JPS5994723A - 複合型合焦検出装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、カメラ、顕微鏡等光学装置の焦点状態を検出
する合焦検出装置に関するものである。

結像光学系によって形成される物体像の合焦状態検出方
法として、従来からいわゆるぼけ像検出方法と横ずれ像
検出方法がよく知られている。第１図は、そのぼけ像、
検出方法を実施する合焦検出装置を一眼レフカメラに適
用した場合の構成例を・示す線図である。同図において
、撮影レンズｌからの光束は、たとえば一部なハーフミ
ラ−２に形成したクイックリターンミラー８によって２
分割し、その一方はフォーカシングスクリーン４、ペン
タプリズム５等からなるファインダ系に導くとともに、
そのハーフミラ−２を透過した他方はそのクイックリタ
ーンミラー８の後方に配置した全反射ミラー６によって
下方のビームスプリッタフに導き、ここでさらに２分割
して、前記撮影レンズｌの予定焦平面８（フィルム面）
と共役な面を挾んで一定距離を隔てた位置に配置した２
個の受光素子列９ａ、９ｂのそれぞれに結像させるよう
にしている。

以上のような構成において、一方の受光素子列の出力を
Ｘｎとして、たとえば、 Ｓ””　’　ｘｎ　−ｘｎ−１１ＭＡＸ　＋ｌ　ｘｎ−
ｚ　’　ＳＵＢＭＡＸのような価を考えると、これは像
の鮮明度に従って変化する像の鮮明度に関する評価値を
与える。

前記２個の受光素子列９ａおよび９ｂの出力に゛ついて
、上式から求めた評価値ＳをそれぞれＳ□。

Ｓ、とすると、Ｓ工およびＳ２はデフォーカスに対して
第２図に示したように変化する。従ってＳ□と８２の差
を観測していれば、Ｓ＜Ｓ　　で前ピン、Ｓｏ〉Ｓ２１
　　　　２ で後ピン、Ｓ□＝８２で合焦というように、デフォーカ
ス方向と合焦位置が検出できることになる。

以上のような従来例は、比較的簡単な光学系を用いるこ
とにより高い精度で合焦状態を検出し得る長所があるが
、撮影レンズｌの結像面が合焦予定位置から大きくはず
れた状態では、第２図から分るように評価値Ｓ□と８２
の差が無くなって、両押価値Ｓ□、Ｓ２を比較すること
が困難となるので、レンズ駆動範囲の限られた範囲での
み合焦、前ピンおよび後ピンの検出が可能であり、結像
光学系駆動の全範囲にわたって合焦状態を検出すること
はきわめて困難であった。

また、横ずれ像検出方法を用いた従来例としては、第８
図に示した構成のものがある。同図において第１図と同
一機能部分は、同一符号を付しである。この合焦検出装
置においては、全反射ミラ・−６によって反射した撮影
レンズｌがらの光束を撮影レンズｌの予定焦平面すなわ
ちフィルムｒＥＪ’８と共役な而またはその近傍に配置
したレンチキュラーレンズ等の微少な補助光学系１０を
介して、この補助光学系１０に対する撮影レンズ１の射
出瞳面と光学的にほぼ共役な面に配置した受光素子列１
１に入射させている。受光素子列１１は第４図に示すよ
うに受光素子群１１Ａ、ＩＩＢを具え、これら受光素子
群１１Ａ、ＩＩＢの各受光素子１１Ａ−Ｉ　ＮＩＩＡ−
、ｎおよびＩＩＢ−１〜１１Ｅ−ｎはそれぞれ対応する
１個ずつが受光素子対１１Ａ−１、ＩＩＢ−１置　；Ｉ
ＩＡ−ｎ。

１１Ｂ−ｎを形成し、これらの全ての受光素子が一直線
上に位置するように配列されている。また、補助光学系
ｌＯは受光素子対１１Ａ−１，ＩＩＢ−ｌ　；　＝−ｉ
　１１　Ａ　−ｎ　、　１１　Ｂ　−Ｈに対応してｎ個
有し、各受光素子対を構成する２個の受光素子が、撮影
レンズｌのほぼ射出瞳面上で、受光素子の配列方向に垂
直で撮影レンズｌの光軸を含む平面（第８図では光軸を
含む紙面に垂直な面）を境°としてそれぞれの側に位置
する部分、すなわち第８図では光軸を境とする射出瞳面
の上および下側部分の像を受光するように配置されてい
る。

