JPS5819543A - 検壜装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は、壜の層目あるいは肩部など検査領域に生じ
た欠陥を検出する装置に関するものである。

従来、この種の装置と【・て１ｉｔａｉ〜第４図に示す
ものかあ−た、図において、（１）は検出装置枠体、（
２）は被検斎場、（４）はインデックス機構を備えた回
転テーブル、（９）は下部可動ローラで、この可動ロー
ラ（９）は回転テ・−プル（４）に取付けらね、図示し
ていないガイドに沿って、上記回転テーブル（４）ノ割
出位置に合わせて上昇し回転する壜（２Ｊの下部を保持
し・、また割出位置薯こ合わせて下降する。　（ＩＩは
上部可ｗａ３点ローラで、ローラ取付台輪に取付けられ
、上記ガイドに沿って円筒カム四にぼり下降または上昇
−１、回転する壜（２）の上部を保持するものであるＰ
＠は投入スターホイールで、上流コンベナもｅから壜（
２）を１本毎に分離し、テーブル（４）に同期して投入
する０ｇ４は排出スターホイールで、上記テーブル（４
）と同期し、検査が終了【、た壜（２）を１本毎に下流
コンベア（２）あるいは下流不良壜ストッカー（至）に
払出して排出する。

第２図〜第４図は光学−電気検出対を示したもので、こ
の検出対は投光器（２）と受光Ｓ（ホ）とが−組となっ
て構成されており、８組の検出対が検出装置枠体（１）
に配設されている、なお、受光Ｓ（ホ）はレンズ（２６
１）と光−電気変換素子（２６２）とを備え、例えば被
検斎場（２）の湯口や肩部などの検査領域−に、投光器
（２）からスポット光を照射し、その反射光を受光器（
至）によって受光する。また、第８図の（５２５ｍ）　
（２５ｂ）　（２６ｏ）　（２５ｄ）は投光器（至）が
異なる方向から検査領域（Ｓｏｌ）　（６０ｂ）などへ
照射する場合を示している、（５）は回転台で、壜（２
）を載置し、これを回転させる。

（１０Ｇ）は上記受光器−の電気変換信号を入力とし、
被検斎場（２）の良否判断を行なう信号処理部、（１０
２）はコンベアの起動・停止及び不良壜の除去制御を行
なうコンベア制御部で、上記信号処理部（Ｚｏｏ）から
の信号によりゲート四を制御し、不良壜の払出を行なう
、（１０１）は上記投光器（至）を安定駆動する投光器
電源である。

次に動作について説明する、上流コンベア（ロ）からの
被検斎場（２）は投入スターホイール（財）により回転
テーブル（４）に投入され、この投入位置にて壜上部よ
り上部可動８点ローラ（至）が下降し、壜の上部を保持
するとともに壜下部は下部可動ローラ（９）が上昇し、
その下部を保持する７これと同時に壜底に位置する回転
台（５）が連続高速回転を始め、壜（２）はフリクシー
ンにより、上部・下部をローラで保持され、連続高速回
転を始める１回転テーブル（４）は所定の時間経過後、
全体を割出角だけ瞬時に回転せしめ次の割出角で停止・
静止する、この開拡出角へ到達するまで、この例におい
ては８区間の割出−静止が繰返えされ、その間払い出し
角の手前で、ブレーキがかけられるまで壜（２）は壜回
転台（５）により回転テーブル（４）の割出し動作とは
無関係に高速回転する、上記テーブル（４）が図中矢印
（時計廻り）方向に動くとし、投入された壜（２）は最
初の検出部（Ｘステージと呼ぶ）の下に達する。壜（２
）の回転台（５）は回転テーブル（４）の静止時間イン
ターバルにて少なぐとも壜（２）を１回転以上回転せＬ
・めるようになっているため、Ｘステージにおいてテー
ブル（４）の静止時間内で第２図に示す検査が行なわれ
る。即ちこの図に示すように、投光器（２）からの検査
ビームは湯口などの検査領域−を照射し、その正反射光
は受光器（ホ）により受光されてレンズ（２６１）を遥
し、ホトダイオードなどの光−電気変換素子（２６２）
でその受光量が検知される。壜（２）は回転台（５）の
回転につれて回転し、ちょうど１回転する間検知を行な
い、傷に対応する受光量の低下があるか否かを信号処理
ｍ５（１００）で検知する。

