JPS58144742A - 丸材の超音波探傷方法およびその装置 - Google Patents
丸材の超音波探傷方法およびその装置Info
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- JPS58144742A JPS58144742A JP57027868A JP2786882A JPS58144742A JP S58144742 A JPS58144742 A JP S58144742A JP 57027868 A JP57027868 A JP 57027868A JP 2786882 A JP2786882 A JP 2786882A JP S58144742 A JPS58144742 A JP S58144742A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は丸棒鋼等の丸材の全断面について全て超音波探
傷により行う超音波探傷方法およびその装置に関する。
傷により行う超音波探傷方法およびその装置に関する。
従来、丸棒の非破壊検査としては、定尺に切り揃えらｎ
た丸棒に対して、表面欠陥は渦流探傷法、漏洩磁束探傷
あるいは磁粉探傷法によって、他坊内部欠陥は垂直式の
超音波探傷法によってそｎぞｎ検出するのが一般的であ
った。
た丸棒に対して、表面欠陥は渦流探傷法、漏洩磁束探傷
あるいは磁粉探傷法によって、他坊内部欠陥は垂直式の
超音波探傷法によってそｎぞｎ検出するのが一般的であ
った。
ところで、近年棒鋼の加工技術の進歩に伴ない素材に対
しての品質要求も高まり棒鋼の表皮下を含めた全断面に
ついての品質保証が必要となっている。ところが、表皮
下欠陥は前述の表面欠陥検出用の渦流探傷、漏洩磁束探
傷または磁粉探傷では検出できないのみならず、内部欠
陥検出用の垂直超音波探傷法を用いたとしても、欠陥エ
コーが表面エコーまたは底面エコーと重って結局区別す
ることができず、少くとも表面から３ｕ以内の領域での
欠陥は探傷することができない。
しての品質要求も高まり棒鋼の表皮下を含めた全断面に
ついての品質保証が必要となっている。ところが、表皮
下欠陥は前述の表面欠陥検出用の渦流探傷、漏洩磁束探
傷または磁粉探傷では検出できないのみならず、内部欠
陥検出用の垂直超音波探傷法を用いたとしても、欠陥エ
コーが表面エコーまたは底面エコーと重って結局区別す
ることができず、少くとも表面から３ｕ以内の領域での
欠陥は探傷することができない。
すなわち、第１図のように、表面においては表面下Ｘｌ
！う３朋以内欠陥があってもそのエコーが表面エコーと
重なり、また底面においては表面下Ｘｚ ’−ｉｌ ｍ
ｔｔ以内に欠陥があってもそのエコーが底面エコーと分
解できず、結局垂直探触子Ｓｌ、Ｓ２を２個設けた場合
、同図ハツチングで示すゾーン以外は未探傷範囲となる
。またたとえ、探触子の数を増しても表面欠陥は検出で
きない。さらに被検査材は直進送りさ扛、探触子は固定
とさｎるため、前記の未探傷範囲はそのまま長さ方向に
続くことになり、事は重大である。
！う３朋以内欠陥があってもそのエコーが表面エコーと
重なり、また底面においては表面下Ｘｚ ’−ｉｌ ｍ
ｔｔ以内に欠陥があってもそのエコーが底面エコーと分
解できず、結局垂直探触子Ｓｌ、Ｓ２を２個設けた場合
、同図ハツチングで示すゾーン以外は未探傷範囲となる
。またたとえ、探触子の数を増しても表面欠陥は検出で
きない。さらに被検査材は直進送りさ扛、探触子は固定
とさｎるため、前記の未探傷範囲はそのまま長さ方向に
続くことになり、事は重大である。
また、周部に未探傷範囲を残すものの、いずｎにしても
内部欠陥は垂直式の超音波探傷に頼らざるを得ないが、