かかる構成において、撮影レンズ１および補助光学系ｌ
Ｏを経て被写体の像の少く共一部を受光菓子列１１に投
影すると、受光素子群１１Ａには撮影レンズｌの図にお
いて下側部分を透過した光束のみが入射し、受光素子群
１１Ｂには反対に上側部分を透過した光束のみが入射す
ることになり、受光素子群１１ＡおよびｌｌＢに投影さ
れる像の照度分布は、合焦時において一致し、非合焦時
においてはそのずれの方向に応じて互いに反対方向に横
ずれする。第８図に示Ｔ合焦検出装置においては、受光
素子群１１ＡおよびＩＩＢの出力を適当に処理して像の
横ずれ方向を検出し、これに基いて前ピン、後ピンおよ
び合焦の各焦点状態を検出している。

このような横ずれ像検出方法による合焦検出装置の長所
は、合焦検出可能範囲が第１図により説明したぼけ像検
出方法によるものに較べて格段に・広いことである。そ
の反面１合焦近傍における横ずれず３号の利得が小さく
なり、また一般に構成が複雑であり、特に第３図に示す
従来の合焦検出装置においては、レンチキュラーレンズ
等のＩ小な補助光学系ｌＯの製作が困難で、これがため
装置全体が高価でかつ大きくなる等の欠点があると共に
、各補助光学系とこれと対応する受光素子対との光学的
調整が容易でない難点がある。

本発明の目的は、前述の如きぼけ像検出方法および備ず
れ像検出方法を併用した構成とすることによって、それ
ら各方法の長所をもち、しかも前述の如き不具合を解消
した構成簡易な合焦検出装置を提供しようとするもので
ある。

本発明の複合型合焦検出装置は、結像光学系の予定焦平
面またはその面と共役な面の前後に配置され、その結像
光学系のデフォーカス状態に応じた像の鮮明度に関する
情報を検出し得るように構成した第１および第２の受光
素子列と、それら受光素子列の近傍にそれぞれ配置され
、それぞれの光入射側に設けた射出瞳分割光学系によっ
て、前記結像光学系の少なく共異なる部分を含む第１お
よび第２の各領域からのそれぞれの光束を王に各別に受
光するように配列した２つの受光素子群よりなり、それ
ぞれ前記結像光学系のデフォーカス状態に応じた像の列
方向の横ずれ情報を検出し得るように構成した第８およ
び第４の受光素子列とを具え、それら受光素子列から得
られた前記情報に基づいて前記結像光学系の前記予定焦
平面における合焦状態を検出することを特徴とするもの
であるＯ 以下、本発明を図面に基づいて詳細に説明する。

第５図は、本発明装置を一眼レフカメラに適用した場合
の実施例の構成の一例を示す線図である。

同図において、第１図と同一部分は同一符号を付して示
してあり、これらの部分については、さきに説明したの
でここではそれらの説明を省略する０ 同図に示したように本発明装置は、従来のぼけ像検出方
法によるものと同様に、結像光学系たとえば撮影レンズ
ｌの予定焦平面またはその面と共役な面の前後の各光束
を受光するようにぼけ像検出用の第１受光素子列１２Ａ
と第２受光素子列１２Ｂを具えている。また、それら第
１および第２の受光素子列１２Ａ、１２Ｂのそれぞれに
近接して、それら受光素子列１２Ａ、１２Ｂとほぼ同一
構成の横ずれ像検出用の第８および第４の各受光素子列
１３．１４が配列されており、これらの受光素子列１２
Ａ、１２Ｂ、１８．１４は、同一基板１５上に形成され
ている。

