、ai信号を必要とする。
第10図の回路は、本発明の別の実施例の1つであり、
ai、ai信号の過渡的なヒゲをさらに小さく、あるい
は無くした回路である。
ai、ai信号の過渡的なヒゲをさらに小さく、あるい
は無くした回路である。
第10図の回路は、第8図の回路の出力a I rai
に第11図の回路を接続したものである。
に第11図の回路を接続したものである。
第11図の回路は、2つの差動的な信号d1゜dlを用
いてさらに差動的な信号el、e2を作り出したもので
、トランジスタQ55.Q56゜Q57.Q58で構成
される差動的な回路によってdl、dlの差はさらに1
段と強められ、dl。
いてさらに差動的な信号el、e2を作り出したもので
、トランジスタQ55.Q56゜Q57.Q58で構成
される差動的な回路によってdl、dlの差はさらに1
段と強められ、dl。
dlに現われる小さな信号のヒゲ゛も出力e 1 +e
2では消える。
2では消える。
第10の回路の特徴は、ai、ai出力にヒゲ゛が無く
なると共に、ai+aiに大きな負荷容量がついた場合
、トランジスタQ55.Q56のバッファ作用により比
較的高速で動作できる点にある。
なると共に、ai+aiに大きな負荷容量がついた場合
、トランジスタQ55.Q56のバッファ作用により比
較的高速で動作できる点にある。
第10図の回路においては、ai、aiを低レベルに落
す信号が必要であり、R信号がこれを行なっている。
す信号が必要であり、R信号がこれを行なっている。
本発明による実施例の回路を、より原理的に表現したも
のが第12図の回路である。
のが第12図の回路である。
本発明の回路は左右対称のフリップ・フロップ部1と、
これに差動的に働きかける同相信号部2、逆相信号部3
よりなり、・E・要に応じてバッファ部(図示せず)が
これにつく。
これに差動的に働きかける同相信号部2、逆相信号部3
よりなり、・E・要に応じてバッファ部(図示せず)が
これにつく。
同相信号部2と逆相信号部3は必ずしもこれまでに説明
した実施例の回路である必要はなく、この他の回路も使
用可能であることは勿論である。
した実施例の回路である必要はなく、この他の回路も使
用可能であることは勿論である。
第13.14図はAiの同相信号部2の具体的な例であ
る。
る。
第15.16図は逆相信号部3の具体的な例であり、こ
れらを第12図と組合せることも可能である。
れらを第12図と組合せることも可能である。
第17図は第12図の回路を変化させた本発明の別な実
施例の1つであり、逆相信号部3に第15図の回路例を
用いており、さらに、bl。
施例の1つであり、逆相信号部3に第15図の回路例を
用いており、さらに、bl。
b2点の動きを強めるため補助同相信号部2′、補助逆
相信号部ぎを中いている。
相信号部ぎを中いている。
補助信号部1,3′はフリップ・フロップに働きかける
差動的な力をさらに強める働きをなしており、補助とい
う名称をつ(ハ)たが、こちらを主にすることも考えら
れる。
差動的な力をさらに強める働きをなしており、補助とい
う名称をつ(ハ)たが、こちらを主にすることも考えら
れる。
第18図の回路は、第17図の回路で補助信号部7,3
′を同相、逆相信号部として用いたものであり、bl、
b2点に働きかける差動的な信号の力だけでフリップ・
フロップへのセットを行なおうとするものである。
′を同相、逆相信号部として用いたものであり、bl、
b2点に働きかける差動的な信号の力だけでフリップ・
フロップへのセットを行なおうとするものである。
このbl、b2点へ働きかけは直流的なものでもよいが
、第18図の回路のようにコンデンサーを用いた交流的
な働きかけを用いてもよい。
、第18図の回路のようにコンデンサーを用いた交流的
な働きかけを用いてもよい。
なお、これまでの説明において、NチャンネルMO8を
例にとってきたが、PチャンネルMO8を用いてもよく
、又IGFETを用いた回路についても同様な構成が可
能である。
例にとってきたが、PチャンネルMO8を用いてもよく
、又IGFETを用いた回路についても同様な構成が可
能である。
また、これまでの説明において、外部よりの入力信号を
内部のMOSレベル(こ変換する場合について述べてき
たが、内部の小信号を外部の大信号に増巾する場合につ
いても本発明の主旨が生かされることは熱論である。
内部のMOSレベル(こ変換する場合について述べてき
たが、内部の小信号を外部の大信号に増巾する場合につ
いても本発明の主旨が生かされることは熱論である。
第19図は第8図の回路の変形であり、ai+ai出力
をさらにトランジスタQ70.Q71でバッファし、1
本の出力としたものである。
をさらにトランジスタQ70.Q71でバッファし、1
本の出力としたものである。
Ai、Ai倍信号MO8I−ランジスタ内部で得られる
とき、MOSトランジスタ外部の負荷容量を駆動すると
きなどにはこのような形の回路が有効である。
とき、MOSトランジスタ外部の負荷容量を駆動すると
きなどにはこのような形の回路が有効である。
すなわち、トランジスタQ70.Q71の大きさを大き
くすることにより出力端子部分に大容量負荷が付いても
高速で駆動可能となる。
くすることにより出力端子部分に大容量負荷が付いても
高速で駆動可能となる。
第20図の回路は、第10図の回路の変形であり、第1
9図の回路と同じく、外部の大容量負荷を駆動する場合
に有効なものである。
9図の回路と同じく、外部の大容量負荷を駆動する場合
に有効なものである。
このように、本発明の回路は、内部の小信号を外部へ出
力として出すための増巾回路についても有効に生かされ
る。
力として出すための増巾回路についても有効に生かされ
る。
第1図は従来よりある反転回路多段型増巾回路、第2図
は従来よりあるダイナミック型の反転回路多段型増巾回
路、第3図は第2図の回路動作を説明するための図、第
4図はデコーダ回路の1例を示す図で、第5図はその動
作波形図、第6図は本発明の参考例の回路説明を行なう
ための国策7図は第6図の回路動作波形図、第8図は本
発明の1実施例を示す図、第9図は第8図の回路動作波
形図、第10図は本発明の別の実施例を示す図、第11