表面欠陥を探傷するために、こｎと別種の探傷原理に基
く探傷装置たとえば漏洩磁束探傷装置を配列するとすｎ
ば、装置的に経済的でないばかりでなく、設置スペース
や検査速度あるいは得ら扛る各欠陥信号相互の弁別用に
高度な演算装置を要する等の点でもきわめて不利である
０ 本発明は前記従来の問題点に対処するために提案さ扛た
もので、その目的は内部欠陥は従来と同様に垂直探触子
によって検出し、そｎ以外の欠陥を斜角探触子により検
出し、その際斜角探触子により表面および表皮下欠陥を
併せて検出し、必要によりそｎらを弁別し、もって丸材
をスパイラル送りしながらその丸材の全断面を全て超音
波探傷により検出できる探傷方法を提供することにある
。
内部欠陥は垂直式の超音波探傷に頼らざるを得ないが、
表面欠陥を探傷するために、こｎと別種の探傷原理に基
く探傷装置たとえば漏洩磁束探傷装置を配列するとすｎ
ば、装置的に経済的でないばかりでなく、設置スペース
や検査速度あるいは得ら扛る各欠陥信号相互の弁別用に
高度な演算装置を要する等の点でもきわめて不利である
０ 本発明は前記従来の問題点に対処するために提案さ扛た
もので、その目的は内部欠陥は従来と同様に垂直探触子
によって検出し、そｎ以外の欠陥を斜角探触子により検
出し、その際斜角探触子により表面および表皮下欠陥を
併せて検出し、必要によりそｎらを弁別し、もって丸材
をスパイラル送りしながらその丸材の全断面を全て超音
波探傷により検出できる探傷方法を提供することにある
。
他の目的は、前記探傷方法に適切であるとともに、操作
性の点で垂直探触子および斜角探触子を一体的に設け、
また丸材の径の変動に対してそ扛らを一体的に位置調整
可能とした探傷装置を提供することにある。
性の点で垂直探触子および斜角探触子を一体的に設け、
また丸材の径の変動に対してそ扛らを一体的に位置調整
可能とした探傷装置を提供することにある。
以下本発明を第２図以降に示す具体例によって説明する
。第２図は検査処理ラインの全体を送ライン３へ供給す
る。スパイラル搬送ライン３は、たとえば８対のピンチ
ローラ群３ａにより丸棒Ｒの曲りおよび振扛を抑えなが
ら送りローラ（図示せず）により丸棒Ｒ’に同図右方ｉ
−ら左方へ向けてスパイラル送りする０その送りピッチ
は欠陥長さのあられｎ方等により適宜決定さｎる。４は
ワイヤブラシ等からなるスケール除去装置で、たとえば
鋼管を対象とする場合にはスケールがタイトに付着して
いるが、本発明が対象とする丸棒にあってはスケールが
浮いた状態にあり続く超音波探傷装置５の探傷に当つ“
て有害なので、浮いたスケールを予め除去しておく。次
に棒鋼Ｒは部分水浸式の超音波探傷装置５に導かわる。
。第２図は検査処理ラインの全体を送ライン３へ供給す
る。スパイラル搬送ライン３は、たとえば８対のピンチ
ローラ群３ａにより丸棒Ｒの曲りおよび振扛を抑えなが
ら送りローラ（図示せず）により丸棒Ｒ’に同図右方ｉ
−ら左方へ向けてスパイラル送りする０その送りピッチ
は欠陥長さのあられｎ方等により適宜決定さｎる。４は
ワイヤブラシ等からなるスケール除去装置で、たとえば
鋼管を対象とする場合にはスケールがタイトに付着して
いるが、本発明が対象とする丸棒にあってはスケールが
浮いた状態にあり続く超音波探傷装置５の探傷に当つ“
て有害なので、浮いたスケールを予め除去しておく。次
に棒鋼Ｒは部分水浸式の超音波探傷装置５に導かわる。
６は探傷装置５の水槽に対する給水装置であるＯ探傷装
置５の近傍にはノ＜ルスジェネレータ等からなる搬送速
度検出器７カ；設けらｎている０８は欠陥および欠陥の
種′Ａ１１を表示するためのマーカーである０探傷およ
び処理終了後の丸棒Ｒは、キックアウト装置９によシ搬
