JPS5831742B2 - 酸化亜鉛の圧電結晶膜 - Google Patents

酸化亜鉛の圧電結晶膜

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JPS5831742B2
JPS5831742B2 JP52111760A JP11176077A JPS5831742B2 JP S5831742 B2 JPS5831742 B2 JP S5831742B2 JP 52111760 A JP52111760 A JP 52111760A JP 11176077 A JP11176077 A JP 11176077A JP S5831742 B2 JPS5831742 B2 JP S5831742B2
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JP
Japan
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crystal film
piezoelectric crystal
zinc oxide
sulfur
oxide piezoelectric
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Expired
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JP52111760A
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JPS5445795A (en
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敏夫 小川
浩司 西山
翼 増尾
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Murata Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Murata Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Priority to US05/942,278 priority patent/US4219608A/en
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  • Inorganic Compounds Of Heavy Metals (AREA)
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  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は酸化亜鉛からなる圧電結晶膜に関するもので
ある。
酸化亜鉛の圧電結晶膜の製造方法としては真空蒸着法、
気相反応法あるいはスパッタリング法などがある。
この中でたとえばスパッタリング法、特に高周波スパッ
タリング法は軸配向した結晶膜の成長速度が早く、工業
的に量産することができるという利点を備えている。
この高周波スパッタリング法を用いて被着面に酸化亜鉛
の圧電結晶膜を作成する場合、従来はターゲットに高純
度の酸化亜鉛の焼結体を用いていたが、このターゲット
を用いて高周波スパッタリングをしても、得られた結晶
膜の密着性か悪く、良質な膜でなかった。
また被着面に対してC軸を垂直にすることがむつかしか
った。
このように酸化亜鉛の圧電結晶膜の密着性が悪いと、た
とえば弾性表面波濾波器をこの圧電結晶膜で構成した場
合、膜が剥離したりして、<シ歯状電極が形成されにく
く、断線事故が発生しやすくなり、ざらに伝搬ロスも大
きくなるという欠点があった。
また、被着面に垂直な軸に対してC軸が傾いていると電
気機械結合係数の値が小さくなり、変換効率のよい酸化
亜鉛の圧電結晶膜が得られにくかった。
このような問題を種々検討した結果、酸化亜鉛の圧電結
晶膜にイオウを含有させると、被着面に対しC軸が垂直
で、良質な圧電結晶膜か得られることを見い出したので
ある。
以下にこの発明を説明するために、高周波スパッタリン
グ法を用いて酸化亜鉛の圧電結晶膜にイオウな含有させ
た一例について説明する。
第1図は酸化亜鉛の圧電結晶膜を形成するための高周波
2極スパツタリング装置を示す。
1は気密容器(ベルジャ)を示し、この気密容器1には
一対の平行平板状の陰極2と陽極3が配置されている。
陰極2の上にはイオウを含有している酸化亜鉛からなる
ターゲット4が固定されている。
5はシャッタである。
陽極3には被着物となるガラス、金属などの基板6が固
定され、この基板6はスパッタリング中に200〜5o
o℃の範囲で加熱される。
γは排気孔、8はガス導入口である。
高周波スパッタリングをするには、気密容器1を密封し
たのち排気孔7からI X 10−’Torr以上の真
空度になるように排気する。
次にガス導入口8からアルゴン、酸素あるいは酸素とア
ルゴンの混合ガスを導入し、ガス圧がlXl0−1〜I
X 10−”Torrになるようにする。
陰極2には高周波電源9により高周波電圧を印加する。
ターゲット4には単位面積当たり2〜8w/crAの高
周波電力を供給する。
イオウを含有する酸化亜鉛の焼結体からなるターゲット
は次のようにして作成した。
原料としてZnO、ZnS (硫化亜鉛)の各粉末を用
い、第1表に示す比率になるように調合し、湿式混合し
た。
これらを脱水したのち600〜800℃で2時間仮焼を
