JPS5817311A - 測距装置及びこれを用いた自動焦点調整装置 - Google Patents
測距装置及びこれを用いた自動焦点調整装置Info
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- JPS5817311A JPS5817311A JP56114851A JP11485181A JPS5817311A JP S5817311 A JPS5817311 A JP S5817311A JP 56114851 A JP56114851 A JP 56114851A JP 11485181 A JP11485181 A JP 11485181A JP S5817311 A JPS5817311 A JP S5817311A
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- G01C3/00—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders
- G01C3/10—Measuring distances in line of sight; Optical rangefinders using a parallactic triangle with variable angles and a base of fixed length in the observation station, e.g. in the instrument
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は測距装置及びこれを扇いたカメラの自動焦点調
整装置に係り、特に赤外投光式のアタテイプ方弐におい
て、マイクロプロセッサ及びディジタル回路を適用する
ことにより、外付回路の低減やシステムの裕度を向上さ
せ九新規の測距装置に関する。
整装置に係り、特に赤外投光式のアタテイプ方弐におい
て、マイクロプロセッサ及びディジタル回路を適用する
ことにより、外付回路の低減やシステムの裕度を向上さ
せ九新規の測距装置に関する。
従来から、測距装置としては種々のものが知られており
、実用に供されているが、中でも赤外投光式アタテイプ
方式の側距鋏−は赤外光を投光しながら三角調量を行う
ため、暗いところでの測距能力が高（、カメラの自動焦
点装置への応用を考えると、４ＩＫストｗｊ内ｌＲ鳳の
ものにおいて効果的に適用可能である。
、実用に供されているが、中でも赤外投光式アタテイプ
方式の側距鋏−は赤外光を投光しながら三角調量を行う
ため、暗いところでの測距能力が高（、カメラの自動焦
点装置への応用を考えると、４ＩＫストｗｊ内ｌＲ鳳の
ものにおいて効果的に適用可能である。
しかしながら、投光赤外光を外り党から分離して検出す
るためには、同期検波及びビータ検出等の信号処理を行
う必要がある丸め、回路構成が複雑化すると共に集積化
を図って４外付回路の低減が困難である等の問題ｔＩＸ
残る。
るためには、同期検波及びビータ検出等の信号処理を行
う必要がある丸め、回路構成が複雑化すると共に集積化
を図って４外付回路の低減が困難である等の問題ｔＩＸ
残る。
第１図はかかる周知の赤外投光弐アタテイプ測距装置の
概念図であるが、同図中２は投ｙｔ元学系４を介して対
象物６に赤外光を投光するＩＲＸＤ（赤外発大ダイオー
ド）、８は受ＪｊＩＳ党学系１０、赤外透過フィルタ１
２を通じて対象物６を照準する受光素子である。
概念図であるが、同図中２は投ｙｔ元学系４を介して対
象物６に赤外光を投光するＩＲＸＤ（赤外発大ダイオー
ド）、８は受ＪｊＩＳ党学系１０、赤外透過フィルタ１
２を通じて対象物６を照準する受光素子である。
かかる構成において、ＩＲＩＣＤ２は矢印ムに添ってａ
位置からｂ位置までスキャン畜れるが、その結果、ＩＲ
ＸＤ２が１位置にあるときは光束ＣＫ。
位置からｂ位置までスキャン畜れるが、その結果、ＩＲ
ＸＤ２が１位置にあるときは光束ＣＫ。
１位置にあるときは光束ａＫ添って赤外光が投光される
こととなる。このため、スキャンの関に光束・を経由し
て投光がなされるときに受光素子８で感じる赤外線強度
が最も強くなる。ここで、三角測量による測距原１１に
基づくなら杜、受光素子８で感じる赤外−強度が最も強
い時の光束の内皮、つまりＩＲＸＤ２のスキャン位置が
距離に対応することとなる０この点は周知であるのでこ
とさら詳細な説明は省略する。
こととなる。このため、スキャンの関に光束・を経由し
て投光がなされるときに受光素子８で感じる赤外線強度
が最も強くなる。ここで、三角測量による測距原１１に
