JPS58206934A - 非接触温度測定装置 - Google Patents
非接触温度測定装置Info
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- JPS58206934A JPS58206934A JP57090062A JP9006282A JPS58206934A JP S58206934 A JPS58206934 A JP S58206934A JP 57090062 A JP57090062 A JP 57090062A JP 9006282 A JP9006282 A JP 9006282A JP S58206934 A JPS58206934 A JP S58206934A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 19
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 abstract description 4
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 abstract 3
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 2
- 229910052782 aluminium Inorganic materials 0.000 description 1
- XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N aluminium Chemical compound [Al] XAGFODPZIPBFFR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 1
- PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N gold Chemical compound [Au] PCHJSUWPFVWCPO-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910052737 gold Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000010931 gold Substances 0.000 description 1
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N oxygen(2-);tantalum(5+) Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[O-2].[Ta+5].[Ta+5] BPUBBGLMJRNUCC-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 229910001936 tantalum oxide Inorganic materials 0.000 description 1
- 230000001052 transient effect Effects 0.000 description 1
- 238000012800 visualization Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01J—MEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
- G01J5/00—Radiation pyrometry, e.g. infrared or optical thermometry
- G01J5/02—Constructional details
- G01J5/08—Optical arrangements
- G01J5/0803—Arrangements for time-dependent attenuation of radiation signals
- G01J5/0805—Means for chopping radiation
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- Radiation Pyrometers (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
この発明は目動化製造装置等の温度測定において、離れ
た位置にある物体の表面温度の測定を行なう非接触温度
測定装置に関する。
た位置にある物体の表面温度の測定を行なう非接触温度
測定装置に関する。
難れた例体の表面温度を測定する非接触温度センナには
、焦電効果を有したタンタル酸すテワム(LiTaO,
) 単結晶を使用した焦電形赤外線センナが用いられ
る。この焦電形赤外線センナは原理的に過渡的な温度変
化を検出する必要のあるもので、これを温度計として使
用するには、測定物体からの赤外線を第1図で示すよう
