JPS58165225A - 真空しや断器 - Google Patents
真空しや断器Info
- Publication number
- JPS58165225A JPS58165225A JP57047423A JP4742382A JPS58165225A JP S58165225 A JPS58165225 A JP S58165225A JP 57047423 A JP57047423 A JP 57047423A JP 4742382 A JP4742382 A JP 4742382A JP S58165225 A JPS58165225 A JP S58165225A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- vacuum
- current
- vacuum breaker
- electrode
- compound
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
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-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H33/00—High-tension or heavy-current switches with arc-extinguishing or arc-preventing means
- H01H33/60—Switches wherein the means for extinguishing or preventing the arc do not include separate means for obtaining or increasing flow of arc-extinguishing fluid
- H01H33/66—Vacuum switches
- H01H33/664—Contacts; Arc-extinguishing means, e.g. arcing rings
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/02—Contacts characterised by the material thereof
- H01H1/0203—Contacts characterised by the material thereof specially adapted for vacuum switches
-
- H—ELECTRICITY
- H01—ELECTRIC ELEMENTS
- H01H—ELECTRIC SWITCHES; RELAYS; SELECTORS; EMERGENCY PROTECTIVE DEVICES
- H01H1/00—Contacts
- H01H1/02—Contacts characterised by the material thereof
- H01H1/021—Composite material
- H01H1/023—Composite material having a noble metal as the basic material
- H01H1/0233—Composite material having a noble metal as the basic material and containing carbides
Landscapes
- High-Tension Arc-Extinguishing Switches Without Spraying Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は新規な真空しゃ断器に係シ、特に低サージタイ
プの電極を有する真空しゃ断ＩｓＫ関する。
プの電極を有する真空しゃ断ＩｓＫ関する。
低サージ形真空しゃ断器用電極として従来から候補に挙
げられている材料としては、Ｃ１１をペースとしてＢｉ
、Ｐｂ、Ｔ・、Ｓ・などの低融点・高蒸気圧元素を株加
したもの、あるいは粉末冶金的に作られたＡＩ−ｗｅ系