図は第3図と第10図の回路の差を説明するための図、
第12図は本発明の基本的構成を説明する間第13.1
4図は本発明の実施例で必要とする同相信号の別の発生
回路を示す図、第15゜16図は本発明の実施例で必要
とする逆相信号の別の発生を示す図、第17.18図は
それぞれ本発明の別の実施例を示す図、第19.20図
はそれぞれ本発明の別の実施例を示す図で出力のための
増巾回路を有する口路図である。 図において、Plは第1のタイミング信号、flは第2
のタイミング信号、Q21〜Q24はフリップ・フロッ
プ回路を構成する■GFET1Q31.Q33はインバ
ータを構成するIGFBT。 Q32.Q34はインバータを構成するIGFET。 cl、c2は容量、Q55〜Q56はフリップ・フロッ
プを構成するIGFBTAi 、Aiは相補的な人力信
号、ai、aiは相補的な出力信号、Q70〜Q73は
出力バッファ回路を構成するIGFETである。
は従来よりあるダイナミック型の反転回路多段型増巾回
路、第3図は第2図の回路動作を説明するための図、第
4図はデコーダ回路の1例を示す図で、第5図はその動
作波形図、第6図は本発明の参考例の回路説明を行なう
ための国策7図は第6図の回路動作波形図、第8図は本
発明の1実施例を示す図、第9図は第8図の回路動作波
形図、第10図は本発明の別の実施例を示す図、第11
図は第3図と第10図の回路の差を説明するための図、
第12図は本発明の基本的構成を説明する間第13.1
4図は本発明の実施例で必要とする同相信号の別の発生
回路を示す図、第15゜16図は本発明の実施例で必要
とする逆相信号の別の発生を示す図、第17.18図は
それぞれ本発明の別の実施例を示す図、第19.20図
はそれぞれ本発明の別の実施例を示す図で出力のための
増巾回路を有する口路図である。 図において、Plは第1のタイミング信号、flは第2
のタイミング信号、Q21〜Q24はフリップ・フロッ
プ回路を構成する■GFET1Q31.Q33はインバ
ータを構成するIGFBT。 Q32.Q34はインバータを構成するIGFET。 cl、c2は容量、Q55〜Q56はフリップ・フロッ
プを構成するIGFBTAi 、Aiは相補的な人力信
号、ai、aiは相補的な出力信号、Q70〜Q73は
出力バッファ回路を構成するIGFETである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 11対力トランジスタを有しタイミング信号によって活
性化されるフリップフロップであって該活性化によって
入力信号に応じて該一対のトランジスタの一刀は導通状
態に、他方は非導通状態となるフリップフロップと、上
記活性化によって前記フリップフロップの一対の出力レ
ベルに差が生じたことを検知して上記一対のトランジス
タの向導通しているトランジスタに直列に接続された電
流路を遮断させる手段とを有することを特徴とするトラ
ンジスタ回路。 2 互いに並列に接続された第1および第2の電界効果
トランジスタの直列体ならびに第3および第4の電界効
果トランジスタの直列体と、該第2のトランジスタのゲ
ートを該第3と第4のトランジスタの中間接続点に接続
する手段と、該第4のトランジスタのゲートを該第1と
第2のトランジスタの中間接続点に接続する子役と、第
1の期間上記第1および第3のトランジスタのゲートに
これらトランジスタを導通させる電位を供給する手段と
、第2の期間入力信号に応じて上記第2と第4のトラン
ジスタの導通度に差を与える手段と、上記第2の期間に
おいて上記第2のトランジスタが導通時には該第1のト
ランジスタのゲートの電位を該第1のトランジスタが遮
断状態になるように変化させる手段と、上記第2の期間
において上記第4のトランジスタが導通時には該第3の
トランジスタのゲートの電位を該第3のトランジスタが
遮断状態となるように変化させる手段とを有することを
特徴とするトランジスタ回路。 3 フリップフロップを形成する第1および第2の電界
効果トランジスタと、該第1と第2のトランジスタにそ
れぞれ直列に接続された第3と第4の電界効果トランジ
スタと、電圧供給手段と該第3のトランジスタのゲート
との間に接続された第5の電界効果トランジスタと、電
圧供給手段と該第4のトランジスタのゲートとの間に接
続された第6の電界効果トランジスタと、該第5のトラ
ンジスタに直列に接続されそのゲートが該第1のトラン
ジスタのゲートに接続された第7の電界効果トランジス
タと、該第6のトランジスタに直列に接続されそのゲー
トが該第2のトランジスタのゲートに接続された第8の
電界効果トランジスタとを有することを特徴とするトラ
ンジスタ回路。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49104176A JPS5856890B2 (ja) | 1974-09-09 | 1974-09-09 | トランジスタカイロ |
US05/609,939 US3987315A (en) | 1974-09-09 | 1975-09-03 | Amplifier circuit |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP49104176A JPS5856890B2 (ja) | 1974-09-09 | 1974-09-09 | トランジスタカイロ |
Related Child Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6452479A Division JPS5585141A (en) | 1979-05-24 | 1979-05-24 | Transistor circuit |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5130447A JPS5130447A (ja) | 1976-03-15 |
JPS5856890B2 true JPS5856890B2 (ja) | 1983-12-17 |
Family
ID=14373699
