JPS5847827B2 - ソウサデンシケンビキヨウ - Google Patents

ソウサデンシケンビキヨウ

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JPS5847827B2
JPS5847827B2 JP50118867A JP11886775A JPS5847827B2 JP S5847827 B2 JPS5847827 B2 JP S5847827B2 JP 50118867 A JP50118867 A JP 50118867A JP 11886775 A JP11886775 A JP 11886775A JP S5847827 B2 JPS5847827 B2 JP S5847827B2
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JP
Japan
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information
electrons
electron
sample
mesh
Prior art date
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Expired
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JP50118867A
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English (en)
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JPS5244158A (en
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隆 永谷
満彦 山田
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Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5244158A publication Critical patent/JPS5244158A/ja
Publication of JPS5847827B2 publication Critical patent/JPS5847827B2/ja
Expired legal-status Critical Current

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Description

【発明の詳細な説明】 本発明は走査電子顕微鏡に係り、特にその高分解能を実
現し得る走査電子顕微鏡に関する。
走査電子顕微鏡において、走査電子線を試料に照剖する
ことにより得られる情報の中で、最も多く利用されてい
るのは2次電子像である。
しかし実際には2次電子像には反躬電子による情報も含
まれる。
反躬電子は、2次電子と異り、試料内部の拡がりを持っ
た領域の・隋報をも含むため2次電子像の分解能を本質
的に劣化させている。
本発明はこの点に着目してなされたものでありその目的
は、高分解能の2次電子像の得られる走査電子顕微鏡を
提供するにある。
第1図において、走査電子線1が試料2を照躬すると、
2次電子SE1,反躬電子RE、反剤電子がエスケープ
するときに発生する2次電子SE2などが発生する。
2次電子SEIは、試料表面から100人程度の深さの
試料表層部3から狭い拡がりで発生するが、反躬電子R
Eは固体内散乱のために反則電子散乱領域4に示すよう
に、2次電子よりも深い広い領域から発生する。
従って通常走査電子顕微鏡で得られる2次電子像は2次
電子SEI ,SE2、反躬電子REによる混合情報で
形或されていることがわかる。
第2図は電子線の照躬点からの距離dと検知される2次
電子、および反則電子の数Nとの関係を示したものであ
る。
曲線N(SEI+SF2+RE)は2次電子および反躬
電子の混合情報を表示したもので、ある拡がりを持った
領域に分布している。
曲線NREは反躬電子情報を表示したもので、上記混合
情報よりもさらに拡がりをもった領域に分布している。
曲線N(S。1+SE2)は純粋の2次電子情報による
ものである。
この2次電子情報は、反躬電子が2次電子より高いエネ
ルギーを持っているので、直接に求めることはできない
この2次電子情報を求めるには、 N(SE1+SE2+RE) 一NRE=N(SE1+
SE2)という操作を行なう必要がある。
この操作によって、曲線N( SE1+ SE2)に示
すように狭い領域からの情報が得られ、2次電子像の分
解能が向上する。
また、さらに、 N ( SEI +SE2 )一NRE=N( SE4
+ SE2 − RE)という操作を行えば、第3図
において、概念的に示すように、上記2次電子情報より
もさらに狭い領域からの情報を得ていることになり、分
解能が一層向上する。
混合情報N(SEl+SE2+RE)と反躬電子情報N
REを選択的に検出するためには、第4図に示すように
、試料2を包むような形で、試料2および試料ホルダ7
から絶縁物6によって電気的に絶縁されている半円球状
のメッシュ5を設け、該メッシュ5にパルス電圧を印加
して行う。
走査電子線1が試料2を照躬すると、2次電子SE、反
剖電子REなどが生ずるが、メッシュ5に負の電圧v2
が印加されたときは、2次電子SEはメッシュ5を通過
することができない。
一向、反躬電子REはメッシュ5を通過するか、又はメ
ッシュ5に衝突して反則電子の・隋報を持った2次電子
SE(R)が新たに生ずる。
すなわち、この状態では、反躬電子REの情報のみが検