やＣｕ−ＬＷ系などが良く知られている。前者のＣｕ合
金系では真空しゃ断器電極として、しゃ新前の初期にお
いては良好な低す一ジ性を示すが、短絡電流の如き大電
流し中断を行うと、Ｃｕ中のＢｉ、Ｐｂ等がじみ出た郵
、あるいは蒸発が生じ、この丸めその後において低サー
ジ性を失なってしまう。又、とのような低融点・高蒸気
圧元素のしみ出しＫよって著しく耐電圧性能や大電流し
中断性能が劣化することも避けられなく、実用化には問
題が多い。後者のｈｇ−ｗｅ系やＣｕ−Ｗ系も比較的良
好な低サージ性を示す、このうち、Ａｇ−ｗｅ系は短絡
電流のような大電流をしゃ断した後においても低サージ
性が良好である。しかしながら、この材料はめまシ大電
Ｒをしゃ断できないという欠点がＴｏ４）、大容量化Ｉ
／ｃは限界が出ている。
げられている材料としては、Ｃ１１をペースとしてＢｉ
、Ｐｂ、Ｔ・、Ｓ・などの低融点・高蒸気圧元素を株加
したもの、あるいは粉末冶金的に作られたＡＩ−ｗｅ系
やＣｕ−ＬＷ系などが良く知られている。前者のＣｕ合
金系では真空しゃ断器電極として、しゃ新前の初期にお
いては良好な低す一ジ性を示すが、短絡電流の如き大電
流し中断を行うと、Ｃｕ中のＢｉ、Ｐｂ等がじみ出た郵
、あるいは蒸発が生じ、この丸めその後において低サー
ジ性を失なってしまう。又、とのような低融点・高蒸気
圧元素のしみ出しＫよって著しく耐電圧性能や大電流し
中断性能が劣化することも避けられなく、実用化には問
題が多い。後者のｈｇ−ｗｅ系やＣｕ−Ｗ系も比較的良
好な低サージ性を示す、このうち、Ａｇ−ｗｅ系は短絡
電流のような大電流をしゃ断した後においても低サージ
性が良好である。しかしながら、この材料はめまシ大電
Ｒをしゃ断できないという欠点がＴｏ４）、大容量化Ｉ
／ｃは限界が出ている。
さらに、低サージ性について詳しく述べれば、上記し九
〇ｕペース合金やｈｇ−ｗｅ系、Ｃｕ−ＷＣ系合金のい
ずれも完全なる低サージ性は満足されているとは言えな
い。すなわちト低サージ性を云々する特性としては、真
空しゃ断器における小電流し中断時のさい断電流（チョ
ッピングカレント）籠をできるだけ小セ（することＫめ
シ、理想的には零ムとすることか望ましい、しかじなか
ζ） る、この点で従来の低す−、ジ性と呼ばれるにふされし
いようなさい断電流値としては試験条件によって多少異
なるが、約１〜３Ａのものが挙げられている。ところが
、とのさい断電流値では、絶縁強度の高い回転機やトラ
ンス等の負荷に対しては許容できるサージにおさまるが
、乾式トランスのような絶縁強度の低い負荷に対しては
いまだに高すぎる値であシ、絶縁破壊が生じる危険性が
高い。
〇ｕペース合金やｈｇ−ｗｅ系、Ｃｕ−ＷＣ系合金のい
ずれも完全なる低サージ性は満足されているとは言えな
い。すなわちト低サージ性を云々する特性としては、真
空しゃ断器における小電流し中断時のさい断電流（チョ
ッピングカレント）籠をできるだけ小セ（することＫめ
シ、理想的には零ムとすることか望ましい、しかじなか
ζ） る、この点で従来の低す−、ジ性と呼ばれるにふされし
いようなさい断電流値としては試験条件によって多少異
なるが、約１〜３Ａのものが挙げられている。ところが
、とのさい断電流値では、絶縁強度の高い回転機やトラ
ンス等の負荷に対しては許容できるサージにおさまるが
、乾式トランスのような絶縁強度の低い負荷に対しては
いまだに高すぎる値であシ、絶縁破壊が生じる危険性が
高い。
このため、各種の受配電設備を設計する場合、従来の低
サージ真空し中断器によって完全くサージアブソーバレ
スにすることが難かしく、限定した適用規準の中だけ、
すなわち絶縁強度の高い負荷システムの場合に限って低
サージ真空しゃ断器が生かされているとも言える。これ
らの低サージ性を左右する因子としては電極材質による
固有のさい断電流特性が殆んどを占めている。一般に、
上記した開閉サージ電圧をｖ１電極材のさい断電流ｌ［
をＩｓ、負荷機器のサージインピーダンスを２とし、負
荷による減衰定数ｔ−ｐと“すれば、概略的ｌｊ’Ｉ ＫＶ＝Ｐ ” Ｉ ｓ ａ Ｚと表現できる。これらを
考慮□ し、乾式トランス勢の絶縁破壊を防ぐには、さい断電流
値ＩｓはｌＡ台、望ましくはＩＡ以下まで下げてやる必
