JPS5844718A - 荷電ビ−ム露光方式 - Google Patents

荷電ビ−ム露光方式

Info

Publication number
JPS5844718A
JPS5844718A JP14342681A JP14342681A JPS5844718A JP S5844718 A JPS5844718 A JP S5844718A JP 14342681 A JP14342681 A JP 14342681A JP 14342681 A JP14342681 A JP 14342681A JP S5844718 A JPS5844718 A JP S5844718A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
speed
base
charged beam
information
stage
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP14342681A
Other languages
English (en)
Inventor
Nobuo Shimazu
信生 島津
Satoshi Ido
井戸 敏
Haruo Tsuyusaki
露「ざき」 晴夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority to JP14342681A priority Critical patent/JPS5844718A/ja
Publication of JPS5844718A publication Critical patent/JPS5844718A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J37/00Discharge tubes with provision for introducing objects or material to be exposed to the discharge, e.g. for the purpose of examination or processing thereof
    • H01J37/30Electron-beam or ion-beam tubes for localised treatment of objects
    • H01J37/302Controlling tubes by external information, e.g. programme control

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Electron Beam Exposure (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、イオン・ビームおよび電子ビーム勢の荷電ビ
ームによシウエハ等の試料上へパターンの描画を行ない
、高密縦集積半導体素子等の製造を行なう荷電ビーム露
光装置へ適用される荷電ビーム露光方式に関するもので
ある。
か−島荷電ビーム露光装置は、ワエへ等の試料を1置し
たステージを連続的に移動1せながら、試料面上の所定
11mへ荷電ビームを投射し、ベダトル走査によp所望
のパターンを試料の面上へ描繭丁ゐものであ)、従来は
、一般に第1図の構成が採用1れている。
すなわち、内部を真空に保り良電子光学鏡体10Pl!
傷上方に1荷電ビーム源2が設けてin、こnかb放射
瘍れ暴荷電ビーム3は、シャッタとしてO横細を有する
ビームプラン−II4を介して下方へ投射1fL、偏肉
電響等のビーム偏向器Sにより偏向11fLえうえ、ス
テージ1上へ載置13九試料としてのクエハ1へ入射す
る一方、駆動装置D1によ)ステージ・が厘動畜れ、ワ
エハyeast、。
九鵞へ所定方向へs’sするものとなっている。
を九、制御用の計算@(!PUからパターン描画眉のデ
ー−を転遥冒れ、これを格納する描画メ啼9MP、  
これO内容に応じて補正演算を行ないながらビームプラ
ン力4Thよびビーム備向器襲を制御す為制御部、なら
びに1ステージ6の移動状況を測定するレーザ測長機郷
の測長部DMが設けてあり、測長部DMの測定結果が制
御部CTへ与えられ、これによって示されるステージ1
の位置を確認のうえ、制御部CTがビームプツンカ4お
よびビーム偏向器5の制御を行なうものとなっており、
駆動装置DRを含め、これらは計算機CPUによる総合
的な制御に基づいて動作している。
第2w11は、ウェハTに対するパターン描画状況を示
す平面図、第3図は、ウェハTおよびステージ6の移動
に応する荷電ビーム5の偏向状況を示す側面図であり、
ウェハ7がまず図上−X方向へ移動するものとすれば、
ウェハ7のパターン描画領域11に対し、描画の開始前
に、荷電ビームiの偏向可能領域12が図のとおCK位
置するものとして定めらnる。
ステージ6の駆動によりウェハTが−X方向への移動を
開始すると、これに応じて積電ビーム5の偏向が開始さ
れ、#I2図における軌跡13のとおりに荷電ビーム5
が投射されるため、これKよってパターンの描画が行な
われる。
大ソし、制御部C!がパターンに応する荷電ビーム50
投射密度にしたがい、ウェハ7の移動に対して追従する
偏向を行なうため、投射密度とウェハ7の移動速度との
関係が最適の条件では、第3図3a O状態となるが、
相互関係上移動速度が低いときは、第3図3bの状態と
