JPS58221817A - 合焦検出装置 - Google Patents
合焦検出装置Info
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- JPS58221817A JPS58221817A JP10388582A JP10388582A JPS58221817A JP S58221817 A JPS58221817 A JP S58221817A JP 10388582 A JP10388582 A JP 10388582A JP 10388582 A JP10388582 A JP 10388582A JP S58221817 A JPS58221817 A JP S58221817A
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- G02—OPTICS
- G02B—OPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
- G02B7/00—Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
- G02B7/28—Systems for automatic generation of focusing signals
- G02B7/36—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
- G02B7/38—Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals measured at different points on the optical axis, e.g. focussing on two or more planes and comparing image data
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- Focusing (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明はカメラ、顕微鏡、高密度光学的記録再生装置等
における合焦検出装置に関するものである。
における合焦検出装置に関するものである。
合焦検出装置としては従来多くの方式の装置が提案され
ている。これらの方式は大きく分けて2つに、すなわち
ボケ像検出方式の像の横ずれ量を検出する方式とに分類
することができる。
ている。これらの方式は大きく分けて2つに、すなわち
ボケ像検出方式の像の横ずれ量を検出する方式とに分類
することができる。
ボケ像方式は、強度分布が急激に変化する物体に対し検
出精度が高く、−眼レフカメラのようにTTL方式によ
る合焦検出を行なう場合に種々のFナンバーのレンズに
対して、ケラレを生ずるととなく正確な合焦検出が可能
となり、したがってレンズ交換をする場合にも合焦検出
の課長が生じないという長所がある。
出精度が高く、−眼レフカメラのようにTTL方式によ
る合焦検出を行なう場合に種々のFナンバーのレンズに
対して、ケラレを生ずるととなく正確な合焦検出が可能
となり、したがってレンズ交換をする場合にも合焦検出
の課長が生じないという長所がある。
一方橿ずれ方式は、コントラストのなだらかな被写体に
ついても、正確な合焦検出が可能となると共に極端にボ
ケた時でもレンズ駆動方向がわかるという長所がある。
ついても、正確な合焦検出が可能となると共に極端にボ
ケた時でもレンズ駆動方向がわかるという長所がある。
しかしながら、ボケ検出方式の場合。極端にボケた時評
価関数値がなだらかとなって、焦点外れの方向が正確に
検出できず、したがってレンズ駆動方向がわからないと
共に強度分布がなだらかな被写体、例えば人の顔の一部
分では合焦近傍においても計測関数値が小さくなり、か
つボケに対する変化が少くなるので正確な合焦検出がで
きなくなるという欠点がある。
価関数値がなだらかとなって、焦点外れの方向が正確に
検出できず、したがってレンズ駆動方向がわからないと
共に強度分布がなだらかな被写体、例えば人の顔の一部
分では合焦近傍においても計測関数値が小さくなり、か
つボケに対する変化が少くなるので正確な合焦検出がで
きなくなるという欠点がある。
また、横ずれ検出方式では、TTL方式による合焦検出
を行なう場合、絞りが小さくなり、有効Fナンバが大き
くなると受光素子列上に入射する光がケラして検出精度
が悪くなり、特に低コントラスtの被写体では大きく低
下するという欠点がある。
を行なう場合、絞りが小さくなり、有効Fナンバが大き
くなると受光素子列上に入射する光がケラして検出精度