それら受光素子列１３．１４と前記撮影レンズｌとの間
の光路中、すなわちビームスプリッタ７と横ずれ像検出
用の第８および第４の各受光素子列１３．１４間には、
それら第８および第４の受光素子列１３．１４中の隣接
する受光素子対を組にする各組の奇数番目の受光素子と
偶数番目の受光素子に対し、前記撮影レンズｌの光軸を
含む面を境とする第１の領域からの光束と第２の領域か
らの光束を主して各別に入射するように構成した射出瞳
分割光学系、たとえば詳細を後記する遮光マスク板１６
．１７が配置しである。

第６図Ａは、各受光素子列１２Ａ、１２Ｂ。

１８．１４および遮光マスク板１６．１７の配置関床の
構成を示すため、光入射側からながめた平面図である。

また、同図Ｂは、同図Ａの横ずれ像検出用の第３の受光
素子列１８を構成する各受光素子と、その受光素子列１
３の光入射側に配置した遮光マスク板１６の各遮光部１
６−１〜１６−ｎとの関係を示した側面図である。

この実施例においては、第８の受光素子列１８を構成す
る多数の受光素子について、配列方向に対し奇数番目の
受光素子１８Ａ−１−１３Ａ−ｎおよび偶数番目の受光
素子１３Ｂ−１−１３Ｂ−ｎにより、それぞれ受光素子
群１ａＡおよびｌδＢを構成するとともに、両群の隣接
する１個づつの集子で受光素子対１’１Ａ−１，１３Ｂ
−１ｉ・・・；１８Ａ−ｎ、１ｉｌｌＢ−ｎを構成する
。遮光マスク板１６は、ガラス、高分子フィルム等の透
明基板上に、各受光素子対に対応してｎ個のストライプ
マスク１６−、ＩＮｌ　６−　ｎを蒸着、１：ＩＪ刷等
により・形成し、これら遮光マスクにより第６図Ａおよ
びＢに示すように各受光素子対を構成する２個の受光素
子に、受光素子の配列方向に垂直で撮影レンズｌの光軸
を含む平面を境とする第１および第２の領域、すなわち
第５図では光軸を境とする射出瞳面の上および下側部分
を透過した光束企それぞれ主として入射させるような開
口１８を形成している。

このように構成すれば、各受光素子対を構成する２個の
受光素子、たとえば受光素子１３　Ａ　−１゜１３Ｂ−
１は第７図に示すように互いに異なる方向に指向性分持
つようになり、受光素子群１５Ａの受光素子１３Ａ−Ｉ
　Ｎ１５Ａ−ｎには第５図において撮影光学系ｌの光軸
を境とする主として上側を透過した光束が入射し、受光
素子群１８Ｂの受光素子１３Ｂ−Ｉ　Ｎ１８Ｂ−ｎには
王として下側を透過した光束が入射し、撮影レンズを瞳
分割したことになる。したがって、受光素子群１ａＡ。

１’ｌＢにそれぞれ形成される像の照度分布は、受光素
子列１８上に合焦したときは一致するが、非合焦時にお
いては前ビンまたは後ビンのずれの方向に応じて互いに
反対方向にずｎることとなる。

第５図に示した第４の受光素子列１４と、その光入射側
に配置した射出瞳分割光学系１７との配置関係について
も、第６図Ａに示したようにさきに説明した第３の受光
素子列１３と、その光入射側に設けた射出瞳分割光学系
（遮光マスク板）１６の配置関係と全く同様な配置関係
となっているので、第８の受光素子列１８と同様に第４
の受光素子列１４の奇数番目の受光素子群と偶数番目の
受光素子群に、撮影レンズｌ（第５図参照）を射出瞳分
割した像が投影さｎ、これらの像の照度分布は、さきに
説明した第３の受光素子列ｌｓ上のものと同様に、撮像
レンズｌの結像状態に応じて互に反対方向にずれること
となる。

従って、第８および第４の受光素子列１８，１４・にお
ける像の横ずれ方向を検出すれば、第１および第２の受
光素子列１２Ａ、１２Ｂ上の像について、それぞれデフ
ォーカス方向がわかり、しかも横ずれ像検出方法の長所
が活かされて、撮影レンズｌの広い駆動範囲にわたりデ
フォーカス方向を検出することができる０そこで、この
実施例においては、前記第３および第４の受光素子列ｉ
ａ。