なり、相互関係上移動速度が高いときには、第3図3e
 の状態となる。
しかし、ウェハTの移動速度は常に一定で69、投射1
1度の最高値が大きければ、最大角度の偏向によっても
所定の投射密度を維持することができないものとなるた
め、最高投射密度を基準としてウェハTの移動速度を低
く設定せねばならなくなる。
この丸め、従来においては、パターンの描面に畳する時
間が延長畜れ、製造速度が低下し、装置としての主意性
が劣化する等の欠点を生ずる。
本発明は、従来のか\る欠点を根本的に排除する目的を
有し、パターン描画モードおよび単純送)モードに応じ
てあらかじめ速度データを設定してお自、これによって
速度指令信号を発生してステージの駆動を行なうと共に
、パターン描画モードにおいては、荷電ビーム偏向量を
速度指令信号へ加算することにより、パターンの描画を
行なうパターン描画モードにおiて、パターン密度に応
じて移動速度を制御すると共に、パターンの描画を行な
わない単純送りモードでは、別途に移動速度を定めるも
のとし、合理的なステージの駆動制御によって、荷電ビ
ーム露yt、装置の生産性を大幅に向上させることので
きる極めて効果的な、荷電ビーム露光方式を提供するも
のである。
以下、実権例を示す第4図以降により本発明の詳細を説
明する。
第4図は構成図であり、第1図に対して適度制御部SC
が追加してあり、計算機CPUから与えられる速度デー
タを格納する速度メモIJ M−が設けであると共に、
これの読み出し出力をアナログ信号へ変換するディジタ
ル・アナログ変換器(以下、DAC)D/A、および、
加算器ADDが設けてあり、制御部CTからの制・両信
号にょ夛アナーダスイッチ回路等のスイッチUがオンと
なれば、ビーム偏向器Sに対する偏向信号が加算器AD
Dにより加算器れ九うえ、駆動部DRへ与えられるもの
となっている。
このため、ステージ・の移動速度マを示す第5図のとお
り、ステージ6をパターン描画や開始位置まで移動場せ
為単純送りモードでは、未だスイッチ鎧がオンとならず
、速度メモリMSの速度データに応するDAC−I)/
ムからの速度指令信号にしたがってのみ、駆動部DRが
動作し、比較的高速な一定速JIVIによりステージ6
が例えば−X方向へ移動する。
パターン描画の開始位置へ時点を重  においてステー
ジ6が達すると、パターン描画を行なうパターン描画令
−ドとな夛、制御部CTがスイッチ評をオンにすると同
時に、偏向信号を送出するものとなるため、荷電ビーム
3の偏向量を示す偏向信号がDAC−D/Aからの速度
指令信号へ加算器ADD Kよ)加算てれるものとなり
、加算値に応じて駆動部D1が動作することにより、偏
向信号にしたがってステージ60移動速度マー蜜化し、
荷電ビーム3の偏向量に応する速度v■となる。
この丸め、第3図3iの状態で線移動速度マが上昇し、
同図3&乃至3−の状態に対しては次第に移動速度Vが
低下するものとなり、投射部位と対応して所定の投射密
度が維持さnる。
また、時点t1においてパターン描画を終了すれば、ス
イッチSWがオフとなり、速度メモリ顧の速度データに
応する速度指令信号により、ステージ6が速度■3 の
停止状態となったうえ、今度は、+X方向へ速度v1 
 と等しい速度v4によp移動を開始し、速度vm、v
sと同一の速度便化を反復する。
なお、速度メモリMS の速度データは、制御部CTか
らの続み出しアドレス指定により読み出されるものとな
っており、ハターン描画モードのときには、通常、速度
指令信号が速度Vt 、 vsよりも低い値となり、偏
向信号に応する適正な状態として移動速度マが変化する
値に設定とれる。
たソし、速度メモリMS としては、条件に応じて複数
のレジスタ等を用いてもよく、偏向信号をディジタル信
号へ贅換のうえ、適度メ峰すM8の出力とディジタル加
算器によp加算してから、DAC!D/A Kよりアナ
ログ信号としても同様であり、駆動l5DRがディジタ
ル信号に応答するものであれば、DAC−D/Aを省略
してもよい。
また、クエハTの位置規正用マークを検出する場合に唸
、!−!検出動作に応じて同様の移動速度制御を行なえ
ばよく、本発明は種々の変形が自在である。
以上の説明により明らかなとおり本発明によれば、簡単
な構成により、荷電ビームの偏向量に応じたステージの
移動速度制御が行なわれるため、常に最適移動速度によ
るパターンの描画がな畜れ、従来に比して所要時間が短
縮されるものとな9、荷電ビーム1lIyt、装置の生
産性が大幅に向上し、高密度第積半導体素子等の製造に
おいて顕著な効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例を示す構成図、第2図はパターンm両状
況を示す平面図、第3図は荷電ビームの偏向状況を示す
側面図、flc4図は本発明の実施例を示す構成図、詑
5図はステージの移動速度制御を示す図である。 1・・・・電子光学鋳体、2・・・・荷電ピー4%31
3a〜3c  ・・働・荷電ビーム、5・・・・ビーム
偏向器、6・・・・ステージ、T・・・・ワエノ・(試
料)、CPU ・・・・計算機、MP・・・・描画メモ
リ、0丁 ・・・・制御部、DM・・・・測長部、DR
・・・・駆動部、M8・・・・速度メモリ、D/A ・
・・・DAC(ディジタル・アナログ変換器)、ADD
・・・・加算器、8W・・・・スイッチ。 特許用原人  日本′#j:L信電話公社代理人 山川
政樹 第2図             第3図第5図 −澗