基づくなら杜、受光素子８で感じる赤外−強度が最も強
い時の光束の内皮、つまりＩＲＸＤ２のスキャン位置が
距離に対応することとなる０この点は周知であるのでこ
とさら詳細な説明は省略する。
さて、上に述べたことははんの原理的なことであり、現
実には赤外透過フィルタ１２を用いているとはいえ、外
光による影響は無視出来ない。このため、ＩＲＸＤ２か
ら赤外光を投光するに際してこれに変調をかけ、受光素
子８何では同期検波による赤外光の検出を行っている。
実には赤外透過フィルタ１２を用いているとはいえ、外
光による影響は無視出来ない。このため、ＩＲＸＤ２か
ら赤外光を投光するに際してこれに変調をかけ、受光素
子８何では同期検波による赤外光の検出を行っている。
第２図はかかる同期検波回路の一例を示す回路構成図で
あるが、同図中１４は帰還抵抗１６により受′ｙｔ累子
８Ｋｌｌれる光電流を電圧変換して出力する受光増幅器
、１８は受光増幅器１４の出力から直流成分をカットす
るコンダン！、２０は直流カットされ九交流成分のレベ
ルを決定するバッファ増幅器、 ３２ ハＩＲＫＤ２
ｋ １０ ＫＨｚ ＠９０）周ｇｌ数で変調点滅させる
タイセンダ回路、２２はＩＲＸＤ２の点灯時のバッファ
増幅器２０の出力をサンプルホールドするサンプルホー
ルド回路、２４はＩＲＩＣＤ２の消灯時のバッファ増幅
器２０の出力をｔンプにホールドして、これを反転して
出力するテンプルホールド回路、２６はサンプルホール
ド回路２２．２４の出力を加算する演算増幅器、２８は
演算増幅器２６の出力から高岡液成分をカツシｔルｔ−
−パスフィルタ用のコンデンサ、３０は出力用のバッフ
ァ増幅器である。
あるが、同図中１４は帰還抵抗１６により受′ｙｔ累子
８Ｋｌｌれる光電流を電圧変換して出力する受光増幅器
、１８は受光増幅器１４の出力から直流成分をカットす
るコンダン！、２０は直流カットされ九交流成分のレベ
ルを決定するバッファ増幅器、 ３２ ハＩＲＫＤ２
ｋ １０ ＫＨｚ ＠９０）周ｇｌ数で変調点滅させる
タイセンダ回路、２２はＩＲＸＤ２の点灯時のバッファ
増幅器２０の出力をサンプルホールドするサンプルホー
ルド回路、２４はＩＲＩＣＤ２の消灯時のバッファ増幅
器２０の出力をｔンプにホールドして、これを反転して
出力するテンプルホールド回路、２６はサンプルホール
ド回路２２．２４の出力を加算する演算増幅器、２８は
演算増幅器２６の出力から高岡液成分をカツシｔルｔ−
−パスフィルタ用のコンデンサ、３０は出力用のバッフ
ァ増幅器である。
第２図構成の動作を第３図のタイムチャートに従って説
明する０第５図０）はＸＲＢＤ２０オン、オフタイミン
グ、Ｑ）は受光増幅器１４の出力信号、（３）はバッフ
ァ増幅器２０の出力信号、４）はサンプルホールド回路
２２のサンプリングパルス、６）はサンプルホールド回
路２４のサンプリングパルス。
明する０第５図０）はＸＲＢＤ２０オン、オフタイミン
グ、Ｑ）は受光増幅器１４の出力信号、（３）はバッフ
ァ増幅器２０の出力信号、４）はサンプルホールド回路
２２のサンプリングパルス、６）はサンプルホールド回
路２４のサンプリングパルス。
（６）はすンプルホールド回路２２の！ングにホールド
出力信号、σ）はサンプルホールド回路２４の豐ングル
ホールド出力信号、但）は演算増幅器２６の出力信号、
（９）はバッファ増幅器！１０の出力信号である。
出力信号、σ）はサンプルホールド回路２４の豐ングル
ホールド出力信号、但）は演算増幅器２６の出力信号、
（９）はバッファ増幅器！１０の出力信号である。
つまり、ＩＲＸＤ２のオン、オフに伴い受光素子８に赤
外反射光が入力している場合、これには外光成分と赤外
光の重畳された光電流が流れる。この光電流は受光増幅
器１４の抵抗１６により電圧変換され第５１１Ｃ２）に
示す如き電圧信号として出力される◎この電圧信号はコ
ンデンサ１８、バッファアンプ２０によって直流成分を
カットされ第３図（３）に示す如き交＃ｌ信号として取
り出される。一方、この交流信号を入力されるｔンプル
ホールド回路２２．２４に寡をングリンダＡ＃スとして
ＩＲＥＪ）２の点灯時、消灯時のそれぞれのタイミング
で入力される第５図（４） 、 （５に示す如き信号入
力を愛社でおり、従って、ずンプルホールドの結果、そ
れぞれ第３図（６） 、 （７）に示す如きサンプルホ
ールド信号を出力することとなる◎ 両サンプルホールド回路２２．２４の出力は演算増幅器
２６で加算され、＃！３図（８）Ｋ示す如き波形でロー
パスフィルＪＫ入力される。コンデンサ２８、バッファ
増幅器３０から成る悶−パスフィルタでは、リップル成
分を取り除き、しかる後に第６図（ａ） Ｋ示す如き波
