JPS5831747B2 - 酸化亜鉛の圧電結晶膜 - Google Patents
酸化亜鉛の圧電結晶膜Info
- Publication number
- JPS5831747B2 JPS5831747B2 JP52114181A JP11418177A JPS5831747B2 JP S5831747 B2 JPS5831747 B2 JP S5831747B2 JP 52114181 A JP52114181 A JP 52114181A JP 11418177 A JP11418177 A JP 11418177A JP S5831747 B2 JPS5831747 B2 JP S5831747B2
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- piezoelectric crystal
- zinc oxide
- selenium
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- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
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- Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)
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Description
【発明の詳細な説明】
この発明は酸化亜鉛からなる圧電結晶膜に関するもので
ある。
ある。
酸化亜鉛の圧電結晶膜の製造方法としては真空蒸着法、
気相反応法あるいはスパッタリング法などがある。
気相反応法あるいはスパッタリング法などがある。
この中でたとえばスパッタリング法、特に高周波スパッ
タリング法は軸配向した結晶膜の成長速度が早く、工業
的に量産することができるという利点を備えている。
タリング法は軸配向した結晶膜の成長速度が早く、工業
的に量産することができるという利点を備えている。
この高周波スパッタリング法を用いて被着面に酸化亜鉛
の圧電結晶膜を作成する場合、従来はターゲットに高純
度の酸化亜鉛の焼結体を用いていたが、このターゲット
を用いて高周波スパッタリングをしても、得られた結晶
膜の密着性が悪く、良質な膜ではなかった。
の圧電結晶膜を作成する場合、従来はターゲットに高純
度の酸化亜鉛の焼結体を用いていたが、このターゲット
を用いて高周波スパッタリングをしても、得られた結晶
膜の密着性が悪く、良質な膜ではなかった。
また被着面に対してC軸を垂直にすることがむつかしか
った。
った。
このように酸化亜鉛の圧電結晶膜の密着性が悪いと、た
とえば弾姓表面汲濾汲器をこの圧電結晶膜で横取した場
合、膜が剥離したりして、<シ歯状電極が形成されに<
<、断線事故が発生しゃすくなり、ざらに伝搬ロスも大
きくなるという欠点があった。
とえば弾姓表面汲濾汲器をこの圧電結晶膜で横取した場
合、膜が剥離したりして、<シ歯状電極が形成されに<
<、断線事故が発生しゃすくなり、ざらに伝搬ロスも大
きくなるという欠点があった。
また、被着面に垂直な軸に対してC軸が傾いていると電
気機械結合係数の値が小さくなり、変換効率のよい酸化
亜鉛の圧電結晶膜が得られにくかった。
気機械結合係数の値が小さくなり、変換効率のよい酸化
亜鉛の圧電結晶膜が得られにくかった。
このような問題を種々横割した結果、酸化亜鉛の圧電結
晶膜にセレンを含有させると、被着面に対しC軸が垂直
で、良質な圧電結晶膜が得られることを見い出したので
ある。
晶膜にセレンを含有させると、被着面に対しC軸が垂直
で、良質な圧電結晶膜が得られることを見い出したので
ある。
以下にこの発明を説明するために、高周波スパッタリン
グ法を用いて酸化亜鉛の圧電結晶膜にセレンを含有させ
た一例について説明する。
グ法を用いて酸化亜鉛の圧電結晶膜にセレンを含有させ
た一例について説明する。
第1図は酸化亜鉛の圧電結晶膜を形成するための高周波
2極スパッタリング装置を示す。
2極スパッタリング装置を示す。
1は気密容器(ベルジャ)を示し、この気密容器1には
一対の平行平板状の陰極2と陽極3が配置されている。
一対の平行平板状の陰極2と陽極3が配置されている。
陰極2の上にはセレンを含tている酸化亜鉛からなるタ
ーゲット4が固定されている。
ーゲット4が固定されている。
5はシャッタである。
陽極3には被着物となるガラス、金属などの基板6が固
定され、この基板6はスパッタリング中に200〜50
0℃の範囲で加熱される。
定され、この基板6はスパッタリング中に200〜50
0℃の範囲で加熱される。
7は排気孔、8はガス導入口である。
高周波スパッタリングをするには、気密容器1を密封し
たのち排気孔7からI X 10= Torr以上の真