要がある。したがって、全面サージアブノーパレス低サ
ージ真空しゃ断器としては、従来のさい断電流特性のも
のでは不満足で６１、よシ低さい断電流特性を有する電
極材を見い出していかなければならないという間聴点が
残されていた。
サージ真空し中断器によって完全くサージアブソーバレ
スにすることが難かしく、限定した適用規準の中だけ、
すなわち絶縁強度の高い負荷システムの場合に限って低
サージ真空しゃ断器が生かされているとも言える。これ
らの低サージ性を左右する因子としては電極材質による
固有のさい断電流特性が殆んどを占めている。一般に、
上記した開閉サージ電圧をｖ１電極材のさい断電流ｌ［
をＩｓ、負荷機器のサージインピーダンスを２とし、負
荷による減衰定数ｔ−ｐと“すれば、概略的ｌｊ’Ｉ ＫＶ＝Ｐ ” Ｉ ｓ ａ Ｚと表現できる。これらを
考慮□ し、乾式トランス勢の絶縁破壊を防ぐには、さい断電流
値ＩｓはｌＡ台、望ましくはＩＡ以下まで下げてやる必
要がある。したがって、全面サージアブノーパレス低サ
ージ真空しゃ断器としては、従来のさい断電流特性のも
のでは不満足で６１、よシ低さい断電流特性を有する電
極材を見い出していかなければならないという間聴点が
残されていた。
本発明の目的に、サージアブソーバレス真空しゃ断器と
なるような、低サージタイプ電極を有する真空し中断器
を提供することＫめる。
なるような、低サージタイプ電極を有する真空し中断器
を提供することＫめる。
本発明は、真空容器と、該容器内に配置された１対の電
極を有するものにおいて、少なくとも一方の電極の少な
くともｒ−り発生部分が、低融点金属とそれよシ融点の
高い金属との化合物を含む合金からなシ、その化合物量
が前記融点の高い金装置以上である部材で構成されてい
ることを特徴とする真空しゃ断器［４る。
極を有するものにおいて、少なくとも一方の電極の少な
くともｒ−り発生部分が、低融点金属とそれよシ融点の
高い金属との化合物を含む合金からなシ、その化合物量
が前記融点の高い金装置以上である部材で構成されてい
ることを特徴とする真空しゃ断器［４る。
本発明は、完全にサージアブソーバレスとなる電極を目
標に、小電流しゃ断時のさい断電流線がＩＡ以下を目標
とした。本発明者らはＦｅ族元素の焼結体勢ＫＡｇ合金
を溶浸した低サージ形電極を出願しえ。この溶浸合金電
極は従来のものに比べ、さい断電流が低く、優れた低サ
ージ形が得られ九が、約１〜２Ａでめカ、目標とするＩ
Ａ以下にするのが困−である。
標に、小電流しゃ断時のさい断電流線がＩＡ以下を目標
とした。本発明者らはＦｅ族元素の焼結体勢ＫＡｇ合金
を溶浸した低サージ形電極を出願しえ。この溶浸合金電
極は従来のものに比べ、さい断電流が低く、優れた低サ
ージ形が得られ九が、約１〜２Ａでめカ、目標とするＩ
Ａ以下にするのが困−である。
本発明者らは、種々の検討を加え九ところ、これらの材
料の低サージ性は、マトリックスでめるＦ・族元素や溶
浸したＡｇが担っているわけでなく、ルるいは添加した
Ｔ・、Ｓｅが単独に効いていることでもないことをつき
とめた。すなわち、低サージ効果を発揮する構成吻はＡ
ｇとＴ・、もしくはＡＩとＳｃの化合物でろるＡｇ、’
Ｉ’・−Ａｇ ８・の化合物そのものであることを知つ
九、一連の実験によれば、ＡｇあるいはＴ・、８拳が単
独に晶出した相が多いと低ず一ジ性が従来なみてＴｏ）
、約１〜２ムのさい断電流ｌｉｔを示す。ところが組成
ｔ”Ａｌ−３７ｗｔ％Ｔ・、Ａｇ−１７ｗｔ％８働の如
＜ＡｇｍＴ・やＡｇ１８・の化合物の組成を主にし九も
のでは、さい断電流の最大が１アンペア以下となること
が判明した。そこで、本発明者らは、まずＣｕ製の電極
支持板にこれらの化合物を接合し、所定の電極構造とし
て、各楡亀気的性能會−ぺたところ、Ａｇ、’ｒ・電極
及びＡｇ、８・電極のさい断電流の最大直はそれぞれα
９，０．７Ａとなることが判った。又、これらの耐電圧
性能及び大電流しゃ断性能とも従来材料とそん色のない
ことも確認した。特別に大容量用のものでなければＣｕ
製の電極支持板に上記化合物をはり合わせ九構造で実用
化できる。さらに本発明者らは、この材料を用いて高耐
