JPS5839357B2 - パタ−ンの位置検出方法 - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、２次元映像の内からあらかじめ定められたパ
ターンを自動的かつ高速に探索し、その位置を精度よく
検出する位置検出方法に関する。

テレビカメラなどの撮像装置で取り込んだ映像の中から
、ある特定のパターンを他のパターンや背景のパターン
から区別して抽出し、その２次元映像中での位置を求め
る方式については、既に本発明者によって特願昭４８−
２１６３６号（特開昭４９−１１１６６５号）として提
案されている。

この方式は、対象の局部的なパターンを標準パターンと
して記憶し、この標準パターンと撮像装置によって入力
される映像中の各位置での切出しパターンとを順次比較
し、最もよく合致した座標位置を検出することにより、
対象全体の位置を検出するものである。

この場合、映像中の切出しパターンの大きさが装置によ
って、固定されているときは、次のような問題がある。

第１図イは撮像装置より得られた映像の１例を示し、映
像１から同図口に示す標準パターンを用いて、対象２上
にある「５」の字形パターン３を検出し、これによって
対象２全体の位置を検出するものである。

このとき、口のパターンが、例えばｌ０ＸＩＯのサンプ
ル点からなるとすると、このパターンを検出するためイ
の映像面をパターン口の縦、横とも１／１０に対応する
サンプリング間隔で探索することとなり、したがって検
出精度はこのサンプリング間隔と同程度となる。

検出精度をそれ以上に高めるため、サンプリング間隔を
さらに、例えば１／３に小さくすると、パターン口の１
／３の、同じ１０ＸＩ Ｏのサンプル点からなるパター
ンハを標準パターンとし、全画面を探索することになる
。

しかし、このように対象上の小さな部分を標準パターン
とすると、正しい位置４〜１の外に４−２，４−３など
の位置でも標準パターンと合致するため、確実に４−１
の位置を検出することは困難である。

これは、パターンハにはパターンとしての特異性がない
ためである。

なおこの場合、検出精度を高めるために、標準パターン
としてパターン口を用いて、単にサンプリング間隔のみ
を１／３に小さくすることは、検出装置の規模たとえば
メモリ容量をきわめて増大する必要があり、困難である
。

一般に対象上に十分小さく、しかも映像中で特異性を持
つパターンがあることは必ずしも期待でキーｒ、また、
そのようなパターンを付加することが許されない場合も
ある。

この点を除けば、この方法の問題点は、対象上の局部標
準パターンの大きさによって検出精度が決まり、用途に
よっては精度が不足することである。

本発明の第１の目的は、上記の問題点を解決し、特異性
を持つ標準パターンを使用し、かつその大きさにかかわ
らず十分な検出精度を持つ位置検出方法を提供すること
にある。

本発明の第２の目的は、多様な対象を認識できる汎用検
出装置を提供することである。

これは、例えばベルトコンベアで順次に種々の対象が供
給され、それを識別し位置を決める場合、あるいは多数
の撮像装置を並置し、一つの映像処理装置を時分割で使
用して、各々の視野毎の対象の位置を検出するときなど
に効果がある。

この場合、個々の対象の持つ特異性のあるパターンに応
じて局部標準パターンの大きさと縦横比とを高速に切換
えることができれば、検出装置の適用範囲がさらに拡大
されることになる。

上記の目的を達成するため、本発明の検出方法において
は、標準パターンの大きさに合わせて縦横それぞれ独立
にサンプリング間隔を設定する。

ここで、説明のため撮像装置として、テレビカメラに代
表されるようなラスク状走査を行なう像入力装置を考え
る。

これは、空間内に並んだ映像情報を時間的に並んだ信号
すなわち順次直列に送出される信号に変換するものであ
る。

この場合、映像上でのサンプリングは、映像信号の時間
的なサンプリングに置き換えられる。

ここで、映像上でのサンプリング間隔を変えるには２通
りの方法がある。

第１の方法は、走査の周期およびサンプリングの時間的
間隔を固定しておき、撮像装置の走査幅を変化させるも
のである。

すなわち、第２図イを標準の走査線とし、１例として、
水平方向走査幅を１／２、垂直方向走査幅を１／３に縮
小すると、同じ映像面に対して走査線は口に示すように
なり、従って空間的なサンプリング間隔が変化されたこ
とになる。