行った。
次に有機バインダとともに湿式ミルで粉砕、混合し、さ
らに脱水、乾燥率*したのち整粒した。
こののち粉末を1000kg/crrfの圧力で加圧成
型し、直径100mm、厚み5間の円板に成型した。
さらに成型円板を1200℃で2時間焼成してイオウを
含むターゲット試別を作成した。
得られたターゲットの比抵抗、理論密度に対する焼結密
度の百分率(焼結密度/理論密度XI 00 )を測定
したところ第1表に示すような結果が得られた。
各ターゲット試別を用いて高周波スパッタリング装置で
ガラス基板に酸化亜鉛の圧電結晶膜を形成した。
高周波スパッタリングは次の条件により行った。
すなわち、ガス導入口8から気密容器1にアルゴン90
容量多と酸素10容量多の混合ガスを導入し、気密容器
1の圧力を2X 10”−”Torr、 被着面とな
るガラス基板を350℃に加熱した。
またターゲット4には単位面積当たりたとえば、周波数
13.56 MHzで6wAJの電力を供給した。
このようにして得られた酸化亜鉛の圧電結晶膜のC軸配
向性をX線回折のロッキングカーブ法(参考文献:答方
、中鉢、菊池「ZnO結晶薄膜における結晶軸の定量的
−表示法(極点図の導入と正規分布近似)」第20回応
物連合講演予稿、2(1973)84.苦力誠東北大学
博士論文(1974))により測定した。
被着面に垂直な軸に対しC軸が何度傾いているかその平
均値iと標準偏差σを求めた。
また各試別につき膜質、密着性を測定した。
なお密着性はMIL−8TD−202Dの試験法107
Cにより行い、圧電結晶膜がガラス基板からはがれたも
のを「不可」、ひび割れの生じたものを「やや良好」、
変化のないものを「良好」とした。
上記した酸化亜鉛の圧電結晶膜の各特性を第1表に合わ
せて示した。
第1表から、この発明によるものはC軸が被着面に対し
、はぼ垂直になっており、このことから大きな電気機械
結合係数が得られ、変換効率のよいすぐれた圧電結晶膜
の得られていることがわかる。
また、膜質もなめらかでさらに密着性もよく良質な圧電
結晶膜が得られている。
第1表中、試料番号7につき、酸化亜鉛の圧電結晶膜の
各特性を「−」で示したが、これはC軸が被着面に対し
て垂直に配向せず、圧電結晶膜として使用できないため
、特性の評価を行わなかったことを意味する。
なお、この発明において酸化亜鉛の圧電結晶膜にイオウ
を含有させる範囲はイオウの原子俤に換算して0.01
〜15.0原子係の範囲にあればよい。
つまり、0.01原子俤未満になると密着性が悪くなり
、15.0原子多を越えると配向性が悪くなる。
上記した実施例ではターゲット中にイオウを含有させた
が、そのほかにイオウの化合物を用いてもよく、得られ
た酸化亜鉛の圧電結晶膜にイオウが含まれていれば同様
の効果が得られる。
また上記した実施例では高周波スパッタリング法を用い
たが、酸化亜鉛の圧電結晶膜にイオウを含有させること
ができれば他の方法、たとえば同時スパッタリング法あ
るいはイオンブレーティング法などを用いてもよい。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の一実施例を説明するために用いたス
パッタリング装置の概略図である。 1・・・・・・気密容器、2・・・・・・陰極、3・・
・・・・陽極、4・・・・・・ターゲット、6・・・・
・・基板。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 被着面に対しC軸が垂直になっている酸化亜鉛の圧
    電結晶膜であって、この圧電結晶膜にイオウを0.01
    〜15.0原子多含有させたことを特徴とする酸化亜鉛
    の圧電結晶膜。
JP52111760A 1977-09-17 1977-09-17 酸化亜鉛の圧電結晶膜 Expired JPS5831742B2 (ja)

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JP52111760A JPS5831742B2 (ja) 1977-09-17 1977-09-17 酸化亜鉛の圧電結晶膜
DE19782839715 DE2839715A1 (de) 1977-09-17 1978-09-13 Piezoelektrische kristalline filme aus zinkoxyd und verfahren zu ihrer herstellung
US05/942,278 US4219608A (en) 1977-09-17 1978-09-14 Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same

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JPS5445795A JPS5445795A (en) 1979-04-11
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JP7173033B2 (ja) * 2017-10-31 2022-11-16 住友大阪セメント株式会社 化粧料用酸化亜鉛粉体、分散液、化粧料、および化粧料用酸化亜鉛粉体の製造方法

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JPS5445795A (en) 1979-04-11

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