電圧性及び大容量化も備えさせるためＫＸＦｅ族元素の
粉末焼成体中に上記化合物を溶浸させてみた。例えば、
ＣＯ焼成体中に５０ｗｔ％のＡｇ、８ｅ を溶浸し友も
のにおいて、さい断電流の最大が１．ＯＡ、平均がα５
Ａまで下がることを確認し、合わせて耐電圧性能が約２
０％向上し、さらに大電流しゃ断性Ｖ＠も増すことが分
かった。同様和して”ｍＴａｓＭｏの焼結体中にこれら
を含浸させてみたとと・ろ、同様な傾向でめシ、総合的
にみて従来材よシも′・′優れた性能を示すことも解明
し良、 ′ 低融点金属は、−ｒ−りによって蒸発し易い高蒸気圧元
素で、消弧作用を有する融点の低い元素をいう、好まし
くは、融点５ｏｏｃ以下のものでめる。
料の低サージ性は、マトリックスでめるＦ・族元素や溶
浸したＡｇが担っているわけでなく、ルるいは添加した
Ｔ・、Ｓｅが単独に効いていることでもないことをつき
とめた。すなわち、低サージ効果を発揮する構成吻はＡ
ｇとＴ・、もしくはＡＩとＳｃの化合物でろるＡｇ、’
Ｉ’・−Ａｇ ８・の化合物そのものであることを知つ
九、一連の実験によれば、ＡｇあるいはＴ・、８拳が単
独に晶出した相が多いと低ず一ジ性が従来なみてＴｏ）
、約１〜２ムのさい断電流ｌｉｔを示す。ところが組成
ｔ”Ａｌ−３７ｗｔ％Ｔ・、Ａｇ−１７ｗｔ％８働の如
＜ＡｇｍＴ・やＡｇ１８・の化合物の組成を主にし九も
のでは、さい断電流の最大が１アンペア以下となること
が判明した。そこで、本発明者らは、まずＣｕ製の電極
支持板にこれらの化合物を接合し、所定の電極構造とし
て、各楡亀気的性能會−ぺたところ、Ａｇ、’ｒ・電極
及びＡｇ、８・電極のさい断電流の最大直はそれぞれα
９，０．７Ａとなることが判った。又、これらの耐電圧
性能及び大電流しゃ断性能とも従来材料とそん色のない
ことも確認した。特別に大容量用のものでなければＣｕ
製の電極支持板に上記化合物をはり合わせ九構造で実用
化できる。さらに本発明者らは、この材料を用いて高耐
電圧性及び大容量化も備えさせるためＫＸＦｅ族元素の
粉末焼成体中に上記化合物を溶浸させてみた。例えば、
ＣＯ焼成体中に５０ｗｔ％のＡｇ、８ｅ を溶浸し友も
のにおいて、さい断電流の最大が１．ＯＡ、平均がα５
Ａまで下がることを確認し、合わせて耐電圧性能が約２
０％向上し、さらに大電流しゃ断性Ｖ＠も増すことが分
かった。同様和して”ｍＴａｓＭｏの焼結体中にこれら
を含浸させてみたとと・ろ、同様な傾向でめシ、総合的
にみて従来材よシも′・′優れた性能を示すことも解明
し良、 ′ 低融点金属は、−ｒ−りによって蒸発し易い高蒸気圧元
素で、消弧作用を有する融点の低い元素をいう、好まし
くは、融点５ｏｏｃ以下のものでめる。
ＩＪ！１／Ａ的１
本発明に係る真空しゃｌｌＦｒｌ５の真空バルブは一列
として第１図に示す構造を有し、筒状ケースｌＦｉ竜う
イックスあるいは結晶化ガラス等の絶縁材料から成り、
その両端を金属製端子板６．７によって固定し、その内
部ＫＦｉ一対の電極、すなわち、固定電極４と、ベロー
ズ１１を介して動けるようにした可動電極５とがら成っ
ている。これらは端子板６に設けられた排気管８によっ
て内部は真空に排気され、十分排気後にこの先端はチッ
プオフされるようＫなっている。電極４．５を囲むよう
に設けられた円筒状のシールド１２は電極構成部材がし
ゃ断′ｒ−りによって蒸発、飛散した場合、他・＼耐着
させないｊ５に受は止める壁の役目を果えしている。電
極−＊Ｓ／ｒｉｃｕ製の補助電極２゜３［ｏｖ）付によ
づ５１合わされた構造となっている。本発明の電ＩｋＦ
ｉチップとなっている。かがる電極チップは、粒状のｈ
ｔ及び８・を重量比で７３ ： ２７０割合で合計１−
を黒鉛るっぽに充てんし、これを４５０ｍの石英管中に
真空封止した後、１．００Ｏｒで３０分間加熱すること
によって得られた。この合金ハ、ハづ全体がＡｇ＊８・
化合物からなる。この化合物をφ４ｏ謹厚さ３■ＫＩＩ
Ａ械加工し、補助電極２．３の上に真空ろう付した。
として第１図に示す構造を有し、筒状ケースｌＦｉ竜う
イックスあるいは結晶化ガラス等の絶縁材料から成り、
その両端を金属製端子板６．７によって固定し、その内
部ＫＦｉ一対の電極、すなわち、固定電極４と、ベロー