この方法を実施するには、撮像装置の偏向信号の振幅を
制御すればよい。

水平偏向と垂直偏向とで増幅率を互いに独立に変化させ
ることは容易であり、電子的に高速に切換えを行なうこ
とも可能である。

しかし撮像装置の特性から、このように走査線を変更す
ると映像信号の性質が変化することがあり、また、これ
を行なうには撮像装置の改造を必要とするため、必ずし
も一般的に使用できる方法ではない。

サンプリング間隔を変化させる第２の方法は、撮像装置
の走査周期および偏向振幅を固定しておいて、映像信号
の時間的サンプリング間隔を変化させるものである。

第３図イに示した基盤目のうち、横線はそのまま走査線
を示し、縦線は走査線間隔に等しい間隔で引いたもので
ある。

この場合、縦線と横線の交点すなわち格子点は、映像を
標本化して処理するときのサンプリング点の基本となる
絵素である。

同図イに、○印で４×４の絵絵素からなる標準パターン
を例示した。

これに対し、同図口は、水平方向のサンプリング間隔を
３倍に、垂直方向のサンプリング間隔を２倍にした場合
のサンプリング点を太い縦線と横線の交点で示し、さら
に４×４の標準パターンの大きさを示したものである。

このようにしてサンプリング間隔を切換えれば、標準パ
ターンを構成するサンプリングされた絵素数が一定であ
っても、標準パターンの大きさを適当なものに選択する
ことができる。

これによって、まず本発明の第２の目的を達成すること
ができる。

次に本発明の第１の目的を達成するには、位置の検出を
粗検出と精検出の２段階に分けて行なう。

粗検出においては、パターンの画面中での特異性が保証
される大きさの標準パターンを使用する。

第１図イの２に示じたような対象の例では、口に示す大
きさの標準パターンで特異性がある。

このときのサンプリング間隔が縦横とも６絵素とすると
、粗検出では全画面を縦横とも６絵素間隔でサンプリン
グして取込み、標準パターンと、同じ大きさの２次元切
出しパターンとを順次比較して、最もよく合致した座標
位置を求める。

このようにして求めた位置は最大１サンプリング間隔す
なわち６絵素までの誤差を含んでおり、さらに精密な位
置を求めるため、次に精検出を行なう。

精検出は、パターンの水平、垂直の両方向の稜線部分に
注目し、稜線と直角な方向での稜線の位置を検出するこ
とによって行なう。

このときサンプリング間隔は１絵素とし、第４図イル二
に示す４つの標準パターンを用いる。

この場合、標準パターンには特異性はないが、粗検出で
得た結果を用いて探索範囲を限定するため、誤まった位
置を求めることはない。

第５図は精検出における探索範囲を示す。

すなわち、太い実線５−１ 、５−２ 、５−３ 、５
−４は、それぞれ第４図の標準パターソイ２口、ハ。

二と比較する切出しパターンの、各標準パターンに示し
た右下の点の範囲を示し、また破線で示した長方形は、
それに対応する切出しパターンの探索範囲を示す。

この場合、粗検出では全画面にわたって面の広がりをも
って探索を行なうのに対し、精検出では稜線に垂直な線
状の範囲に限定して探索を行なうのみでよい。

なお、その長さは粗検出のサンプリング間隔の２倍以上
とし、３倍程度まで広げてもよい。

なお、同図の左上部に破線で記載した矩形は標準パター
ンの大きさを示す。

粗検出が正しく行なわれたならば、必ずその範囲内に標
準パターンとほぼ一致する部分があり、しかも一致の程
度はその範囲内で鋭いピークを示すため、少なくともサ
ンプリング間隔、すなわちほぼ１絵素の精度で稜線の位
置を検出することができる。

この場合、第６図のように稜線に多少の凹凸があっても
、その平均的な境界を検出することが可能である。

もし、垂直、水平方向の稜線がない、第７図イのような
パターンを検出するには、精検出用の標準パターンとし
て同図口、ハを用意し、それに対応する精検出の切出し
パターンの右下点の探索範囲として、７−１，７−２の
２次元小区画を使用すればよい。