次いで回転テーブル（４）の割出につれ、壜（２）は次
′の検査ステージ（Ｘステージ）の下に達する、ここで
は、第８図に示す検査が行なわれる。即ち、投光ＩＩ（
２５ｍ　）、（２５ｂ　）により湯口の微小部分である
検査領域（Ｂｏａ）が斜め上方から照射され、投光器（
２６ａ）、（２６ｄ）　ｔｃ　Ｊ　ｏ、マタ壜ロノ検査
領域（６０ｂ）が斜め下方から照射され、これを壜（２
）の上方に位置するカメラなどの受光器曽によってレン
ズ（２６１）を通しライン士シサなどの変換素子（２６
２）により、各検査領域’（５０＆）（Ｂｏｂ）を−挙
に監視する。もし検査領域（５０＆）（Ｓｏｂ）に傷が
あれば、その散乱光が観測され、変換素子（２６２）に
よってそれを検知する部層（２）が１回転する間これを
行なうことによれ層目全周にわたる検査が完了する、さ
らに、回転テーブル（４）の割出につれ壜（２）は次の
検査ステージ（２ステージ）の下に達する。こξでは第
４図に示す検査が行なわれる７即ち、平面投光器（２）
からの光線は対向する受光器（至）により、壜肩部の一
直線部分である検査領域のとし・て観測される、即ち壜
（２）の回転−でつれ、異物の付着等による光量の低下
が変換素子（２６２，）のいずれかのビクセルにて観測
されぬかを信号処理ｌｌ５（１００）にて検知するもの
である、壜（２）が１回転する間にこれを行なうこと＋
？より壜肩部の全周にわたる検査が完了する。

以上のＸ、Ｙ、Ｚ多ステージにおける上述の検査がそれ
ぞれの壜ごとに記憶され、検査領域輪中に不良部を有す
る仁とを信号処理部（１０Ｇ）により判定されると不良
壜払出指令が上記処理ｍ５（１００）からコンベア制御
部（１（１２）に出力され、このコンベア制御部（１０
２）は当該壜（２）が払出スターホイール（２）に取込
まれた時点で払出ゲート（２）を開けて不良壜を払出す
る。

従来の検層装置は以上の如く、回転テーブルを使用する
ため１、インデックス作動時、壜に対する衝撃が大きぐ
なる機構となっており、壜の許容衝撃力の上限より大き
ぐなるような処理速度にまで高速処理することができな
い、また、壜の投入。

排出において間欠運動する回転テーブルへ瞬時に壜を投
入又は“排出することは、投入、排出時、壜の保持ロー
ラが作動しない軟部にあ−で完全に保持されないため、
壜の倒れ等が起る欠点があるとともに、わずかな割出静
止時６ζ壜を１回転させるため壜が高速で自転すること
を要するものであった。

この発明は、上記のような従来の欠点を除去するために
なされたもので、投・受光器あるいは信号処理部や投光
器安定電源をも一括して１転テーブル上に職、置させる
ことによ−て壜の割出を不要にし、連続回転できるよう
にすることにより、投入・排出部においても壜の間欠運
動がな（な−て上記壜が倒れることなく高速処理ができ
るとともに、壜自体の能動的な回転機構も不要となる検
層装置を提供することを目的滅している。

