JPS5854844Y2 - 負荷保護回路 - Google Patents
負荷保護回路Info
- Publication number
- JPS5854844Y2 JPS5854844Y2 JP11978681U JP11978681U JPS5854844Y2 JP S5854844 Y2 JPS5854844 Y2 JP S5854844Y2 JP 11978681 U JP11978681 U JP 11978681U JP 11978681 U JP11978681 U JP 11978681U JP S5854844 Y2 JPS5854844 Y2 JP S5854844Y2
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- Japan
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- circuit
- protection circuit
- voltage
- control input
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- Protection Of Static Devices (AREA)
- Safety Devices In Control Systems (AREA)
- Electronic Switches (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、印加される電源電在がある特定の条件に制限
される負荷における各電源の過渡時及び異常時における
負荷の保護回路に関するものである。
される負荷における各電源の過渡時及び異常時における
負荷の保護回路に関するものである。
メタル・インシュレータ・セミコンダクタIC(以下M
IS−■Cと略称する)の動作速度はバイポーラ形に比
べ著しく遅いという欠点を有するが、MIS形素子によ
る記憶装置などでは、ビット密度を大きくとることがで
き、また構成が容易であることから、マスクのピンホー
ルや同一チップ面積における結晶の欠陥などにより歩留
りの低下がバイポーラ形に比べてかなり良く、最近では
、高速動作をするMIS−ICも現われ頻繁に出現し始
めている。
IS−■Cと略称する)の動作速度はバイポーラ形に比
べ著しく遅いという欠点を有するが、MIS形素子によ
る記憶装置などでは、ビット密度を大きくとることがで
き、また構成が容易であることから、マスクのピンホー
ルや同一チップ面積における結晶の欠陥などにより歩留
りの低下がバイポーラ形に比べてかなり良く、最近では
、高速動作をするMIS−ICも現われ頻繁に出現し始
めている。
一般にMOS−ICで代表されるMIS−ICは基板バ
イアス電圧が一定の値に達する前に、ドレイン電圧があ
る値以上印加されることは禁じられる。
イアス電圧が一定の値に達する前に、ドレイン電圧があ
る値以上印加されることは禁じられる。
これはMOS)ランジスタのスレッショールド電圧が、
基板バイアス電圧によって定まるためであり、基板バイ
アス電圧が所定値に達せず、スレッショールド電圧が低
い状態にある時、ある値以上のドレイン電圧が印加され
ると素子に過電流が流れる恐れがあり、このだめに素子
の劣化あるいは破壊が生じる恐れがある。
基板バイアス電圧によって定まるためであり、基板バイ
アス電圧が所定値に達せず、スレッショールド電圧が低
い状態にある時、ある値以上のドレイン電圧が印加され
ると素子に過電流が流れる恐れがあり、このだめに素子
の劣化あるいは破壊が生じる恐れがある。
従って電源投入時あるいは、切断時において基板バイア
ス電圧が所定電圧値に達していな状態で一定値以上のド
レイン電圧を印加することは禁じられる。
ス電圧が所定電圧値に達していな状態で一定値以上のド
レイン電圧を印加することは禁じられる。
このために各電源電圧が所定の条件を満足しない場合、
あるいはこれらの電圧に異常電圧が発生した場合に負荷
であるMOS−ICの劣化、破壊を防止するための手段
が必要となる。
あるいはこれらの電圧に異常電圧が発生した場合に負荷
であるMOS−ICの劣化、破壊を防止するための手段
が必要となる。
このための手段としは従来は、シーケンス起電回路、電
源投入順序を制御する回路を電源装置側に付加すること