ズ１１を介して動けるようにした可動電極５とがら成っ
ている。これらは端子板６に設けられた排気管８によっ
て内部は真空に排気され、十分排気後にこの先端はチッ
プオフされるようＫなっている。電極４．５を囲むよう
に設けられた円筒状のシールド１２は電極構成部材がし
ゃ断′ｒ−りによって蒸発、飛散した場合、他・＼耐着
させないｊ５に受は止める壁の役目を果えしている。電
極−＊Ｓ／ｒｉｃｕ製の補助電極２゜３［ｏｖ）付によ
づ５１合わされた構造となっている。本発明の電ＩｋＦ
ｉチップとなっている。かがる電極チップは、粒状のｈ
ｔ及び８・を重量比で７３ ： ２７０割合で合計１−
を黒鉛るっぽに充てんし、これを４５０ｍの石英管中に
真空封止した後、１．００Ｏｒで３０分間加熱すること
によって得られた。この合金ハ、ハづ全体がＡｇ＊８・
化合物からなる。この化合物をφ４ｏ謹厚さ３■ＫＩＩ
Ａ械加工し、補助電極２．３の上に真空ろう付した。
かかる電極を内蔵した上記構造の真空バルブについて各
種電気的性能試験を５Ｊ！施したところ、小電流しゃ断
時のさい断電流値は最大ｏ、７、平均０゜０．３人とな
９、七しくすぐれた低サージ性を有することが判明し、
しかも耐電圧及び大電流しゃ断性能とも従来のＣｕ −
Ｐ ｂ系合金とそん色ない特性を示すことも確認された
。又、上記真空バルブを定格？、２ｋＶ、１２．５ｋＡ
の真空しゃ断器として実際に各種モータ、トランス等
と結線し、三相負荷試験を実施したところ、小電流しゃ
断によるサージによる絶縁破壊も起こらず、十分な低サ
ージ性が実証された。
種電気的性能試験を５Ｊ！施したところ、小電流しゃ断
時のさい断電流値は最大ｏ、７、平均０゜０．３人とな
９、七しくすぐれた低サージ性を有することが判明し、
しかも耐電圧及び大電流しゃ断性能とも従来のＣｕ −
Ｐ ｂ系合金とそん色ない特性を示すことも確認された
。又、上記真空バルブを定格？、２ｋＶ、１２．５ｋＡ
の真空しゃ断器として実際に各種モータ、トランス等
と結線し、三相負荷試験を実施したところ、小電流しゃ
断によるサージによる絶縁破壊も起こらず、十分な低サ
ージ性が実証された。
実施ｆ８２
実施的１でＩ／’１Ａｇ＠Ｂｍ 化合物をチップとした
電極で６つ九が、この電極よ〕もさらに耐電圧性を上げ
ること、及び大電流しゃ断能力と耐消耗性を附加する目
的として、各１高融点金属中ＫＡ ｇ、 ８ ｅめるイ
ｒｉＡＩＩｔ Ｔ・化合物を多量含ませることを考え友
。
電極で６つ九が、この電極よ〕もさらに耐電圧性を上げ
ること、及び大電流しゃ断能力と耐消耗性を附加する目
的として、各１高融点金属中ＫＡ ｇ、 ８ ｅめるイ
ｒｉＡＩＩｔ Ｔ・化合物を多量含ませることを考え友
。
表に示すように、Ｆｅ族元素及びＣｒ＃Ｗ＃Ｍｏ、’ｐ
ａあるいはこの縦化物などが上記高融点金属に該当する
。これらは粉末を用い、３０〜５０％の高い気孔′！ｓ
を有するように所定の温度で焼成し、実施例１と同じよ
うにして作られたＡｌｌ１８＠ ％ ＠るいはＡｇｔＴ
・化合物を上記焼成体中に溶浸させ寮、溶浸温度中溶浸
時閣などの条件は異なるが、いずれの焼成体に対しても
Ａｇ、８・。
ａあるいはこの縦化物などが上記高融点金属に該当する
。これらは粉末を用い、３０〜５０％の高い気孔′！ｓ
を有するように所定の温度で焼成し、実施例１と同じよ
うにして作られたＡｌｌ１８＠ ％ ＠るいはＡｇｔＴ
・化合物を上記焼成体中に溶浸させ寮、溶浸温度中溶浸
時閣などの条件は異なるが、いずれの焼成体に対しても
Ａｇ、８・。
ＡｇｔＴ・は良好に溶浸されえ。第２図に５０％の気孔
率のＣｏ焼成体中ＫＡｇ、８・を溶浸した電極のｌ１ｌ
Ｉ黴鏡組織を示す。白地の粒子がＣｏ、黒地がｋｇＨ８
＠ である。
率のＣｏ焼成体中ＫＡｇ、８・を溶浸した電極のｌ１ｌ
Ｉ黴鏡組織を示す。白地の粒子がＣｏ、黒地がｋｇＨ８
＠ である。
各樵溶浸材の基礎的な電気的性能を−ベる九めに、φ２
０閤の試験電極に加工し、真空排気セット中のホルダＫ
Ｌ ５ ｍｍギャップとなるように取付け、ａｏｏｃ
の脱ガス・ベーキングｔ−ＪＩＩＩした。この後、最大
６０ｋＶの高電圧を電極間に印加し電極表面のクリーニ
ングを行なった。
０閤の試験電極に加工し、真空排気セット中のホルダＫ
