JPS58175882A - 光周波数掃引型半導体レ−ザ装置 - Google Patents
光周波数掃引型半導体レ−ザ装置Info
- Publication number
- JPS58175882A JPS58175882A JP57057268A JP5726882A JPS58175882A JP S58175882 A JPS58175882 A JP S58175882A JP 57057268 A JP57057268 A JP 57057268A JP 5726882 A JP5726882 A JP 5726882A JP S58175882 A JPS58175882 A JP S58175882A
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- Japan
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- semiconductor
- frequency
- semiconductor laser
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- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01S—DEVICES USING THE PROCESS OF LIGHT AMPLIFICATION BY STIMULATED EMISSION OF RADIATION [LASER] TO AMPLIFY OR GENERATE LIGHT; DEVICES USING STIMULATED EMISSION OF ELECTROMAGNETIC RADIATION IN WAVE RANGES OTHER THAN OPTICAL
- H01S5/00—Semiconductor lasers
- H01S5/06—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium
- H01S5/062—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes
- H01S5/06209—Arrangements for controlling the laser output parameters, e.g. by operating on the active medium by varying the potential of the electrodes in single-section lasers
- H01S5/0622—Controlling the frequency of the radiation
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔発明の技術分野〕
本発明は半導体レーデが発振出力するレーデ光の光周波
数を同期信号に同期させて正確に掃引することのできる
光周波数掃引型半導体レーデ装置に関する。
数を同期信号に同期させて正確に掃引することのできる
光周波数掃引型半導体レーデ装置に関する。
近時、半導体レーデが発振出力するレーデ光を用いた光
へテロゲイン通信勢の光通信や、高精度計測の為の光応
用針側が注目されている。
へテロゲイン通信勢の光通信や、高精度計測の為の光応
用針側が注目されている。
これらの光通信や光応用計測は上記レーデ光の光周波数
を有効に利用したものでToシ、この為、前記半導体レ
ーデの発振出力レーデ光の光周波数を安定に制御するこ
とが必要となる。
を有効に利用したものでToシ、この為、前記半導体レ
ーデの発振出力レーデ光の光周波数を安定に制御するこ
とが必要となる。
ところが半導体レーデの光周波数は、その動作温度や注
入電流量によって大きく依存する。
入電流量によって大きく依存する。
そこで従来より、例えば第1図に示すようにして、半導
体レーデの光周波数安定化制御が行めれ1いる。即ち、
半導体レーデ1の温度を温度安定化装置2により安定化
し、この状態での上記半導体レーデ1の発振出力光をビ
ーム・ス!れによって光周波数・電圧変換された出力情
報を積分子Bgを通して注入−流制御装置9に帰還して
いる。この負帰還レーデによる制御により1前記半導体
レーデ1への注入電流量を町変し、その光周波数の一定
化・安定制御がなされている。
体レーデの光周波数安定化制御が行めれ1いる。即ち、
半導体レーデ1の温度を温度安定化装置2により安定化