１４の各出力を処理して得た前記デフォーカス方向に関
するたとえば、後記するような各評価値Ｆ８、Ｆ、を加
算することにより、Ｆ８あるいはＦ、に比べ一段と広範
囲かつ高感度でのデフォーカス方向を表わす評価値Ｆ５
を得て、このＦ５なる評価値と、第１および第２の受光
素子列１２Ａ、１２Ｂの各出力より求めた像の鮮明度に
関する各評価値Ｆ□Ｆ２とを用いて合焦検出するもので
ある。すなわち、前記のデフォーカス方向をＦ、によっ
て検出することによって横ずれ像検出方法による長所を
最大限に活用し、ぼけ像検出方法によって検出可能なデ
フォーカス範囲においては、像の鮮明度に関する各評価
値Ｆ、、Ｆ２を比較することによって、精度高く撮影レ
ンズｌの予定合焦面８における結像状態を検出するよう
にしている。

たとえば、第１の受光素子列１２Ａの各受光素子の出力
をＡｎ、その受光素子列１２Ａの各受光素゛子列の出力
をＢｎとし、その受光素子列１２Ａ上Ｏこ′投影される
像の鮮明度を表わす評価関数Ｆよとして。

たとえば Ｆ□−１（Ａｎ＋１３Ｈ）　−（Ａｎ＋、＋Ｂｎ＋ｘ　
）　’ＭＡＸ　”・（１）を用い、同様に第２の受光素
子列１２Ｂ上に投影される像の鮮明度を表わす評価関数
をＦ２とすると、そのＦｏおよびＦ、は像の鮮明度を表
わす評価関数であるから、第８図（に）に示したように
、第１および第２の各受光素子列１２Ａ、１２Ｂ上に投
影像が結像したとき、評価値がピーク値を示すようにそ
れぞれ変化する〇 一方、第８の受光素子列１３上の像の横ずれを表わす評
価関数Ｆ８として、たとえば Ｆ８−Σ（ｌＡｎ＋ｘ　−Ｂｎ−ｉ　’　−”ｎＢｎ＋
ｘ　’　）　”・・・・（２）を用い、同様にして第４
の受光素子列１４上の像の横ずれを表わす評価関数をＦ
、とすると、Ｆ８．′Ｆ　は第８図（ｂ）に示したよう
に、前記はけ像検出ガミ 法による評価関数Ｆ□、Ｆ２の各ピーク値の位置では、
像に横ずれを生じないので、零の値となり、この位置か
ら外れると横ずれを生じ、デフォーカスの方向に応じて
正負の符号が反転する曲線上なる０ そこで、合焦予定位置に対するフォーカス方向に関する
評価関数Ｆ５として、 Ｆ５−Ｆ、＋　Ｆ、　　　　・・・・・・・・・・・・
・・・（８）全用いる０その評価値Ｆ、は、図示のよう
にＦ□−Ｆ、となった場合、すなわち撮像レンズが予定
無事・−面に合焦した時に零となり、デフォーカスの時
にはその方向に応じて極性が異なり、しかも大きな利得
をもった値となる。

よってｓ　ＩＮＪピン、後ピンのデフォーカス方向につ
いては、前記（８）式によりＦ５を演算してその結果・
から判定し、前記（２）式から求めた評価値Ｆ８および
Ｆ４が互に逆極性の範囲においては、前記（１）式によ
る評価値Ｆ□およびＦ２を用いて、デフォーカス方向と
合焦状態を判定するようにすわば、第１図で説明した従
来のほけ像検出装置に比べ、極めて広い結像光学系°の
駆動範囲にわたって、合焦状態を検出することが可能と
なり、しかも、ぼけ像検出方法の長所である高い検出精
度をもって合焦状態を検出することができる。