が悪くなり、特に低コントラスtの被写体では大きく低
下するという欠点がある。
いずれにせよ、どちらか一方の方式だけでは上記の欠点
をカバーしきれない領域が存在するので、ボケ像検出方
式と横ずれ検出方式とを併用した合焦検出装置が提案さ
れている。このように被写体の同一個所の情報を用い、
橿ずれとボケ像を検出しようとすると、光路を8分割す
る必要がある。
をカバーしきれない領域が存在するので、ボケ像検出方
式と横ずれ検出方式とを併用した合焦検出装置が提案さ
れている。このように被写体の同一個所の情報を用い、
橿ずれとボケ像を検出しようとすると、光路を8分割す
る必要がある。
このために、第1およびa!2の光路分剛面と反射面と
を互いに等間隔に配置した光路分割プリズムを用いるこ
とは既に提案されている。しかし、従来の光路分割プリ
ズムでは、入射光束の一部が第2の光路分割面によって
ケラしてしまい、入射光束の全てを利用できない欠点が
ある。このような欠点を除去するために、第2の光路分
別面をプリズムの厚さ金体に亘って形成しないで第2光
路分割面の一部を透明にすることにより全ての光束を利
用しようとすると、光路分割プリズムの加工が、きわめ
て困雑となる欠点がある。また、第1の光許容し得ない
堪度に大きくなってしまい、正確な合焦検出はできなく
なる。
を互いに等間隔に配置した光路分割プリズムを用いるこ
とは既に提案されている。しかし、従来の光路分割プリ
ズムでは、入射光束の一部が第2の光路分割面によって
ケラしてしまい、入射光束の全てを利用できない欠点が
ある。このような欠点を除去するために、第2の光路分
別面をプリズムの厚さ金体に亘って形成しないで第2光
路分割面の一部を透明にすることにより全ての光束を利
用しようとすると、光路分割プリズムの加工が、きわめ
て困雑となる欠点がある。また、第1の光許容し得ない
堪度に大きくなってしまい、正確な合焦検出はできなく
なる。
またこのような問題はボケ像方式と横ずれ方式とを併用
した合焦検出装置だけでなく、予定焦平面およびその前
後に配置した8つの受光素子列の出力を処理してボケ像
方式により合焦状態を検出するようにした装置などにお
いても生ずるものである。
した合焦検出装置だけでなく、予定焦平面およびその前
後に配置した8つの受光素子列の出力を処理してボケ像
方式により合焦状態を検出するようにした装置などにお
いても生ずるものである。
第1図はボケ像検出方式と橿ずれ検出方式を併用した場
合の受光素子列の位置関係の一例を示す線図である0撮
影したレンズ1によりピントの合った像を形成すべき面
、例えばフィルム面と女役な面(以下予定焦平面と云う
)の前後にI!1のボケ像検出用受光素子列2と142
のボケ像検出用受光素子列8を配置すると供に!!8の
橿ずれ検出用受光素子列4を予定焦平面に配置する。す
なわち第1図はピケ像検出方式では常套手段として用し
)られる予定焦平面の前後に光学的に等距TII!+d
の位置に受光素子列2.δを配置する方法におI/)で
、横ずれ検出用の受光素子列4を予定焦平面に配置する
ものであるなお、この場合の槓ずれ検出方式は、例えば
特開昭54−159259号公報に開示されている対物
レンズの射出論像を微4・レンズアレイの各々により1
対の受光素子上に形成する方式(TOL方式)や、本願
人の出願に々る特願昭66−159218号において述
べてしAる微131臨界角プリズムアレイを用いる方法
などを用し)ることができる。例えば微小レンズアレイ
を用し)る場合には微小レンズアレイを予定焦平面に配
置するので受光素子列は予定焦平面よりもやや後方へ配
置されることになる。また、微小臨界角プリズムアレイ
を用い゛る場合には、受光素子列を予定焦平面に配置す
るのが好適であるが、このことは必らずしも必要でなく
、受光素子列は予定焦平面の近傍に配置されていればよ
い。したがって、第1図に示した例では、横ずれ検出は
臨1角プリズムアレイを利用して行なうものとする。こ
のように受光素子列2.8および4を配置すれば、理論
的にはdヶ像検出で合焦となれば横ずれ法でも合焦とな
る。このような受光素子列の配置を光学的に実現する従
来の合焦検出装置の一例を第2図に示す。
合の受光素子列の位置関係の一例を示す線図である0撮
影したレンズ1によりピントの合った像を形成すべき面
、例えばフィルム面と女役な面(以下予定焦平面と云う
)の前後にI!1のボケ像検出用受光素子列2と142
のボケ像検出用受光素子列8を配置すると供に!!8の
橿ずれ検出用受光素子列4を予定焦平面に配置する。す
なわち第1図はピケ像検出方式では常套手段として用し
)られる予定焦平面の前後に光学的に等距TII!+d
の位置に受光素子列2.δを配置する方法におI/)で
、横ずれ検出用の受光素子列4を予定焦平面に配置する