な回転羽根11で測定物体からの赤外線を断続して焦電
形赤外線センナに与えることが行なわれている。すなわ
ちこの回転羽根11は金属の薄板を等間隔に切り取って
形成され、これをモータで回転運動させることで赤外線
を一定時間間隔に断続する。それを焦電形赤外線センナ
の無電体板に当てることにより焦電形赤外線センナに温
度変化を与えるものである。この場合焦電形赤外線セン
ナの測定出力慴すは、回転羽根11自体もしくはその近
傍の温度と測定物体との温度差に比例するようになり、
測定物体の絶対的な温度測定には、(ロ)転羽根11の
温度もしくは回転羽根11近傍の温度を知り測定温度の
僧正を行なう必要がある。このため非接触温度センナの
測定系は第2図に示すような構成となる。
、焦電効果を有したタンタル酸すテワム(LiTaO,
) 単結晶を使用した焦電形赤外線センナが用いられ
る。この焦電形赤外線センナは原理的に過渡的な温度変
化を検出する必要のあるもので、これを温度計として使
用するには、測定物体からの赤外線を第1図で示すよう
な回転羽根11で測定物体からの赤外線を断続して焦電
形赤外線センナに与えることが行なわれている。すなわ
ちこの回転羽根11は金属の薄板を等間隔に切り取って
形成され、これをモータで回転運動させることで赤外線
を一定時間間隔に断続する。それを焦電形赤外線センナ
の無電体板に当てることにより焦電形赤外線センナに温
度変化を与えるものである。この場合焦電形赤外線セン
ナの測定出力慴すは、回転羽根11自体もしくはその近
傍の温度と測定物体との温度差に比例するようになり、
測定物体の絶対的な温度測定には、(ロ)転羽根11の
温度もしくは回転羽根11近傍の温度を知り測定温度の
僧正を行なう必要がある。このため非接触温度センナの
測定系は第2図に示すような構成となる。
図示しない測定物体刀1らの赤外線21を赤外線透過フ
ィルタ22を介して取シ出し、その赤外線21をモータ
23にょシ回転する同転羽根11で断続する。この断続
された赤外$2zは焦光系レンズ24を介して集光し、
焦電形赤外森センナ25に照射して入射赤外#!量に応
じた測定出力信号を取り出すようにする。また上記回転
羽根11近傍の温度を測定するために回転羽根11VC
近接して接触形温度センナ26を投け、この測定出力信
号を上記焦電形赤外線セン+25からの測定出力信号と
共に演算処理系27VC洪給する。この演算処理系27
では、上記焦電形赤外線センナ25の測定出力信号と接
触形温度センナ26の測定出力信号とか測定温度補正の
ために加算されるもので、この加算出力信号全図示しな
い温度表示回路に供給して測定物体の測定温度表示をす
るものである。
ィルタ22を介して取シ出し、その赤外線21をモータ
23にょシ回転する同転羽根11で断続する。この断続
された赤外$2zは焦光系レンズ24を介して集光し、
焦電形赤外森センナ25に照射して入射赤外#!量に応
じた測定出力信号を取り出すようにする。また上記回転
羽根11近傍の温度を測定するために回転羽根11VC
近接して接触形温度センナ26を投け、この測定出力信
号を上記焦電形赤外線セン+25からの測定出力信号と
共に演算処理系27VC洪給する。この演算処理系27
では、上記焦電形赤外線センナ25の測定出力信号と接
触形温度センナ26の測定出力信号とか測定温度補正の
ために加算されるもので、この加算出力信号全図示しな
い温度表示回路に供給して測定物体の測定温度表示をす
るものである。
しかしこのように回転羽根11をモータ23で回転して
赤外線21を断続するものでは、回転羽根11自体の温
度と回転羽根11近傍の温度に、風の影響や外部の温度
変化を受は易い状態となる。このため回転羽根11自体
とその近傍とに温度差が生じ易くなシ、高精度な測定領
を得ることができない。よってこれt−高精度な測定に
するためには、外部と回転羽根11近傍とを遮断する十
分な密閉構造の回転羽根11呈を設けなければならない
。すなわち温度測定装置自体の大きさが嵩張り、これを
目動化設備などに装着する場合のスペース効率が劣化す
るという欠点がある。
赤外線21を断続するものでは、回転羽根11自体の温
度と回転羽根11近傍の温度に、風の影響や外部の温度
変化を受は易い状態となる。このため回転羽根11自体
とその近傍とに温度差が生じ易くなシ、高精度な測定領
を得ることができない。よってこれt−高精度な測定に
するためには、外部と回転羽根11近傍とを遮断する十
分な密閉構造の回転羽根11呈を設けなければならない
。すなわち温度測定装置自体の大きさが嵩張り、これを
目動化設備などに装着する場合のスペース効率が劣化す
るという欠点がある。
さらに回転羽根11回転用モータ23の回転安定性には
限界があるので、測定精度を向上させるために回転羽根
1ノの回転周波数の変動を十分に抑えることは困難であ
るなどの欠点がある。
限界があるので、測定精度を向上させるために回転羽根
1ノの回転周波数の変動を十分に抑えることは困難であ
るなどの欠点がある。
