JPS585641A - 結露・着霜検知装置 - Google Patents
結露・着霜検知装置Info
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- JPS585641A JPS585641A JP56103854A JP10385481A JPS585641A JP S585641 A JPS585641 A JP S585641A JP 56103854 A JP56103854 A JP 56103854A JP 10385481 A JP10385481 A JP 10385481A JP S585641 A JPS585641 A JP S585641A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N27/00—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
- G01N27/04—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance
- G01N27/12—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid
- G01N27/121—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance by investigating resistance of a solid body in dependence upon absorption of a fluid; of a solid body in dependence upon reaction with a fluid, for detecting components in the fluid for determining moisture content, e.g. humidity, of the fluid
-
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- G01N27/02—Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating impedance
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
この発明は、乾燥・結露・着霜の3っ0状隷を電気信号
の変化として検知する装置に関する。
の変化として検知する装置に関する。
各種電気II器におhて湿度制御社重要な問題であるた
め、優れた湿度センナの開発が要望されている。また、
特定O装置においては、結露による特性劣下の他に着霜
による特性の劣下が同履七なって−る。たとえば冷凍磯
関係では着霜が起こると効率が抵下するため、霜を除去
することがIJ21PI!となる。そこで着霜状態を検
出しうるセンナの開発か要望されている。
め、優れた湿度センナの開発が要望されている。また、
特定O装置においては、結露による特性劣下の他に着霜
による特性の劣下が同履七なって−る。たとえば冷凍磯
関係では着霜が起こると効率が抵下するため、霜を除去
することがIJ21PI!となる。そこで着霜状態を検
出しうるセンナの開発か要望されている。
従来、結露4センナとしては、たとえば結11による抵
抗値の変化を利用するものなど■々og式のセンナが開
発されている。他方、着霜センナとしては、共振体の共
振R波数が霜の付着によ)変化することを利用したもの
などがある。しかじ&から、単一の素子で、結露および
着霜の双方すなわち乾燥・結露・着霜03伏隷を検出す
るもoFihまだなかった。したがって、装置が、乾燥
、結霧、および着霜の3つの状態のいずれにあるかを検
出すゐには、少なくと42個の検出素子が必要てあシ、
複雑な装置をGW!とした。
抗値の変化を利用するものなど■々og式のセンナが開
発されている。他方、着霜センナとしては、共振体の共
振R波数が霜の付着によ)変化することを利用したもの
などがある。しかじ&から、単一の素子で、結露および
着霜の双方すなわち乾燥・結露・着霜03伏隷を検出す
るもoFihまだなかった。したがって、装置が、乾燥
、結霧、および着霜の3つの状態のいずれにあるかを検
出すゐには、少なくと42個の検出素子が必要てあシ、
複雑な装置をGW!とした。
それゆえに、この発判O主たる目的は、単一の素子で乾
燥・結露・着霜03伏隷を正確に検出しうるような結露
・着霜検知装置を提供することである。
燥・結露・着霜03伏隷を正確に検出しうるような結露
・着霜検知装置を提供することである。
この発明は、要約すれば、乾燥・結露・着想の3つの状
11においてインピーダンスが変化する検知部と、所定
の基準レベルを設定する基準レベル設定手段と、前記検
知部のインピーダンスの値と前記所定の基準レベルとを
比較する比較手段と、前記比較手lRkよ多与えられる
信号によりて乾燥・結霧・着霜の3、り隙態を判別する
判別手段とから成る結露・着霜検知装置である。
11においてインピーダンスが変化する検知部と、所定
の基準レベルを設定する基準レベル設定手段と、前記検
知部のインピーダンスの値と前記所定の基準レベルとを
比較する比較手段と、前記比較手lRkよ多与えられる
信号によりて乾燥・結霧・着霜の3、り隙態を判別する
判別手段とから成る結露・着霜検知装置である。
こO発明の上述OH的およびそOaO目的と特徴社、図
面を参照して行う以下の詳細な説明から一層明らかとな
ろう。
面を参照して行う以下の詳細な説明から一層明らかとな
ろう。
この発明紘、乾鏝、結露および着$103つO状態でイ
ンピーダンスの変化する検知素体を利用するものである