この例に示したような標準パターンを用いれば、一致度
は水平、垂直の両方向ともに鋭いピークを示すので、必
要な位置決めを行なうことができる。

以下、実施例によって本発明の詳細な説明する。

第８図は本発明の検出方法による検出装置全体の構成例
を示すブロック図である。

１１は基本のクロックと走査点座標信号１１′及び必要
ならば水平、垂直の同期信号を発生する回路、１２は指
定されたサンプリング間隔および探索範囲に従って、各
部分に必要なタイミング信号を送出する回路である。

像入力装置１３より得られた信号は、２値化回路１４に
より白黒の２値信号３０とされ、以後ディジタル信号と
して扱われる。

また１５は２次元的な画像を記憶する映像メモリであり
、走査線ｎ−１本分の画像を順次シフトしながら記憶し
ている。

１６は長さｎ／のｎ本のシフトレジスタからなる画像の
２次元局部切出し部である。

１７もｎ ｘ ｎ’点の標準パターンを一時記憶するレ
ジスタであり、レジスタ１６，１７の記憶内容をマツチ
ング回路１８によって各対応点毎に比較し、パターンの
不一致の程度を求める。

最小値検出回路１９はこの不一致度を観察し、保持して
いる値より小さい値が現われたとき、保持値を現れた値
でおきかえ、さらにそのときの走査点座標をレジスタ２
０に取込む。

このようにすると、指定した範囲の走査が終ったときに
保持している値がそのまま最小値であり、また、レジス
タ２０がそのときの走査点座標となっている。

２１は座標の計算を行ない、パターンの探索範囲とサン
プリング間隔をタイミング信号発生回路１２に与え、ま
た対象の位置の検出結果を示す信号２１′を出力する計
算回路である。

２２は、レジスタ１７にセットすべき標準パターンを必
要分だけ記憶しておくメモリである。

運用制御部２３は、装置の各部分に順を追って動作指令
を発し、探索終了信号２４を受けて、次の段階に進める
ためのシーケンス制御を行なう。

なお、２５で示す部分すなわち２１〜２３よりなる演算
処理装置は、例えば電子計算機などの汎用演算処理装置
で置き換えることは容易であり、その方が装置全体の柔
軟性が増加する。

以下、各部の説明を行なう。

第９図は、映像メモリ１５と局部切出し部１６の構成を
示す。

ここで映像メモリ１５は、ｎ−１本のシフトレジスタ３
１−１，３１−２．・・・・・・・・・。

３ｌ−ｎ−１を縦続接続したものである。

先頭のシフトレジスタ３１−１の入力は第８図の２値化
回路１４の出力３０であり、この信号はそのまま局部切
出し部１６への入力３２−１とする。

なお各シフトレジスタの出力３２−２ 、３２−３ 、
・・・・・・・・・、３２−ｎも局部切出し部１６への
入力とする。

各シフトレジスタ３１−１．３１−２．・・・・・・・
・・。

３ｌ−ｎ−１は走査線１本分の情報が入るだけの長さを
持ち、従って各信号３２−１，３２−２゜・・・・・・
・・・、３２−ｎは画像中縦に並んだ絵素の情報を持っ
ている。

局部切出し部１６は、各々ｎ／ビットの長さを持ったｎ
本のシフトレジスタ３３−１゜３３−２．・・・・・・
・・・、３３−ｎから構成される。

これらのシフトレジスタはそれぞれ信号３２−１゜３２
−２．・・・・・・・・・、３２−ｎを直列入力として
加えられ、各並列出力３４をマツチング回路１８へ送る
。

このように結合されたシフトレジスタに対して、クロッ
ク信号３５．３６によってサンプリング間隔の制御が行
なわれる。

すなわち、縦方向のサンプリング間隔を制御してｍとす
るには、シフトレジスタ３１．３３ともに走査線のうち
ｍ水目毎にのみシフト用のクロック３５．３６を出せば
よい。

この場合、シフトレジスタ３１にはサンプリングを行な
わない１絵素毎のクロック３５を与える。

また、局部切出し部の横方向のサンプリング間隔を制御
し、ｍ’とするには、シフト用のクロック３６をｄ絵素
毎にのみ与えるようにする。

このようにして、シフト動作の瞬間に入力されていた値
が取り込まれ、それ以外の時点の値は取り込まない。

このため、シフトレジスタ３３の入口でサンプリングが
行なわれ、局部切出し部１６には縦方向ｍ、横方向Ｈの
サンプリング間隔で取り込まれた画像が逐次現われる。

第１０図はマツチング回路１８の構成を示し、局部切出
し部１６のｎ本のシフトレジスタ３３−１．３３−２．
・・・・・・・・・、３３−ｎからの各ｎ′の並列出力
３４と、標準パターンの一時記憶レジスタ１７のｎＸｎ
’本の出力３７とは各対応する信号の組ごとに排他的論
理和演算器３８により不一致信号３９を送出する。