この発明は上記のような間匙点?解決するためになされ
たもので、離几た物体の表面温度を7dll定する際、
外部の温度変化や風の影響による測定誤差を生じること
なく温度測定を行なうことができ、かつまた装置自体の
小形化も可能となる非接1触温変測定装置を提供するこ
とを目的とする。
たもので、離几た物体の表面温度を7dll定する際、
外部の温度変化や風の影響による測定誤差を生じること
なく温度測定を行なうことができ、かつまた装置自体の
小形化も可能となる非接1触温変測定装置を提供するこ
とを目的とする。
すなわちこの発明に係る非接触温度測定装置は、測定物
体からの赤外線を断続するチョッパとして、接触形温度
センナを実装した振動鏡を用いたものである。
体からの赤外線を断続するチョッパとして、接触形温度
センナを実装した振動鏡を用いたものである。
以下図面によりこの発明の一実施例を説明する。5g3
図はその構成を示したもので、測定物体31からの赤外
線21は、赤外線透過フィルタ22を介して取シ出し、
焦光系レンズ24で集光する。この集光さnた赤外線3
2はチョッパとしての振動833により断続し、焦電形
赤外線センナ25に入射される。この振動鏡33は第4
図に取り出して示すように振動コントロール回路34V
Cより制御される駆動装置35によって、矢印に示すよ
うに往復回転運動し、焦電形赤外線センナ25に対する
入射赤外巌ヲ特定される周期で断状させる。この振動鏡
33に対しては、その振動軸に対応して振動鏡33目体
の温度を測定する接触形温度センナ26を取り付ける。
図はその構成を示したもので、測定物体31からの赤外
線21は、赤外線透過フィルタ22を介して取シ出し、
焦光系レンズ24で集光する。この集光さnた赤外線3
2はチョッパとしての振動833により断続し、焦電形
赤外線センナ25に入射される。この振動鏡33は第4
図に取り出して示すように振動コントロール回路34V
Cより制御される駆動装置35によって、矢印に示すよ
うに往復回転運動し、焦電形赤外線センナ25に対する
入射赤外巌ヲ特定される周期で断状させる。この振動鏡
33に対しては、その振動軸に対応して振動鏡33目体
の温度を測定する接触形温度センナ26を取り付ける。
上記接触形温度センナ26と焦電形赤外層センナ25そ
れぞれの出力−圧信号は増幅回路36f、介して演算処
理装置37に供給される。
れぞれの出力−圧信号は増幅回路36f、介して演算処
理装置37に供給される。
この演算処理装置37では供給された上記2つのセンナ
25.26からの出力電圧信号を加算して測定温度の補
正を行ない、これを表示回路38で表示することによっ
て測定物体31の表面温度金示すように構成されている
。
25.26からの出力電圧信号を加算して測定温度の補
正を行ない、これを表示回路38で表示することによっ
て測定物体31の表面温度金示すように構成されている
。
すなわちこのように構成される装置によれば、振動鏡3
3の温度を測定する際に、接触形温度センナ26を振動
鏡33に実装して直接その温度を測定することができ、
風の影響などで測定誤差を生じることを防止できる。ざ
らに上記風の影翰や外部の温度変化を遮断する、チョッ
パ付近と外部との密閉構造が必要でなくなる。
3の温度を測定する際に、接触形温度センナ26を振動
鏡33に実装して直接その温度を測定することができ、
風の影響などで測定誤差を生じることを防止できる。ざ
らに上記風の影翰や外部の温度変化を遮断する、チョッ
パ付近と外部との密閉構造が必要でなくなる。
したがって測定時に生じる測定誤差を軽減して温度測定
精度を同上し、装置内部の構造を簡素化する5ことが可
能となシ装置自体が小形化できる。
精度を同上し、装置内部の構造を簡素化する5ことが可
能となシ装置自体が小形化できる。
上記実施例では焦光系レンズ24によって赤外線21を
集光するようにしたが、第5図に示すように金やアルミ
を蒸着した凹面鏡51金用いて、その集光点に振動鏡3
3を介して焦電形赤外線センナ25全配”置するように
構成することもできる。
集光するようにしたが、第5図に示すように金やアルミ
を蒸着した凹面鏡51金用いて、その集光点に振動鏡3
3を介して焦電形赤外線センナ25全配”置するように
構成することもできる。
また接触形温度センナ26を十分な平面度を持って形成
し、その表面に反射率の高い金やアルミを蒸着すれば、
接触形温度センナ26目体を振動鏡33として使用でき
る。
し、その表面に反射率の高い金やアルミを蒸着すれば、
接触形温度センナ26目体を振動鏡33として使用でき
る。
以上のようにこの発明によれば、焦電形赤外縁センナに
入射する赤外線を断続する断続装置として、小型で慣性
が小さい接憩形温度センナ全実装したチョッパとしての
振動鏡を使用することによシ、振動鏡の振動8仮数の変
動を小さく抑えることができる。また振動鏡の温度を直
接測定することによって、正確な温度測定がなされ測定
精度が向上する。さらに回転運動するチョッパ(回転羽
根)やチョッパ付近と外部と全遮断する密閉構造が不要