し、この状態での上記半導体レーデ1の発振出力光をビ
ーム・ス!れによって光周波数・電圧変換された出力情
報を積分子Bgを通して注入−流制御装置9に帰還して
いる。この負帰還レーデによる制御により1前記半導体
レーデ1への注入電流量を町変し、その光周波数の一定
化・安定制御がなされている。
このようにし″cO1来一般に半導体レーデの光調#I
L数の安定化がなされるが、前述し九光応用針##岬に
To−)ては、貴に上記光周波数を一定の条件のもとて
安定に掃引することがmすれる・この場合、前記注入電
流量I41鋏置tよp、第2図(、)に示す如き掃引信
号を加え、これKよって半導体レーデ1への注入電流量
を可変してその発振光周波数の掃引が行われる。
L数の安定化がなされるが、前述し九光応用針##岬に
To−)ては、貴に上記光周波数を一定の条件のもとて
安定に掃引することがmすれる・この場合、前記注入電
流量I41鋏置tよp、第2図(、)に示す如き掃引信
号を加え、これKよって半導体レーデ1への注入電流量
を可変してその発振光周波数の掃引が行われる。
ところが、上記掃引備考の繰返し周期が一定期信号Kr
11期して不IIIL則に胸練畝掃引せんとすると、掃
引開始光周波数にずれが生じる。
11期して不IIIL則に胸練畝掃引せんとすると、掃
引開始光周波数にずれが生じる。
本発明はこのような事情を考慮してなされたもので、そ
の目的とするところは、半導体レーデの発振出力光周波
数を、外部よシ任意に与えられる同期信号に同期させて
所定に1且つ精度良く掃引することのできる実用性の高
い光周波7準掃引型半導体レーデ装置を提供することに
あるO 掃引終了時から次の掃引が開始される迄の期間に上記半
導体レーデの発振光周波数をサングル検出し、これを所
望値と比較して前記半導体レーデのバイアスを制御する
ことによって、同期従って本発明によれば、半導体レー
デのノ4イアスがその非掃引時に制御されて発振光周波
数が一定となるべく駒整されるので、外部から任定に且
つ簡易に光周波数掃引することが可能となシ、その実用
的利点は多大である。
の目的とするところは、半導体レーデの発振出力光周波
数を、外部よシ任意に与えられる同期信号に同期させて
所定に1且つ精度良く掃引することのできる実用性の高
い光周波7準掃引型半導体レーデ装置を提供することに
あるO 掃引終了時から次の掃引が開始される迄の期間に上記半
導体レーデの発振光周波数をサングル検出し、これを所
望値と比較して前記半導体レーデのバイアスを制御する
ことによって、同期従って本発明によれば、半導体レー
デのノ4イアスがその非掃引時に制御されて発振光周波
数が一定となるべく駒整されるので、外部から任定に且
つ簡易に光周波数掃引することが可能となシ、その実用
的利点は多大である。
成因であり、第4図(畠)〜(・)iiその作用を1明
する為の動作波形図でおる。第3図において、11Vi
半導体レーデであシ、温度安定化装置12によりその温
度安定化が図られている。しかし工半尋体レーデ11が
発振出力するレーず光は、九爛波数検出値t13によシ
受光され、その先IIItJ波数が検出されている。そ
して、この光綱波数検出装置13は、上記検出した光周
波数に相当した、例えは電圧信号を発生するものとなっ
ている。尚、この光周波数検出装置13については、例
えば前述した第1図に示すようこの光周波数検出装置1
3によp検出された前記半導体レーデ11の発振出力光
周波数に和尚した電圧信号は、後述するサングル・ホー
ルド回路(s/a)14に与えられると共に、注入電1
1の発振、光周波数を可変するものである。
する為の動作波形図でおる。第3図において、11Vi
半導体レーデであシ、温度安定化装置12によりその温
度安定化が図られている。しかし工半尋体レーデ11が
発振出力するレーず光は、九爛波数検出値t13によシ
受光され、その先IIItJ波数が検出されている。そ
して、この光綱波数検出装置13は、上記検出した光周
波数に相当した、例えは電圧信号を発生するものとなっ
ている。尚、この光周波数検出装置13については、例
えば前述した第1図に示すようこの光周波数検出装置1
3によp検出された前記半導体レーデ11の発振出力光
周波数に和尚した電圧信号は、後述するサングル・ホー
ルド回路(s/a)14に与えられると共に、注入電1
1の発振、光周波数を可変するものである。
一方、同期掃引発振器J g Fi、外部より与えられ
る同期信号に同期して、光周波数の掃引信号を発生し、
