JPS58225628A - 積層回路部品の製造方法 - Google Patents

積層回路部品の製造方法

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JPS58225628A
JPS58225628A JP10923382A JP10923382A JPS58225628A JP S58225628 A JPS58225628 A JP S58225628A JP 10923382 A JP10923382 A JP 10923382A JP 10923382 A JP10923382 A JP 10923382A JP S58225628 A JPS58225628 A JP S58225628A
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capacitor
laminated
laminated circuit
dielectric
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涼 木村
野中 和志
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Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は積層回路部品の製造方法に関し、高誘電率を有
した酸化チタン、チタン酸バリウふ系コンデンサーを用
いた回路において集積度の高−電気回路を構成しようと
するものである。
一般に磁器コンデンサーは冒子回路中に信頼性高性能を
利用して多く用いられている。特に最近実装技術の進歩
が著しく、チップコンデンサーやチップ抵抗等リードレ
ス部品が実用化され普及してキタ。特にチップコンデン
サーはセラミック製造技術であるグリーンシート工法の
発達に伴−積層コンデンサーとして高容量のコンデンサ
ーカ得られるために、小型化され電子機器の小型中高密
度化に重要な役割を果している。小型9高容量化の要望
から一般に用いられる磁器コンデンサーとして誘電率の
高い材料が用いられる。数多く用1られる磁器コンデン
サーを更に高密度実装を実現するために複数個のコンデ
ンサーt−1つのチップに構成すると実装密度が上ると
ともに接地端子が内部電極で共通的に用いることができ
るため、端子電極数は単機能チップコンデンサーで構成
すあときより少なくても良い特長を有するようになる。
更に次の段階として磁器コンデンサーの表面を用いて機
能回路を構成することが考えられる。このとticコン
デンサーが高誘電率であるために電極間に分布容量が発
生し1回路上問題があった。この問題を解決する方法と
して誘電体素子の必要な部分に再結晶性焼結型低温ガラ
ス層よりなる絶縁層を設け、この絶縁層上に抵抗を設け
る方法(特公昭43−18015号)、或いは誘電体素
子上に略全面的にこの誘電体素子と熱膨張が略等しi弱
部電体の層を形成し、この弱部電体層上に上層コンデン
サー自体に跨ってR,IC素子等の電気部品を装着する
方法(特公昭46−4012Q号)等の技術が見られる
。このことを第1図の概略図を用いて説明する。第1図
において(1)は誘電体層、(ωは内部電極。
(印は配線電極、14)は厚膜抵抗、(6)は半導体素
子。
(6)は低誘電率層(ガラス)ri:示す。誘電体層α
)上にガラス等の低誘電体層(61を設けることによっ
て配線室fM (3) 、厚膜抵抗(4)、半導体素子
(5)が誘電体層(1)と直接に接触しない構成となっ
ている。この方法は平面回路のみ構成すると亀にμ有効
であるが、3次元的に構成する場合、例えば誘電体HE
 (1)の両面に回路実装するとき、或いは平面回路を
構成し誘電体層(1)の端部を通ってマザーボード(プ
リント基板)へ信号回路を構成するときが考えられる。
何れの場合にも誘電体層(1)の端部を配線経路に取る
必要があplこのままでは分布容量が発生する。そこで
ガラス等の低誘電率材料上端部にも施こすことが考えら
れるが1通常塗布、或いは印刷で行なう場合、誘電体M
O)のエツジ部での処理が製造技術的に困難である。そ