空度になるように排気する。
たのち排気孔7からI X 10= Torr以上の真
空度になるように排気する。
次にガス導入口8からアルゴン、酸素あるいは酸素とア
ルゴンの混合ガスを導入し、ガス圧が1×10−1〜1
×1O−3Toorになるようにする。
ルゴンの混合ガスを導入し、ガス圧が1×10−1〜1
×1O−3Toorになるようにする。
陰極2には高周波電源9により高周波電圧を印加する。
ターゲット4には単位面積当たり2〜8w/−の高周波
電力を供給する。
電力を供給する。
セレンを含有する酸化亜鉛の焼結体からなるターゲット
は次のようにして作成した。
は次のようにして作成した。
原料としてZnO,Zn5eの各粉末を用い、第1表に
示す比率になるように調合し、湿式、混合した。
示す比率になるように調合し、湿式、混合した。
これらを脱水したのち600〜800℃で2時間仮焼を
行った。
行った。
次に有機バインダとともに湿**式ミルで粉砕、混合し
、さらに脱水、乾燥したのち整粒した。
、さらに脱水、乾燥したのち整粒した。
こののち粉末を1000kg/cI?Lの圧力で加圧成
型し、直径100 mvt、厚み5間の円板に成型した
。
型し、直径100 mvt、厚み5間の円板に成型した
。
さらに成型円板を1200℃で2時間焼成してセレンを
含むターゲット試料を作成した。
含むターゲット試料を作成した。
得られたターゲットの比抵抗、理論密度に対する焼結密
度の百分率(焼結密度/理論@度×100)を測定した
ところ第1表に示すような結果が得られた。
度の百分率(焼結密度/理論@度×100)を測定した
ところ第1表に示すような結果が得られた。
各ターゲット試料を用いて高周波スパッタリング装置で
ガラス基板に酸化亜鉛の圧電結晶膜を形成した。
ガラス基板に酸化亜鉛の圧電結晶膜を形成した。
高周波スパッタリングは次の条件により行った。
すなわち、ガス導入口8から気密容器1にアルゴン90
容量%と酸素10容量%の混合ガスを導入し、気密容器
1の圧力を2X10 ”Torr1被着面となるガラス
基板を350℃に加熱した。
容量%と酸素10容量%の混合ガスを導入し、気密容器
1の圧力を2X10 ”Torr1被着面となるガラス
基板を350℃に加熱した。
またターゲット4には単位面積当たりたとえば、周波数
13.56 MHzで6w/cy7の電力を供給した。
13.56 MHzで6w/cy7の電力を供給した。
このようにして得られた酸化亜鉛の圧電結晶膜のC軸配
向性をX線回折のロッキングカーブ法(参考文献:苦力
、中針、菊池「ZnO結晶薄膜における結晶軸の定量的
−表示法(極点図の導入と正規分布近似)」第20回応
物連合講演予稿。
向性をX線回折のロッキングカーブ法(参考文献:苦力
、中針、菊池「ZnO結晶薄膜における結晶軸の定量的
−表示法(極点図の導入と正規分布近似)」第20回応
物連合講演予稿。
2 (1973) 84.苦力誠東北大学博士論文(1
974))により測定した。
974))により測定した。
被着面に垂直な軸に対しC軸が何度傾いているかその平
均値(X)と標準偏館σ)を求めた。
均値(X)と標準偏館σ)を求めた。
また各試料につき膜質、密着性を測定した。
なお密着性はMIL−8TD−202Dの試験法1’0
7Cにより行い、圧電結晶膜がガラス基板からはがれた
ものを「小町」、ひび割れの生じたものを「やや良好」
、変化のないものを「良好」とした。
7Cにより行い、圧電結晶膜がガラス基板からはがれた
ものを「小町」、ひび割れの生じたものを「やや良好」
、変化のないものを「良好」とした。
上記した酸化亜鉛の圧電結晶膜の各特性を第1表に合わ
せて示した。
せて示した。
第1表から、この発明によるものはC軸が被着面に対し
、はぼ垂直になっており、このことから大きな電気機械
結合係数が得られ、変換効率のよいすぐれた圧電結晶膜
の得られていることがわかる。
、はぼ垂直になっており、このことから大きな電気機械
結合係数が得られ、変換効率のよいすぐれた圧電結晶膜
の得られていることがわかる。
また、膜質もなめらかでさらに密着性もよく良質な圧電
結晶膜が得られている。
結晶膜が得られている。
第1表中、試料番号7につき、酸化亜鉛の圧電結晶膜の
各特性を「−」で示したが、これはC軸が被着面に対し
て垂直に配向せず、圧電結晶膜として使用できないため
、特注の評価を行わなかったことを意味する。
各特性を「−」で示したが、これはC軸が被着面に対し
て垂直に配向せず、圧電結晶膜として使用できないため
、特注の評価を行わなかったことを意味する。
なお、この発明において酸化亜鉛の圧電結晶膜にセレン
を含有させる範囲はセレンの原子%に換算して0.01
〜15.0原子%の範囲にあればよい。
を含有させる範囲はセレンの原子%に換算して0.01
〜15.0原子%の範囲にあればよい。
つまり0,01原子%未満になると密着性が悪くなり、
15.0原子%を越えると配向性が悪くなる。