。第1Eii:、この発明に用いられる検知素体のイン
ピーダンス0変化を示す図である。
ンピーダンスの変化する検知素体を利用するものである
。第1Eii:、この発明に用いられる検知素体のイン
ピーダンス0変化を示す図である。
J1g1図力為ら明らかなように、この発明に用りられ
る検知素体は、乾燥状態で最大のインピーダンスを示し
、着霜状態で乾燥状態よシ相対的に小さな中WJOイン
ビーグンスを示し、結露状態て着霜状態よシも小さな最
小のインピーダンスを示す。このような検知素体のイン
ピーダンスの変化を電気的に処理することにょシ、乾燥
、結露および着霜03つの状態を正確に検知するのが本
発明の装置である。
る検知素体は、乾燥状態で最大のインピーダンスを示し
、着霜状態で乾燥状態よシ相対的に小さな中WJOイン
ビーグンスを示し、結露状態て着霜状態よシも小さな最
小のインピーダンスを示す。このような検知素体のイン
ピーダンスの変化を電気的に処理することにょシ、乾燥
、結露および着霜03つの状態を正確に検知するのが本
発明の装置である。
第2図およびJga図は、この発明に用いられる検知素
体02つの例を略図的に示すjlitIrIrIi:J
である。
体02つの例を略図的に示すjlitIrIrIi:J
である。
第2図に示されるJglの例で社、絶縁性基板としてめ
基板1の上面Kll対電電極、3が形成されてお今、電
極2.3を覆うように抵抗体4−#被膜として形成され
ている。抵抗体4を含む環境のインピーダンスの変化は
、抵抗体4に接触して形成される1対の電極2.3によ
)検出される。
基板1の上面Kll対電電極、3が形成されてお今、電
極2.3を覆うように抵抗体4−#被膜として形成され
ている。抵抗体4を含む環境のインピーダンスの変化は
、抵抗体4に接触して形成される1対の電極2.3によ
)検出される。
93図に示される第2の例では、基板7の上面に1対の
電極2.3が形成される。基板7は検知素体として0I
IIIIiをも有するのであり、賂2−に示された例に
おける基板lと抵抗体4とに相当する。
電極2.3が形成される。基板7は検知素体として0I
IIIIiをも有するのであり、賂2−に示された例に
おける基板lと抵抗体4とに相当する。
なお、この発WAK用いられる検知素体は、第2図およ
び第3図に示された一〇に限らない。九とえば、基板中
Kljlto電極が挿入されているような構造でもよい
。
び第3図に示された一〇に限らない。九とえば、基板中
Kljlto電極が挿入されているような構造でもよい
。
第41!3および第5図は、こOような検知素体をより
具体的に説明するための平面図であ)、第4図は第2図
の例を具体化し丸ものてあ)、第5図はts3図の例を
具体化したものである。
具体的に説明するための平面図であ)、第4図は第2図
の例を具体化し丸ものてあ)、第5図はts3図の例を
具体化したものである。
第4図を参照して、絶縁性基板としてのアルミナ基板1
上に、電極間ギャップ0.4鱈および対向長65■のl
対の<シ酒金電極2.3が形成される。くし型電極2,
3をlll5ように、たとえばMg?jOs(964)
−0aTjOm(4%)の粉末に鉱化剤を少鳳添加して
ペーストにしたものを塗布し、高温で焼結させて、抵抗
体4が形成される。
上に、電極間ギャップ0.4鱈および対向長65■のl
対の<シ酒金電極2.3が形成される。くし型電極2,
3をlll5ように、たとえばMg?jOs(964)
−0aTjOm(4%)の粉末に鉱化剤を少鳳添加して
ペーストにしたものを塗布し、高温で焼結させて、抵抗
体4が形成される。
(シ製電極2.3に接触して形成される抵抗体4の材料
鉱上述の4のに限らなhoたとえd同一出願人による特
願昭53−84209号および特願昭53−87913
fK関示されてiるようなシルコニタムを主体とする無
機ポリ!でもよ−。
鉱上述の4のに限らなhoたとえd同一出願人による特
願昭53−84209号および特願昭53−87913
fK関示されてiるようなシルコニタムを主体とする無
機ポリ!でもよ−。
すなわち、第1図に示されるようなインピーダンスの変
化を示す検知素体なら伺てもよいのである。
化を示す検知素体なら伺てもよいのである。
なお、後述される第1表において、Vルコニクムを主体
とする無@f9マから凍る検知素体を使用した場合のイ
ンピーダンスO変化が例1として示される。
とする無@f9マから凍る検知素体を使用した場合のイ
ンピーダンスO変化が例1として示される。
185図を参照して、たとえば”KTiOs (941
i%) −(jaTiOs(4N )からなるセフミッ
ク基fi70上面には、電極間ギャップ0.4 gおよ
び対向長65調0<L型金電@2,3が形成される。j
13図にりhて説明されたように1ここてはセフミック
基板7が、検知素体として機能するのである。
i%) −(jaTiOs(4N )からなるセフミッ
ク基fi70上面には、電極間ギャップ0.4 gおよ
び対向長65調0<L型金電@2,3が形成される。j
13図にりhて説明されたように1ここてはセフミック
基板7が、検知素体として機能するのである。
このよ5Kして形成されたtsS図O素体の乾燥、結露
および着@C)3りの状aKおけるインピーダンスの変
化状、後述される第1表において例2七して示される。
および着@C)3りの状aKおけるインピーダンスの変
化状、後述される第1表において例2七して示される。
なお、検知素体としてO基板7が、様々な材料より構成
され得ることは、第4図に示された例と同様てあゐ。
され得ることは、第4図に示された例と同様てあゐ。
1s1表は、1マ(6011gO交流)olE圧tE1
1 加したときの、電極間抵抗値の変化を示す。
1 加したときの、電極間抵抗値の変化を示す。
$11!
