JPS5818757A - 配列限界検査装置 - Google Patents

配列限界検査装置

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Publication number
JPS5818757A
JPS5818757A JP56116968A JP11696881A JPS5818757A JP S5818757 A JPS5818757 A JP S5818757A JP 56116968 A JP56116968 A JP 56116968A JP 11696881 A JP11696881 A JP 11696881A JP S5818757 A JPS5818757 A JP S5818757A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
array
dimension
register
bit
limit
Prior art date
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Pending
Application number
JP56116968A
Other languages
English (en)
Inventor
Sumio Ozawa
小澤 純雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP56116968A priority Critical patent/JPS5818757A/ja
Publication of JPS5818757A publication Critical patent/JPS5818757A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/07Responding to the occurrence of a fault, e.g. fault tolerance
    • G06F11/0703Error or fault processing not based on redundancy, i.e. by taking additional measures to deal with the error or fault not making use of redundancy in operation, in hardware, or in data representation
    • G06F11/0751Error or fault detection not based on redundancy

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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、情報処理装置が配列を扱う際、プログラム誤
まりの大きな原因の一つとなる配列の限うる配列限界検
査装置を提供することを目的とする。
配列はプログラム記述の中で最も頻繁に使用されるデー
タ構造であり、一般に多次元の要素より構成される。し
かし、従来配列を実現する具体的手段は、−次元のアド
レス付けをされたランダム・アクセスメモリなどが用い
られるため、配列の多次元7 トL/ス(!L 、 b
 、 a )はa、b、cの限界値をそれぞ:itL、
M、Nとした時(Ma+b)N+cとなる一次元アドレ
スに変換されて使用されていた。この様に従来の配列に
対するアクセスの方法は、配列の多次元アドレスが各次
元の限界値以下であることを保証する何の手段も提供し
なかった。
−次元アドレスに変換後の値が配列のために確保されて
いる領域外を示した場合をエラーとして除外することも
考えられるがこれでも十分ではない。
すなわち限界値がL=s、M=4.N=3の時を考えて
みる。多次元アドレス(a 、b 、 c )−(2+
 3 + ’)は本来存在し得ない配列アドレスにもが
かわらず、−次元アド、レスに変換後は(4X2+3)
X3+4=37となり多次元アドレス(a、b、c)−
(2,4,1)と同じ一次元アドレスを示すこととなる
。従って一次元アドレスに変換後にその値が配列に割シ
当てられた領域に入っていることを検査しても配列に対
する正しいアクセスは保証することができない。
結局、配列に対する正しいアクセスを保証するためには
、配列にアクセスする場合に常に各次元のアドレスが定
められた限界値以下となっていることをプログラムの一
部でチェックするしか方法がなく、プログラム実行中に
これらのチェックを行なうことは、著しくプログラム実
行効率を低下させることとなっていた。
本発明は、この様な問題点を解決するために、なされた
ものであり、ランダムアクセスメモリで構成される配列
にアクセスするアドレス表現を、ビットフィールドを各
次元のアドレスに割り当て、直接多次元で表現する様に
して、配列がアクセスされると同時に各次元毎に限界値
との大小比較が行なわれる様にしたもので以下図面に従