により、負荷の保護を行なっていた。
源投入順序を制御する回路を電源装置側に付加すること
により、負荷の保護を行なっていた。
しかし、シーケンス起電回路による補償は、電源装置の
制御系を複雑にするばかりでなく、実装スペースの増大
、高価格、また障害に対して応等速度が遅いなどの種々
の欠点を有していた。
制御系を複雑にするばかりでなく、実装スペースの増大
、高価格、また障害に対して応等速度が遅いなどの種々
の欠点を有していた。
本考案は、上記欠点を解消するため、従来のシーケンス
起動回路を使用することなく、新規な方法によl’)
MIS−ICを補償する保護回路を提供するものである
。
起動回路を使用することなく、新規な方法によl’)
MIS−ICを補償する保護回路を提供するものである
。
本考案は、各電源電圧が所定の条件を満たさないとき、
これを検出する検出回路を設は負荷に印加される制御入
力信号を不動作時のレベルにクランプして、負荷の保護
を行なうものであり、以下の効果を奏する。
これを検出する検出回路を設は負荷に印加される制御入
力信号を不動作時のレベルにクランプして、負荷の保護
を行なうものであり、以下の効果を奏する。
■MIS−ICの如く電源投入、切断時にシーケンス起
動の必要な負荷であっても、電源側にシーケンス起動を
行なうための制御回路を設ける必要がなく、従って電源
回路側が簡単化される。
動の必要な負荷であっても、電源側にシーケンス起動を
行なうための制御回路を設ける必要がなく、従って電源
回路側が簡単化される。
■実装単位毎に検出回路を設けることが可能であり、給
電中に実装単位での取換えが可能である。
電中に実装単位での取換えが可能である。
この本考案の目的は外部より電源、及び制御入力信号が
供給される負荷の保護回路であって、該負荷に供給され
る電源、およびまたは制御入力信号が所定の駆動条件を
満足しない時、これを検出する検出回路を設け、該検出
回路の検出結果に基づいて、前記制御入力信号を供給す
るための駆動回路の出力を該負荷、不動作時における信
号レベルにクランプすることにより遠戚することができ
る。
供給される負荷の保護回路であって、該負荷に供給され
る電源、およびまたは制御入力信号が所定の駆動条件を
満足しない時、これを検出する検出回路を設け、該検出
回路の検出結果に基づいて、前記制御入力信号を供給す
るための駆動回路の出力を該負荷、不動作時における信
号レベルにクランプすることにより遠戚することができ
る。
以下図面により詳細に説明する。
第1図は本考案の1実施例を示す図であり、MOS−I
Cは、外部より各電源例えば、基板バイアス電圧源Vs
x、ドレイン電圧源VDD、ソース電圧源(図では接地
電位)が供給され、かつドライバー回路DRを介して、
制御入力信号例えば、クロック信号φi、あるいは他の
制御入力信号(記憶装置を例にとれば、アドレス信号等
)が供給されることによって動作する。
Cは、外部より各電源例えば、基板バイアス電圧源Vs
x、ドレイン電圧源VDD、ソース電圧源(図では接地
電位)が供給され、かつドライバー回路DRを介して、
制御入力信号例えば、クロック信号φi、あるいは他の
制御入力信号(記憶装置を例にとれば、アドレス信号等
)が供給されることによって動作する。
■8は、ドライバー回路DRの駆動電圧源であり、制御
入力信号(図ではクロック信号φi)が論理ルベルのと
きドライバー回路DRの出力には、MOS−ICのゲー
ト制御電圧(例えば−12■)が得られる。
入力信号(図ではクロック信号φi)が論理ルベルのと
きドライバー回路DRの出力には、MOS−ICのゲー
ト制御電圧(例えば−12■)が得られる。
Aは検出保護回路であり、基板バイアス電圧Vsx及び
ドレイン電圧VDDが所定の条件を満足しない(前述し
たように基板バイアス電圧が所定の値に達せず、かつド
レイン電圧が、所定の値以上になった)場合にこれを検
出して負荷の保護を行なうものである。
ドレイン電圧VDDが所定の条件を満足しない(前述し
たように基板バイアス電圧が所定の値に達せず、かつド
レイン電圧が、所定の値以上になった)場合にこれを検
出して負荷の保護を行なうものである。
Dはダイオード、Q 1 、 Q 2はトランジスタ、
R1,R2は抵抗、VDはツェナーダイオードである次
に、第1図に示す回路の動作を、基板バイアス電圧Vs