Ｌ ５ ｍｍギャップとなるように取付け、ａｏｏｃ
の脱ガス・ベーキングｔ−ＪＩＩＩした。この後、最大
６０ｋＶの高電圧を電極間に印加し電極表面のクリーニ
ングを行なった。
表
そして真空に排気しながら、さい断電流及びしゃ断性能
を測定した。さい断電流測定は約５０Ｈｚの１００Ｖ回
路でＩＯＡ以下の小電流をしゃ断した際に、最大のさい
断電流が発生するようＫｍ流を調節しておき、この小形
電流しゃ断時のさい断電流を１００８測定し最大値と平
均１ｔ［を求めるようＫした。しや鹸性能試験は約５０
Ｈｚで６０００〜７０００Ｖの高電圧をかけ、しゃ断電
流を約５０ＯＡステツプで増加させながらしゃ断し、こ
の時限界となるしゃ断電流を求めた。なお、評価方法と
しては従来材のＡｇ−７０ＷＣｌ焼結電極の限界しゃ断
電流を１００％とし、それに対する割合で示すようにし
た。表にこれらの試験結果を示し良。
を測定した。さい断電流測定は約５０Ｈｚの１００Ｖ回
路でＩＯＡ以下の小電流をしゃ断した際に、最大のさい
断電流が発生するようＫｍ流を調節しておき、この小形
電流しゃ断時のさい断電流を１００８測定し最大値と平
均１ｔ［を求めるようＫした。しや鹸性能試験は約５０
Ｈｚで６０００〜７０００Ｖの高電圧をかけ、しゃ断電
流を約５０ＯＡステツプで増加させながらしゃ断し、こ
の時限界となるしゃ断電流を求めた。なお、評価方法と
しては従来材のＡｇ−７０ＷＣｌ焼結電極の限界しゃ断
電流を１００％とし、それに対する割合で示すようにし
た。表にこれらの試験結果を示し良。
この表かられかるように高融点金属中［Ａｇ１８ｅやＡ
ｇ、’Ｉ’＠ ｔ−主成分とする化合物を溶浸させた材
料はいずれ奄同様ＩＩｃ使れ喪低サージ性があり、特に
、ｋｇ鵞８・、 ｋｇ＠Ｔ＠のみからなるものは優れ良
低サージ性と、大電流しゃ断性能がより向上するという
ことが一しされた。又、表ＩＩＣは示していないが、耐
電圧性能及び耐消耗特性が一段と向上し、実用的な電極
材となることがわかった。
ｇ、’Ｉ’＠ ｔ−主成分とする化合物を溶浸させた材
料はいずれ奄同様ＩＩｃ使れ喪低サージ性があり、特に
、ｋｇ鵞８・、 ｋｇ＠Ｔ＠のみからなるものは優れ良
低サージ性と、大電流しゃ断性能がより向上するという
ことが一しされた。又、表ＩＩＣは示していないが、耐
電圧性能及び耐消耗特性が一段と向上し、実用的な電極
材となることがわかった。
本発明によれば、さい断電流の最大値が１°ｒンペア台
の真空しゃ断ｉ用電極が得られ、絶縁性の・低い乾式ト
ランス等の負荷に対してもサージ保一対策が不賛な夛、
全面的サージアブソーバレス真空しゃ断器とすることが
できる。したがって真空しゃ断器が本来有している小型
・軽量性がムつそう増量ことにもなった。
の真空しゃ断ｉ用電極が得られ、絶縁性の・低い乾式ト
ランス等の負荷に対してもサージ保一対策が不賛な夛、
全面的サージアブソーバレス真空しゃ断器とすることが
できる。したがって真空しゃ断器が本来有している小型
・軽量性がムつそう増量ことにもなった。
第１脂は本発明に係る真空しゃ断蟲用真空バルブの一丙
を示す断面構造及び、第２図はｃｏ−５０Ａｇｔ８ｅ溶
浸合金電極断面の顕微鏡組織写真（倍率１２５）である
。 ｌ・・・筒状ケース、２．３・・・補助電極、４．５・
・・電極、６．７・・・端子板、８・・・排気管、９．
ｌＯ・・・ホ手続補正書（方式） 特許片長 官若杉和夫 殿 事件の表示 昭和５７年 特許願第４７４２３ 号発明の名称
真空しｆＷＲ器 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内−丁目５番１号名
杵（５１ｏ１株式会社 日 立 製 ｆ乍 所代表者
三 １）勝 茂 代 理 人 ｔ； 所 東京都千代田区丸の内−丁目５番１号補正
の対象 「図面」 補正の内容
を示す断面構造及び、第２図はｃｏ−５０Ａｇｔ８ｅ溶
浸合金電極断面の顕微鏡組織写真（倍率１２５）である
。 ｌ・・・筒状ケース、２．３・・・補助電極、４．５・
・・電極、６．７・・・端子板、８・・・排気管、９．
ｌＯ・・・ホ手続補正書（方式） 特許片長 官若杉和夫 殿 事件の表示 昭和５７年 特許願第４７４２３ 号発明の名称
