JPS58161764A - ホウ素の真空蒸着法 - Google Patents
ホウ素の真空蒸着法Info
- Publication number
- JPS58161764A JPS58161764A JP4243282A JP4243282A JPS58161764A JP S58161764 A JPS58161764 A JP S58161764A JP 4243282 A JP4243282 A JP 4243282A JP 4243282 A JP4243282 A JP 4243282A JP S58161764 A JPS58161764 A JP S58161764A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- boron
- vapor
- vapor deposition
- base plate
- plasma
- Prior art date
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- Pending
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/44—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating
- C23C16/50—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges
- C23C16/503—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the method of coating using electric discharges using dc or ac discharges
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C23—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
- C23C—COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL BY DIFFUSION INTO THE SURFACE, BY CHEMICAL CONVERSION OR SUBSTITUTION; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL
- C23C16/00—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes
- C23C16/22—Chemical coating by decomposition of gaseous compounds, without leaving reaction products of surface material in the coating, i.e. chemical vapour deposition [CVD] processes characterised by the deposition of inorganic material, other than metallic material
- C23C16/28—Deposition of only one other non-metal element
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は低い温度でBを蒸着する蒸着法に関するもので
ある。
ある。
従来Bの蒸着には、箔1図に示すような電子線蒸着法、
@2図に示すようなりB r@の高溢熱分解沫尋が用い
られている。
@2図に示すようなりB r@の高溢熱分解沫尋が用い
られている。
@1図においてlはるつぼ、2は蒸着母材となるべきB
の塊、8は電子銃、会は加速された電子線、6はBの蒸
気、6は基板、フは蒸着膜、8は真空客器である。この
図に示す方法は、真空**8の中で、るつはlに入れた
Bの塊8に対して、その近傍に設けた電子銃8によって
加IM11子線条を照射する。これでB#12は高温に
加熱され、蒸気6となって飛散し、基板60表面に蒸着
膜7となって堆積する。
の塊、8は電子銃、会は加速された電子線、6はBの蒸
気、6は基板、フは蒸着膜、8は真空客器である。この
図に示す方法は、真空**8の中で、るつはlに入れた
Bの塊8に対して、その近傍に設けた電子銃8によって
加IM11子線条を照射する。これでB#12は高温に
加熱され、蒸気6となって飛散し、基板60表面に蒸着
膜7となって堆積する。
ところで、Bは元秦蒸発しにくい物質であって実用上蒸
着膜形成に必1’な蒸気圧(/X1O−aTorr)を
得るにはt l 7 ooKにまで加熱しなければなら
ない。したがって、上記の方法においては、加熱に大電
力を要するほか、強熱された母材やるつぼからの輻射熱
によって基板や装置が悪影Wt−うけるなどの欠点があ
った。
着膜形成に必1’な蒸気圧(/X1O−aTorr)を
得るにはt l 7 ooKにまで加熱しなければなら
ない。したがって、上記の方法においては、加熱に大電
力を要するほか、強熱された母材やるつぼからの輻射熱
によって基板や装置が悪影Wt−うけるなどの欠点があ
った。
また、@J!!!!!において11は基板であるTa線
、1sはTi@を通電加熱するためのWL電源装置18
はノズル、14は真空v!I!#である。この方法にお
いては、まず真空容器14を充分排気した後、電源装置
12によってT a IMllに通醸し、T a紳表面
を/ ll00〜/6000にの温度に保つ。この状態
のところにノズル18を通じてH3とBB r@の混合
ガスを吹き込めば、Ta#1illの表面において、 なる反応が進行し、TI線液面にBが蒸着される。
、1sはTi@を通電加熱するためのWL電源装置18
はノズル、14は真空v!I!#である。この方法にお
いては、まず真空容器14を充分排気した後、電源装置
12によってT a IMllに通醸し、T a紳表面
を/ ll00〜/6000にの温度に保つ。この状態
のところにノズル18を通じてH3とBB r@の混合
ガスを吹き込めば、Ta#1illの表面において、 なる反応が進行し、TI線液面にBが蒸着される。
しかしながらこの方決は、基板全面をlダOO〜It0
00にという高温に保つ必−があるために広い面積に蒸
着することが困■で、量産にも適さないなどの欠点を有
している。
00にという高温に保つ必−があるために広い面積に蒸
着することが困■で、量産にも適さないなどの欠点を有
している。