の理由は誘電体素子の寸法ばらつきや焼結時の反りがあ
るためである。エツジ部で配線電極(3)の下部に必ら
ず低誘電率層(6)が介在していなければいけないので
おろが、端部4面にわたって処理することは工数、歩留
ま90点で問題がある。
本発明方法はこれらの間早点を解決するために為された
もので、分布容i6:tm気回路として実用できる領域
まで下げ、3次元的に電気回路を構成できるようにした
積層回路部品と提供するもので・1 ある。この目的を達成するために本発明はア/l/ミニ
ウム、ニッケル、りμム、銅、タングステンの内部なく
とも1種の金属を用いて積層型磁器コンデンサーの表面
に蒸着もしくはスパッタリング機によって皮膜を形成し
、その後大気中成いは酸化雰囲気中にて熱処理し、斯か
る後磁器コVデ/サー上に電気部品を装着することを特
徴とする。
以下本発明の一実施例について第2図、第3図に基づき
詳述する1図において(11)は誘電体層、(1埴は内
部電極、鵠は配線電極、 (14)は厚膜抵抗s D’
は半導体素子、 (IIiはワイヤ、(lηは拡散層を
示す。
ところでこのような積層回路部品の製造方法につりで説
明すると、内部電極0″Aと強誘電体層(11)と七一
層以上積J彌して少なくとも1個以上のコンデンサーを
有した積m捜コシデVサーを構成する。
通常その焼結は1000〜1400℃の温度で行なわれ
る。
その後 この強誘電体基板の表面(チップ状のときでは
大面)に一定厚みの強誘電体t−構成する以外の異積イ
オンを拡散させ1表層部のみ低誘電率化しようとするも
ので、これが拡散層Oηでおる。
拡散層(l?)の厚みを内部電極(121層まで至らな
いようにするためには、グリーンシートの積層を行なう
ときに予じめ厚く積層すると良い、これは焼結のときの
反り、或いは基板としての強度を十分に確保する点でも
有効である。−例として基板厚みは11前後が最適であ
る。断面方向で内部電極(I21が中心部VC1/3の
厚みで構成され、上面に173.下面VC1/aの電極
層を持たない強誘電体層(容量値に関与しな一部分)を
構成することが考えられる。
この積層チップ状強誘電伴基板の表面に一定厚みの元素
を表面から拡散させる。その元素としては熱拡散が起り
易いことと低誘電率化することに効   ′果の大きい
ことが要求され、アルミニウム、ニッケμ、クロム、銅
、タングステンの金属がこれらの要求に答え得る特性を
示すことが分った。拡散させる方法として上記金属を単
独或いは複数で用いて、蒸着機或いはスパッタリング機
により内部電極を有して焼結された積層誘電体に一定厚
みに成膜する。斯かる後に、この蒸着された金属が金属
イオンとして或いは金属酸化物として積層誘電体基板へ
拡散する温度で熱処理を行なう、熱処理温度としては8
00〜1300℃が最適である。800℃以下では熱拡
散が十分に起らな?L、 1300℃以上では拡散層が
内部まで達し、誘電体層の特性を劣化させる。熱処理す
るときの雰囲気としては大気中或いは酸化雰囲気中にて
行なうことが好ましい。
このように本発明方法では金属皮膜の構成、熱拡散とい
う技術を用いることによって表層部に均一((エツジ部
にも)低誘電体層を構成できるために、分布容量を実用
範囲内に下げて3次元的に回路構成できる素子の製造が
可能になった。この基板を用いて、一方に導体、抵抗を
厚膜、薄膜で構成し、片面には半導体素子を装着して機
能回路が得られ、他に□Rモジューlv、LCモジュー
μとしても実現可能で用途は広いものがある。
以下具体例について説明する。
〔具体例1〕 誘電率9000の特性を有するチタV酸バリウムグリー
ンV−)と内部電極材としてのパラジウムを交互に積層
し、  12X12關、厚み121gのチップ状に切断
する。このようにして積層した誘電体チップを焼成温度
1350℃、焼成時間2時間の焼成条件にて焼結した。
一体焼結された積層コンデンサ=は9X91111.厚
みα9朋となった。内部電極層は厚み方向に3等分した
中央部に介在し、複数個のコンデンサーを構成する電極
パターンとなっている。又、コンデンサー用内部電極の
引出線は焼結された積層体の周辺部に設けである。この