この場合、パターン全体の不一致度は、ｎ ｘ ｎ’本
の信号３９のうち、′１″である本数によって表現され
る。

次いで、信号３９により各電流源回路４０の出力をオン
、オフし、加算回路４１により電流を加算することによ
り、オンしている電流源回路の個数に対応した、不一致
度を示す電圧４２を得ることができる。

上記第１０図においては、加算回路４１はアナログ演算
回路により構成したが、ｌピッ） ｎ Ｘ ｎ’大入力
加算器により構成することもできる。

この場合、回路は多段階の回路とし、１段目は１ビツト
３人力の加算器で構成して２ビツトの出力を得るように
し、２段目では２ビツト入力の加算器で１段目の結果を
まとめ、以下同様に段を進めて、最終的に全ての初段入
力の加算値すなわち”１′′の本数を２進数として得る
ことができる。

第１１図は最小値検出回路１９の構成を示す。

初期値設定器４３は保持回路４４に初期値として大きな
値をセットするためのものである。

マツチングのための標準パターンと探索範囲との指定が
行なわれたときに、タイミング信号４６により切換器４
５を初期値側に切換えるとともに、論理和演算器４１を
通して保持回路４４の入力ゲートを開き、初期値設定器
４３からの初期値をセットする。

次いで切換器４５を信号４２側にもどし、探索範囲内に
おいて刻々求まる不一致の程度を示す信号４２と保持回
路４４の保持値とを比較器４８で比較する。

不一致度電圧信号４２の新しい値の方が小さいことを検
出すると、その値をサンプリングクロック４９で論理積
算器５０によってゲートし、論理和演算器４７を通して
保持回路４４の入力ゲートを開き、不一致度電圧信号４
２の新しい値を取り入れる。

論理積演算器５０の出力１９’は第８図に示したように
レジスタ２０の入力ゲートをも開き、その時点の走査点
のＸ座標およびＹ座標を取込む。

このようにすると、探索範囲の走査が終了したときには
最小値が保持回路４４に、最小値が発生した時点のＸＹ
座標がレジスタ２０にそれぞれ残っていることになる。

第１２図は、走査点座標及び同期信号発生回路１１とタ
イミング信号発生部１２の詳細な構成を示す。

まず発振器５１の出力クロック５２によりＸ座標カウン
タ５３を進ませる。

カウンタ５３の周期は定数設定器５４にセットされてお
り、−数構出回路５５によりカウンタ５３が周期に達し
たことを検出するとカウンタ５３をリセットする。

こうして、カウンタ５３は定めた周期で繰返しカウント
を行なう。

一致検出回路５５の出力５６はＹ座標カウンタ５７にク
ロックとして加えられ、周期を与える定数設定器５８と
一致検出回路５９との組合わせでカウンタ５７は定めた
周期で繰返しカウントを行なう。

水平同期信号発生器６０および垂直同期信号発生器６１
はＸ、 Ｙの各座標カウンタ５３゜５７の内容がそれぞ
れ所定値となったことを検出して、一定のタイミングお
よび幅を持つ信号を送出する。

次にタイミング信号発生回路１２において、探索範囲を
限定するための回路について述べる。

６２．６３はそれぞれ探索範囲の左端、右端のＸ座標を
保持するレジスタで、その値は第８図における演算処理
装置２５より与えられる。

まず−数構山谷６４，６５によりＸ座標カウンタ５３と
６２．６３との内容の一致を検出し、それぞれをフリッ
プフロップ６６をセットおよびリセットする。

従って、フリップフロップ６６はＸ座標が指定された範
囲内にあるときのみオンとなる。

Ｙ座標についても同様に、上端、下端を与えるレジスタ
６７．６８、−数構山谷６９，７０によってフリップ７
０ツブ７１をセット、リセットし、指定範囲内のみでオ
ンとなる信号を作り出す。