上記掃引信号を同期回路11に供給すると共に前記注入
電流制御装置15に供給している。注入電流制御装置1
5/d、との掃引信号を受けて前記半導体レーデ11に
対する注入電流量を可変して、発振光周波数の可変掃引
を行わしめる。また前記同期回路11は、同期掃引発振
器1dに与えられる同期信号、および同期掃引発振器1
σが出力する掃引終了信号を受けてサングル・ホールド
信号を生成し、tII記サングル・ホールド回路14を
駆動するものである。これによってサンプル・ホールド
回路J4ij、掃引終了時点から、次の同期信号が与え
られて掃引が開始される迄の期間、前記光測予め設定さ
れ九電圧値(所望とする光周波数に相癲する)1#とを
比較し、その比較結果を前記注入電流制御装置11iK
与えるよう罠なって見られる所定の光周波数と一致する
ように動作する。
る同期信号に同期して、光周波数の掃引信号を発生し、
上記掃引信号を同期回路11に供給すると共に前記注入
電流制御装置15に供給している。注入電流制御装置1
5/d、との掃引信号を受けて前記半導体レーデ11に
対する注入電流量を可変して、発振光周波数の可変掃引
を行わしめる。また前記同期回路11は、同期掃引発振
器1dに与えられる同期信号、および同期掃引発振器1
σが出力する掃引終了信号を受けてサングル・ホールド
信号を生成し、tII記サングル・ホールド回路14を
駆動するものである。これによってサンプル・ホールド
回路J4ij、掃引終了時点から、次の同期信号が与え
られて掃引が開始される迄の期間、前記光測予め設定さ
れ九電圧値(所望とする光周波数に相癲する)1#とを
比較し、その比較結果を前記注入電流制御装置11iK
与えるよう罠なって見られる所定の光周波数と一致する
ように動作する。
このように注入電流制御装置Jjei、光周波数検出装
置13によシ検出され九光周波数の情報に従ってこれを
モニタし、安定化すると共に、信号によって起動される
掃引時には同期掃引発振器l−の出力する掃引信号を受
けて、前記半導体レーデ11の光周波数を掃引するよう
になり1いる。
置13によシ検出され九光周波数の情報に従ってこれを
モニタし、安定化すると共に、信号によって起動される
掃引時には同期掃引発振器l−の出力する掃引信号を受
けて、前記半導体レーデ11の光周波数を掃引するよう
になり1いる。
かくしてこのように構成された装置によれば、今、第4
図←)K示す如く同期信号が入力されると、これに同期
して同期掃引発振器16は同図(b)に示すように掃引
信号を発生する。この掃引き掃引終了/4ルス傷号を発
生し1いる。仁の掃引終了・臂ルス信号および前記同期
信号を受けて苧作する同期回路I FU、例えば7リツ
!フロ′ツグ等によ)構成され、!s4図(d)に示す
ようK、1つの周波数掃引が終了した時点から、次の周
波数掃引が開始される時点オでの期間、サングル信号を
発生している。そして、掃引期間であるサングル信号間
を、これをホールド信号としている。しかし1、このサ
ングル信号期間には、サングル・ホールド回路14を介
して半導体レーデ11の光周波数情報が比@@1aに入
力され、この比較結果による注入電流制御装置15の負
帰還制御によりて半導体レーデ11のバイアスが制御さ
れる。これによシ、半導体レーデ11の発振光周波数は
、次の掃引が開始される時点KFi、第4図(・)に示
すように所望とする画周波数に一定化制御される。そし
て、この−電化制御された光周波数よ)、前記掃引信号
を受けて光周波数掃引が行われるととKなる。
図←)K示す如く同期信号が入力されると、これに同期
して同期掃引発振器16は同図(b)に示すように掃引
信号を発生する。この掃引き掃引終了/4ルス傷号を発
生し1いる。仁の掃引終了・臂ルス信号および前記同期
信号を受けて苧作する同期回路I FU、例えば7リツ
!フロ′ツグ等によ)構成され、!s4図(d)に示す
ようK、1つの周波数掃引が終了した時点から、次の周
波数掃引が開始される時点オでの期間、サングル信号を
発生している。そして、掃引期間であるサングル信号間
を、これをホールド信号としている。しかし1、このサ
ングル信号期間には、サングル・ホールド回路14を介
して半導体レーデ11の光周波数情報が比@@1aに入
力され、この比較結果による注入電流制御装置15の負
帰還制御によりて半導体レーデ11のバイアスが制御さ
れる。これによシ、半導体レーデ11の発振光周波数は
、次の掃引が開始される時点KFi、第4図(・)に示
すように所望とする画周波数に一定化制御される。そし