形が得られる。
外反射光が入力している場合、これには外光成分と赤外
光の重畳された光電流が流れる。この光電流は受光増幅
器１４の抵抗１６により電圧変換され第５１１Ｃ２）に
示す如き電圧信号として出力される◎この電圧信号はコ
ンデンサ１８、バッファアンプ２０によって直流成分を
カットされ第３図（３）に示す如き交＃ｌ信号として取
り出される。一方、この交流信号を入力されるｔンプル
ホールド回路２２．２４に寡をングリンダＡ＃スとして
ＩＲＥＪ）２の点灯時、消灯時のそれぞれのタイミング
で入力される第５図（４） 、 （５に示す如き信号入
力を愛社でおり、従って、ずンプルホールドの結果、そ
れぞれ第３図（６） 、 （７）に示す如きサンプルホ
ールド信号を出力することとなる◎ 両サンプルホールド回路２２．２４の出力は演算増幅器
２６で加算され、＃！３図（８）Ｋ示す如き波形でロー
パスフィルＪＫ入力される。コンデンサ２８、バッファ
増幅器３０から成る悶−パスフィルタでは、リップル成
分を取り除き、しかる後に第６図（ａ） Ｋ示す如き波
形が得られる。
従って、ＩＲＸＤ２を矢印ムに添ってス中ヤンしながら
、バッファ増幅ａ！６０の出力を取り出すと、ＩＲｇＤ
２の光束が対象物６にｉつ九時に、ビータとなる様な信
号が得られる。このビータ位置とＩＲｇＤ２の偏位位置
を対応づけることにより、距離を測定したり、カメラの
自動焦点制御動作を行わせることが可能であるＯ しかしながら、かかる構成によれば１回路の大部分を集
積化したとしても、直流カット用のコンデンサ１Ｂ、量
ンプルホールド用のコンデンサ２２．２４％田−パスフ
ィルタ用のコンデンサが外部回路として残り、更にバッ
ファ増幅器５０の聞方からビータ検出を行うとすると更
にビータホールド用のコンデンサが必ｇ１になり、各種
調１１抵抗の数も無視出来ない。更に、信号処１１１ｋ
ｔ常にリアルタイムであり、データ錫塩的な考え方や、
測距結果の記憶を行わせようとしても、電気的にこれを
行う事は困難であり、機械的な変換手段や記憶手段を設
けるのが一般的であり九。
、バッファ増幅ａ！６０の出力を取り出すと、ＩＲｇＤ
２の光束が対象物６にｉつ九時に、ビータとなる様な信
号が得られる。このビータ位置とＩＲｇＤ２の偏位位置
を対応づけることにより、距離を測定したり、カメラの
自動焦点制御動作を行わせることが可能であるＯ しかしながら、かかる構成によれば１回路の大部分を集
積化したとしても、直流カット用のコンデンサ１Ｂ、量
ンプルホールド用のコンデンサ２２．２４％田−パスフ
ィルタ用のコンデンサが外部回路として残り、更にバッ
ファ増幅器５０の聞方からビータ検出を行うとすると更
にビータホールド用のコンデンサが必ｇ１になり、各種
調１１抵抗の数も無視出来ない。更に、信号処１１１ｋ
ｔ常にリアルタイムであり、データ錫塩的な考え方や、
測距結果の記憶を行わせようとしても、電気的にこれを
行う事は困難であり、機械的な変換手段や記憶手段を設
けるのが一般的であり九。
このため、測距装置とカメラ等の自動焦点調整装置を結
び付けようとしても、ＩＲｇＤとレンズを同時走行させ
て、受光赤外光のビータ位置でレンズ會停止嘔せるとい
う一義的な結合しか考えられぬ ずカメラのスペッタ上の制約はま林がれなかった。
び付けようとしても、ＩＲｇＤとレンズを同時走行させ
て、受光赤外光のビータ位置でレンズ會停止嘔せるとい
う一義的な結合しか考えられぬ ずカメラのスペッタ上の制約はま林がれなかった。
従って１本発明の目的は上記従来技術の欠点を除去し、
信号処理系の大部分をディジタル化することにより、外
部回路の低減とシステム裕度の拡大を可能ならしめた測
距装置並びにこれを用いた自動焦点調整装置を提供する
Ｋある０ 更に詳細には、本発明は受光素子に受光された赤外変調
光を、変調周期に合せてナンプリングし、これを直ちｒ
ｔｃＶＤ変換すると共にディジタル演算処理し、アナ璽
ダＩ！素を介在させないことにより、耐ノイズ性を向上
させると共に１カメラ等の自動焦点調整装置への適用に
当っても、スペッタ上の制約の少ない測距装置を提供す
るものである。
信号処理系の大部分をディジタル化することにより、外
部回路の低減とシステム裕度の拡大を可能ならしめた測
距装置並びにこれを用いた自動焦点調整装置を提供する
Ｋある０ 更に詳細には、本発明は受光素子に受光された赤外変調
光を、変調周期に合せてナンプリングし、これを直ちｒ
ｔｃＶＤ変換すると共にディジタル演算処理し、アナ璽
ダＩ！素を介在させないことにより、耐ノイズ性を向上
させると共に１カメラ等の自動焦点調整装置への適用に
当っても、スペッタ上の制約の少ない測距装置を提供す