ものであるなお、この場合の槓ずれ検出方式は、例えば
特開昭54−159259号公報に開示されている対物
レンズの射出論像を微4・レンズアレイの各々により1
対の受光素子上に形成する方式(TOL方式)や、本願
人の出願に々る特願昭66−159218号において述
べてしAる微131臨界角プリズムアレイを用いる方法
などを用し)ることができる。例えば微小レンズアレイ
を用し)る場合には微小レンズアレイを予定焦平面に配
置するので受光素子列は予定焦平面よりもやや後方へ配
置されることになる。また、微小臨界角プリズムアレイ
を用い゛る場合には、受光素子列を予定焦平面に配置す
るのが好適であるが、このことは必らずしも必要でなく
、受光素子列は予定焦平面の近傍に配置されていればよ
い。したがって、第1図に示した例では、横ずれ検出は
臨1角プリズムアレイを利用して行なうものとする。こ
のように受光素子列2.8および4を配置すれば、理論
的にはdヶ像検出で合焦となれば横ずれ法でも合焦とな
る。このような受光素子列の配置を光学的に実現する従
来の合焦検出装置の一例を第2図に示す。
入射光束10はプリズムを以って構成した光路分割光学
素子11の#!1および第8の光路分割面12.18と
全反射面14とに裏って8分割蔓れ、ゴナ像検出受光素
子列2,8に投影されるとともに、微小レンズアレイや
臨界角プリズムアレイのような槓すらし用光学系15を
経て槓ずれ検出受光素子列番に投影される。これらの受
光素子列2および4は共通の基板16上に同一平面に形
成されている。上述しダように、受光素子列の間隔dM
はボケ像の光路差dの+とな?ている。従ってボケ像の
光路差dが決まれば第2の光路分割面18の位置が決定
してしまう。今、受光素子列δに到達すべき光束17.
17’と18 、18’を考えると、狭い光束17・1
7′は、受光素子列8に到達することができるが、広い
光束18 、18’は第2の光路分割面1δのエッヂ1
gによってケラしてしまう。すなわち、入射光束の全光
束が利用できず、しかもボケ像の対をなしている受光素
子列2・8に入射する光束にアンバランスを生じる。こ
のような欠点を改善する方法として、第8図に示すよう
に第2の光路分割面13の一部を欠いて光束18を通過
させることも考えられるが、このような光路分割面を製
作することは、工作上非常に困難となり、高価となって
しまう。
素子11の#!1および第8の光路分割面12.18と
全反射面14とに裏って8分割蔓れ、ゴナ像検出受光素
子列2,8に投影されるとともに、微小レンズアレイや
臨界角プリズムアレイのような槓すらし用光学系15を
経て槓ずれ検出受光素子列番に投影される。これらの受
光素子列2および4は共通の基板16上に同一平面に形
成されている。上述しダように、受光素子列の間隔dM
はボケ像の光路差dの+とな?ている。従ってボケ像の
光路差dが決まれば第2の光路分割面18の位置が決定
してしまう。今、受光素子列δに到達すべき光束17.
17’と18 、18’を考えると、狭い光束17・1
7′は、受光素子列8に到達することができるが、広い
光束18 、18’は第2の光路分割面1δのエッヂ1
gによってケラしてしまう。すなわち、入射光束の全光
束が利用できず、しかもボケ像の対をなしている受光素
子列2・8に入射する光束にアンバランスを生じる。こ
のような欠点を改善する方法として、第8図に示すよう
に第2の光路分割面13の一部を欠いて光束18を通過
させることも考えられるが、このような光路分割面を製
作することは、工作上非常に困難となり、高価となって
しまう。
本発明の目的は上記の諸々の欠点を解消し、光路を8分
割して8つの受光素子列に導く際、これら受光素子列の
相対的な光学配置を変えることなく、各受光素子列に入
射する光束がナラシないようにし、広いデフォーカス領
域で高精度に合焦検出を行なうことができ、しかも製作
が容易な合焦検出装!を提供せんとするものである。
割して8つの受光素子列に導く際、これら受光素子列の
相対的な光学配置を変えることなく、各受光素子列に入
射する光束がナラシないようにし、広いデフォーカス領
域で高精度に合焦検出を行なうことができ、しかも製作
が容易な合焦検出装!を提供せんとするものである。
本発明は物体像を形成する光学系より射出される光束の
少なく共一部をmi!lおよび第2の光路分割面および
反射面を具える光路分割光学系により8分割して同一平
面上に設けた第1%第2および第δの受光素子列上に投
影し、これら受光素子列からの画像情報を処理して物体
像の合焦状態を検出する合焦検出装置において、前記1
1!1および男2の受光素子列の中間にあるa!!3の
受光素子列と、この第6の受光素子列に光束を導<I!