出される。
また、第5図のようにメッシュ5に正の電圧v2が印加
されたときは、2次電子SEはメッシュ5を通過する。
この状態では、2次電子SEと反躬電子REによる混合
情報が検出され、通常の2次電子像と同じである。
第6図は、メッシュ5に印加するパルス電圧8を示すも
ので、実験によれば、■2=+2〜5V,V2−−30
V繰り返し周期T = 1 〜0. 5 m sec程
度が好適である。
以下、本発明の実施例にもとすいて説明する。
第7図は本発明の一実施例を示すもので、情報選択千段
9において時分割的に選択された反躬電子および2次電
子と反躬電子の混合情報は、2次電子検出器10で検出
される信号電流に与えられる。
12はパルス電圧発生器で、得られたパルス電圧はメッ
シュ5に加えられると同時に、増幅器11を制御し、該
増幅器11を反転増幅器および非反転増幅器として交互
に繰返し動作させる。
また、13は映像増幅器、14は表示管である。
メッシュ5が正にバイアスされ反躬電子と2次電子によ
る混合情報が検出されるときには、表示管14上に非反
転・隋報が表示され、メッシュ5が負にバイアスされ反
則電子情報のみが検出されるときには、反転情報が表示
される。
走査電子顕微鏡においては、表示管14における走査は
、試料上の走査電子線と同期して行なわれ、この走査電
子線が上記情報信号によって輝度変調される。
非反転情報によって変調されているときには基準輝度よ
り明るく表示され、反転情報によって変調されていると
きには、暗らく表示される。
したがって、表示管上には、混合情報より反躬電子情報
が相殺されたものが表示されることになる。
この点につき、さらに詳細に説明する。第8図において
、I,n,l,・・・は走査電子線を表わし、■,■,
■,・・・は絵素を表わしている。
第8図Aのごとく混合情報すなわち、非反転情報の入っ
ている絵素20と、反則電子情報すなわち、反転情報の
入っている・絵素21とを交互に組立てる。
第8図Bのごとく、絵素20と絵素21とを配列すれば
、視覚的には、一層よく混合する。
以上本実施によれば、簡単な手段により、2次電子線の
分解能を向上させることができる。
以上本発明によれば、混合情報に含まれる反則電子情報
を消去することにより、2次電子像の分解能を向上させ
ることができる。
【図面の簡単な説明】
第1図、第2図、第3図は、本発明の原理説明図、第4
図、第5図、第6図は、情報を選択する原理説明図、第
7図は本発明の一実施例、第8図は、本発明の情報表示
に採用される輝度変調法の一実施である。 符号の説明、1・・・・・・走査電子線、2・・・・・
・試料、SE1・・・・・・2次電子、SE2・・・・
・・2次電子、RE・・・・・・反躬電子、N・・・・
・・放出電子数、d・・・・・・距離、5・・・・・・
メッシュ、6・・・・・・絶縁物、7・・・・・・試料
ホルダ、9・・・・・・情報選択手段、10・・・・・
・2次電子検出器、11・・・・・・増巾器、12・・
・・・・パルス電圧発生器、13・・・・・・映像増巾
器、14・・・・・・表示管、20・・・・・・非反転
・隋報、21・・・・・・反転情報。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 試料を電子線でもって走査し、それによって前記試
    料から得られる二次電子情報および反躬電子情報を含む
    混合情報と前記反則電子情報とは逆極性の反躬電子情報
    とによって交互に表示装置の輝度変調を行って、前記試
    料の前記二次電子情報による像を前記表示装置に表示す
    るようにしたことを特徴とする走査電子顕微鏡。
JP50118867A 1975-10-03 1975-10-03 ソウサデンシケンビキヨウ Expired JPS5847827B2 (ja)

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JPS5244158A JPS5244158A (en) 1977-04-06
JPS5847827B2 true JPS5847827B2 (ja) 1983-10-25

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5857248A (ja) * 1981-09-30 1983-04-05 Hitachi Ltd 走査形電子顕微鏡
JPS5996759U (ja) * 1982-12-21 1984-06-30 日本電子株式会社 分析装置
JPS6077341A (ja) * 1983-10-04 1985-05-01 Agency Of Ind Science & Technol 画像観察装置
JPS63102148A (ja) * 1986-10-17 1988-05-07 Akashi Seisakusho Co Ltd 電子線装置
JP5170728B2 (ja) * 2005-12-13 2013-03-27 サンユー電子株式会社 画像生成方法および画像生成装置

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4984361A (ja) * 1972-12-18 1974-08-13
JPS49124964A (ja) * 1973-04-02 1974-11-29

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4984361A (ja) * 1972-12-18 1974-08-13
JPS49124964A (ja) * 1973-04-02 1974-11-29

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