るものである。
以下、図面に従って本発明を更に詳１ｉ１に説明するＯ
第４図は本発明の一実施例に係る測距装置のプリッタ図
で、同図中５０はずンプルホールド用のコンダンす５４
にバッフＴ増＠Ｗｚ２０の出力信号をホールドすべく設
妙られたアナ繋ダスイッチ、５２は賃ンプルホールド段
の出力信号をホールドするべ（設けられたバッファ増ｌ
Ｋ器、５６はバッファ増幅６５２の出力信号をディジタ
ル値に変換するＶＤ度換器、５８はアナーダスイッチ５
０のオン・オ７フント四−ル並びにめ変換器５６のコン
トロールを行うと共に、４／Ｄ変換＠５６からのディジ
タル信号を処理して焦点位置を算出する機能を有し、更
にレンズ制御機能を奥行するためのＣＰＵ、６０はＣＰ
Ｕによって判定され九焦点位置に撮影レンズ６２を制御
するレンズ制御回路である・ かかる構成において、次にその動作をＩＩ５図のタイム
チャートに従って説明する。ちなみに、第５図（１）は
ＩＲｇＤ２のオン、オフタイミング、同図（２）は受光
アンプ１４の出力信号、同図（３）はバッファ増幅器２
０め出力信号、同図４）はアナラダスイッチ５０のオン
パルス（ｔングルホールｆ、Ａｆｉス）、同図（５）は
バッファアンプ５２の出力信号、同図φ）はＩＲｇＤ２
のオン時のＮつ変換８５６の出力信号からオフ時の出力
信号を減算し九データ列、同図（７）はヤングリンダ４
回毎の平均値をとった場合のデータ列、同図但）は同図
（６）のデータ列判定に基づ（ピーク検出信号である。
で、同図中５０はずンプルホールド用のコンダンす５４
にバッフＴ増＠Ｗｚ２０の出力信号をホールドすべく設
妙られたアナ繋ダスイッチ、５２は賃ンプルホールド段
の出力信号をホールドするべ（設けられたバッファ増ｌ
Ｋ器、５６はバッファ増幅６５２の出力信号をディジタ
ル値に変換するＶＤ度換器、５８はアナーダスイッチ５
０のオン・オ７フント四−ル並びにめ変換器５６のコン
トロールを行うと共に、４／Ｄ変換＠５６からのディジ
タル信号を処理して焦点位置を算出する機能を有し、更
にレンズ制御機能を奥行するためのＣＰＵ、６０はＣＰ
Ｕによって判定され九焦点位置に撮影レンズ６２を制御
するレンズ制御回路である・ かかる構成において、次にその動作をＩＩ５図のタイム
チャートに従って説明する。ちなみに、第５図（１）は
ＩＲｇＤ２のオン、オフタイミング、同図（２）は受光
アンプ１４の出力信号、同図（３）はバッファ増幅器２
０め出力信号、同図４）はアナラダスイッチ５０のオン
パルス（ｔングルホールｆ、Ａｆｉス）、同図（５）は
バッファアンプ５２の出力信号、同図φ）はＩＲｇＤ２
のオン時のＮつ変換８５６の出力信号からオフ時の出力
信号を減算し九データ列、同図（７）はヤングリンダ４
回毎の平均値をとった場合のデータ列、同図但）は同図
（６）のデータ列判定に基づ（ピーク検出信号である。
さて、第４図の構成において、第５図（１）に示す如き
周期で点滅させられるＩＲｇＤ２を測距対象物に向って
投光用レンズ４の背部で矢印入方向にスキャンすると、
測距対象物までの距離に応じて各スキャン位置での受光
素子８上の受光赤外線強度の変化が異なる。その結果、
例えは受光素子８上の赤外線強度がＩＲｇＤ２のスキャ
ン二ングの中途で最大となる様な形で赤外光が入射した
とすると、受光素子８を接続される受光アンプ１４の出
力は第５図に）Ｋ示す如くなる。この出力は受光素子８
に入射する外光成分と測距対象物からの反射赤外光の成
分を共に含んでおり、従ってこれをこのまま増幅すると
外光成分まで増幅されてしまうため、何らかの形で直流
成分、つまり外光成分をカットする必要がある。このた
めに設けられているのが直流カット用のコンデンサ１８
である。直流カットの結果、バッファアンプ２０からは
第５図（３）に示す如き交流信号が得られるが、この交
流信号はＩＲＥＤ２の点滅に起因するものが大部分であ
る◎バッファアンプ２０の出力側にはｃｐｕｓａから第
５図（４）Ｋ示す如きゲート信号を入力される７す襲ダ
グート５０が直列に介挿されており、アナ田グゲート５
０が導通している間のバッファアンプ２０の出力レベル
がコンデンサ５４Ｋｆｆｉｌｌホールドされる。その結
果、バッファアンプ５２からは第４図（５）Ｋ示す如き
ナングルホールド信号が出力されるが、この信号は各サ
ンプルホールド毎ニＮつ変換器５６でディジタル信号に
変換され、ＣＰＯ５８内の図示しないメモ９に格納畜れ
る。
周期で点滅させられるＩＲｇＤ２を測距対象物に向って
投光用レンズ４の背部で矢印入方向にスキャンすると、
測距対象物までの距離に応じて各スキャン位置での受光
素子８上の受光赤外線強度の変化が異なる。その結果、
