JPH045151B2 - - Google Patents
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- JPH045151B2 JPH045151B2 JP16104684A JP16104684A JPH045151B2 JP H045151 B2 JPH045151 B2 JP H045151B2 JP 16104684 A JP16104684 A JP 16104684A JP 16104684 A JP16104684 A JP 16104684A JP H045151 B2 JPH045151 B2 JP H045151B2
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- magnetic field
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- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 14
- 230000003068 static effect Effects 0.000 claims description 12
- 238000004435 EPR spectroscopy Methods 0.000 claims description 7
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 5
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 238000010408 sweeping Methods 0.000 description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 3
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 3
- 230000004044 response Effects 0.000 description 2
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000002474 experimental method Methods 0.000 description 1
- 230000020169 heat generation Effects 0.000 description 1
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/24—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance for measuring direction or magnitude of magnetic fields or magnetic flux
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/60—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance using electron paramagnetic resonance
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は電子スピン共鳴装置に関し、特に主磁
場を高速掃引しても不都合の生じることのない電
子スピン共鳴装置に関する。
場を高速掃引しても不都合の生じることのない電
子スピン共鳴装置に関する。
［従来の技術］
電子スピン共鳴装置においては、静磁場中に置
かれた試料にマイクロ波磁場を印加すると共に静
磁場を掃引し、電子スピン共鳴に伴う試料による
マイクロ波エネルギーの吸収をとらえている。静
磁場の掃引は、通常、静磁場を発生する電磁石の
励磁電流を掃引して行う主磁場掃引方式で行われ
る。
かれた試料にマイクロ波磁場を印加すると共に静
磁場を掃引し、電子スピン共鳴に伴う試料による
マイクロ波エネルギーの吸収をとらえている。静
磁場の掃引は、通常、静磁場を発生する電磁石の
励磁電流を掃引して行う主磁場掃引方式で行われ
る。
［発明が解決しようとする問題点］
しかしながら、この方式はコスト的に有利であ
るものの、電磁石の応答速度が低く追従性が悪い
ため、掃引が速くなるにつれ第２図ａに示すよう
に掃引信号Ａに対し磁場強度Ｂの応答の遅れ（破
線部分）が大きくなり、掃引の始めの部分でスペ
クトルの歪等の不都合が生じてしまい、従来は１
周期30秒程度の掃引が限度であつた。
るものの、電磁石の応答速度が低く追従性が悪い
ため、掃引が速くなるにつれ第２図ａに示すよう
に掃引信号Ａに対し磁場強度Ｂの応答の遅れ（破
線部分）が大きくなり、掃引の始めの部分でスペ
クトルの歪等の不都合が生じてしまい、従来は１
周期30秒程度の掃引が限度であつた。
そのため、それよりも速い掃引が必要な場合に
は、静磁場内に掃引コイルを別個に配置し、この
掃引コイルによつて掃引する方式を用いなければ
ならないが、この方式は、１秒以下ミリ秒オーダ
ーの高速掃引が可能であるものの、１秒から30秒
程度の範囲の掃引は掃引コイルの発熱の面から得
意ではなく、その範囲の掃引には極めて大きな注
意を払わなければならなかつた。
は、静磁場内に掃引コイルを別個に配置し、この
掃引コイルによつて掃引する方式を用いなければ
ならないが、この方式は、１秒以下ミリ秒オーダ
ーの高速掃引が可能であるものの、１秒から30秒
程度の範囲の掃引は掃引コイルの発熱の面から得
意ではなく、その範囲の掃引には極めて大きな注
意を払わなければならなかつた。
本発明は、主磁場掃引方式において１周期１秒