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 試料の載置されたステージを移動式せながら荷電ビーム
    によりノ々ターンの描画を行なう荷電ビーム露光装置に
    おいて、パターン描画モードおよび単純送9モードの各
    モードに応じてあらかじめ設定されている速度データに
    基づき速度指令信号を発生し、皺適度指令信号にしたが
    って前記ステージの駆動を行なうと共に、前記パターン
    描画モードにおいては荷電ビーム偵向量を前配速l1I
    L指令信号へ加算することを特徴とした荷電ビーム露光
    方式。
JP14342681A 1981-09-11 1981-09-11 荷電ビ−ム露光方式 Pending JPS5844718A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14342681A JPS5844718A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 荷電ビ−ム露光方式

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP14342681A JPS5844718A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 荷電ビ−ム露光方式

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5844718A true JPS5844718A (ja) 1983-03-15

Family

ID=15338450

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP14342681A Pending JPS5844718A (ja) 1981-09-11 1981-09-11 荷電ビ−ム露光方式

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS5844718A (ja)

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS617627A (ja) * 1984-06-22 1986-01-14 Toshiba Corp 荷電ビ−ム描画方法
JPS62229940A (ja) * 1986-03-31 1987-10-08 Advantest Corp 荷電粒子ビ−ム露光装置におけるマ−ク位置検出方法
JPH0352994A (ja) * 1989-07-19 1991-03-07 Sanei Kogyo Kk 成型燃料の製造法

Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS617627A (ja) * 1984-06-22 1986-01-14 Toshiba Corp 荷電ビ−ム描画方法
JPS62229940A (ja) * 1986-03-31 1987-10-08 Advantest Corp 荷電粒子ビ−ム露光装置におけるマ−ク位置検出方法
JPH0352994A (ja) * 1989-07-19 1991-03-07 Sanei Kogyo Kk 成型燃料の製造法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0248588B1 (en) Electron beam exposure system
JPS5844718A (ja) 荷電ビ−ム露光方式
JPS631743B2 (ja)
US4530064A (en) Exposure method utilizing an energy beam
JP2577970B2 (ja) 荷電ビーム描画方法
JP2894746B2 (ja) 荷電ビーム描画方法
JPH05335220A (ja) 電子線描画装置、及び、電子線描画方法
JP2904620B2 (ja) 荷電粒子ビーム描画方法
JPH0420047Y2 (ja)
JPS5828730B2 (ja) 電子ビ−ム露光装置
JPS58125827A (ja) ビ−ムラスタ描画方式
JPS6231489B2 (ja)
JPS62272527A (ja) 放射ビ−ムによる描画装置
JP2786314B2 (ja) 荷電粒子ビーム描画装置の偏向歪補正方法
JPS5891638A (ja) 電子ビ−ム露光方法
JPH1034571A (ja) ロボットの位置ずれ修正装置
JPH07111943B2 (ja) 電子ビ−ム露光装置
JP3340595B2 (ja) 荷電粒子ビーム描画方法
JP3232583B2 (ja) 電子線描画装置
JPS617626A (ja) 荷電ビ−ム描画方法
JPH02134810A (ja) 電子線描画装置
JPH10242025A (ja) 可変面積型電子ビーム描画方法
JPS63283130A (ja) 荷電ビ−ム描画方法及び描画装置
JPH10283964A (ja) 試料ステージ移動装置
JPH06163375A (ja) 荷電粒子線描画装置