例えは受光素子８上の赤外線強度がＩＲｇＤ２のスキャ
ン二ングの中途で最大となる様な形で赤外光が入射した
とすると、受光素子８を接続される受光アンプ１４の出
力は第５図に）Ｋ示す如くなる。この出力は受光素子８
に入射する外光成分と測距対象物からの反射赤外光の成
分を共に含んでおり、従ってこれをこのまま増幅すると
外光成分まで増幅されてしまうため、何らかの形で直流
成分、つまり外光成分をカットする必要がある。このた
めに設けられているのが直流カット用のコンデンサ１８
である。直流カットの結果、バッファアンプ２０からは
第５図（３）に示す如き交流信号が得られるが、この交
流信号はＩＲＥＤ２の点滅に起因するものが大部分であ
る◎バッファアンプ２０の出力側にはｃｐｕｓａから第
５図（４）Ｋ示す如きゲート信号を入力される７す襲ダ
グート５０が直列に介挿されており、アナ田グゲート５
０が導通している間のバッファアンプ２０の出力レベル
がコンデンサ５４Ｋｆｆｉｌｌホールドされる。その結
果、バッファアンプ５２からは第４図（５）Ｋ示す如き
ナングルホールド信号が出力されるが、この信号は各サ
ンプルホールド毎ニＮつ変換器５６でディジタル信号に
変換され、ＣＰＯ５８内の図示しないメモ９に格納畜れ
る。
ｃｐｕｓｓにおいては、ＩＲＫＤ２のオン時のＮ勺変換
データからオフ時のに勺変換データを減算したデータを
受光素子８に入射した赤外光の強度に対応したデータと
して記憶する。その結果、得られたデータ列は第５図（
６）に示す通りである。
データからオフ時のに勺変換データを減算したデータを
受光素子８に入射した赤外光の強度に対応したデータと
して記憶する。その結果、得られたデータ列は第５図（
６）に示す通りである。
しかしながら、１回のナンプサング毎に得られるＶ変換
データもノイズや量子化誤差等の要因によって変動する
ため、必ずしも赤外光強直を正確にトレースしていると
はかぎらない。したがって、このままビータ判定を行う
と誤判定の可能性があるため、次のアルゴリズムに従っ
た演算処理を行う。
データもノイズや量子化誤差等の要因によって変動する
ため、必ずしも赤外光強直を正確にトレースしていると
はかぎらない。したがって、このままビータ判定を行う
と誤判定の可能性があるため、次のアルゴリズムに従っ
た演算処理を行う。
つまり、０Ｐ０５８内の平均値化ソフトウェアブロック
５８Ａの作用により、サンプルホールドと〜Φ変換の複
数回毎のデータを取り込み、その結果を平均化し、この
データをその時点の入射赤外光強度とする０この様な演
算処理はサンプリングの４回倍に行うが、その結果得ら
れたデータ列は第５図（７）に示す如くなる。第５図（
６） 、 （７）からも明らかな様に、かかる平均値化
のルーチンを実行することによって、データの細かな揺
動変化はなくなる。
５８Ａの作用により、サンプルホールドと〜Φ変換の複
数回毎のデータを取り込み、その結果を平均化し、この
データをその時点の入射赤外光強度とする０この様な演
算処理はサンプリングの４回倍に行うが、その結果得ら
れたデータ列は第５図（７）に示す如くなる。第５図（
６） 、 （７）からも明らかな様に、かかる平均値化
のルーチンを実行することによって、データの細かな揺
動変化はなくなる。
かかる演算をＩＲＫＤ２と撮影レンズ６２の繰り出しと
併せて行うが、ＣＰＯ５８では刻々と変化する受光赤外
光に関するデータサンプリングと平均値演算を繰り返し
、データ比較によってピーク判定を行う。このビータ判
定は、最新の平均値出力データと前回の平均値出力デー
タを常時、最新の平均値データが得られる毎に行ない、
最新データが前回データよりも小さくなった時点でビー
タと判定することによって行われる。
併せて行うが、ＣＰＯ５８では刻々と変化する受光赤外
光に関するデータサンプリングと平均値演算を繰り返し
、データ比較によってピーク判定を行う。このビータ判
定は、最新の平均値出力データと前回の平均値出力デー
タを常時、最新の平均値データが得られる毎に行ない、
最新データが前回データよりも小さくなった時点でビー
タと判定することによって行われる。
上に述べた様に、ＣＰＵ５８では第５図のに示す如きデ
ータ列を平均値化ソフトウェアプロッタ５８Ａで演算し
ながら、ピーク判定を行い、これに対応する位置で撮影
レンズ６２を停止させることにより、対象物６に対する
撮影レンズ６２の自動焦点合せを行わせることが出来る
。
ータ列を平均値化ソフトウェアプロッタ５８Ａで演算し
ながら、ピーク判定を行い、これに対応する位置で撮影
レンズ６２を停止させることにより、対象物６に対する