この発明は、以上のように乾燥、結露および着霜の3状
態において抵抗値が変化する検知素体を用いて達成され
るものである。この3りO状態をよシ正確に検知するた
めkは、検知禦゛体ovi電率紘氷よシも小さhことが
必要である。なぜ表らば、着霜状態で社素体に付着した
霜により氷と同等の誘電率を示すか、この条件が満たさ
れないとき帆は着霜状態て抵抗値が変化し得ないからで
ある。
態において抵抗値が変化する検知素体を用いて達成され
るものである。この3りO状態をよシ正確に検知するた
めkは、検知禦゛体ovi電率紘氷よシも小さhことが
必要である。なぜ表らば、着霜状態で社素体に付着した
霜により氷と同等の誘電率を示すか、この条件が満たさ
れないとき帆は着霜状態て抵抗値が変化し得ないからで
ある。
第61拡、この発明の一実施例を説明するためのブロッ
ク図である。声6図を参照して、この実施例は、検知部
10.検知s10の出力が与えられる2個の比較回路1
1,12、比較四路11に比較信号としての第1基準レ
ベル信号を入力する第1基準レベル設定手段13、比較
回路12に比較信号としての第2基準レベル信号を入力
する第2基準レベル設定手814および比較回゛路11
゜12の出力によシ乾燥?結露・着霜の3つの状態を判
別する判別回路15(1146図において1点鎖線で囲
まれ皮部分)かも構成される。
ク図である。声6図を参照して、この実施例は、検知部
10.検知s10の出力が与えられる2個の比較回路1
1,12、比較四路11に比較信号としての第1基準レ
ベル信号を入力する第1基準レベル設定手段13、比較
回路12に比較信号としての第2基準レベル信号を入力
する第2基準レベル設定手814および比較回゛路11
゜12の出力によシ乾燥?結露・着霜の3つの状態を判
別する判別回路15(1146図において1点鎖線で囲
まれ皮部分)かも構成される。
検知部lOは、第2図な−し第4図に示され九ような素
体を含み、乾燥・結露・着霜の3つの状態で1181図
のように変化するインピーダンスに対応した信号を出力
する。検知s10の出力は、第1の比較手段としての1
1!1の比較回路11および1g2の比較手段としての
第2の比較回路12tC与えられる。第1の比較回路1
1には、第1基準レベル設定手段より*1基準レベル信
tが入力される。この信号のもり@1基準レベルは、1
IIilvAから明らか桑ように、結露状態における検
知[110Oインビーグンス七着霜状態における検知8
10のインピーダンスとの関に設定される。第1の比較
回路11は、検知部1Gのインピーダンスと第1基準レ
ベルとを比較し、検知s10のインピーダンスの方が大
きい場合にハイレベルの信号を出力し、検知$10のイ
ンピーダンスの方が小さ→場合にはローレベルの出力信
号を出力する。他方、第2の比較回路12には、!!2
基準レベル設定手段よ#)第2基準レベル信号か入力さ
れる。この信号のもつ第2基準レベルは、第1図から明
ら力・なように、乾燥状態における検知部10のインピ
ーダンスと着III状JIiKおける検知s10のイン
ピーダンスとのrieo値に設定される。#!2の比較
回路12は、検知slOのインピーダンスと112基準
レベルとを比較し、検知1sAOのインピ−ダンスの方
が大きい場合にハイレベルの信号を出力し、検知s10
のインピーダンスの方が小さい場合にはローレベルの信
号を出力する。
体を含み、乾燥・結露・着霜の3つの状態で1181図
のように変化するインピーダンスに対応した信号を出力
する。検知s10の出力は、第1の比較手段としての1
1!1の比較回路11および1g2の比較手段としての
第2の比較回路12tC与えられる。第1の比較回路1
1には、第1基準レベル設定手段より*1基準レベル信
tが入力される。この信号のもり@1基準レベルは、1
IIilvAから明らか桑ように、結露状態における検
知[110Oインビーグンス七着霜状態における検知8
10のインピーダンスとの関に設定される。第1の比較
回路11は、検知部1Gのインピーダンスと第1基準レ
ベルとを比較し、検知s10のインピーダンスの方が大
きい場合にハイレベルの信号を出力し、検知$10のイ
ンピーダンスの方が小さ→場合にはローレベルの出力信
号を出力する。他方、第2の比較回路12には、!!2
基準レベル設定手段よ#)第2基準レベル信号か入力さ
れる。この信号のもつ第2基準レベルは、第1図から明
ら力・なように、乾燥状態における検知部10のインピ
ーダンスと着III状JIiKおける検知s10のイン
ピーダンスとのrieo値に設定される。#!2の比較
回路12は、検知slOのインピーダンスと112基準
レベルとを比較し、検知1sAOのインピ−ダンスの方
が大きい場合にハイレベルの信号を出力し、検知s10
のインピーダンスの方が小さい場合にはローレベルの信
号を出力する。
以上のように、jIIおよびJig2O比較回路11R
12は、検知111Gのインピーダンスの変化に応じて
、ハイレベルまたはローレベルの信号を出力する。仁の
各比較回路11.12の出力は、J1!1図に示された
関係力島ら明らかなように、次に掲げる第2表のようk
なる。第2表において、Rはハイレベルの信号を、L祉
ローレベルの信号をそれぞれ意味する。。
12は、検知111Gのインピーダンスの変化に応じて
、ハイレベルまたはローレベルの信号を出力する。仁の
各比較回路11.12の出力は、J1!1図に示された
関係力島ら明らかなように、次に掲げる第2表のようk
なる。第2表において、Rはハイレベルの信号を、L祉
ローレベルの信号をそれぞれ意味する。。
第 21!