本発明はこれらの欠点を#失するために、水素プラズマ
中にへpゲン化ホウ素ガスを吹き込んで、プラズマの反
応活性を利用して低温でBの蒸着を行なうことを特徴と
している。
中にへpゲン化ホウ素ガスを吹き込んで、プラズマの反
応活性を利用して低温でBの蒸着を行なうことを特徴と
している。
以下、本発明;を第3図に示す実施列に基づいて詳細に
説明する。第3図において111は真空容器、111は
H1導入用ノズル、118は^pゲン化ホウ素ガス導入
用ノズル、114は対向する二枚のlt!dp、115
はH雪の放電プラズマ、l16は基板、117はBの蒸
着膜である。
説明する。第3図において111は真空容器、111は
H1導入用ノズル、118は^pゲン化ホウ素ガス導入
用ノズル、114は対向する二枚のlt!dp、115
はH雪の放電プラズマ、l16は基板、117はBの蒸
着膜である。
この方法においては、まず真空容器111にノズル11
gを辿してH,を/TorrN/X10−’間に/g0
0VIM度の電圧を印加してHlの放電プラズマ11B
を形成する。この吠紗のところにノス4118を通して
ハpゲン化ホウ素ガスを導入すれば、水素プラズマ中の
H7リーラジカルとの間で次の反応が進行する。
gを辿してH,を/TorrN/X10−’間に/g0
0VIM度の電圧を印加してHlの放電プラズマ11B
を形成する。この吠紗のところにノス4118を通して
ハpゲン化ホウ素ガスを導入すれば、水素プラズマ中の
H7リーラジカルとの間で次の反応が進行する。
BX、+jH−−→B+3HX
この式でXはへロゲン元素を表現するものとする。
この反応で生じたBが基&116の上に堆積し、B蒸着
膜117が形成される。この蒸着法においては基板11
6rt加熱する会費はない。
膜117が形成される。この蒸着法においては基板11
6rt加熱する会費はない。
なお、H8圧力が/Torrの範囲を逸脱する場合には
、プラズマが安定に形成されないために蒸着が進行しな
い。
、プラズマが安定に形成されないために蒸着が進行しな
い。
以上説明したように、本発明は、低温でBの蒸着膜を形
成するものであるから、加熱m力の節約、輻射熱による
基板、装置への息影響の防止などの利点を有する。
成するものであるから、加熱m力の節約、輻射熱による
基板、装置への息影響の防止などの利点を有する。
187図は従来の電子@蒸着法の説明図、給2図は従来
の両温熱分解法の説明図、@3v!Jは本発明による蒸
着法の卿明図である。 111・・・・・・真空界器、11g・・・・・・H3
導入用ノズル、118・・・・・・ハロゲン化ホウ素ガ
ス導入用ノズル、114・・・・・・電極、116・・
・・・・水素プラス!、116・・・・・・基板、11
7・・・・・・Bの蒸着膜。 出細人 日本電信WlvJ公社 第1図 第2図 刺ト ↑
の両温熱分解法の説明図、@3v!Jは本発明による蒸
着法の卿明図である。 111・・・・・・真空界器、11g・・・・・・H3
導入用ノズル、118・・・・・・ハロゲン化ホウ素ガ
ス導入用ノズル、114・・・・・・電極、116・・
・・・・水素プラス!、116・・・・・・基板、11
7・・・・・・Bの蒸着膜。 出細人 日本電信WlvJ公社 第1図 第2図 刺ト ↑
Claims (1)
- l 真空容器にHlを/ Torr 〜/ X / 0
−4 Torr導入し、これ七電気的に励起して放電プ
ラズマを生ぜしめ、このプラズマ中にハロゲン化ホウ素
の蒸気を吹き込んでBを還元し、これを基板上に堆積せ
しめることを特徴とするホウ素の蒸着法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4243282A JPS58161764A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | ホウ素の真空蒸着法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP4243282A JPS58161764A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | ホウ素の真空蒸着法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS58161764A true JPS58161764A (ja) | 1983-09-26 |
Family
ID=12635900
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP4243282A Pending JPS58161764A (ja) | 1982-03-17 | 1982-03-17 | ホウ素の真空蒸着法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS58161764A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6144402A (ja) * | 1984-08-08 | 1986-03-04 | ティーディーケイ株式会社 | 耐摩耗層および電子部品 |
JPS6144401A (ja) * | 1984-08-08 | 1986-03-04 | ティーディーケイ株式会社 | 耐摩耗層および電子部品 |
CN103964454A (zh) * | 2014-05-20 | 2014-08-06 | 方治文 | 高纯硼-11的制备方法 |
CN108220922A (zh) * | 2016-12-15 | 2018-06-29 | 东京毅力科创株式会社 | 成膜方法、硼膜以及成膜装置 |
-
1982
- 1982-03-17 JP JP4243282A patent/JPS58161764A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS6144402A (ja) * | 1984-08-08 | 1986-03-04 | ティーディーケイ株式会社 | 耐摩耗層および電子部品 |
JPS6144401A (ja) * | 1984-08-08 | 1986-03-04 | ティーディーケイ株式会社 | 耐摩耗層および電子部品 |
CN103964454A (zh) * | 2014-05-20 | 2014-08-06 | 方治文 | 高纯硼-11的制备方法 |
CN108220922A (zh) * | 2016-12-15 | 2018-06-29 | 东京毅力科创株式会社 | 成膜方法、硼膜以及成膜装置 |
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