て、この−電化制御された光周波数よ)、前記掃引信号
を受けて光周波数掃引が行われるととKなる。
かくし1本装置によれば、例えば同期信号が与えられる
タイイング任意で不規則でTo−)たとしても、この同
期信号に同期して所定の光周波数よシ半導体レーデ11
の発振光周波数を掃引することができる。しかも、非掃
引期間における半導体レーデ11の光周波数のサンlリ
ングと、これによるバイアス調整と云う簡易な制御によ
って、光周波数掃引開始時の発振光周波数を安定化制御
する−ことが可能となる。そしてまし得る。また、任意
の同期信号に同期させて半導体レーデ11の発振光周波
数を安定に掃引することができるので、その実用的利点
は絶大である。
タイイング任意で不規則でTo−)たとしても、この同
期信号に同期して所定の光周波数よシ半導体レーデ11
の発振光周波数を掃引することができる。しかも、非掃
引期間における半導体レーデ11の光周波数のサンlリ
ングと、これによるバイアス調整と云う簡易な制御によ
って、光周波数掃引開始時の発振光周波数を安定化制御
する−ことが可能となる。そしてまし得る。また、任意
の同期信号に同期させて半導体レーデ11の発振光周波
数を安定に掃引することができるので、その実用的利点
は絶大である。
尚、本発明は上記した一施例に限定されるものではない
41pHえば半導体レーデ11の発振光周波数を検出す
る光ms数検出嫉装11とし又は前述し圧覚共振器を用
い九40に代え1、第5図に示すように、光周波数の確
定している局部発振用半導体レーデ21の出力光と、掃
引制御される半導体レーデ11の一力光とを光ミクサ2
2によシ混合し、そのビート信号光を光検出器23によ
シ検出するようにしtもよい。そし1ビ一ト信号の周波
数成分をf/v (周波数・電圧)変換器jt4t−介
して抽出して、その光周波数に和尚し圧電圧信号を得る
ようにし又もよを逸脱しない範囲で種々変形して実施す
ること1 が可能である。
41pHえば半導体レーデ11の発振光周波数を検出す
る光ms数検出嫉装11とし又は前述し圧覚共振器を用
い九40に代え1、第5図に示すように、光周波数の確
定している局部発振用半導体レーデ21の出力光と、掃
引制御される半導体レーデ11の一力光とを光ミクサ2
2によシ混合し、そのビート信号光を光検出器23によ
シ検出するようにしtもよい。そし1ビ一ト信号の周波
数成分をf/v (周波数・電圧)変換器jt4t−介
して抽出して、その光周波数に和尚し圧電圧信号を得る
ようにし又もよを逸脱しない範囲で種々変形して実施す
ること1 が可能である。
第1図は従来の半導体レーデ光周波数安定化装置の一カ
を示す概略構成図、第2図(、) (b)は従来装置に
おける掃引信号と掃引光周波数との関係を示す図、第3
図は本発明の一実施例装置の概略構成図、第4図(a)
〜(・)Fi実施例装置の作用を1i52Ij11する
為の動作波形図、第5図は光周波数検出装置の一構成例
を示す図である。 11・・・半導体レーデ、12・・・温度安定化装置、
13・・・光周波数検出装置、14・・・サンプル・ホ
ールド回路、15・・・注入電流制御装置、16・・・
同期掃引発振器、lr・・・同期回路、18・・・比較
器、1#・・・基準電圧。
を示す概略構成図、第2図(、) (b)は従来装置に
おける掃引信号と掃引光周波数との関係を示す図、第3
図は本発明の一実施例装置の概略構成図、第4図(a)
〜(・)Fi実施例装置の作用を1i52Ij11する
為の動作波形図、第5図は光周波数検出装置の一構成例
を示す図である。 11・・・半導体レーデ、12・・・温度安定化装置、
13・・・光周波数検出装置、14・・・サンプル・ホ
ールド回路、15・・・注入電流制御装置、16・・・
同期掃引発振器、lr・・・同期回路、18・・・比較
器、1#・・・基準電圧。
Claims (3)
- (1)半導体レーデ索子と、この半導体レーデ素子が出
力する光周波数を検出してこの光周波数に対応した電気
信号を得る手段と、掃引開始信号に同期して前記半導体
レーデ素子への注入した電気信号をサンプル・ホールド
する手段と、このすングル・ホールドされた値と所定の
基準値とを比較し、その比較結果に従って前記半導体レ
ーデ素子の動作バイアスを可変制御する手段とを具備し
たことを特徴とする光周波数掃引型半導体レーデ装置。 - (2)半導体レーデ索子が出力する光周波数に対応した
電気信号を得る手段は、上記半導体レーデ素子が出力す
るレーデ光を7アブリペロ共振器を介して抽出し、この