2の光路分割面とを入射光束より遠ざかる方向にずらす
と共に、これらの間に光路補正用光学部材を挿入して前
記第8の受光素子列と第1の受光素子列との光路差と、
第8の受光素子列と第2の受光素子列との光路差とが所
定の関係となるように!R成したことを特徴とするもの
である。
少なく共一部をmi!lおよび第2の光路分割面および
反射面を具える光路分割光学系により8分割して同一平
面上に設けた第1%第2および第δの受光素子列上に投
影し、これら受光素子列からの画像情報を処理して物体
像の合焦状態を検出する合焦検出装置において、前記1
1!1および男2の受光素子列の中間にあるa!!3の
受光素子列と、この第6の受光素子列に光束を導<I!
2の光路分割面とを入射光束より遠ざかる方向にずらす
と共に、これらの間に光路補正用光学部材を挿入して前
記第8の受光素子列と第1の受光素子列との光路差と、
第8の受光素子列と第2の受光素子列との光路差とが所
定の関係となるように!R成したことを特徴とするもの
である。
以下図面を参照して本発明の詳細な説明する。
第番図は本発明の合焦検出装置の一例の構成を示すS図
である。
である。
プリズムを以って構成した光路分割光学素子21の底面
に対してθなる傾斜角を以って第1および第8の光路分
割面88・28と全反射面24を互いに平行に設ける。
に対してθなる傾斜角を以って第1および第8の光路分
割面88・28と全反射面24を互いに平行に設ける。
共通の基板z器上にボケ像検出用受光素子列!6.27
を光路差dを以って配設し、その中間にa−> + d
となるように槓ずれ検出用受光素子列28を受光素子列
26゜2フと同一平面上に配設する。本発明においては
、l!2の光路分割面28を、1slの光路分割面22
と反射面24との中央に配置しないで、入射光束より遠
ざかる方向に平行に移動させて配置する。
を光路差dを以って配設し、その中間にa−> + d
となるように槓ずれ検出用受光素子列28を受光素子列
26゜2フと同一平面上に配設する。本発明においては
、l!2の光路分割面28を、1slの光路分割面22
と反射面24との中央に配置しないで、入射光束より遠
ざかる方向に平行に移動させて配置する。
したがって中央の受光素子列j!8は受光素子列26お
よび2フの中央に位置せず、受光素子列z7の方に接近
することになる。また受光素子列28の前方には横すら
し用光学系、例えば微小臨界角プリズム29を配設する
。
よび2フの中央に位置せず、受光素子列z7の方に接近
することになる。また受光素子列28の前方には横すら
し用光学系、例えば微小臨界角プリズム29を配設する
。
このようにI!!2光路分割面28および受光素子列2
8をずらして配置した場合でも、3つの受光素子列27
.28.29の光学的配置が第1図に示したようになる
ようにするために、光路補正用の光学部材80を横ずれ
検出用受光素子列28と第2光路分割面280間に挿入
する。
8をずらして配置した場合でも、3つの受光素子列27
.28.29の光学的配置が第1図に示したようになる
ようにするために、光路補正用の光学部材80を横ずれ
検出用受光素子列28と第2光路分割面280間に挿入
する。
上述したように構成することにより入射光束81 、8
1’は大きい開口角を有する光束となり、第2光路分割
面23によってナラ゛しることなく、はぼ完全に受光素
子列27に達することができる0第4図において、光路
補正用の光学部材80の屈折率′をn、厚さをto、光
路分割用プリズム21の屈折率をnとすると、横ずれ検
出用受光素子列28がざケ像検出用受光素子列26,2
フのちょうど中央、すなわち予定焦平面に位置するため
の関係は次のようになる。
1’は大きい開口角を有する光束となり、第2光路分割
面23によってナラ゛しることなく、はぼ完全に受光素
子列27に達することができる0第4図において、光路
補正用の光学部材80の屈折率′をn、厚さをto、光
路分割用プリズム21の屈折率をnとすると、横ずれ検
出用受光素子列28がざケ像検出用受光素子列26,2
フのちょうど中央、すなわち予定焦平面に位置するため
の関係は次のようになる。
dl;−+d+(4署h)(n−1)to・−・−・・
−(1)特にθ嵩45°では ”M)e−43゜−+6 + (n −1)to 、
=・・=・−(2)となる。ただし橿ずれ検出用受光
素子28および横ずらし用光学業子29に、実効的な光
学材料(厚さt□、屈折Inn)が存在する場合には、
こ(7)R(’)式(1)ノt ヲt’ トtル、!