次に、サンプリング間隔の制御回路について述べる ７
２は回路１１におけるＸ座標カウンタ５３と同じクロッ
ク５２で動作するカウンタで、その内容がレジスタ７３
が保持する周期と内容が一致することを一致検出器７０
で検出し、その時点でレジスタ７３をリセットし内容を
零に戻す。

こうして、カウンタ７２はレジスタ７３が保持する周期
で繰返しカウントを行なうことになる。

１５はカウンタ１２の内容が零であることを検出してお
り、１周期に１クロツクタイムのみ出力がオンとなる。

Ｙ方向についても同様に、カウンタ７６、周期レジスタ
７７、−数構山谷７８、セロ検出器７９により、１周期
に１水平走査線のみオンとなる信号を作り出す。

８０〜８２は論理積演算器で、必要なタイミング信号を
作り出す。

すなわち、８０はＹ方向の指定されたサンプリング間隔
ごとのｌ水平走査線分にゲートされたクロック５２を出
力し、これを映像メモリ１５のシフトクロック３５とし
て使用する。

８１は、さらにＸ方向にもサンプリングされたクロック
を出力し、これを局部切出し部のシフトクロック３６と
して使用する。

８２は、シフトクロック３６をさらにＸ方向とＹ方向の
探索範囲の中だけ限定したクロックを作り、最小値検出
回路１９のクロック４９として使用する。

また、探索範囲の下端の一致検出器７０の出力は、探索
範囲の走査が完了したことを演算処理装置に知らせる信
号２４として使用する。

第１３図は、前記第８図における計算回路すなわち座標
演算処理部２１の構成の一例を示すブロック図である。

また、第１４図は画面の走査の経過方向を下にとり、走
査の進行とともに標準パターンと探索範囲をどのように
切り換えるかを示した説明図で、垂直帰線期間をはさん
で２つの画面を連続して示す。

上記両図において、まず最初に粗認識を行なう。

そのため、運用制御部２３は選択回路９１を切換えて、
粗検出のための探索範囲を示す信号を送り出す。

この探索範囲は全画面ととることが多（、標準パターン
に第１４図Ａの標準パターンを用いるときには、ａの斜
線で示した範囲とする。

走査が進んでｐ点に至ったとき探索は終了し、ｉ点が不
一致の程度が最小で、その座標が信号２０′として送ら
れてくる。

この値をレジスタ９３に記憶しておく。

次に選択回路９１を切換えて精検出に移り、順次第１４
図の標準パターンＢ、Ｃ，ＤおよびＥを用い、それぞれ
第１４図のｂ）ｃ、ｄおよびｅで示す直線状の探索範囲
でマツチングを行なう。

この探索範囲は、粗検出の結果得られたｉ点に対し一定
の相対位置関係にあるため、標準パターン毎にレジスタ
９４に記憶されている値を選択回路９１’を切換えて取
出し、加算器９５により、レジスタ９３に保持されてい
る粗検出の結果の位置と加算し、選択回路９１を通して
送り出す。

ｂ、ｃ。ｄ、ｅの探索範囲はｑ、ｒ、ｓ、を点に至った
とき終了となり、第８図に示したようにタイミング発生
回路１２から探索終了信号２４が運用制御部２３に加え
られる。

ここで、探索パターンＢに対し、ｊ部において不一致の
程度が最小であったとする。

ｊ部と最終的に求めたい位置ｎとの間には一定の相対位
置関係があるため、各標準パターン毎にレジスタ９６に
記憶されている値を選択回路９１を切換えて取出し、加
算器９８でマツチング結果の位置座標を加算し、レジス
タ９９の対応する部分に記憶しておく、４つの標準パタ
ーンＢ−Ｅについてのマツチングが終了したとき、標準
パターンＢ、Ｅに対応するレジスタ９９のＹ座標を加算
器１００−１で加算し、最下位ビットを除いたものをと
ることにより両者の加算平均を得る。

同様に標準パターンＣ，Ｄに対する結果より加算器１０
０−２によりＸ座標の加算平均を得る。

この１００１゜１００−２の出力が、最終的求めようと
するｎ点の座標である。

第１３図の構成は、最初にあげた本発明の第１の目的を
達成するため、粗検出と精検出を行なうための１例を示
したものである。

本発明の第２の目的を達成するためには探索範囲用のレ
ジスタ９３を複数個用意し、サンプリング間隔および標
準パターンを共に必要なものに切換えてタイミング信号
発生回路１２および標準パターンレジスタ１７に送り、
マツチング動作を規定するようにすればよい。