第1および@20比穀岡路11,12の出方状。
前述のように判別回路15に与えられる。判別回路15
は、2個のインバータIl、13および3個のノアゲー
)Gl、G2.G3から構成される。
は、2個のインバータIl、13および3個のノアゲー
)Gl、G2.G3から構成される。
Jg14D比鞍回路11の出力は、インバータ120入
力端子およびノアゲートaso一方入カ嘲子に与えられ
る・インバータ11の出方状、ノアゲー)Gl、G2の
各一方入カ増子に4えられゐ。他方、第20比較回路1
2の出力は、インバータ120入力端子、ノアゲー)0
2の他方端子およびノアゲー)G3の他方入力端子に与
えられる。インバー1112の出方状、ノアゲー)Gl
の他方入力端子に与えられる。なお、この111j11
図路15は正論場を採用している。
力端子およびノアゲートaso一方入カ嘲子に与えられ
る・インバータ11の出方状、ノアゲー)Gl、G2の
各一方入カ増子に4えられゐ。他方、第20比較回路1
2の出力は、インバータ120入力端子、ノアゲー)0
2の他方端子およびノアゲー)G3の他方入力端子に与
えられる。インバー1112の出方状、ノアゲー)Gl
の他方入力端子に与えられる。なお、この111j11
図路15は正論場を採用している。
以上のよ5に構成される判別回路は、乾燥、結露および
着霜の3り0状1を次0ように判別する。
着霜の3り0状1を次0ように判別する。
いま、乾燥状態にあるとき、第2表から明らかなように
、各比I2回路11.12は共にハイレベルの信号を出
力するga Jl 10比較囮路11カ嶋のハイレベル
otx’t+はインバー#11およびノアゲート03に
与えられる。インバータ11に入力されたハイレベルの
信号は、ローレベル0IfK反転されて、ノアゲー)G
lおよびG2に与えラレる。他方、III!;2C)比
較回路12から0ハイレベルの@1号は、インバー11
2、ノアゲートo2およびノアゲート63に与えられる
。インバー!12に入力されたへイレベルの信号は、ロ
ーレベルの信号に反転されてノアゲートGIK4.tら
れる。
、各比I2回路11.12は共にハイレベルの信号を出
力するga Jl 10比較囮路11カ嶋のハイレベル
otx’t+はインバー#11およびノアゲート03に
与えられる。インバータ11に入力されたハイレベルの
信号は、ローレベル0IfK反転されて、ノアゲー)G
lおよびG2に与えラレる。他方、III!;2C)比
較回路12から0ハイレベルの@1号は、インバー11
2、ノアゲートo2およびノアゲート63に与えられる
。インバー!12に入力されたへイレベルの信号は、ロ
ーレベルの信号に反転されてノアゲートGIK4.tら
れる。
以上のように、乾燥状態では、ノアゲー)Glのみに、
その双方の入力鳴子にローレベルの信号か入力される。
その双方の入力鳴子にローレベルの信号か入力される。
したがって、ノアゲートGlOみが信号を出力する。
次に、検知部1oが着霜状態にあるときは、第2表から
明らかなように%@10比較回路11はハイレベルの信
号を出方し、第2−O比較細路12fd、曹−レベルの
信号を出方する。第1の比稜回路11から0ハイレベル
の信を社、インバー111およびノアゲート03に与え
られる。インバー−xlに入力されたハイレベルの信号
は反転されてローレベルの信号とな少、ノアゲートGl
、(IK与えられる。他方、第2の比較回路12かもの
ローレベルの信を社、インバータ12.)7ゲー)(l
およびノアゲート03に与えられる。インバータ1°2
に入力されたローレベルの信号は反転されてハイレベル
の信号と1!!7.ノアゲート01に与えられる。以上
のよ15に、着霜状態でれ、ノアゲー)G2の入が、そ
の双方の入力端子にローレベルの信fが入力される。し
たかって、ノアゲ−トG2のみが信号を出力する。
明らかなように%@10比較回路11はハイレベルの信
号を出方し、第2−O比較細路12fd、曹−レベルの
信号を出方する。第1の比稜回路11から0ハイレベル
の信を社、インバー111およびノアゲート03に与え
られる。インバー−xlに入力されたハイレベルの信号
は反転されてローレベルの信号とな少、ノアゲートGl
、(IK与えられる。他方、第2の比較回路12かもの
ローレベルの信を社、インバータ12.)7ゲー)(l