しかも、上記の本発明の実施例では、デフォーカス方向
を表わす評価関数として、利得の大きなＦ５−Ｆ８＋　
Ｆ、を用いているので、たとえば、ぼけ像検出方法と横
ずれ像検出方法を併用した特願昭５７−１１４９１５号
明細書に記載の合焦検出装置に比べて、一段と広い撮影
レンズの駆動範囲にわたり高感度にデフォーカス方向を
検出することができることとなる。

第９図は、ぼけ像検出のための第１および第２の受光素
子列１２Ａ、１２Ｂ、ならびに横ずれ像検出のための第
３および第４の受光素子列１８゜１４の各出力に基づい
て、合焦、前ピンおよび後ピンを表わす焦点情報を得る
ｆｉｎ号処理回路の一例の概要構成を示すブロック線図
である。

本例では、各受光素子列ｊｇＡ　、１２Ｂ　、　１Ｂ。

１４のそれぞれの多数の受光素子の出°力を同時にサン
プルホールド回路２０にサンプルホールドし、このホー
ルド値を各受光素子列１２Ａ　、１２Ｂ　。

ｌδ、１４別の出力別に、受光素子の配列ＪｌｌｌＫ序
に従って順次読み出し、これをＡ／Ｄ変換回路２１で順
次アナログ−デジタル変換して第１および第２演；ｊ？
：ＩＮ路２２，２ａに取り込む０その第１演算回路２２
では、ぼけ像検出用の第１および第２の各受光素子列１
２Ａ、１２Ｂの出力を用いて、前記（１）式に基づき、
その各受光素子列１２Ａ、１２Ｂ上の像の鮮明度を表わ
す評価関数Ｆ□およびＦ２をそれぞれ演算する。また、
第２演算回路２３では、横ずれ像検出用の第３および第
４の各受光素子列１８．１４の出力を用いて、前記（２
）式および（３）式に基づき、それら各受光素子列１３
および１４上の各像の横ずれ方向を表わす評価関数Ｆ８
およびＦ４ならびに、撮影レンズの予定無事１１ｉｌｉ
またはそれと共役な面における像の横ずれ方向を表わす
評価関数Ｆ、を演算し、前記第１演算回路２２による演
算結果を含めて各演算結果を判定回路２４に導火。

それらの評価関数Ｆｌ、　Ｆ、　、　Ｆ８．　Ｆ４およ
びＦ５は、第８図で説明したように予定焦平面またはそ
れと共役な面に対し、前ピン状態のときにＦ、は正符号
となり、かつＦ８とＦ、が異符号となる範囲でＦよ＞Ｆ
、となる。また、後ピン状態のときには、Ｆ、が負符号
となり、かつＦ８とＦ、が異符号となる範囲でＦ□＜Ｆ
２となる。さらに結像光学系が予定焦平面もしくはそれ
と共役な面に合焦したときは、Ｆ、は０となり、かつＦ
□−Ｆ２１となる。

すなわち、予定焦平面またはそれと共役な面から遠く離
ｎているために、Ｆ工とＦ２を比較し得な１・・いよつ
な前ビン方向および後ビン方向の範囲については、Ｆ６
の符号の正、負によって容易に判別でき、Ｆ８とＦ４の
異符号の範囲ではＦ□とＦ、を比較するぼけ像検出方法
に切曵均＜鳴９ζ呪鳳梃（９−−−−一〜９．．．　　
　　、　　ｋｔ−−／−−一央ア仕ト一り４大帛に二４
刀ユり換えることによって合焦状態を精度高く判別する
ことができる。

前記判定回路２４では、Ｆ□、Ｆ２　”　８１　Ｆ４お
よびＦ、について上記の関係を判定し、その結果を表示
回路２５により表示する。なお、各受光累子列１２Ａ、
１２Ｂ、１３，１４、サンプルホールド回路２０、Ａ／
Ｄ変換回路２１、第１および第２演算回路２２．２８、
判定回路２４および表示回路２５の各動作は、制御回路
２６により制御するＯ 上述した実施例においては、第８および第４の各受光素
子列における隣接関係にある受光素子に、結像光学系の
射出瞳分割光束を分離して入射させる射出瞳分割光学系
として、遮光マスク板を用いた構成したものを説明した
が、本発明はこれに限定されるものではなく、たとえば
、第８図に従来例として示したレンチキュラーレンズあ
るいはフライアイレンズ等を用いるようにしてもよいこ
とは勿論である。また、上述した実施例では合焦位置か
ら外れているときには像の横ずれ情報を、また合焦点近
傍になったらぼけ像情報を用いて焦点状態を検出するよ
うにしているが、全領域に亘って双方の情報を用いて検
出したり、合焦近傍においても像の横ずれ情報を用いて
検出したりすることもできる。

