JPS58157886A - 螢光体薄膜の製造方法 - Google Patents

螢光体薄膜の製造方法

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JPS58157886A
JPS58157886A JP57042069A JP4206982A JPS58157886A JP S58157886 A JPS58157886 A JP S58157886A JP 57042069 A JP57042069 A JP 57042069A JP 4206982 A JP4206982 A JP 4206982A JP S58157886 A JPS58157886 A JP S58157886A
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JP
Japan
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thin film
zinc sulfide
active substance
sintered body
phosphor thin
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JP57042069A
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JPS6155237B2 (ja
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Takao Toda
任田 隆夫
Yosuke Fujita
洋介 藤田
Tomizo Matsuoka
富造 松岡
Koji Nitta
新田 恒治
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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  • Luminescent Compositions (AREA)
  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、エレクトロルミネセンス(EL)素子などに
用いられる螢光体薄膜の製造方法に関し、とりわけ硫化
亜鉛薄膜中での活性物質分布を均一化し、表面の凹凸の
少ない高品質の硫化亜鉛系螢光体薄膜の製造方法を提供
するものである。
従来、Mn 、Cu 、Ag 、 Tb 、 Sm 、
などの活性物質を含む硫化亜鉛螢光体薄膜は、これらの
活性物質を含む硫化亜鉛焼結体に電子ビームを照射し、
焼結体を電子ビーム加熱蒸発させる電子ビーム蒸着法や
、硫化亜鉛と活性物質を、それぞれ別の抵抗加熱るつぼ
に入れ、加熱蒸発させる抵抗加熱2源蒸着法が用いられ
ていた。
しかし、電子ビーム蒸着法においては、硫化亜鉛と活性
物質との蒸気圧の差により、焼結体中の活性物質濃度と
形成した薄膜の活性物質濃度が同一でなく、また活性物
質濃度の再現性に乏しかつたっさらに、硫化亜鉛は実質
的に絶縁性であるため、電子ビームを照射すると帯電す
る。そのため、焼結体表面に析出した活性物質たとえば
硫化マンガンなどの硫化亜鉛よりも蒸気圧の低い活性物
質が静電的に反発飛散し、薄膜中に混入して、ピンホー
ルを生じたり、凹凸を生じたりするという欠点があった
また、抵抗加熱2源蒸着法においては、蒸発源の温度を
正確に制御することにより、活性物質濃度分布および膜
質が均一な薄膜を形成することができるという利点があ
るが、ホトルミネセンスの測定や、EL発光強度の測定
から、このような方法で形成した螢光体薄膜の発光効率
が低いということが判明した。
本発明はこれらの欠点を解決した硫化亜鉛系螢光体薄膜
の製造方法を提供するものであり、本発明によれば、発
光効率、輝度が高く、表面の凹凸がきわめて少ない均質
な硫化亜鉛系螢光体薄膜を得ることができる。つまり、
活性物質を含まない硫化亜鉛系焼結体を電子ビーム蒸発
させ、同時に活性物質を抵抗加熱法またはイオンビーム
スパッタ法により蒸発させ、基板上に活性物質を含む硫
化亜鉛系薄膜を付着させることにより、優れた特性の硫
化亜鉛系螢光体薄膜を形成するものである。
活性物質の蒸着法としては、抵抗加熱法またはイオンビ
ームスパッタ法のどちらでもよいが、活性物質濃度が0
.6モルチ以下の場合には、後者の方法の方が再現性よ
く螢光体薄膜を形成することができた。
本発明の方法によれば、従来の抵抗加熱2源蒸着法より
20〜100%発光効率の高い螢光体薄膜を形成するこ
とができた。その理由については十分に解明されていな
いが、電子ビーム蒸着法では、蒸発分子または原子の一
部分がイオン化しているため、結晶性のよい硫化亜鉛系
薄膜が形成され、発光効率が高くなったものと考えられ
る。
活性物質としては、Mn 、Cu 、Ag 、AI 、
Tb 。
Dy、Et、Px、Sm、Ho、Tm、これらの酸化物
、またはこれらのハロゲン化物の内、少なくとも1種類
以上を用いることにより、本発明の目的を達成すること
ができた。
また、電子ビーム加熱蒸発させる硫化亜鉛系焼結体とし
ては、ZnS、(Zn、Cd)S、Zn(Se、S)。
または(Zn、Cd)(Se、S)  の焼結体を用イ
テ、本発明の目的を達成することができた。
以下、本発明を一実施例により詳細に説明する。
まず高純度の硫化亜鉛粉末をryooKy/cni の
圧力で適当大きさのペレットに成形し、その成形体を硫
化亜鉛粉末でマツフルし、アルゴンガス中において13
00℃の温度で2時間焼成し、硫化亜鉛焼結体を作製し
た。次に、この焼結体とマンガンを第1図に示すような
、抵抗加熱蒸着と、電子ビーム加熱蒸着が同時に行える
蒸着装置にセットした。
このとき、硫化亜鉛焼結体を電子銃1の試料台2に置き
、マンガンを抵抗加熱るつぼ6に入れた。
これらの蒸発源と基板8の距離を25Cmとし、基板8
を背面の基板加熱ヒータ9により220℃に加熱した。
硫化亜鉛は毎分0.137r??Lの成長速度にし、抵
抗加熱るつは6の温度を905℃に保ち、シャッター7
を3分間開けることにより、約0.4μmの厚さの約0
.6モルチのマンガンを含む硫化亜鉛螢光体膜を形成し
た。
この状態でも紫外線(365ttrm )照射により明
るく発光したが、さらに真空中で500℃、2時間の熱
処理を施すことにより、発光輝度を向上させることがで
きた。また、第2図に示すような構造のEL素子を、本
発明の方法により形成した螢光体薄膜を用いて構成した
ところ、きわめて安定に、高輝度で発光することが判明
した。なお、図において、11はガラス基板、12は透
明電極、13は螢光体薄膜、14は誘電体薄膜、15は
アルミニウム電極である。
次に、第3図を用いて本発明の他の実施例を説明する。
市販の硫化亜鉛ベレットを電子銃21の試料台22に置
き、活性物質として用いるTbF3の焼結体26は、イ
オン源27からのイオンビーム28が照射される位置に
置いた。イオン源2γにアルゴンを導入し圧力を2X1
0  Tort とし、1Kvの加速電圧で、10mA
のアルゴンイオンをTbF3焼結体26に照射し、同時
に毎分013ltmの成長速度で硫化亜鉛を電子ビーム
蒸着し、基板3o上に、TbF3付活硫化亜鉛螢光体膜
を形成した。このように形成した螢光体膜は、TbF3
添加硫化亜鉛焼結体を電子ビーム蒸着することにより得
られるTbF3付活硫化亜鉛螢光体膜と比較型 して、ピンホールや、微÷付着物がきわめて少なく、均
質で高品質であった。
この方法では、アルゴンイオン電流や加速電圧を制御す
ることにより、活性物質濃度を4桁にわたる広い範囲で
再現性よく変化させることができた。
また、第2図に示されているような構造のEL素子の螢
光体層を、本発明の方法により作製し、EL素子の特性
を調べたところ、明るい緑色で、長時間にわたり安定に
発光することが判明した。
以上のように、本発明の螢光体薄膜の製造方法によれば
、ピンホールや凹凸、微小付着物がきわめて少なく、発
光効率の高い螢光体薄膜が再現性よく形成できる。した
がって、本発明の方法による螢光体薄膜をEL素子など
に応用した場合、発光効率や安定性の優れた素子を形成
することができ、きわめて実用価値の大きいものとなる
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の方法の一実施例を説明するための蒸着
装置の構成図、第2図はこの方法により形成されたEL
素子の一例を示す断面図、第3図は同じく他の実施例を
説明するための蒸着装置の構成図である。 1.21・・・・・・電子銃、2,22・・・・・・試
料台、3゜23・・・・・・フィラメント、4.24・
・・・・・を子ビーム、5.26・・・・・・付着防御
壁、6・・・・・・抵抗加熱るつぼ、7.29・・・・
・・シャッター、8.30・・・・・・J[,9t31
°°・・・基板加熱ヒータ、11・・・・・・ガラス基
板、12・・・・・・透明電極、13・・・・・・螢光
体薄膜、14・・・・・誘電体膜、16・・・・・・ア
ルミニウム電極、26・・・・・・TbF3焼結体、2
7・・・・・・イオン源、28・・・・・イオンビーム
。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名第1
図 第2図 5 I3all