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP49104176A Expired JPS5856890B2 (ja) | 1974-09-09 | 1974-09-09 | トランジスタカイロ |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US3987315A (ja) |
JP (1) | JPS5856890B2 (ja) |
Families Citing this family (11)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS51130154A (en) * | 1975-05-07 | 1976-11-12 | Nec Corp | Flip-flop circuit |
JPS6012717B2 (ja) * | 1976-09-10 | 1985-04-03 | 日本電気株式会社 | 絶縁ゲ−ト型電界効果トランジスタを用いた半導体回路 |
US4130897A (en) * | 1977-08-03 | 1978-12-19 | Sperry Rand Corporation | MNOS FET memory retention characterization test circuit with enhanced sensitivity and power conservation |
US4216395A (en) * | 1978-01-16 | 1980-08-05 | Bell Telephone Laboratories, Incorporated | Detector circuitry |
US4291246A (en) * | 1979-03-05 | 1981-09-22 | Motorola Inc. | Differential capacitive buffer |
JPS5585141A (en) * | 1979-05-24 | 1980-06-26 | Nec Corp | Transistor circuit |
JPS58103173U (ja) * | 1981-12-29 | 1983-07-13 | 横河電機株式会社 | 耐圧防爆容器 |
DE3268802D1 (en) * | 1982-07-13 | 1986-03-13 | Ibm Deutschland | Phase splitter with integrated latching circuit |
US5274285A (en) * | 1992-09-01 | 1993-12-28 | International Business Machines Corporation | Enhanced differential current switch compensating upshift circuit |
US5798972A (en) * | 1996-12-19 | 1998-08-25 | Mitsubishi Semiconductor America, Inc. | High-speed main amplifier with reduced access and output disable time periods |
JP3962953B2 (ja) * | 2003-12-26 | 2007-08-22 | カシオ計算機株式会社 | レベルシフト回路及び該レベルシフト回路を備えた信号出力回路 |
Family Cites Families (8)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
GB1236069A (en) * | 1967-11-06 | 1971-06-16 | Hitachi Ltd | A bistable driving circuit |
US3697775A (en) * | 1971-04-21 | 1972-10-10 | Signetics Corp | Three state output logic circuit with bistable inputs |
JPS4897468A (ja) * | 1972-03-27 | 1973-12-12 | ||
US3801831A (en) * | 1972-10-13 | 1974-04-02 | Motorola Inc | Voltage level shifting circuit |
US3916430A (en) * | 1973-03-14 | 1975-10-28 | Rca Corp | System for eliminating substrate bias effect in field effect transistor circuits |
US3917960A (en) * | 1974-01-31 | 1975-11-04 | Signetics Corp | MOS transistor logic circuit |
US3902082A (en) * | 1974-02-11 | 1975-08-26 | Mostek Corp | Dynamic data input latch and decoder |
US3922647A (en) * | 1974-06-03 | 1975-11-25 | Motorola Inc | External exclusive OR type circuit for inverting cell MOS RAM |
-
1974
- 1974-09-09 JP JP49104176A patent/JPS5856890B2/ja not_active Expired
-
1975
- 1975-09-03 US US05/609,939 patent/US3987315A/en not_active Expired - Lifetime
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US3987315A (en) | 1976-10-19 |
JPS5130447A (ja) | 1976-03-15 |
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