以上詳細に説明したように本発明の合焦検出装置は、結
像光学系の予定焦平面またはその面と共役な面の前後に
配置した第１および第２の受光素子列によって、前記結
像光学系の駆動に伴なうほけ像の強度分布を検出し、ま
た、それら各受光素子列の近傍にそれぞれ配置した第８
および第４の受光素子列によって、前記第１および第２
の受光素子上の像と実質上同一の像の横ずｎをそれぞれ
検出し、これら検出出力を用い、たとえばぼけ像の比較
が困難な結像光学系駆動範囲については横ずれ像検出方
法によって非合焦方向を検出するとともに、ぼけ像の比
較が容易な結像光学系の駆動範囲については、はけ像検
出方法により焦点状態を検出するようにしたものである
。従って、本発明装置によれば、横ずれ像検出方法の長
所である結像光学系の全駆動範囲にわたる広い範囲につ
いてのデフォーカス方向の検出効果と、ぼけ像検出方法
の長所である高精度な合焦状態検出効果を併せもった高
利得の合焦検出装置を提供することができる。

また、上記実施例に示した構成のように、結像光学系の
射出瞳からの光束を、その結像光学系の光軸を含む面を
鏡とする第１および第２の領域からのそれぞｎの光束を
分割するための光束分割光学系として、各受光素子列の
奇数番目の受光素子群と偶数番目の受光素子群に前記各
領域からの光束を主として入射させるように構成した遮
光マ不りを用いたものにおいては、構成が簡単になるば
かりではなく、製作も容易であり、経済性にも優れしか
も小形にできる等の利点がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は、従来のぼけ像検出方法による合焦検出装置の
構成例を示す線図、 第２図は、第１図のものにおける像の鮮明度を表わす評
価値のデフォーカス方向に対する変化を示す曲線図、 第３図は、横ずれ像検出方法による従来例の焦点検出装
置の構成例を示す線図、 第４図は、第８図の補助光学系と受光素子列との配置関
係を示す平面図。 第５図は、本発明の実施例の構成の一例を示す線図、 第６図Ａは、第５図の実施例における射出瞳分割光学系
として遮光マスクと第３および第４の受光素子列の関係
配置を示すため、光入射側からみた正面図、同図Ｂは第
８の受光素子列を例にとって遮光マスクとの関係配置を
説明するための側面図、 第７図は、遮光マスクに′よって得られる隣接して対を
なす受光素子の受光指向特性の一例図、第８図は、焦点
状態を表わす検出信号の態様を示す特性図、 第９図は、本発明の合焦検出装置の信号処理回路の一例
の概略的構成を示すブロック線図であるＯｌ・・・撮影
レンズ（結像光学系） ２・・・ハーフミラ−３・・・クイックリターンミラー
６・・・全反射ミラー　　　７・・・ビームスプリッタ
８・・・フィルム面（予定焦平面） １２Ａ、１２Ｂ・・・ぼけ像検出受光素子列１８．１４
・・・横ずれ像検出用受光累子列１８Ａ　、　ｌｉ・・
ＡグループおよびＢグループ１８Ａ−１、１８Ｂ−Ｉ　
Ｐ−１３１−ｎ　、　１８Ｂ−ｎ　・・・対をなす受光
素子対１５・・・受光素子列形成基板 １６　、１７・・・遮光マスク板（射出射分割光学系）
１６−Ｌ　Ａ−１６−ｎ　、　１７−ＩＮ１７−ｎ　・
・・遮光マスク１８・・・開口部　　　　　　２０・・
・サンプルホールド回路２１・・・Ａ／Ｄ変換回路　　
２２・・・第１演算回路２３・・・第２演算回路　　　