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)活性物質を含まない硫化亜鉛系焼結体に電子ピヘ
    ムを照射し、前記硫化亜鉛系焼結体を電子ビーム加熱蒸
    発させると同時に、活性物質を蒸発させ、基板上に前記
    活性物質を含む硫化亜鉛系薄膜を形成することを特徴と
    する螢光体薄膜の製造方法。
  2. (2)活性物質の蒸発にイオンビーム照射によるスパッ
    タ蒸発法または抵抗加熱法を使用することを特徴とする
    特許請求の範囲第1項に記載の螢光体薄膜の製造方法。
  3. (3)活性物質がMn、Cu 、Ag、AI 、Tb、
    Dy、Er 。 P r 、 Sm 、Ho 、 Tm 、これらの酸化
    物、またはこれらのハロゲン化物のうち、少なくとも1
    種類以上であることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    または第2項に記載の螢光体薄膜の製造方法。
  4. (4)硫化亜鉛系焼結体が、ZnS 、 (Zn 、C
    d )S 。 Zn(Se、S)、または(Zn、Cd)(Se、S)
      からなることを特徴とする特許請求の範囲第1項ま
    たは第2項に記載の螢光体薄膜の製造方法。
JP57042069A 1982-03-16 1982-03-16 螢光体薄膜の製造方法 Granted JPS58157886A (ja)

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