真空しｆＷＲ器 補正をする者 事件との関係 特許出願人 住 所 東京都千代田区丸の内−丁目５番１号名
杵（５１ｏ１株式会社 日 立 製 ｆ乍 所代表者
三 １）勝 茂 代 理 人 ｔ； 所 東京都千代田区丸の内−丁目５番１号補正
の対象 「図面」 補正の内容
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、真空容儀と、その容器内に配置された１対の電極を
有する″ものにおいて、少なくとも一万の前記電極の少
なくともｒ−り発生部が、低融点金属とそれより融点の
高い金属との化合物を含む合金からなり、その化合物蓋
が前記融点の高い金ｌｌＩ４１１１１以上でるる部材で
構成されていること１−＊＊とする真空しゃ断器。 ２、特許請求の範囲第１項において、前記化合物に、銀
カルコケナイド嫁素を除く）である真空しゃ断器。 ３、特許請求の範囲第２項において、前記銀カルコゲナ
イドｔｔＡｇ、ｓｅ、Ａｇ＊Ｔｅでめり、これらの１ｓ
以上より構成される真空しゃ断Ｊ＃１．．′４、特許ｔ
ｙｔ求の範囲第１墳〜第３項のいずれかＶＣおいて、前
記部材は銅よりも高融点の金属又はそれらの炭化物を主
成分とするスケルトンの空隙中に前記合金が光てんされ
ている真空しゃ断器。 ＆ 特許請求の範囲＠ ４１Ｊ４において、前記スケル
トンはＦｅ、Ｎｉ、Ｃｏ、Ｃｒ、Ｔ１．Ｍｏａ Ｗ。 Ｔａの１種以上からなシ、その空ｌＩＫ前記銀カルコゲ
ナイドが充てんされている真空しゃ断器。
Priority Applications (6)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57047423A JPS58165225A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 真空しや断器 |
| AU11904/83A AU564598B2 (en) | 1982-03-26 | 1983-02-28 | Surge-absorberless vacuum circuit interrupter |
| EP83301587A EP0090579B1 (en) | 1982-03-26 | 1983-03-22 | Surge-absorberless vacuum circuit interrupter |
| DE8383301587T DE3377246D1 (de) | 1982-03-26 | 1983-03-22 | Surge-absorberless vacuum circuit interrupter |
| US06/478,306 US4551596A (en) | 1982-03-26 | 1983-03-24 | Surge-absorberless vacuum circuit interrupter |
| HU831029A HU188441B (en) | 1982-03-26 | 1983-03-25 | Vacuum chamber circuit breaker |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57047423A JPS58165225A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 真空しや断器 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58165225A true JPS58165225A (ja) | 1983-09-30 |
| JPS6359213B2 JPS6359213B2 (ja) | 1988-11-18 |
Family
ID=12774741
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57047423A Granted JPS58165225A (ja) | 1982-03-26 | 1982-03-26 | 真空しや断器 |
Country Status (6)
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