撮影レンズ６２の自動焦点合せを行わせることが出来る
。
つまり、ＣＰＯ５８からは、ピーク判定がなされた時点
で、第５図（８）に示す如きピーク判定パルスをレンズ
制御部６０に送出するが、これを受けたレンズ制御部６
０はスズリング等でＩＲＥＤ２のスキャンと共に繰り出
される撮影レンズ６２を！グネット等を用いて直ちに停
止させる。ちなみに、この場合のレンズ制御は、パルス
モータによって走行するレンズやモータで繰り出される
レンズを、パルス停止ニよってまたはブレーキングによ
って停止させる如きのものであってもよい。
で、第５図（８）に示す如きピーク判定パルスをレンズ
制御部６０に送出するが、これを受けたレンズ制御部６
０はスズリング等でＩＲＥＤ２のスキャンと共に繰り出
される撮影レンズ６２を！グネット等を用いて直ちに停
止させる。ちなみに、この場合のレンズ制御は、パルス
モータによって走行するレンズやモータで繰り出される
レンズを、パルス停止ニよってまたはブレーキングによ
って停止させる如きのものであってもよい。
なお、上記実施例では平均値化の回数が４回の場合を例
示したが、実際には更に多くのサンプリングデータに基
づくデータ割り出しを行う方が確実なピーク判定を行う
ことが出来る。
示したが、実際には更に多くのサンプリングデータに基
づくデータ割り出しを行う方が確実なピーク判定を行う
ことが出来る。
また、上記実施例中、０ＰＵ５８の動作は周知のｉイタ
謬プ四セツナ等で容易に実現可能な演算ルーチンであり
、格別の技術要素でもないので、ここでは言及しない＠ なお、上記実施例ではＩＲＥＤ２と撮影レンズ６２を共
に動かす、リアルタイム式の距離測定と自動焦点合せの
場合について例示したが、本発明の実施例はこれに限定
されるものではなく、ＩＲＥＤ２のプシス命ヤンによる
ビータ位置のディジタル記憶も出来ることから、システ
ムの拡張性については多（の可能性を持っている。
謬プ四セツナ等で容易に実現可能な演算ルーチンであり
、格別の技術要素でもないので、ここでは言及しない＠ なお、上記実施例ではＩＲＥＤ２と撮影レンズ６２を共
に動かす、リアルタイム式の距離測定と自動焦点合せの
場合について例示したが、本発明の実施例はこれに限定
されるものではなく、ＩＲＥＤ２のプシス命ヤンによる
ビータ位置のディジタル記憶も出来ることから、システ
ムの拡張性については多（の可能性を持っている。
以上述べた如く、本発明によれば、信号処理系の大部分
をディジタル化することにより、回路を簡略化し、外部
ディスクリート部品の低減と集積化の容易性を実現し、
更に経済性に優れ、システム裕度大なる測距装置並びに
これを用いた自動焦点調整装置を得ることが出来るもの
である。
をディジタル化することにより、回路を簡略化し、外部
ディスクリート部品の低減と集積化の容易性を実現し、
更に経済性に優れ、システム裕度大なる測距装置並びに
これを用いた自動焦点調整装置を得ることが出来るもの
である。
第１図は周知の赤外投光式能動ｌＩＩＩＭ距装置の概念
図、 第２図は第１図の構成に適用される同期検技回路の一例
を示す回路構成図。 第３図は第２図の構成の動作を説明する丸めのタイムチ
ャート、 ＃Ｉ４図は本発明の一実施例のブーツクＥ。 第５図は第４図の構成の動作を説関するためのタイムチ
ャートである◎ ２・・・・・投光素子（ＩＲＥＤ） ６２０・・・タイミング回路 ８・０・・受光素子 １４・・・・・受光アンプ ２０．５２−−−−−バツツアアング ５０・・・ｅ・アナリグスイッチ ５４・・・・・ホールド用コンデン量 ５６・・・・・Ｎつ変換器 ５ｓ−−−−−ｃｐｕ ６０・・・・・レシズ制御回路 Ｍ出願人 キャノン株式会社
図、 第２図は第１図の構成に適用される同期検技回路の一例
を示す回路構成図。 第３図は第２図の構成の動作を説明する丸めのタイムチ
ャート、 ＃Ｉ４図は本発明の一実施例のブーツクＥ。 第５図は第４図の構成の動作を説関するためのタイムチ
ャートである◎ ２・・・・・投光素子（ＩＲＥＤ） ６２０・・・タイミング回路 ８・０・・受光素子 １４・・・・・受光アンプ ２０．５２−−−−−バツツアアング ５０・・・ｅ・アナリグスイッチ ５４・・・・・ホールド用コンデン量 ５６・・・・・Ｎつ変換器 ５ｓ−−−−−ｃｐｕ ６０・・・・・レシズ制御回路 Ｍ出願人 キャノン株式会社
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 山測距対象物に向って変調赤外光を投光する手段と、測
距対象物からの反射赤外光を受光する受光手段と、前記
受光手段出力から直流成分を除去すると共に変調光のオ