となり、そ扛による非接触温度測定装置自体の小形化が
実現でき、自動化製造装置等、への容易な装着が可能で
ある。
入射する赤外線を断続する断続装置として、小型で慣性
が小さい接憩形温度センナ全実装したチョッパとしての
振動鏡を使用することによシ、振動鏡の振動8仮数の変
動を小さく抑えることができる。また振動鏡の温度を直
接測定することによって、正確な温度測定がなされ測定
精度が向上する。さらに回転運動するチョッパ(回転羽
根)やチョッパ付近と外部と全遮断する密閉構造が不要
となり、そ扛による非接触温度測定装置自体の小形化が
実現でき、自動化製造装置等、への容易な装着が可能で
ある。
第1図は従来の測定装置でチョッパとして使用される回
転羽根を示す図、第2図は従来の測定装置全説明する構
成図、第3図はこの発明の一実施例に係る非接触温度測
定装置を説明する構成図、第4図は上記実施例のチョッ
パに使用される振動鏡とその駆動装置の関係を示す斜視
図、第5図はこの発明の他の実施例を説明する図である
。 22・・・赤外縁透過フィルタ、25・・・焦電形赤外
線センナ、26・・・接触形温度センナ、31・・・測
定物体、32・・・集光赤外線、33・・・振動鏡、3
4・・・振動コントロール回路、37・・・演算処理装
置。 出願人代理人 弁理土鈴 工武 彦 第1図 第2図
転羽根を示す図、第2図は従来の測定装置全説明する構
成図、第3図はこの発明の一実施例に係る非接触温度測
定装置を説明する構成図、第4図は上記実施例のチョッ
パに使用される振動鏡とその駆動装置の関係を示す斜視
図、第5図はこの発明の他の実施例を説明する図である
。 22・・・赤外縁透過フィルタ、25・・・焦電形赤外
線センナ、26・・・接触形温度センナ、31・・・測
定物体、32・・・集光赤外線、33・・・振動鏡、3
4・・・振動コントロール回路、37・・・演算処理装
置。 出願人代理人 弁理土鈴 工武 彦 第1図 第2図
Claims (1)
- 測定物体からの赤外線が集光され入射される焦電形赤外
線センナと、この焦電形赤外線センナへの赤外線通路に
設けられこれを断続する振動鏡と、この振動鏡と一体的
に設けられその温度全測定する舞触形温度センナと、こ
の接触形温要センナおよび上記焦電形赤外線−ンンチそ
れぞれの測定出力信号が、供給される演算処理装置とを
具備したことを特徴とする非接触温度測定装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57090062A JPS58206934A (ja) | 1982-05-27 | 1982-05-27 | 非接触温度測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57090062A JPS58206934A (ja) | 1982-05-27 | 1982-05-27 | 非接触温度測定装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58206934A true JPS58206934A (ja) | 1983-12-02 |
Family
ID=13988070
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57090062A Pending JPS58206934A (ja) | 1982-05-27 | 1982-05-27 | 非接触温度測定装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58206934A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2593285A1 (fr) * | 1986-01-17 | 1987-07-24 | Toshiba Kk | Dispositif de detection de temperature, appareil de cuisson a micro-ondes utilisant un tel dispositif et procede de correction de donnees de ce dernier |
-
1982
- 1982-05-27 JP JP57090062A patent/JPS58206934A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2593285A1 (fr) * | 1986-01-17 | 1987-07-24 | Toshiba Kk | Dispositif de detection de temperature, appareil de cuisson a micro-ondes utilisant un tel dispositif et procede de correction de donnees de ce dernier |
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