15.0原子%を越えると配向性が悪くなる。
上記した実症例ではターゲット中にセレンを含有させた
が、そのほかにセレンの化合物を用いてもよく、得られ
た酸化亜鉛の圧電結晶膜にセレンが含まれていれば同様
の効果が得られる。
が、そのほかにセレンの化合物を用いてもよく、得られ
た酸化亜鉛の圧電結晶膜にセレンが含まれていれば同様
の効果が得られる。
また上記した実症例では高周波スパッタリング法を用い
たが、酸化亜鉛の圧電結晶膜にセレンを含有させること
ができれば他の方法、たとえば同時スパッタリング法あ
るいはイオンブレーティング法などを用いてもよい。
たが、酸化亜鉛の圧電結晶膜にセレンを含有させること
ができれば他の方法、たとえば同時スパッタリング法あ
るいはイオンブレーティング法などを用いてもよい。
なお、上記した実症例においてターゲットにセレンを含
有させることによって次のようなすぐれた点が見られる
。
有させることによって次のようなすぐれた点が見られる
。
すなわち、高周波スパッタリング法を用いて工業的に量
産する場合、膜の成長速度を上げる必要がある。
産する場合、膜の成長速度を上げる必要がある。
この場合ターゲットの単位面積当たりに印加する電力を
高くする必要があり、これには高密度のターゲットが必
要になる。
高くする必要があり、これには高密度のターゲットが必
要になる。
第1表から明らかなように、ターゲット中にセレンを含
有させたものは従来のものに、くらべ焼結密度が高く、
高周波スパッタリングを行う場合高電力が使用でき、酸
化亜鉛の圧電結晶膜を量産性よく生成することができる
という特徴を有していることがわかる。
有させたものは従来のものに、くらべ焼結密度が高く、
高周波スパッタリングを行う場合高電力が使用でき、酸
化亜鉛の圧電結晶膜を量産性よく生成することができる
という特徴を有していることがわかる。
第1図はこの発明の一実施例を説明するために用いたス
パッタリング装置の概略図である。 1・・・・・・気密容器、2・・・・・・陰極、3・・
・・・・陽極、4・・・・・・ターゲット、6・・・・
・・基板。
パッタリング装置の概略図である。 1・・・・・・気密容器、2・・・・・・陰極、3・・
・・・・陽極、4・・・・・・ターゲット、6・・・・
・・基板。
Claims (1)
- 1 被着面に対しC軸が垂直になっている酸化亜鉛の圧
電結晶膜であって、この圧電結晶膜にセレンを0.01
〜15.0原子%含有させたことを特徴とする酸化亜鉛
の圧電結晶膜。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52114181A JPS5831747B2 (ja) | 1977-09-22 | 1977-09-22 | 酸化亜鉛の圧電結晶膜 |
DE19782839715 DE2839715A1 (de) | 1977-09-17 | 1978-09-13 | Piezoelektrische kristalline filme aus zinkoxyd und verfahren zu ihrer herstellung |
US05/942,278 US4219608A (en) | 1977-09-17 | 1978-09-14 | Piezoelectric crystalline film of zinc oxide and method for making same |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP52114181A JPS5831747B2 (ja) | 1977-09-22 | 1977-09-22 | 酸化亜鉛の圧電結晶膜 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS5448100A JPS5448100A (en) | 1979-04-16 |
JPS5831747B2 true JPS5831747B2 (ja) | 1983-07-08 |
Family
ID=14631212
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP52114181A Expired JPS5831747B2 (ja) | 1977-09-17 | 1977-09-22 | 酸化亜鉛の圧電結晶膜 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS5831747B2 (ja) |
-
1977
- 1977-09-22 JP JP52114181A patent/JPS5831747B2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS5448100A (en) | 1979-04-16 |
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