x、ドレイン電圧VDD両電圧間の電源投入時における
過渡状態、及び検出保護回路動作を示す第2図と並行し
て説明する。
R1,R2は抵抗、VDはツェナーダイオードである次
に、第1図に示す回路の動作を、基板バイアス電圧Vs
x、ドレイン電圧VDD両電圧間の電源投入時における
過渡状態、及び検出保護回路動作を示す第2図と並行し
て説明する。
第2図において、アは電源投入、切断時のドレイン電圧
VDDの推移を、イは同様に基板バイアス電圧Vsxの
推移を表わしたものであり、つは第1図中■。
VDDの推移を、イは同様に基板バイアス電圧Vsxの
推移を表わしたものであり、つは第1図中■。
点における電圧を示しまたものである。
いまVDD及びVsxの両端子に電源を投入ONあるい
は切断OFFするとMOS−ICに対する該両電圧は、
各々第2図ア、イの如く推移する。
は切断OFFするとMOS−ICに対する該両電圧は、
各々第2図ア、イの如く推移する。
さきに述べたような理由により、基板バイアス電圧Vs
xが所定の電場vthに達する前に、ドレイン電圧Vl
)Dが一定の値■、を越えた場合に、検出保護回路Aを
動作し、制御入力信号を負荷不動作時のレベルにクラン
プする。
xが所定の電場vthに達する前に、ドレイン電圧Vl
)Dが一定の値■、を越えた場合に、検出保護回路Aを
動作し、制御入力信号を負荷不動作時のレベルにクラン
プする。
(図では、ドライバ回路DRの入力をアース電位にクラ
ンプすることにより、ドライバ回路DRは、駆動されず
にゲート制御信号は、所定のレベル例えば、−12Vに
ならずに不動作時のレベルにクランプされ、負荷の保護
が行なわれる。
ンプすることにより、ドライバ回路DRは、駆動されず
にゲート制御信号は、所定のレベル例えば、−12Vに
ならずに不動作時のレベルにクランプされ、負荷の保護
が行なわれる。
次に検出保護回路の動作を説明する。
まず電源投入時には、時間の経過とともに、基板バイア
ス電圧Vsx、ドレイン電圧VDDは、第2図ONの範
囲で示すように過渡状態がある。
ス電圧Vsx、ドレイン電圧VDDは、第2図ONの範
囲で示すように過渡状態がある。
基板バイアス電圧Vsxが、所定の値vthに達するま
では、ツェナーダイオード■。
では、ツェナーダイオード■。
によりトランジスタQ1はオフであり、ドレイン電圧V
DDが、所定の値■3に達しないうちは、トランジスタ
Q2もオフである。
DDが、所定の値■3に達しないうちは、トランジスタ
Q2もオフである。
従って、Vo点の電位は■、となっている。
次にドレイン電圧VDI)が先に■、を越えるとトラン
ジスタQ2がオンとなり、Vo点は接地電位となり、ド
ライバ回路DRの動作を禁止し、その制御入力信号を不
動作時のレベルにクランプする。
ジスタQ2がオンとなり、Vo点は接地電位となり、ド
ライバ回路DRの動作を禁止し、その制御入力信号を不
動作時のレベルにクランプする。
この状態で基板バイアス電圧がvthに達すると、トラ
ンジスタQ1がオンとなり、トランジスタQ2がオフし
て、Vo点の電位は■8にもどり、ドライバ回路DRは
クロック信号φiが入れば動作する状態となる。
ンジスタQ1がオンとなり、トランジスタQ2がオフし
て、Vo点の電位は■8にもどり、ドライバ回路DRは
クロック信号φiが入れば動作する状態となる。
電源切断時は、第2図のOFFの範囲で示すようにこれ
と逆の動作となり、やはり所定の条件の間、検出保護回
路Aが動作する。
と逆の動作となり、やはり所定の条件の間、検出保護回
路Aが動作する。
なお、第2図においては、検出保護回路Aの応答時間を
見込んで、VDDの検出電圧を所定の電位VKに達する
前■1で検出するようにしている。
見込んで、VDDの検出電圧を所定の電位VKに達する
前■1で検出するようにしている。
同様に、基板バイアス電圧も■、で゛検出するようにし
ている。
ている。
本考案は以上のように負荷に印加される電圧電源が所定
の条件を満足していない場合に、これを検出回路によっ
て検出し、該検出結果に基づいて負荷の制御入力を不動
作時のレベルにクランプするものであす、MOS−IC
の如く電源投入切断時に、シーケンス起動の必要な負荷
であってもシーケンス起動を行なうための回路を電源側
に設ける必要がなく、従って、電源回路側が簡単化され
る。