−t5− t0+t1トt0 0 れS よい。
−(1)特にθ嵩45°では ”M)e−43゜−+6 + (n −1)to 、
=・・=・−(2)となる。ただし橿ずれ検出用受光
素子28および横ずらし用光学業子29に、実効的な光
学材料(厚さt□、屈折Inn)が存在する場合には、
こ(7)R(’)式(1)ノt ヲt’ トtル、!
−t5− t0+t1トt0 0 れS よい。
式(1) 、 (2)から明らかなように厚さtoを有
する光路分割光学素子30を挿入することにより、基板
25上におけるδつの受光素子列の位置関係がd誓>4
dとなる場合でも、これらの受光素子の光学的配置を所
定のものとすることができる。
する光路分割光学素子30を挿入することにより、基板
25上におけるδつの受光素子列の位置関係がd誓>4
dとなる場合でも、これらの受光素子の光学的配置を所
定のものとすることができる。
第6図は本発明の合焦検出装置の一例の全体の構成を示
す線図である。説明を簡明にするため第4図と同一部分
には同一の符号を付す。第4図に示す光路分割素子21
を光路分割素子受台88に着脱自在に装着し、受台88
の空間内部の底面に基板25を取り付ける。受台88は
不透明な材料で造り、受光素子列への外部からの散乱光
の入射を防止する。
す線図である。説明を簡明にするため第4図と同一部分
には同一の符号を付す。第4図に示す光路分割素子21
を光路分割素子受台88に着脱自在に装着し、受台88
の空間内部の底面に基板25を取り付ける。受台88は
不透明な材料で造り、受光素子列への外部からの散乱光
の入射を防止する。
第6図は本発明の合焦検出装置のマイクロコンビエータ
を用いた場合の電気系ブロック図である。
を用いた場合の電気系ブロック図である。
撮影レンズ41からの光束を、光電変換!F[S+jl
において上述した光路分割光学素子を介して受光素子列
へ入射させ、これら受光素子列の出力をA/D変換器4
3に二りデジタル信号とし、これをマイクロコンピュー
タ44に供給する。−rイク’aコンピュータ44はこ
のデジタル信号を比v2演算し、その比較結果に基いて
合焦、前ビン、後ビンの各状態を判定してその結果を表
示装@46に表示式せると共に、デフォーカス状態にお
いてはモータ45をデフォーカス方間に応じて駆動せし
め、レンズ41を自動的に合焦位置に設定することがで
きるう なお、本発明は上述の例にのみ限定されるものではなく
幾多の変形や変更が可能である。例えば上述した実施例
ではボケ像検出と構ずれ検出を併用したが、ボケ像検出
のみを行なうこともできる。
において上述した光路分割光学素子を介して受光素子列
へ入射させ、これら受光素子列の出力をA/D変換器4
3に二りデジタル信号とし、これをマイクロコンピュー
タ44に供給する。−rイク’aコンピュータ44はこ
のデジタル信号を比v2演算し、その比較結果に基いて
合焦、前ビン、後ビンの各状態を判定してその結果を表
示装@46に表示式せると共に、デフォーカス状態にお
いてはモータ45をデフォーカス方間に応じて駆動せし
め、レンズ41を自動的に合焦位置に設定することがで