以下、この発明の一実施例を図について説明する。１１
５図はこの一実施例の平面図、第６図はその断面を示し
、（１）は装置の外枠、（２）は被検斎場、（４）は検
査のための回転テーブルで、一定の角速度ωで回転して
いる、（５）は壜回転台で、上記回転テーブル（４）に
固着されたアーム（４ａ）に設けられた回転軸上で自由
に回転するようになっている。

（４ｂ）は上記回転テーブル（４）に固着された壜の倒
し保持用の支え枠で、自由にスリップするようジュラコ
ン材等で作られる。（１）は硬質ゴム等で作られた保持
部材で、外枠に設けられる壜の倒れを一防止するととも
に壜が投入口から払出口まで公転する問に少なぐとも１
回転は自転するよう構成されている。％（２）は投光器
、（２）は受光器で、この投光ｗｈｍと受光器員とが一
組となりて光学−電気検出対を構成している、そして複
数組の上記光学−電気検出対が同一の回転テーブル（４
）の均等分割された位置に配設されている。この例にお
いては、第２図に示すものが８組設けられている、＠は
投入ホイールで、上記回転テーブル（４）と同期して回
転し、上流コ′ンベア（２）より壜を１本毎受は取り、
これを回転テーブルの任意の検査ステージに投入する。

＠は排出ホイールで検査終了した壜を受け・取り、これ
を下流コンベア（至）に排出する。なお、この図におい
て不良壜だまりは下流コンベア働の後方に位置するため
省いている。

（１００）は従来例で説明Ｃ１た信号処理装置上向−の
機能を有する装置であるが、第２１！ｌＩの正反射検出
用のもの８組が塔載され、回転テーブルの上部に配設さ
れている。　（１０１）は投光器用安定化電源で、これ
も回転テーブル（４）上に塔載されている。

（１０Ｂ）は無線式信号送信装置であり、いずれかのス
テージに不良場が検出されると、そのステージ固有の周
波数１ｉをキャリア周波１ｏｘｔ乗せてパルス状に送出
する。　　（１０２）はコンベア制御部であり、かつ無
線式信号送信装置（１０Ｂ）からの不良層検出信号を受
信する受信装置を内蔵し、キャリア周波ｆｏより周波数
ｆｉを複調し、この周波数ｆｉを弁別することによりい
ずれのステージにおいて不良が発見されたかを知る。ま
た、コンベア制御部（１０２）は図示しない回転テーブ
ル角度検出器により各瞬時における回転テーブルの回転
角度を入力されているので不良発生壜の現在角度を知り
これをトラッキングし、下流コンベアの下流における不
良壜排出ゲートを作動させ不良壜を排出できるものであ
る、 上流コンベアｃ１１）からの被検斎場（２）は投入ホイ
ール＠ξζより回転テーブル（４）の空となった検査ス
テニジに投入される。各検査ステージにはそれぞれ投光
器（ホ）、受光器（ホ）が固着され、湯口などの検査領
域曽の１６に焦点を当て監視するよう設定さねている。

信号処理装置（１００）は壜（２）が投入された状態か
ら受光器（至）の電気出力を受け、その信号レベルが落
ち込まないかどうかの監視を始める。回転テーブル（４
）の回転につれ、壜は回転自在な回転台（５）上で、外
枠の保持部材（１１）と内側のアーム（４畠）との摩擦
係数の差Ｉこより回転【ノていき、この自転作用により
信号処理装置（１００）の層目全周の監視を可能とする
７ 即ち排出ホイール（ホ）の位置まで回転テーブル（４）
が回転する間に壜り２）は少なくとも１回転は自転し、
信号処理装置（１００）は層目全周の検査を投入口から
排出口までの回転中に終了する、もし信号処理装置（１
００）が受光器（ホ）からの電気出力により不艮壜との
判定を下−ミーと短いパルス信号を送信装置（１０Ｂ）
に送出【・、この送信装置（１０８）はこれに対しその
検査ステージに特有な低周波信号ｆｉにより高周波キャ
リアｆｏをパルス状に変１ｉ１１１１１１波として送出
する。検査ステージは回転テーブルについて絶対約１こ
割付けであるもので、コンベア制御部（１０２）は、こ
の信号ｆｉをキャリアｆｏより夜間しｆｉを弁別する。