これらの制御は専用の回路によって実現してもよく、ま
た汎用のプログラム内蔵型演算処理装置を用い、プログ
ラムによって実現してもよい。

後者によれば、さらに複数の標準パターンを設けて個々
の標準パターンでのマツチングが成功しなかったときの
対策とし、あるいは複数個の標準パターンのマツチング
結果位置の相対位置関係をチェックすることによりマツ
チングが正しかったことを確認することも容易である。

以上の実施例においては、映像信号を２値化して処理す
るものとして説明したが、映像信号を複数ビットの多値
ディジタル量に変換し、あるいはアナログ信号のままと
して処理してもよい。

そのときは、映像メモリおよびマツチング演算部を上述
の実施例と同様な機能をもつもので置き換えればよい。

以上説明したように本発明によれば、検出のため設定さ
れた画面の中から標準パターンを選択すン る際、その大きさおよび縦横比に関する自由度が大きく
、従ってパターンとして特異性を持つものを選択するこ
とが容易である。

また、粗検出、精検出の２段階に分けて検出を行なうこ
とにより、粗検出のサンプリング間隔が大きい場合でも
、１絵素の分解能で対象の位置を検出することが可能で
ある。

また、多種類の対象をそれぞれに適した標準パターンの
大きさを用いて検出し、しかもその切換えを高速に行な
うことが可能である。

これらの特長は、本発明による検出方法の適用可能範囲
を床机なものとすることにつながっている。

それは対象の種類だけではなく、対象の撮像装置視野で
の供給誤差と関連する視野の大きさの選択にも大きな自
由度を与えることになる。

さらに、全ての動作の切換えは電子的に行なえるため、
多数台の撮像装置で捕える多種類の対象の位置検出を時
分割サービスにより処理することができる。

【図面の簡単な説明】 第１図は標準パターンの１例を示す説明図、第２図は走
査軸を変化させる方法を示す説明図、第３図はサンプリ
ング間隔を変化させる方法を示す説明図、第４図は精検
出のための標準パターンを示す説明図、第５図は精検出
方法を示す説明図、第６図は凹凸のある稜線の検出を示
す説明図、第７図は精検出用の標準パターンの選択を示
す説明図、第８図は本発明による装置全体の構成例を示
すフロック図、第９図は画像メモリと局部切出し部の構
成例のブロック図、第１０図はマツチング回路の構成例
のフロック図、第１１図は最小値検出回路の構成例のブ
ロック図、第１２図はＸＹ座標およびタイミング信号発
生部の構成例のブロック図、第１３図は座標計算部の構
成例のブロック図、第１４図は粗検出、精検出の順序を
示す説明図である。 １：映像、２：対象、３： 「５Ｊの字型パターン、
１１：同期信号発生回路、１２：タイミング信号発生回
路、１３：像入力装置、１４：２値化回路、１５：映像
メモリ、１６：２次元局部切出し部、１７：標準パター
ンレジスタ、１８：マツチング回路、１９：最小値検出
回路、２０：レジスタ、２１：計算回路、２２：メモリ
、２３：運用制御部、２４：探索終了信号、２５：演算
処理装置。

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. １ 撮像装置からの画像情報をあらかじめ定めた第１の
   サンプリング間隔でサンプリングしてメモリー記憶しな
   がら、上記メモリに記憶された情報を順次部分的に切り
   出して第１の標準パターンと比較し、両者が最も合致し
   たときの上記情報切り出し位置の座標すなわち第１の座
   標を記憶し、上記第１の座標より探索範囲を定め、前記
   画像情報の上記探索範囲の部分を上記第１のサンプリン
   グ間隔よりも小さい第２のサンプリング間隔でサンプリ
   ングして前記メモリに記憶しながら、順次部分的に切り
   出して第２の標準パターンと比較し、両者が最も合致し
   たときの情報切り出し位置の座標すなわち第２の座標を
   求め、前記第１の座標および上記第２の座標より正しい
   座標を求めることを特徴とするパターンの位置検出方法
   。