２４・・・判定回路２５・・・表示回路　　　　　２６
・・・制御回路。 特許出願人　オリンパス光学工業株式会社第１Ｆ 第２図 涜 Ｗ光重（１自　： 第６図 第２７図 べ ０λ碧′を声ｑ（θ〕 シ′り田浸婬　　　灼゛り丙躇呈ｈ８ 閃　　　　　　二 第１頁の続き ０発　明　者　犬井上建− 東京都渋谷区幡ケ谷二丁目４３番 ２号才リンパス光学工業株式会 社内 ０発　明　者　福岡謙二 東京都渋谷区幡ケ谷二丁目４３番 ２号才リンパス光学工業株式会 社内 手続補正書 昭和５８年８月２２日 １、事件の表示 昭和５７年　特　許　願第２０５０３６　　号２、発明
の名称 複合型合焦検出装置 ３、補正をする者 事件との関係　特許出願人 （０３７）オリンパス光学工業株式会社１、明細書第３
頁第１６行中の数式 ｒ　Ｓ　−Ｉ　Ｘｎ−Ｘｎ−ｘ　’　ＭＡＸ”ｌ　Ｘｎ
−ｘ　Ｉ　ｓｕｓｍＡｘ　Ｊをｒｓ−、Ｉ　Ｘｎ−Ｘｎ
、　ｌ　ＭＡＸ＋　Ｉ　Ｘｎ−Ｘｎ−１１、ＳＵＢＭＡ
ＸＪと訂正する。 ２、同第５頁第４行中の「の微少な」を「微小な複数の
レンズからなる」と訂正し、 同頁第１６〜１７行中の「ｎ個有し、」を「ｎ個の微小
レンズ１０−１〜１０−ｎを有し、かつ」と訂正する。 ３、同第６頁第３行中の「像を受光するように」を「像
を、個々の微小レンズ１０−１〜１０−ｎを介してそれ
ぞれ分割的に受光するように」と訂正する。 ４・同第７頁第４行の「微小な」を「多数の微小レンズ
よりなる」と訂正する。 ５、同第１８頁第２０行ないし第１４頁第１行中の「そ
の受光素子列１２Ａの各受光素子列の出力をＢｎとし、
」を削除する。 ６、同第１４頁第４行中の数式 ％式％） （） と訂正し、 同頁第１４行中の数式 ％式％（２） （） 訂正する。 ７、同第２１頁第３行中の「鏡とする」を「境とする」
と訂正する。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １　結像光学系の予定焦平面またはその面と共役な面の
   前後に配置され、その結像光学系のデフォーカス状態に
   応じた像の鮮明度に関する情報を検出し得るように構成
   した第１および第２の受光素子列と、それら受光素子列
   の近傍にそれぞれ配置され、それぞれの光入射側に設け
   た射出瞳分割光学系によって、前記結像光学系の少なく
   共異なる部分を含む第１および第２の領域からのそれぞ
   れの光束を主に各別に受光するように配列した２つの受
   光素子群よりなり、それぞれ前記結像光学系のデフォー
   カス状態に応じた像の列方向の横ずれ情報を検出し得る
   ように構成した第８および第４の受光素子列とを具え、
   それら受光素子列から得られた前記各情報に基づいて前
   記結像光学系の前記予定焦平面における合焦状態を検出
   することを特徴とする複合型合焦検出装置。 ＆　前記第８および第４の受光素子列のそれぞれから得
   た前記像の横ずれ情報から求めたそれら各受光素子列上
   における像のデフォーカス状態に応じた各評価値の和と
   、前記第１および第２の受光素子列のそれぞれから得た
   ぞｎら各受光素子列上の像の鮮明度に関する情箸から求
   めたデフォーカス状態に応じた各評価値とを用゛いて、
   前記結像光学系の予定焦平面における結像状態を検出す
   ることを特徴とする特許請求の範囲第１項に記載の複合
   型合焦検出装置。