一方図示しない１転テーブル回転角検出器によりコンベ
ア制御部（１０２）は回転テーブルの絶対位置を知り上
記不良発生絶対ステージ位置とのつき合せにより不良壜
の現在位置を知ることができる。

以上によりコンベア殿制御５（１０２）は不良壜をトラ
ッキング【１、ｔコンベア（２）に設けられた不良排出
ゲートを操作し、当該不良壜を排出する、回転テーブル
上に複数の投・受光器を配したの線、単に回転テーブル
１回転に対する検査処理本数を増すためのもので、この
ことにより回転テーブル上の装置に対する角速度に起因
する遠心力の影蕃を柔らげる意図をもっている、また回
転テーブル上への電源の給電は第６図におけるスリップ
リング機構（１１０）及びそのブラシ（１１１）により
行なう。

なお、仁の実施例において検出方式は、正反射光検出方
式（第２同憂こ説明したもの）による場合を示したが、
散乱光検出方式（第８図に説明【７たもの）や透過光検
出方式（第４図に説明り、たもの）などであってもよぐ
、複数の検出方式を併用するときは各専用の検出テーブ
ルを用意し、同一の検出方式による検出対とその信号処
理装置とを同一検出テーブルに載置し、上記各検出テー
ブル間を中間受授ホイールによって接続していけばよい
、また検出結果はこの例のように無線による代りに誘導
無線や光を利用したものであってもよい。

さらに信号処理装置は検査テーブルより下ろし、受光器
からの電気出力をスリ、・・ブリング、又は同軸カブプ
リング等で接続することも可能である。

以上のように仁の発明によれば、検査用役・受光器を検
査テーブル上に載に？Ｌ７たので、検出精度を損うこと
なく、検査テーブルの間欠送りを連続回転とすることが
でき、検査処理能力を大幅に向上Ａせることかできる効
果がある、

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の検層装置を示す平面図、ｔｍ２図〜・１
１１４図はそれぞれ検査原理を説明するためのもので、
第２図は正反射光検出方式を示す図、第８図は散乱光検
出方式を示す図、第４図は透過光検出方式を示す図、第
５図、第６図はこの発明の一実施例による検層装置を示
し、第５図はその平面図、第６Ｉ５は断−図である。 図において、同一符号は同一または相当部分を示し、（
１）は検出装置枠体、（２）は被検斎場、（４）は回転
テーブル、（５）は回転台、（至）は投光器、（２）は
受光器、輪は検査領域、（１００）は信号処理装置、（
１０２）はコンベア制御部、（１０８）は信号送信装置
である、代理人　　　葛　野　信　− 第２図 第３図 第４図 第５図 ＩＥ６図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 壜の検査領域に光を照射するとともに上記検査領域を経
   た光を受光【１、この受光した光の中から壜の欠陥に起
   因する光の乱かを検出してこれを電気信号に変換し・、
   この電気信号から当該壜の欠陥の有無を弁別する検層装
   置において、上記光を照射する光源および検査領域を経
   た光を検出【ノξれを電気信号に変換する検出量からな
   る光学−電気検出対を同一の回転体上膠こ配設【・、こ
   の回転体を同一角速度で公転せ【・めるとともに上記光
   学−電気検出対の検出域に検査対象層を所定のｉ入角位
   置から１本ごと上記公転と同期させて投入【・、かつ排
   出回転角度位置にて上記壜を１本ごと上記公転と同期さ
   せて排出【７、上記回転角位置から排出回転角口に至る
   公転回転区間において上記検査対象層を少なくとも１回
   転自転させ、この区間内において上記光学−電気検出対
   により壜Ｏ）検査領域の欠陥の有無を検出する仁とを特
   徴とする検層装置。