およびノアゲート03に与えられる。インバータ1°2
に入力されたローレベルの信号は反転されてハイレベル
の信号と1!!7.ノアゲート01に与えられる。以上
のよ15に、着霜状態でれ、ノアゲー)G2の入が、そ
の双方の入力端子にローレベルの信fが入力される。し
たかって、ノアゲ−トG2のみが信号を出力する。
さらに、検知部10が結露状態にあるときは、第1およ
び82の比験回路11.12は、共にローレベルの信号
を出力する。JllO比較回路11から0ロ一レベルo
mtは、インバータIlおよびノアゲート03に与えら
れる。インバータIIに入力されたローレベルの信号は
、反転されてハイレベルの信号とな珈、ノアゲートO1
およびノアゲート021に与えられる。他方、第20比
較囲路12からのローレベルの信号は、インバータI2
、ノアゲートG2およびノアゲー)03に与えられる。
び82の比験回路11.12は、共にローレベルの信号
を出力する。JllO比較回路11から0ロ一レベルo
mtは、インバータIlおよびノアゲート03に与えら
れる。インバータIIに入力されたローレベルの信号は
、反転されてハイレベルの信号とな珈、ノアゲートO1
およびノアゲート021に与えられる。他方、第20比
較囲路12からのローレベルの信号は、インバータI2
、ノアゲートG2およびノアゲー)03に与えられる。
インバータエ2に入力されたローレベルの信号状、反転
されてハイレベルの信号となシ、ノ1ゲー)GIK与え
られる。以上のように、結露状態では、ノアゲー)G3
のみに、その双方の入力端子にローレベルの信号が入力
される。したがって、ノアゲー)G3のみが信号を出力
する。
されてハイレベルの信号となシ、ノ1ゲー)GIK与え
られる。以上のように、結露状態では、ノアゲー)G3
のみに、その双方の入力端子にローレベルの信号が入力
される。したがって、ノアゲー)G3のみが信号を出力
する。
以上の説明から明らかなように、乾燥状態ではノアゲー
トGlか信号を出力し、着霜状態ではノアゲー)G2が
信号を出力し、結露状態で紘ノアゲー)G3が信号を出
力する。したがって、乾燥、結霧および着霜の3状態を
判別することが可能となる。
トGlか信号を出力し、着霜状態ではノアゲー)G2が
信号を出力し、結露状態で紘ノアゲー)G3が信号を出
力する。したがって、乾燥、結霧および着霜の3状態を
判別することが可能となる。
#!7図社、第6図に示されえ爽施例をよ)具体的に説
明するための回路図であに、第8図および第9図は1g
7図の回路O動作をli1?!明するための図である。
明するための回路図であに、第8図および第9図は1g
7図の回路O動作をli1?!明するための図である。
第711に示される回路は、検知素体20.Mo8−)
ET26、コンパレータ21.22および第6因に示さ
れたものと同IIO判別回路25(@7図で1点鎖線で
示された部分)を基本的構成要素とする。検知素体20
は、gla3のように、乾燥、結露および着霜の3状態
でそのインピーダンスが変化すゐ検知素体2oのインピ
ーダンス変化は電圧の変化として、MOJi−FET7
gのゲート端子に入力される。この入力は、310g−
FIT26で増幅・反転されて、オペレーションアンプ
21.22に入力される。tfI−各オペレーションア
ンプ21.22に杜、可変抵抗23.24よ)嬉lおよ
び第2の基準レベル電圧かそれぞれ入力される。オペレ
ージ1ンアンデ21,220出力は、判別回路25に与
えられる。判別囲路260構成紘、第6図に示された判
別回路15と同様であるため、相当する部分については
相当の参lIA番号を付することによ多、その説明を省
略する。
ET26、コンパレータ21.22および第6因に示さ
れたものと同IIO判別回路25(@7図で1点鎖線で
示された部分)を基本的構成要素とする。検知素体20
は、gla3のように、乾燥、結露および着霜の3状態
でそのインピーダンスが変化すゐ検知素体2oのインピ
ーダンス変化は電圧の変化として、MOJi−FET7
gのゲート端子に入力される。この入力は、310g−
FIT26で増幅・反転されて、オペレーションアンプ
21.22に入力される。tfI−各オペレーションア
ンプ21.22に杜、可変抵抗23.24よ)嬉lおよ
び第2の基準レベル電圧かそれぞれ入力される。オペレ