きるう なお、本発明は上述の例にのみ限定されるものではなく
幾多の変形や変更が可能である。例えば上述した実施例
ではボケ像検出と構ずれ検出を併用したが、ボケ像検出
のみを行なうこともできる。
すなわち特開昭57−23911号公報に開示されてい
るように、光路を3分割し、予定焦平面およびその前後
等間隔に配置されている3つの受光素子列に入射させ、
これら8つの受光素子列の出力をボケ像検出方式に基づ
いて処理して合焦検出を行なうこともできる。また上述
した実施例では第8の受光素子列を予定焦平面に配置し
たが、微小レンズアレイを横ずらし用光学素子として用
しする場合のように、微小レンズアレイが予定焦平面と
なるように配置することもできる。すなわち、光路補正
用部材を適切に構成することにより8つの受光素子列の
光学的位11関係を任意予定のちのとすることができる
。
るように、光路を3分割し、予定焦平面およびその前後
等間隔に配置されている3つの受光素子列に入射させ、
これら8つの受光素子列の出力をボケ像検出方式に基づ
いて処理して合焦検出を行なうこともできる。また上述
した実施例では第8の受光素子列を予定焦平面に配置し
たが、微小レンズアレイを横ずらし用光学素子として用
しする場合のように、微小レンズアレイが予定焦平面と
なるように配置することもできる。すなわち、光路補正
用部材を適切に構成することにより8つの受光素子列の
光学的位11関係を任意予定のちのとすることができる
。
以上述べたように本発明は光路を8分割する光路分割光
学系を介し同一平面上の受光素子列に導く方法において
、第8の受光素子列の光学的位置を第1.第2の受光素
子列に対して所定の関係に保ったtま第8の受光素子列
と、第8の受光素子列に光束を導く第2の光路分割面と
を入射光束から遠去かる方向にシフトすることによって
、Ml 。
学系を介し同一平面上の受光素子列に導く方法において
、第8の受光素子列の光学的位置を第1.第2の受光素
子列に対して所定の関係に保ったtま第8の受光素子列
と、第8の受光素子列に光束を導く第2の光路分割面と
を入射光束から遠去かる方向にシフトすることによって
、Ml 。
および第2の光路分割面の間隔をより長くし、冬受光素
子列にケラレることなしに、より広い開口 角で光束
を入射でき、しかも再2の光路分割面はプリズムの厚さ
全体に亘って延在させることができるのでその製作は容
易となるという効果が得られる。
子列にケラレることなしに、より広い開口 角で光束
を入射でき、しかも再2の光路分割面はプリズムの厚さ
全体に亘って延在させることができるのでその製作は容
易となるという効果が得られる。
第1図は合焦検出装置において、ボケ像検出方式と横ず
れ検出方式を併用した場合の受光素子列の光学的位置関
係を示すR図、 第2図は上記の受光菓子の配置を光学的に実現する従来
の合焦検出装置の例を示す線図、第8図は第2図に示す
第2の光路分割面の一部を欠いた従来の光路分割プリズ
ムを用いた合焦検出装置を示す線図、 第4図は本発明の合焦検出装置の光路分割プリズムの一
例の*F!cを示す線図、 第5図は本発明の合焦検出装置の全体の構成を示すI!