ようにして得られた積層コンデンサーに第1表に示す合
端を蒸着し、薄膜を構成する。その後第1表に示す熱処
理温度、雰囲気で熱拡散を行なう。このようrして処理
された積層コンデンサーの拡散面にAt/P d導体ペ
ーストを用いて電極幅05關、長さ4n1電極間隔α4
11mの電極パターンを印刷し、850℃−1紛で焼付
を行なう、このようにして拡散面上に構成した電極間の
容量をキャパVタンブリッジを用いて測定した結果も第
1表に示す、この結果より拡散層が低誘電率化している
ことが分る。又拡散層の厚みはX線マイクロアナライザ
ーにて015〜02m+11の範囲で起っていることを
確認した。尚端子電極を設けている縁端部は50μ鱒程
度研摩することによって新しいパラジウム内部電極が露
出してくる。このように本発明方法にて高誘電率の表層
部に3次元的に均一な低誘電率層を構成でき、コンデン
サー七基析とした高密度回路部品が得られた。
第1表 〔具体例2〕 誘電率100の特性を有する酸化チタンを用iてグリー
ンV−1−を作成し、内部電極として白金−バフジウム
を交互VC積層し、 11刈1篇へ厚ミLl闘のチップ
状に切断する。このようにして切断された誘電体チップ
上焼成温度1400’c、焼成時間2時間の焼成条件に
て焼結した。一体焼結された積層コンテンサー1−j 
9X9凝M、厚みα9Bとなつ7’c * 内m電極は
厚み方向に3等分した中央部に介在し、9個のコンデン
サーを形成している。又コンデンサー用内部電極の引出
は具体例1と同じである。このようにして得られた酸化
チタン積層コンデンサーに第2表r示すところの金属を
用いてスパッタリング法により薄膜を構成する。その後
、第2表に示す条件にて熱処理を行なった。このように
して処理された酸化チタン積層コンテンサーの拡散面に
具体例1で用いた電極パターンを構成し、電極間容量を
測定した。そのときの結果を第2表に示す。
又拡散層の確認はX線マイクロアナライザーによって行
ない、内部電極層まで達していないことを確認した。
第2表 本発明は以上述べたように実施し得るものであり、酸化
チタン、チタン酸バリウム系積層1Vデンサーの表層部
を蒸着或いはスパッタリング法ニて成膜した後、熱拡散
によって低誘電率化し、その上面に電極、抵抗t−構成
し、半導体素子を実装できる高密度回路部品が実現でき
fc。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来例を示す断面図、第2図は本発明の一実施
例を示す断面図、第3図は同平面図である。 輔・・・誘電体層、Oり・・・内部電極、 Ql・・・
配線電極、−・・・厚膜抵抗、幀・・・半導体素子、 
(l匈・・・ワイヤー。 (l?1・・・拡散層 代理人  森 本 義 弘 第f図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 L ア/I/!ニウム、ニッケμ、クロム、銅、タング
    ステンの内部なくとも1種の合端を用いて積層型磁器1
    ンデンサーの表面に蒸着もしくはスパッタリング法によ
    って皮膜を形成し、その後大気中成いは酸化雰囲気中に
    て熱処理し、斯かる後磁器コンデンサー上に電気部品を
    装着する積層回路部品の製造方法。 2 磁器コンデンサーを酸化チタン及びチタン酸バリウ
    ム系磁器コンデンサーとした特iPl:請求の範囲第1
    項記載の積層回路部品の製造方法。 a 熱処理温度t″800〜1300℃とした特許請求
    の範囲第1項記載の積層回路部品の製造方法。
JP10923382A 1982-06-24 1982-06-24 積層回路部品の製造方法 Granted JPS58225628A (ja)

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JPS58225628A true JPS58225628A (ja) 1983-12-27
JPH038571B2 JPH038571B2 (ja) 1991-02-06

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