から30秒程度の掃引を行つても良質なスペクトル
を得ることができ、掃引コイル方式の不得意な範
囲をカバーすることのできる電子スピン共鳴装置
を提供することを目的としている。
から30秒程度の掃引を行つても良質なスペクトル
を得ることができ、掃引コイル方式の不得意な範
囲をカバーすることのできる電子スピン共鳴装置
を提供することを目的としている。
［問題点を解決するための手段］
本発明は、この目的を達成するため、静磁場を
発生する電磁石と、該静磁場の強度を検出する検
出器と、該検出器の出力と掃引信号との差信号を
求める誤差増幅器と、誤差信号に基づいて前記電
磁石への励磁電流を制御する電源回路と、該差信
号を所定の基準信号と比較する比較回路とを備
え、該比較回路の出力信号に基づいて静磁場の掃
引に伴つて得られるスペクトル信号の取込みを開
始するようにしたことを特徴としている。
発生する電磁石と、該静磁場の強度を検出する検
出器と、該検出器の出力と掃引信号との差信号を
求める誤差増幅器と、誤差信号に基づいて前記電
磁石への励磁電流を制御する電源回路と、該差信
号を所定の基準信号と比較する比較回路とを備
え、該比較回路の出力信号に基づいて静磁場の掃
引に伴つて得られるスペクトル信号の取込みを開
始するようにしたことを特徴としている。
［本発明の基本的考え方］
ところで、主磁場掃引方式において、掃引が速
く例えば１周期10秒程度になると、第２図ａにお
いて破線で示すように磁場強度の追従に遅れが発
生することを先に述べたが、従来はこのような遅
れが生じても構わず、第２図ｂに示すようなサン
プリングパルスに基づいて掃引信号の掃引開始時
刻t0からスペクトル信号のサンプリングを行つて
いたため、掃引の開始部分でスペクトルに不都合
が生じていた。そこで、第２図ａを見ると、掃引
が始まつてからしばらくした時刻t1には、磁場強
度は掃引信号に追いついている。従つて、この時
刻からスペクトル信号のサンプリングを始めれば
スペクトル取得範囲は多少狭くなるものの、正し
いスペクトルを得ることができる。本発明はこの
ような考え方に基づくもので、以下、図面を用い
て本発明の一実施例を詳説する。
く例えば１周期10秒程度になると、第２図ａにお
いて破線で示すように磁場強度の追従に遅れが発
生することを先に述べたが、従来はこのような遅
れが生じても構わず、第２図ｂに示すようなサン
プリングパルスに基づいて掃引信号の掃引開始時
刻t0からスペクトル信号のサンプリングを行つて
いたため、掃引の開始部分でスペクトルに不都合
が生じていた。そこで、第２図ａを見ると、掃引
が始まつてからしばらくした時刻t1には、磁場強
度は掃引信号に追いついている。従つて、この時
刻からスペクトル信号のサンプリングを始めれば
スペクトル取得範囲は多少狭くなるものの、正し
いスペクトルを得ることができる。本発明はこの
ような考え方に基づくもので、以下、図面を用い
て本発明の一実施例を詳説する。
［実施例］
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロツ
ク図であり、図において１，１′は対向配置され
る磁極である。磁極１，１′間に発生する静磁場
中には、被検試料を収容する空胴共振器２、磁場
変調用コイル３、ホール素子等の磁場強度検出器
４が配置されている。空胴共振器２にはマイクロ
波発振器５から発生するマイクロ波がサーキユレ
ータ６を介して供給される。電子スピン共鳴によ
り共振バランスがくずれ、空胴共振器から反射さ
れたマイクロ波は、サーキユレータ６を介してマ
イクロ波検出器７へ送られて検出される。得られ
た検出信号は、前記変調コイル３を用いて磁場変
調を行う高周波発振器８から参照信号が供給され
る同期検波回路９において同期検波される。同期
検波により得られたスペクトル信号はＡ−Ｄ変換
器１０を介してコンピユータ１１へ送られ、付属
するメモリ１２へ格納される。
ク図であり、図において１，１′は対向配置され
る磁極である。磁極１，１′間に発生する静磁場
中には、被検試料を収容する空胴共振器２、磁場
変調用コイル３、ホール素子等の磁場強度検出器
４が配置されている。空胴共振器２にはマイクロ
波発振器５から発生するマイクロ波がサーキユレ
ータ６を介して供給される。電子スピン共鳴によ
り共振バランスがくずれ、空胴共振器から反射さ
れたマイクロ波は、サーキユレータ６を介してマ
イクロ波検出器７へ送られて検出される。得られ
た検出信号は、前記変調コイル３を用いて磁場変
調を行う高周波発振器８から参照信号が供給され
る同期検波回路９において同期検波される。同期
検波により得られたスペクトル信号はＡ−Ｄ変換
器１０を介してコンピユータ１１へ送られ、付属
するメモリ１２へ格納される。
前記検出器４から得られた磁場強度信号は、増
幅器１３を介して誤差増幅器１４へ送られ、図示
しない掃引回路から送られて来る掃引信号との差
信号が求められる。１５はこの差信号に基づいて
磁極１，１′を励磁する励磁コイルへ供給する励
磁電流を制御するための電源回路である。１６
は、この差信号を基準信号源１７からの基準信号
と比較する比較回路で、その出力信号はコンピユ
ータ１１へ送られる。
幅器１３を介して誤差増幅器１４へ送られ、図示
しない掃引回路から送られて来る掃引信号との差
信号が求められる。１５はこの差信号に基づいて
磁極１，１′を励磁する励磁コイルへ供給する励
磁電流を制御するための電源回路である。１６
は、この差信号を基準信号源１７からの基準信号
と比較する比較回路で、その出力信号はコンピユ
ータ１１へ送られる。
上述の如き構成において、検出器４からは磁場
強度に対応した信号（第２図ａにおけるＢ）が得
られ、誤差増幅器１４からはこの磁場強度信号と