J図、 第6図は本発明の合焦検出装置の電気系のブロック図で
ある◇ 21・・・光路分割光学素子 22・2δ・・・第1、jl!!光路分割面2 4 −
・・全反射面 26・・・受光素子基板 B6.27・・・ボケ像検出用受光素子列28・・・横
ずれ検出用受光素子列 29・・・横ずらし用光学系 30・・・光路補正用光学部材 δ】、δ1’.8g・・・入射光束 41・・・撮影レンズ 42・・・光電変換部 48・・・A/D変換器 44・・・マイクロコンピュータ 45・・・モータ 46−・・表示装置 第1図 第2図 0 第3図 0 第4図 第5図 第6図 手続補正書 昭和58年6月21日 1、事件の表示 昭和57年 特許 動用103885号2発明の名称 合焦検出装置 よ補正をする者 事件との関係 特許出願人 (Or?、) オリンパス光学工業株式会社瓢 6補正の対l 明細書の発明の詳細な説明の欄、およ
び図面、7.補正の内容(別紙の遥り) L明細書第8頁第7行の「方式の像」を「方式と像」に
訂正し、 同頁第20行の「ボナ検出方式の場合。」を「ボケ像検
出方式では、」に訂正する。 2、同第6頁第8行の「撮影したレンズ」を「撮影レン
ズ」に訂正し、 同頁第10行の「+d」を「+D」に訂正し、同頁第1
8行の「するものである」の後に句点「口」を加入する
。 8−同第7頁第5〜lo行を下記の通りに訂正すも「平
面に配置するのが好適である。以下、横ずれ検出は臨界
角プリズムアレイを利用した場合を例にとって説明する
。受光素子列2.8および4を等間隔に配置すれば、理
論的」 表同第8頁第1〜S行を下記の通りに訂・正する。 「光素子列4に投影される。こnらの受光素子列2・δ
および4は共通の基板16上に同一平面に形成されてい
る。なお、ここでは説明を簡単にするために、光路分割
面12,1δおよび全反射面14は受光素子列2.8お
よび4の配列面に対して45°の角度を成しているもの
とする。上述したように、受光素子列の間!4 dMは
屈折inの媒質中のボケ像の光路差d (−nD、この
光路差dは、光路分割面12.13および全反射面14
が45°の場合は、受光素子列2・δの間隔と等しくな
る。)の十となっている。従ってボケ像の光路差りが決
まれば第2の光路分割面13」 5、同第10頁第8行の「光路差dJfr光路差DJに
訂正し、 同頁第20行の「28」を「23」に訂正するっ6、同
第11頁第6〜7行を下記の通りに訂正する。 「上述したように構成することにより大きい開口角を有
する入射光束31 、31’でも」同頁第20行の「受
光素子2S」を「受光素子列28」に訂正するロ フ、同第18頁第14行の「構ずn」を「横ずn」に訂
正する。 8、図面中筒1図を別紙訂正図の通りに訂正する。
れ検出方式を併用した場合の受光素子列の光学的位置関
係を示すR図、 第2図は上記の受光菓子の配置を光学的に実現する従来
の合焦検出装置の例を示す線図、第8図は第2図に示す
第2の光路分割面の一部を欠いた従来の光路分割プリズ
ムを用いた合焦検出装置を示す線図、 第4図は本発明の合焦検出装置の光路分割プリズムの一
例の*F!cを示す線図、 第5図は本発明の合焦検出装置の全体の構成を示すI!
J図、 第6図は本発明の合焦検出装置の電気系のブロック図で
ある◇ 21・・・光路分割光学素子 22・2δ・・・第1、jl!!光路分割面2 4 −
・・全反射面 26・・・受光素子基板 B6.27・・・ボケ像検出用受光素子列28・・・横
ずれ検出用受光素子列 29・・・横ずらし用光学系 30・・・光路補正用光学部材 δ】、δ1’.8g・・・入射光束 41・・・撮影レンズ 42・・・光電変換部 48・・・A/D変換器 44・・・マイクロコンピュータ 45・・・モータ 46−・・表示装置 第1図 第2図 0 第3図 0 第4図 第5図 第6図 手続補正書 昭和58年6月21日 1、事件の表示 昭和57年 特許 動用103885号2発明の名称 合焦検出装置 よ補正をする者 事件との関係 特許出願人 (Or?、) オリンパス光学工業株式会社瓢 6補正の対l 明細書の発明の詳細な説明の欄、およ
び図面、7.補正の内容(別紙の遥り) L明細書第8頁第7行の「方式の像」を「方式と像」に
訂正し、 同頁第20行の「ボナ検出方式の場合。」を「ボケ像検
出方式では、」に訂正する。 2、同第6頁第8行の「撮影したレンズ」を「撮影レン
ズ」に訂正し、 同頁第10行の「+d」を「+D」に訂正し、同頁第1
8行の「するものである」の後に句点「口」を加入する
。 8−同第7頁第5〜lo行を下記の通りに訂正すも「平
面に配置するのが好適である。以下、横ずれ検出は臨界
角プリズムアレイを利用した場合を例にとって説明する
。受光素子列2.8および4を等間隔に配置すれば、理
論的」 表同第8頁第1〜S行を下記の通りに訂・正する。 「光素子列4に投影される。こnらの受光素子列2・δ
および4は共通の基板16上に同一平面に形成されてい
る。なお、ここでは説明を簡単にするために、光路分割
面12,1δおよび全反射面14は受光素子列2.8お
よび4の配列面に対して45°の角度を成しているもの