ってその一実施例を詳細に説明する。
第1図は本発明の一実施例の構成を示した図であり、第
2図は配列の次元を定義するレジスタの−構成方法を示
す図、第3図は各次元の限界値を格納するレジスタの一
構成方法を示す図、第4図は配列がアクセスされた時配
列の各次元のアドレスが限界値を越えたことを検出する
組合せ論理回路の一実施例を示した図である。
第1図において、配列の次元を定義する配列定義レジス
タ1の内容によって、各次元に対する限界値が格納され
ている配列限界値レジスタ2の内容が組合せ論理回路3
によって解釈され、各次元毎の限界値が分離される。配
列にアクセスするために配列アドレス信号4が入力され
ると配列定義レジスタ1の定義に従って各次元毎に配列
限界レジスタ2の限界値と大小比較され、入力された配
列アドレス4の各次元の一つでも定義された限界を越え
るものが存在する場合、エラー検出信号6に論理「1」
信号を出力する。配列に対するアクセスは図中に示され
ていない中央処理装置によって行なわれ、上記中央処理
装置は常時上記エラー検出信号5を割り込み入力として
監視することによって、配列に対するアクセスが正常に
行なわれた時は、何の付加的処理を必要とせず、エラー
検出信号6が論理「1」となって上記中央処理装置に割
り込みが入力された時のみ、エラー回復のための付加的
処理を行なえばよい。
第2図は配列の次元を定義する配列定義レジスタの一構
成法を示したもので、図は3次元配列(a 、 b +
 C)に対するものでa、b、cの限界値がそれぞれ5
,4.3 の場合について例示しである。
第2図(イ)において第1の次元乙に対しビット7から
ビット6迄の3ビツトのフィールドが割り当てられ、同
様にして第2の次元すに対しては、ビット4からビット
2迄の3ビツトのフィールドが、第3の次元Cに対して
はビット1とビットoの2ビツトのフィールドがそれぞ
れ割り当てられている。次元の定義規則は以下の通シで
ある。各次元に割り当てられたビットフィールドの最上
位ビット位置のみ[ojをセットし以下に続く下位のビ
ット位置には「1」を当該フィールドが続く限りセット
する。この様な規則に従って上記3次元配列(a、b、
c)の次元を定義したものを第2図(ロ)に示す。すな
わち第1の次元aに対してはビット7の位置が最上位で
あるためo’6セツトし、以下ビット6、ビット6は同
一フィールドであるため「1」をセットしてollとい
う定義のための表現を得る。同様にして第2の次元すに
対し011゜第3の次元Cに対しolという定義を行な
い全体としてollollolなる定義を行なう。さら
に配列の定義を行なわないフィールドは全てOで満たし
ておく。
第3図は、各次元に対する限界値を格納する配列限界レ
ジスタの一構成法を示すもので1図は第2図で定義され
た例に対応されて書かれている。
すなわち第3図(イ)は配列の次元を示したもので、第
2図(イ)と同じものである。第3図(ロ)中第1の次
元の限界値は6であるためビット7からビット6迄のビ
ットフィールドに2進数101が書かれ、以下同様にし
て、第2の次元に対しビット4からビット2迄のピッミ
ツイールドに限界値4を2進数で表現した100.第3
の次元に対しビット1とビット0のビットフィールドに
限界値3″i2進表現した11がそれぞれ書かれる。
第4図は、配列がアクセスされた時配列の各次元のアド
レスが限界値を越えたことを検出する組合せ論理回路の
一実施例であり、第2図、第3図におけるビット7から
ビット2に対応した部分が示される。第2図で示された
配列の次元を定義するレジスタのビット7の出力が図中
の信号DM7(40−1)に入力され、以下ビット6か
らビット2迄それぞれ図中の信号DM6〜DM2 (4
0−2〜4o−6)に入力される。第3図で示された各
次元の限界値を格納している配列限界値レジスタのビッ
ト7の出力が図中の信号LM7(30−1)に入力され
、以下ビット6からビット2迄それぞれ図中の信号LM
6〜IJM2(30−2〜3O−6)に入力される。配
列にアクセスするために図には示されていない中央処理
装置より出力される配列アドレスは図中の信号ムD7か
らムD2(20−1〜2O−6)に入力される。入力さ
れた配列アドレス(20−1〜2O−e)と限界値信号
(SO−1〜3O−6)の大小比較は上位ビットすなわ
ちビット7より開始し以下下位ビット方向にフィールド
が区切られる迄続けられる。
ムNDゲート(so−1)の機能は、ビット7での大小
比較を行なうもので配列アドレス人D7(20−1)が
論理「1」で限界値L M 7(30−1)が論理「o
」であることを検出するものである。
ANDゲート60−2〜60−6は上記ヒツト7に対す
ると同機能をビット6からビット2に対し行なうゲート
である。AND−ORゲート8o−1はビット7におい
て配列アドレス人D7(20−1)と限界値LM7(3
0−1)が同じ値すなわち共に論理「1」か共に論理r
OJであることを検出した時、その出力に論理roj’
を出力する機能をもっている。NANDゲートTo−1