ン、オフに同期してこれをサンプリングするナンプリン
ダ手段と、前記ヤングリング手段出力をディジタに値に
変換する〜巾変換手段と、前記〜Φ変換５ｉａｓ力をナ
ンプリンタ手段の複数回のナンプリンダ毎に演算する演
算手段とから成る測距装置・（２３Ｉｎ距対象物に向っ
て変調赤外光を投光する手段と、測距対象物からの反射
赤外光を受光する受光手段と、前記受光手段出力から直
流成分を除去すると共に変調光のオン、オフに同期して
これをサンプリングするナングリンダ手段と。 前記サンプリング手段出力をディジタル値に変換するり
変換手段と、前記んΦ変換Ｓ出力をナンプシンダ手段の
複数回のすこ１リング毎に演算する演算手段と、コ記演
算千−出力から入射赤外光の最大値を判定する第２の演
算手段と、前記第２の演算手段出力に基づいてし；ズの
焦点位置を制御する手段とから成る自動焦点調整装置。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56114851A JPS5817311A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 測距装置及びこれを用いた自動焦点調整装置 |
| US06/397,880 US4533241A (en) | 1981-07-22 | 1982-07-13 | Distance measuring device and automatic focusing system using same |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56114851A JPS5817311A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 測距装置及びこれを用いた自動焦点調整装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5817311A true JPS5817311A (ja) | 1983-02-01 |
Family
ID=14648289
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56114851A Pending JPS5817311A (ja) | 1981-07-22 | 1981-07-22 | 測距装置及びこれを用いた自動焦点調整装置 |
Country Status (2)
| Country | Link |
|---|---|
| US (1) | US4533241A (ja) |
| JP (1) | JPS5817311A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60205303A (ja) * | 1984-03-30 | 1985-10-16 | Mitsubishi Electric Corp | 光変位計測装置 |
| JPS6281519A (ja) * | 1985-10-04 | 1987-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | 距離測定装置 |
| JPH01244310A (ja) * | 1987-12-25 | 1989-09-28 | Seikosha Co Ltd | カメラ用距離検出装置 |
| JP4817069B2 (ja) * | 2003-10-31 | 2011-11-16 | コンティ テミック マイクロエレクトロニック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 間隔測定方法及び装置 |
Families Citing this family (9)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60182274A (ja) * | 1984-02-29 | 1985-09-17 | Canon Inc | ビデオカメラにおける焦点検出装置 |
| US4922280A (en) * | 1987-08-26 | 1990-05-01 | Asahi Kogaku Kogyo Kabushiki Kaisha | Infrared filter cover plate for autofocus camera |
| DE3925964A1 (de) * | 1989-08-05 | 1991-02-07 | Zeiss Carl Fa | Verfahren und vorrichtung zur eliminierung des temperatur-einflusses auf den fokussierzustand ir-optischer abbildungssysteme |