抽出光を光検出器で受光し1充電変換してなるものであ
る特許請求の範囲第1項記載の光周波数掃引型半導体レ
ーデ装置。 - (3)半導体レーデ素子が出力する光周波数に対応した
電気信号を得る手段は、上記半導体レーデ素子が出力す
るレーデ光と光周波数が既知の参照光とのピート信号を
検出して求めるものである特許請求の範囲第2項記載の
光周波数掃引型半導体レーザー装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57057268A JPS58175882A (ja) | 1982-04-08 | 1982-04-08 | 光周波数掃引型半導体レ−ザ装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP57057268A JPS58175882A (ja) | 1982-04-08 | 1982-04-08 | 光周波数掃引型半導体レ−ザ装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58175882A true JPS58175882A (ja) | 1983-10-15 |
JPS6351555B2 JPS6351555B2 (ja) | 1988-10-14 |
Family
ID=13050778
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP57057268A Granted JPS58175882A (ja) | 1982-04-08 | 1982-04-08 | 光周波数掃引型半導体レ−ザ装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58175882A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62145887A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-06-29 | Yokogawa Electric Corp | 光周波数シンセサイザ・スイ−パ |
JPS62272614A (ja) * | 1986-05-20 | 1987-11-26 | Fujitsu Ltd | 自動周波数選択光ヘテロダイン受信機 |
JPH01308090A (ja) * | 1988-06-07 | 1989-12-12 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザの発振周波数安定化方法 |
US5012329A (en) * | 1989-02-21 | 1991-04-30 | Dubner Computer Systems, Inc. | Method of encoded video decoding |
-
1982
- 1982-04-08 JP JP57057268A patent/JPS58175882A/ja active Granted
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS62145887A (ja) * | 1985-12-20 | 1987-06-29 | Yokogawa Electric Corp | 光周波数シンセサイザ・スイ−パ |
JPH0513399B2 (ja) * | 1985-12-20 | 1993-02-22 | Yokogawa Electric Corp | |
JPS62272614A (ja) * | 1986-05-20 | 1987-11-26 | Fujitsu Ltd | 自動周波数選択光ヘテロダイン受信機 |
JPH01308090A (ja) * | 1988-06-07 | 1989-12-12 | Fujitsu Ltd | 半導体レーザの発振周波数安定化方法 |
US5012329A (en) * | 1989-02-21 | 1991-04-30 | Dubner Computer Systems, Inc. | Method of encoded video decoding |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS6351555B2 (ja) | 1988-10-14 |
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