の条件を満足していない場合に、これを検出回路によっ
て検出し、該検出結果に基づいて負荷の制御入力を不動
作時のレベルにクランプするものであす、MOS−IC
の如く電源投入切断時に、シーケンス起動の必要な負荷
であってもシーケンス起動を行なうための回路を電源側
に設ける必要がなく、従って、電源回路側が簡単化され
る。
また検出回路は極めて簡単な回路でありMO5〜ICの
実装単位毎に組入れることができ、給電中に実装単位で
の取り換えが可能である。
実装単位毎に組入れることができ、給電中に実装単位で
の取り換えが可能である。
また、本考案によれば従来の様な複雑かつ高価でしかも
障害に対する応答速度が遅いシーケンス起動回路を使用
することなく、簡単な回路により応答の早い保護が行な
える利点をも有する。
障害に対する応答速度が遅いシーケンス起動回路を使用
することなく、簡単な回路により応答の早い保護が行な
える利点をも有する。
第1図は本考案の実施例を示し、負荷としてMOS−I
Cを用いた場合の保護回路である。 第2図は第1図実施例の電圧の過渡状態を示すタイムチ
ャートである。 図において、■DDはドレイン電圧、Vsxは基板バイ
アス電圧、DRはドライバー、■、はドライバー駆動電
圧、Aは検出保護回路であす、Ql、Q2は1〜ランジ
スタ、VDはツェナーダイオードである。
Cを用いた場合の保護回路である。 第2図は第1図実施例の電圧の過渡状態を示すタイムチ
ャートである。 図において、■DDはドレイン電圧、Vsxは基板バイ
アス電圧、DRはドライバー、■、はドライバー駆動電
圧、Aは検出保護回路であす、Ql、Q2は1〜ランジ
スタ、VDはツェナーダイオードである。
Claims (1)
- 外部より複数の電源及び制御入力信号が供給されるMO
5ICの保護回路であって、該保護回路は前記MO3I
Cに供給される基準バイアス電圧及びドレイン電圧のう
ち、基準バイアス電圧が所定値以下でドレイン電圧が一
定値以上のとき前記制御入力信号を供給するドライバ回
路の駆動電源を引込むスイッチング回路から成り、前記
MO5ICに供給される電源電圧の投入順序の異常時に
前記ドライバ回路の動作を禁止することを特徴とする負
荷保護回路。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11978681U JPS5854844Y2 (ja) | 1981-08-12 | 1981-08-12 | 負荷保護回路 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP11978681U JPS5854844Y2 (ja) | 1981-08-12 | 1981-08-12 | 負荷保護回路 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5751031U JPS5751031U (ja) | 1982-03-24 |
JPS5854844Y2 true JPS5854844Y2 (ja) | 1983-12-14 |
Family
ID=29480445
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP11978681U Expired JPS5854844Y2 (ja) | 1981-08-12 | 1981-08-12 | 負荷保護回路 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5854844Y2 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2514786Y2 (ja) * | 1988-08-18 | 1996-10-23 | 松下電器産業株式会社 | 洗濯機の洗剤投入装置 |
JPH0251887U (ja) * | 1988-10-05 | 1990-04-12 |
-
1981
- 1981-08-12 JP JP11978681U patent/JPS5854844Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5751031U (ja) | 1982-03-24 |
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