| US5223821A (en) * | 1991-10-28 | 1993-06-29 | Forney International, Inc. | Triac power switching and testing system |
| JP3078069B2 (ja) * | 1991-12-16 | 2000-08-21 | オリンパス光学工業株式会社 | 測距装置 |
| US5337116A (en) * | 1991-12-26 | 1994-08-09 | Olympus Optical Co., Ltd. | Light projection type measurement apparatus effectively utilizing a post of a one-chip microcomputer |
| GB9408938D0 (en) * | 1994-05-03 | 2015-04-01 | Secr Defence | Covert marking apparatus |
| JP3294982B2 (ja) * | 1995-11-17 | 2002-06-24 | 旭光学工業株式会社 | 赤外線通信機能付カメラ |
| EP1612511B1 (en) * | 2004-07-01 | 2015-05-20 | Softkinetic Sensors Nv | TOF rangefinding with large dynamic range and enhanced background radiation suppression |
Family Cites Families (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS54143670A (en) * | 1978-04-28 | 1979-11-09 | Canon Inc | Distance measuring system |
| JPS54154351A (en) * | 1978-05-25 | 1979-12-05 | Canon Inc | Distance measuring device |
| JPS5588001A (en) * | 1978-12-11 | 1980-07-03 | Canon Inc | Distance measuring optical system |
| US4365878A (en) * | 1979-11-15 | 1982-12-28 | Canon, Inc. | Signal processing circuitry for a distance measuring system |
-
1981
- 1981-07-22 JP JP56114851A patent/JPS5817311A/ja active Pending
-
1982
- 1982-07-13 US US06/397,880 patent/US4533241A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS60205303A (ja) * | 1984-03-30 | 1985-10-16 | Mitsubishi Electric Corp | 光変位計測装置 |
| JPH0690007B2 (ja) * | 1984-03-30 | 1994-11-14 | 三菱電機株式会社 | 光変位計測装置 |
| JPS6281519A (ja) * | 1985-10-04 | 1987-04-15 | Mitsubishi Electric Corp | 距離測定装置 |
| JPH01244310A (ja) * | 1987-12-25 | 1989-09-28 | Seikosha Co Ltd | カメラ用距離検出装置 |
| JP4817069B2 (ja) * | 2003-10-31 | 2011-11-16 | コンティ テミック マイクロエレクトロニック ゲゼルシャフト ミット ベシュレンクテル ハフツング | 間隔測定方法及び装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| US4533241A (en) | 1985-08-06 |
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