走査信号との差（第２図ａにおけるｄ）に対応し
た信号が得られる。比較回路１６はこの差信号を
十分小さな基準信号と比較し、両者が一致した時
点でt1でサンプリング開始パルスを発生する。コ
ンピユータ１１はこのパルスに基づいてＡ−Ｄ変
換器１０を介して送られて来るスペクトル信号の
取込みを開始し、取込んだスペクトル信号をメモ
リ１２へ格納する。
強度に対応した信号（第２図ａにおけるＢ）が得
られ、誤差増幅器１４からはこの磁場強度信号と
走査信号との差（第２図ａにおけるｄ）に対応し
た信号が得られる。比較回路１６はこの差信号を
十分小さな基準信号と比較し、両者が一致した時
点でt1でサンプリング開始パルスを発生する。コ
ンピユータ１１はこのパルスに基づいてＡ−Ｄ変
換器１０を介して送られて来るスペクトル信号の
取込みを開始し、取込んだスペクトル信号をメモ
リ１２へ格納する。
［発明の効果］
以上詳述した如く本発明によれば、磁場強度を
検出した信号と掃引信号との差信号が基準信号で
指定される許容微小範囲に入り、実質的に零にな
つた時点（換言すれば磁場強度が掃引に追いつい
た時点）でスペクトル信号の取込みを開始するた
め、主磁場の掃引速度を高めても正しいスペクト
ル信号を取込むことができる。本発明者の実験で
は、１周期１秒程度の高速（主磁場掃引方式にと
つては）掃引まで使用できることが確認されてい
る。従つて、発熱に対し配慮する必要のない１秒
以下の高速掃引のみに掃引コイル方式を使用する
ことができる。
検出した信号と掃引信号との差信号が基準信号で
指定される許容微小範囲に入り、実質的に零にな
つた時点（換言すれば磁場強度が掃引に追いつい
た時点）でスペクトル信号の取込みを開始するた
め、主磁場の掃引速度を高めても正しいスペクト
ル信号を取込むことができる。本発明者の実験で
は、１周期１秒程度の高速（主磁場掃引方式にと
つては）掃引まで使用できることが確認されてい
る。従つて、発熱に対し配慮する必要のない１秒
以下の高速掃引のみに掃引コイル方式を使用する
ことができる。
第１図は本発明の一実施例の構成を示すブロツ
ク図、第２図は掃引信号と磁場強度との関係を説
明するための図である。 １，１′：磁極、２：空胴共振器、３：磁場変
調用コイル、４：磁場強度検出器、５：マイクロ
波発振器、６：サーキユレータ、７：マイクロ波
検出器、９：同期検波回路、１０：Ａ−Ｄ変換
器、１１：コンピユータ、１２：メモリ。
ク図、第２図は掃引信号と磁場強度との関係を説
明するための図である。 １，１′：磁極、２：空胴共振器、３：磁場変
調用コイル、４：磁場強度検出器、５：マイクロ
波発振器、６：サーキユレータ、７：マイクロ波
検出器、９：同期検波回路、１０：Ａ−Ｄ変換
器、１１：コンピユータ、１２：メモリ。
Claims (1)
- １ 静磁場を発生する電磁石と、該静磁場の強度
を検出する検出器と、該検出器の出力と掃引信号
との差信号を求める誤差増幅器と、該差信号に基
づいて前記電磁石への励磁電流を制御する電源回
路と、該差信号を所定の基準信号と比較する比較
回路とを備え、該比較回路の出力信号に基づいて
静磁場の掃引に伴つて得られるスペクトル信号の
取込みを開始するようにしたことを特徴とする電
子スピン共鳴装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16104684A JPS6138555A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 電子スピン共鳴装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP16104684A JPS6138555A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 電子スピン共鳴装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6138555A JPS6138555A (ja) | 1986-02-24 |
| JPH045151B2 true JPH045151B2 (ja) | 1992-01-30 |
Family
ID=15727569
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP16104684A Granted JPS6138555A (ja) | 1984-07-31 | 1984-07-31 | 電子スピン共鳴装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6138555A (ja) |
Families Citing this family (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6867071B1 (en) | 2002-07-12 | 2005-03-15 | Amkor Technology, Inc. | Leadframe including corner leads and semiconductor package using same |
| JP2008151676A (ja) * | 2006-12-19 | 2008-07-03 | Jeol Ltd | Ｅｓｒ装置 |
-
1984
- 1984-07-31 JP JP16104684A patent/JPS6138555A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS6138555A (ja) | 1986-02-24 |
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