ージ1ンアンデ21,220出力は、判別回路25に与
えられる。判別囲路260構成紘、第6図に示された判
別回路15と同様であるため、相当する部分については
相当の参lIA番号を付することによ多、その説明を省
略する。
以上のように構成されるmywAの囲路て紘、乾燥、結
露および着霜03状劇で、検知素体20のインピーダン
スが変化するため、検知素体20はインピーダンスの変
化に対応した電圧変化を出力する。@7WiOEl&0
接続点Xにおける電圧の変化が18WJK示される。検
知素体20よりの出力電圧は、Mo8−FET2@て増
幅・反転されて出力される。仁の出力電圧すなわちjl
!!ニア図の接続点Iにおけろ電圧線、第9図に示され
る。第9図から明らかなように1接′続点YFcお轄る
出力電圧は、乾燥状態で最大値を示し、結露状態で最小
値を示し、着霜状態で中間値となる。)108−F1’
!’260出力電圧は、オペレージ1シアン121.2
に入力される。他方、各オペシーシツンアンプ21.2
2に紘可変抵抗23.24に、よシレベル設定されえ第
1および1120基準レベル電圧が入力されるs#1お
よび第2の基準レベル電圧は第9vAに示されるよ5な
値に遥ばれる。すなわち、第1の基準レベル電圧は着霜
状aKおゆる出力電圧と結露状態におけろ出力電圧と0
[0錬kj!ばれ、11!20基準レベル電圧は乾燥状
11における出力電圧と着霜状態における出力電圧との
閏の値に遍ばれる。各オペレーションアンプ21゜22
は、MOF−FET26の出力電圧とJ!1&準レベル
電圧またはt!g2基準レベル電圧とをそれぞれ比較す
る。したがって、検知素体200インピ一ダンス度化は
電圧変化として比較される0である。各オペレージ3ン
アンプ21.22は、Mo2−!ET26の出力電圧の
方が大きい場合にはハイレベルの信号を出力し、逆の場
合にはローレベルの信号を出力する。仁のようなオペシ
ーシツンアンプ21.22の出力信号は、第6図の比較
回路11.12について示した182表0出カ真珊値と
同様になる。各オペレーションアンプ21゜22の出力
信−fa判別回路25に入力されるが、判別回路2Sの
動作については、第6図O判別回路15と同様である丸
め、その説明を省略する・なお、第6図および第71!
lにおいて示されえ、各回路はこの発明O単なる一実施
例にすぎない。
露および着霜03状劇で、検知素体20のインピーダン
スが変化するため、検知素体20はインピーダンスの変
化に対応した電圧変化を出力する。@7WiOEl&0
接続点Xにおける電圧の変化が18WJK示される。検
知素体20よりの出力電圧は、Mo8−FET2@て増
幅・反転されて出力される。仁の出力電圧すなわちjl
!!ニア図の接続点Iにおけろ電圧線、第9図に示され
る。第9図から明らかなように1接′続点YFcお轄る
出力電圧は、乾燥状態で最大値を示し、結露状態で最小
値を示し、着霜状態で中間値となる。)108−F1’
!’260出力電圧は、オペレージ1シアン121.2
に入力される。他方、各オペシーシツンアンプ21.2
2に紘可変抵抗23.24に、よシレベル設定されえ第
1および1120基準レベル電圧が入力されるs#1お
よび第2の基準レベル電圧は第9vAに示されるよ5な
値に遥ばれる。すなわち、第1の基準レベル電圧は着霜
状aKおゆる出力電圧と結露状態におけろ出力電圧と0
[0錬kj!ばれ、11!20基準レベル電圧は乾燥状
11における出力電圧と着霜状態における出力電圧との
閏の値に遍ばれる。各オペレーションアンプ21゜22
は、MOF−FET26の出力電圧とJ!1&準レベル
電圧またはt!g2基準レベル電圧とをそれぞれ比較す
る。したがって、検知素体200インピ一ダンス度化は
電圧変化として比較される0である。各オペレージ3ン
アンプ21.22は、Mo2−!ET26の出力電圧の
方が大きい場合にはハイレベルの信号を出力し、逆の場
合にはローレベルの信号を出力する。仁のようなオペシ
ーシツンアンプ21.22の出力信号は、第6図の比較
回路11.12について示した182表0出カ真珊値と
同様になる。各オペレーションアンプ21゜22の出力
信−fa判別回路25に入力されるが、判別回路2Sの
動作については、第6図O判別回路15と同様である丸
め、その説明を省略する・なお、第6図および第71!