はビット7において第2図における第1の次元がピント
6迄続いている時、ビット7における配列アドレスと限
界値とが同値であることを下位方向のビット位置に伝達
するものであり、NARDゲー)70−10出力が論理
「1」の時、大小関係の決定は、1ビツト下位のビット
すなわちビット6での大小関係に委ねられる。第2図、
第3図で示された例においては、第4図中の信号DMA
(40−4)は「0」であり上記第1の次元とは異なる
第2の次元の最上位であることを示している。この時N
ムNDゲート70−3の出力は論理「1」となり、ビッ
ト4以下のビット位置における配列アドレスと限界値の
大小関係の比較はビット6以上の大小関係の比較と無関
係にされる。ムNDゲー)60−6迄の出力が論理1の
場合、当該のビットで、配列アドレスが限界値を越えた
ことが検出されたことを示し、それらi0Rゲー)50
によって論理和をとることによってエラー信号61を生
成する。
以上説明した様に本発明によれば、配列に対するアクセ
スを行なう時、従来プログラムでしか実行でキナかった
配列の限界に対するチェックが、プログラムの介在なし
に行なうことができる様になり、プログラムの実行効率
を大幅に向上させることが可能となる。
1゜
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例における配列限界検査装置の
構成を示すブロック図、第2図(イ)、(ロ)は配列の
次元を定義するレジスタの一構成方法を示す図、第3図
(イ)、(ロ)は各次元の限界値を格納するレジスタの
一構成方法を示す図、第4図は配列がアクセスされた時
配列の各次元のアドレスが限界値を越えたことを検出す
る組合せ論理回路の一構成例を示すブロック図である。 1・・・・・・配列定義レジスタ、2・・・・・・配列
限界値レジスタ、3・・・・・・組合せ論理回路、4・
・川・配列アドレス、6・・・・・・エラー検出信号。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 配列アトUス 第2図 (イフ ヒ’−tLd4r514r312T1109 8 76
 54  j  2 10(ロ) J[35II (イフ e−y#4堵1514131211109876543
270(ロ)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 配列の次元を定義する第1のレジスタと、上記第1のレ
    ジスタの定義された内容に対応して配列の各次元に対す
    る限界値を記憶する第2のレジスタと、上記第1のレジ
    スタの出力と上記第2のレジスタの出力と配列にアクセ
    スするためのアドレスとを入力とする組合せ論理回路と
    を有し、上記アドレスの値が上記第1のレジスタの内容
    に対応して上記第2のレジスタに記憶された各次元毎の
    限界値を越える時上記組合せ論理回路よシ配列に対する
    アクセスが誤まシであることを示す信号を出力するよう
    にしたことを特徴とする配列限界検査装置。
JP56116968A 1981-07-24 1981-07-24 配列限界検査装置 Pending JPS5818757A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56116968A JPS5818757A (ja) 1981-07-24 1981-07-24 配列限界検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP56116968A JPS5818757A (ja) 1981-07-24 1981-07-24 配列限界検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPS5818757A true JPS5818757A (ja) 1983-02-03

Family

ID=14700206

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP56116968A Pending JPS5818757A (ja) 1981-07-24 1981-07-24 配列限界検査装置

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JP (1) JPS5818757A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003256225A (ja) * 2002-03-06 2003-09-10 Mitsubishi Electric Corp コンピュータシステム、障害対応方法及びコンピュータシステムを機能させるためのプログラム

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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