JPS582156Y2 - スイツチング素子のdi/dt抑制装置 - Google Patents
スイツチング素子のdi/dt抑制装置Info
- Publication number
- JPS582156Y2 JPS582156Y2 JP6358777U JP6358777U JPS582156Y2 JP S582156 Y2 JPS582156 Y2 JP S582156Y2 JP 6358777 U JP6358777 U JP 6358777U JP 6358777 U JP6358777 U JP 6358777U JP S582156 Y2 JPS582156 Y2 JP S582156Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- switching element
- capacitor
- resistor
- series
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
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- Power Conversion In General (AREA)
- Thyristor Switches And Gates (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は、スイッチング素子用di/dt低減装置に関
するもので、特にスイッチング素子と並設されるコンデ
ンサの放電電流をスイッチング素子と直列のりアクドル
を通して流すことにより転流時の電流変化度(di/d
t )を低減するようにしたものである。
するもので、特にスイッチング素子と並設されるコンデ
ンサの放電電流をスイッチング素子と直列のりアクドル
を通して流すことにより転流時の電流変化度(di/d
t )を低減するようにしたものである。
サイリスク(自己消弧形を含む)やトランジスタのスイ
ッチング素子を用いたインバータ若しくはチョッパ回路
で常に問題となるのは、転流時の電流変化度(di/d
t)並びに電圧変化度(dv/dt)である。
ッチング素子を用いたインバータ若しくはチョッパ回路
で常に問題となるのは、転流時の電流変化度(di/d
t)並びに電圧変化度(dv/dt)である。
それはdi/dt 、 dv/dtが大きいと、スイッ
チング素子の転流能力を低下させ、その素子の能力を十
分に発揮できず、その上スイッチング時の損失を大きく
するからである。
チング素子の転流能力を低下させ、その素子の能力を十
分に発揮できず、その上スイッチング時の損失を大きく
するからである。
第1図に従来のインバータ回路の例を示したので、以下
これについて説明する。
これについて説明する。
図中Gはスイッチング素子で自己消弧形のサイリスクを
用いた場合の実施例であり、これはコイルLと直列であ
る。
用いた場合の実施例であり、これはコイルLと直列であ
る。
図中Rは抵抗、Cはコンデンサであり、このR,Cはサ
イリスタGとの並列である。
イリスタGとの並列である。
′抵抗Rは、整流器りと並列である。第1図の回路を例
えば2組組合せてインバータ回路が構成されるが、この
インバータ回路におけるコイルLは、サイリスタGがオ
ン動作し負荷電流が流れる時にdi/dtを抑制する作
用をする。
えば2組組合せてインバータ回路が構成されるが、この
インバータ回路におけるコイルLは、サイリスタGがオ
ン動作し負荷電流が流れる時にdi/dtを抑制する作
用をする。
又、整流器D1コンデンサCは、サイリスタGがオフ動
作した時にdv/dtを抑制する作用をする。
作した時にdv/dtを抑制する作用をする。
抵抗Rは、す、イリスタGが次にオン動作した時に、そ
れ迄充電されていたコンデンサCからの放電電流を制限
する作用をする。
れ迄充電されていたコンデンサCからの放電電流を制限
する作用をする。
第1図の如き回路にてインバータ回路を構成すると、抵
抗Rの値は、次のスイッチング動作に備えるためコンデ
ンサCの放電をできるだけ早くさせねばならないので、
できるだけ小さい数値とすることが必要である。
抗Rの値は、次のスイッチング動作に備えるためコンデ
ンサCの放電をできるだけ早くさせねばならないので、
できるだけ小さい数値とすることが必要である。
しかし、そのようにすると、コンデンサCの放電による
d i /d tがスイッチング素子に大きく影響する
ところとなり、場合によって、di/dt抑制のため新
たに抵抗Rにリアクタンスをもたせるとか、抵抗Rと直
列にコイルを接続する等の対策を構じなければならない
。
d i /d tがスイッチング素子に大きく影響する
ところとなり、場合によって、di/dt抑制のため新
たに抵抗Rにリアクタンスをもたせるとか、抵抗Rと直
列にコイルを接続する等の対策を構じなければならない
。
しかし、このような対策を実施すると、回路の構成をむ
やみと複雑にするので、好ましくない。
やみと複雑にするので、好ましくない。
本考案は、この問題の解決策として、コンデンサの放電
を、サイリスクと直列のコイルを通るようにしたことを
特徴とするものである。
を、サイリスクと直列のコイルを通るようにしたことを
特徴とするものである。
以下に本考案を実施例により説明する。