lにおいて示されえ、各回路はこの発明O単なる一実施
例にすぎない。
したがって、結羞および11!*20比較回路ならびに
判別回路にりいては、この発明01!囲内てさまざまな
変形がなされ得ることを指摘しておく。
判別回路にりいては、この発明01!囲内てさまざまな
変形がなされ得ることを指摘しておく。
以上のように、ζO発明によればに乾燥・結露・着霜0
3つ0状劇で電極間インピーダンスが変化する検知部、
前記検知sO電電極インピーダンスと所定の基準レベル
とを比較する比較手段および前記比較手段からO出力信
号により乾燥・結露・着霜03つの状態を判別する判別
回路が備えられているため、単−O1g体により、乾燥
・結露・着霜03つO状態を疋a[K検出することが可
能である。
3つ0状劇で電極間インピーダンスが変化する検知部、
前記検知sO電電極インピーダンスと所定の基準レベル
とを比較する比較手段および前記比較手段からO出力信
号により乾燥・結露・着霜03つの状態を判別する判別
回路が備えられているため、単−O1g体により、乾燥
・結露・着霜03つO状態を疋a[K検出することが可
能である。
第1図は、こO発明に用いられる検知素体のインピーダ
ンスの変化を示す図である。jgz図は、仁の発明に用
いられる検知素体〇−例を示す略図的llr面図である
。第3図は、この発明に用いられる検知素体O他の例を
示す略図的断面図である。 j14図れ、1liZ図に示された素体をより具体的に
示す平面図である。第5図は、183図に示され九素体
をより具体的に示す平面図である。第6図は、この発明
の一実施例を示すブロック図である。第7図は、86図
に示されたブロック図をよシ具体的に示す回路図である
。第5aI3は、第7図O回路の接続点Xにおける出力
電圧を示す図である。第9図は、第7図の回路の接続点
Iにおける出力電圧を示す図である。 図Klいて、2.3は1対の電極、4.7社検知票体、
lOは検知部、11は第1の比較手段としての比較回路
、12a第20比較手段としてO比較回路、13は第1
基準レベル設定手段、14#1lIli2基準レベル設
定手段、15は判別回路、20は抵抗体、21tim1
の比較手段をしてのオペレーションアンプ、22社第2
の比較手段としてのオペレーションアンプ、23は第1
M串&”’(#設定手段としての可変抵抗、24は第
2基準レベル設定手段としての可変抵抗、2Sは判別回
路、G1.G2.G3紘ゲート手段を示す。 ¥ 2 図 算4 l 茅 3 図 第 5 図
ンスの変化を示す図である。jgz図は、仁の発明に用
いられる検知素体〇−例を示す略図的llr面図である
。第3図は、この発明に用いられる検知素体O他の例を
示す略図的断面図である。 j14図れ、1liZ図に示された素体をより具体的に
示す平面図である。第5図は、183図に示され九素体
をより具体的に示す平面図である。第6図は、この発明
の一実施例を示すブロック図である。第7図は、86図
に示されたブロック図をよシ具体的に示す回路図である
。第5aI3は、第7図O回路の接続点Xにおける出力
電圧を示す図である。第9図は、第7図の回路の接続点
Iにおける出力電圧を示す図である。 図Klいて、2.3は1対の電極、4.7社検知票体、
lOは検知部、11は第1の比較手段としての比較回路
、12a第20比較手段としてO比較回路、13は第1
基準レベル設定手段、14#1lIli2基準レベル設
定手段、15は判別回路、20は抵抗体、21tim1
の比較手段をしてのオペレーションアンプ、22社第2
の比較手段としてのオペレーションアンプ、23は第1
M串&”’(#設定手段としての可変抵抗、24は第
2基準レベル設定手段としての可変抵抗、2Sは判別回
路、G1.G2.G3紘ゲート手段を示す。 ¥ 2 図 算4 l 茅 3 図 第 5 図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 (1)乾燥・結露・着霜03つの状態を検知する装置で
あって、 一氷よ)4小さtill電率な有する検知素体と、前記
検知素体に接触して形成される1対の電極とから構成さ
れ、前記X*O電極電極フィンピーダンス乾燥・結露・
着$103状態で変化し、乾燥状態で最大値を示し、着
霜状態で乾燥状態よシも相対的に小さい中間値を示し、
結露状態で着霜状態よシも小さな最小値を示す検知部と
、 前記検知部の電極間インピーダンスの中間値と最小値と
の閏O第1の基準レベルを設定する第1基準レベル設定
手段と、 前記検知部の電極間インピーダンスの中間値と最大値と
O閲OII意の基準レベルを設定する第2基準レベル設
定手段と、 前記第1基準レベル設定手段によシ与えられる前記第1
基準レベルと前記検知部の電極間インピーダンス七を比
較する第1比穀手段と、前記jI2基準レベル設定手段
により与えられる前記賂2基準レベルと前記検知部O電
極インピーダンスとを比較する第2比較手段と、 前記電極間インピーダンスが前記第10基準レベルよ)
も大きいことを前記第1比較手段がボしかつ前記電極間
インピーダンスが前記第20基準レベルよ)も大きいこ
とを前記第2比較手IRが示すときに乾燥状態と判別し
、前記電極間インピーダンスか前記第1の基準レベルよ
)も大きいことを前記Jlll比較手段が示しかつ前記
電極間インピーダンスが前記第2の基準レベルよりも小
さiことを前記第2比稜手aが示すときに着霜状塵と判
別し、前記電極間インピーダンスか前記1810基準レ
ベルよりも小さいことを前記Jgl比較手段が示しかつ
前記電極間インピーダンスが前記館20基準レベルより
も小さ%n仁とを前記第20jt暖手段が示すききに結
露状態と判別する判別手段とを備える結露・着霜検知装
置。 (2)前記検知素体はセツミック基板を含み、前記電極
は前記セフミック基板上に形成される特許請求の範jf
fiJI(13項記載の結露・着霜検知装置。 (3)前記検知素体は絶縁性基板上Kli成される抵抗
性膜を3み、前記電極は前記絶縁性基板上におりて前記
抵抗性膜に少なくとも−Sがおおわれて形成される特許
請求0IlIll絡(1)項記載O結霧・着霜検知装置
。 (4) 前記電極間インピーダンスは、前記乾燥状態
て祉前記検知素体O抵抗性か最4大きく寄与して決定さ
れ、前記着霜状態で社氷O1!電性が最も大きく寄与し
て決定され、前記結露状態で社水のイオン伝導現象か最
も大きく寄与して決定される特許請求の範囲第(1)項
ないし第13)項のいずれかに記載の結霧・着霜検知装
置。 Ill 前記1gs比較手段および前記第2比較手段
紘、それぞれオペレーションアンプを含む特許請求の範
囲第(1)項ないし第(4)項のいずれかに記載の結露
・着霜検知装置。 (6)前記判別手段社、ゲート手段を含む特許請求の範
囲第(1)項ないし第(51項のいずれかに記載。 結露・着霜検知装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56103854A JPS585641A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 結露・着霜検知装置 |