とする。上述したように、受光素子列の間!4 dMは
屈折inの媒質中のボケ像の光路差d (−nD、この
光路差dは、光路分割面12.13および全反射面14
が45°の場合は、受光素子列2・δの間隔と等しくな
る。)の十となっている。従ってボケ像の光路差りが決
まれば第2の光路分割面13」 5、同第10頁第8行の「光路差dJfr光路差DJに
訂正し、 同頁第20行の「28」を「23」に訂正するっ6、同
第11頁第6〜7行を下記の通りに訂正する。 「上述したように構成することにより大きい開口角を有
する入射光束31 、31’でも」同頁第20行の「受
光素子2S」を「受光素子列28」に訂正するロ フ、同第18頁第14行の「構ずn」を「横ずn」に訂
正する。 8、図面中筒1図を別紙訂正図の通りに訂正する。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 物体像を形成する光学系より射出這れる光束の少な
く共一部を第1および#!2の光路分別面および反射面
を具える光路分割光学系により8分割して同一平面上に
設けた第11第2および第8の受光素子列上に投影し、
これら受光素子列からの画像情報を処理して物体像の合
焦状態を検出する合焦検出装置において、前記第1およ
びWI2の受光素子列の中間にある第8の受光素子列と
、この第8の受光素子列に光束を導く第2の光路分割面
とを入射光束より遠ざかる方向にずらすと共に、これら
の間に光路補正用光学部材を挿入して前記第8の受光素
子列と第1の受光素子列との光路差と、第8の受光素子
列と第2の受光素子列との光路差とが所定の関係となる
ように構成したことを特徴とする合焦検出装置。 1 前記光路分割光学系を屈折inのプリズムを以って
構成し、前記同一平面上の第11第2の受光素子列の間
隔をd、前記第1および第2の光路分割面および反射面
の傾き角をθ、前記光路補正用光学部材の尾さをto、
その屈折率を前記光路分割光学系と同じnとするとき、
前記同一平面上の第1、第3の受光素子列l′l!ll
隔(1,が 5intθ d、9−→”(1+cO5N? )(n−1)t。 なる関係となるように、第3の受光素子列を配置して前
記2つの光路差が等しくなるように11或したことを特
徴とする特許請求の@弓第1項に記載の合焦検出装置。 & 前記第1、第2の受光素子列からの画像情報を演算
処理して物体像のボテの程度を検出し、第8の受光素子
列からの画像情報を演算処理して物体像の横ずれ量を検
出して物体像の正確な合焦状態を判定するようtSaし
たことを特徴とする特許請求の範囲第1項または第2項
に記載の合焦検出装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10388582A JPS58221817A (ja) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | 合焦検出装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP10388582A JPS58221817A (ja) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | 合焦検出装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58221817A true JPS58221817A (ja) | 1983-12-23 |
Family
ID=14365881
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP10388582A Pending JPS58221817A (ja) | 1982-06-18 | 1982-06-18 | 合焦検出装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58221817A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005114293A1 (ja) * | 2004-05-24 | 2005-12-01 | Hamamatsu Photonics K.K. | 顕微鏡装置 |
-
1982
- 1982-06-18 JP JP10388582A patent/JPS58221817A/ja active Pending
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO2005114293A1 (ja) * | 2004-05-24 | 2005-12-01 | Hamamatsu Photonics K.K. | 顕微鏡装置 |
US7232980B2 (en) | 2004-05-24 | 2007-06-19 | Hamamatsu Photonics K.K. | Microscope system |
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