第2図は、本考案により改良したインパーク回路の要部
を示す。
を示す。
この回路は、サイリスタGと直列のコイルLが、抵抗R
と並列であり、両者は整流器りで短絡されている。
と並列であり、両者は整流器りで短絡されている。
抵抗Rは、コンデンサCと直列である。
従がって、コンデンサCの放電は、必らずコイルLを通
して放電されるところとなり、放電電流の立上がりは、
コイルLによって制限され、di/diが低減される。
して放電されるところとなり、放電電流の立上がりは、
コイルLによって制限され、di/diが低減される。
このため抵抗Hの値を小さくすることができて放電を早
くすることができる。
くすることができる。
又、本考案の回路構成の場合、dv/dtの値は第1図
の回路と変りないが、コイルLにたくわえられたエネル
ギの一部は、L)D−+Rの経路で循環するため、コン
デンサ電圧がほぼ直流電圧でおさえられ、サイリスタG
に高い電圧が印加されることがなく、回路並びに素子の
安全性が著るしく向上する。
の回路と変りないが、コイルLにたくわえられたエネル
ギの一部は、L)D−+Rの経路で循環するため、コン
デンサ電圧がほぼ直流電圧でおさえられ、サイリスタG
に高い電圧が印加されることがなく、回路並びに素子の
安全性が著るしく向上する。
さらに、本考案によれば、抵抗Hの一端が線路P、Nに
接続され同電位になるため、特に多相インバータの場合
には各相−活にまとめることができ、配線が極めて簡単
にできる。
接続され同電位になるため、特に多相インバータの場合
には各相−活にまとめることができ、配線が極めて簡単
にできる。
上記の如くであり、本考案によれば、回路の構成が簡単
で、サイリスクの安全性が向上する上に、dI/dtが
低減されるので、サイリスクの転流時の負担を低下させ
、当該素子の能力を十分に発揮させることができると共
に、スイッチング時の損失を低下させられるのである。
で、サイリスクの安全性が向上する上に、dI/dtが
低減されるので、サイリスクの転流時の負担を低下させ
、当該素子の能力を十分に発揮させることができると共
に、スイッチング時の損失を低下させられるのである。
なお、上記の実施例は、インパークについてのみ示した
が、本考案は、サイリスクと直列のコイルを有する限り
、チョッパにも同様に実施でき、更にはトランジスタの
場合でも同様の作用効果を得ることができるのである。
が、本考案は、サイリスクと直列のコイルを有する限り
、チョッパにも同様に実施でき、更にはトランジスタの
場合でも同様の作用効果を得ることができるのである。
第1図は従来のインバータ回路の要部を示す回路構成図
、第2図は本考案−実施例を示すインバータ回路の要部
回路図である。 C・・・スイッチング素子、L・・・コイル、D・・・
整流器、R・・・抵抗。
、第2図は本考案−実施例を示すインバータ回路の要部
回路図である。 C・・・スイッチング素子、L・・・コイル、D・・・
整流器、R・・・抵抗。
Claims (1)
- リアクトルとスイッチング素子とを直列に設け、このス
イッチング素子と並列にd i / d を抑制用のダ
イオードとコンデンサとの直列回路を接続したものに於
て、前記ダイオードと直列に抵抗を接続し、このダイオ
ードと抵抗との直列回路を前記リアクトルと並列に接続
して前記コンデンサの放電電流を前記リアクトルを介し
て流すように構成したことを特徴とするスイッチング素
子のai、/dt抑制装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6358777U JPS582156Y2 (ja) | 1977-05-17 | 1977-05-17 | スイツチング素子のdi/dt抑制装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP6358777U JPS582156Y2 (ja) | 1977-05-17 | 1977-05-17 | スイツチング素子のdi/dt抑制装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS53157651U JPS53157651U (ja) | 1978-12-11 |
JPS582156Y2 true JPS582156Y2 (ja) | 1983-01-14 |
Family
ID=28966911
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP6358777U Expired JPS582156Y2 (ja) | 1977-05-17 | 1977-05-17 | スイツチング素子のdi/dt抑制装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS582156Y2 (ja) |
-
1977
- 1977-05-17 JP JP6358777U patent/JPS582156Y2/ja not_active Expired
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS53157651U (ja) | 1978-12-11 |
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