| US06/424,344 US4523142A (en) | 1981-07-01 | 1982-09-27 | Apparatus for sensing dew and frost |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56103854A JPS585641A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 結露・着霜検知装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS585641A true JPS585641A (ja) | 1983-01-13 |
| JPS6212465B2 JPS6212465B2 (ja) | 1987-03-18 |
Family
ID=14365023
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56103854A Granted JPS585641A (ja) | 1981-07-01 | 1981-07-01 | 結露・着霜検知装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4523142A (ja) |
| JP (1) | JPS585641A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS618589A (ja) * | 1984-06-22 | 1986-01-16 | 井関農機株式会社 | 循環式穀粒乾燥機における熱風温度制御装置 |
| JPS6298249A (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-07 | Matsushita Electric Works Ltd | ガス漏れ警報器のガス検出回路 |
| JPH07308105A (ja) * | 1995-01-17 | 1995-11-28 | Iseki & Co Ltd | 刈取機の方向制御装置 |
| JP2018179757A (ja) * | 2017-04-13 | 2018-11-15 | 株式会社日立製作所 | 湿度検出素子及び湿度計 |
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| KR880004363A (ko) * | 1986-09-17 | 1988-06-03 | 케네쓰 제이 캄머라드 | 응축방지장치 |
| US4897597A (en) * | 1988-12-08 | 1990-01-30 | Surface Systems, Inc. | Apparatus and methods for detecting wet and icy conditions |
| DE4022563A1 (de) * | 1990-04-11 | 1991-10-17 | Flachglas Ag | Verfahren zur kontaktlosen messung des elektrischen widerstands eines untersuchungsmaterials |
| FI92440C (fi) * | 1993-08-23 | 1994-11-10 | Vaisala Oy | Detektori ja menetelmä nesteen läsnäolon ja/tai sen faasimuutoksen havaitsemiseksi |
| US5569850A (en) * | 1995-05-08 | 1996-10-29 | The B.F. Goodrich Company | Ice detector |
| CA2193598A1 (en) * | 1995-12-22 | 1997-06-23 | Allen D. Reich | Impedance type ice detector |
| US6384611B1 (en) * | 1996-11-18 | 2002-05-07 | The B. F. Goodrich Company | Ice thickness detector |
| US6695469B2 (en) * | 2001-11-19 | 2004-02-24 | Energy Absorption Systems, Inc. | Roadway freezing point monitoring system and method |
| JP5037043B2 (ja) | 2005-07-14 | 2012-09-26 | ユニ・チャーム株式会社 | 水分検知センサ |
| CN103528603A (zh) * | 2012-07-05 | 2014-01-22 | 北斗电子工业株式会社 | 静电电容式水分检测装置 |
Family Cites Families (10)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
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| US3757212A (en) * | 1971-12-01 | 1973-09-04 | F Johnson | Apparatus for measuring unfrozen moisture in snow |
| US4023094A (en) * | 1972-06-23 | 1977-05-10 | Adams Robert P | Electronic thermometer |
| US3873927A (en) * | 1973-11-05 | 1975-03-25 | Surface Systems | System for detecting wet and icy surface conditions |
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-
1981
- 1981-07-01 JP JP56103854A patent/JPS585641A/ja active Granted
-
1982
- 1982-09-27 US US06/424,344 patent/US4523142A/en not_active Expired - Lifetime
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS618589A (ja) * | 1984-06-22 | 1986-01-16 | 井関農機株式会社 | 循環式穀粒乾燥機における熱風温度制御装置 |
| JPS6298249A (ja) * | 1985-10-25 | 1987-05-07 | Matsushita Electric Works Ltd | ガス漏れ警報器のガス検出回路 |
| JPH07308105A (ja) * | 1995-01-17 | 1995-11-28 | Iseki & Co Ltd | 刈取機の方向制御装置 |
| JP2018179757A (ja) * | 2017-04-13 | 2018-11-15 | 株式会社日立製作所 | 湿度検出素子及び湿度計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6212465B2 (ja) | 1987-03-18 |
| US4523142A (en) | 1985-06-11 |
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