送ライン３から直進送りライン３′に移載さ′ｎた後、
仕分は装置１７の作動部１７ａにより、不良品について
は不良品クレードル１０に、良品については良品搬出装
置１１へ仕分けらｎる０ 次いで、探触子の配設態様および得らｎた欠陥信号の処
理法を詳述す扛ば、本発明例では、垂直探触子２０．２
０’と共に入射角ｉをもって斜角探触子３０．３０″が
丸棒Ｒに対して対向的に配改たする。探傷装置本体５０
に設けたこｎらの探触子２０．２０″および３０．３０
’からの信号は、各々別チャンネルをもって検波回路１
２に与えらｎる。なお、第２図において垂直探触子２０
．２０’からの信号処理は同様であるので一括シて図示
しである。その後検波回路１２からの信号は、ゲート回
路１３において信号に対して探傷ゲートがかけらｎｌさ
らに欠陥であるか否かを判定する疵信号比較回路１４を
通さｎ１続いて垂直探触子２０ 、２０ ’に基く中心
部欠陥信号はそのまま遅延回路１５に与えらｎるのに対
して、斜角探触子３０．３０’に基く表面および表皮下
欠陥信°号は、そのままでは得らｔ″Ｌ７ＩＣ欠陥信号
が表面であるかそｔとも表皮下であるか不明であるため
、後に詳述する弁別法に基く欠陥弁別回路１６を介して
遅延回路１５へ与えら扛る。
置５の近傍にはノ＜ルスジェネレータ等からなる搬送速
度検出器７カ；設けらｎている０８は欠陥および欠陥の
種′Ａ１１を表示するためのマーカーである０探傷およ
び処理終了後の丸棒Ｒは、キックアウト装置９によシ搬
送ライン３から直進送りライン３′に移載さ′ｎた後、
仕分は装置１７の作動部１７ａにより、不良品について
は不良品クレードル１０に、良品については良品搬出装
置１１へ仕分けらｎる０ 次いで、探触子の配設態様および得らｎた欠陥信号の処
理法を詳述す扛ば、本発明例では、垂直探触子２０．２
０’と共に入射角ｉをもって斜角探触子３０．３０″が
丸棒Ｒに対して対向的に配改たする。探傷装置本体５０
に設けたこｎらの探触子２０．２０″および３０．３０
’からの信号は、各々別チャンネルをもって検波回路１
２に与えらｎる。なお、第２図において垂直探触子２０
．２０’からの信号処理は同様であるので一括シて図示
しである。その後検波回路１２からの信号は、ゲート回
路１３において信号に対して探傷ゲートがかけらｎｌさ
らに欠陥であるか否かを判定する疵信号比較回路１４を
通さｎ１続いて垂直探触子２０ 、２０ ’に基く中心
部欠陥信号はそのまま遅延回路１５に与えらｎるのに対
して、斜角探触子３０．３０’に基く表面および表皮下
欠陥信°号は、そのままでは得らｔ″Ｌ７ＩＣ欠陥信号
が表面であるかそｔとも表皮下であるか不明であるため
、後に詳述する弁別法に基く欠陥弁別回路１６を介して
遅延回路１５へ与えら扛る。
遅延回路１５では、搬送速度検出器７からの丸棒搬送速
度信号を受けて、探触子配置位置とマーカー８との間の
距離に対応した時間分の遅延時間をもって、探傷した欠
陥がマーカー８の位置に到達した時点で、マーカー８に
対して塗料等の吹付動作信号を出力する。この場合、マ
ーカー８は、無欠陥であｎば塗布を行わないが、欠陥の
ある場合には、その欠陥が中心部であるか、表皮下であ
るかそｎとも表面であるかを塗料の色を分けながら塗布
を行う０遅延回路１５を通った信号は、仕分は装置１７
に与えらｎ、良品と不良品との仕分けに供さ扛る。不良
品のうち表面欠陥品については、手入ｎ工程（図示せず
）に移さ扛、手入ｎ後良品としての取扱が行なわ【るが
、表皮下欠陥および内部（中心部）欠陥品はそのまま廃
棄さｎるかグレードダウン品として扱わｎる。
度信号を受けて、探触子配置位置とマーカー８との間の
距離に対応した時間分の遅延時間をもって、探傷した欠
陥がマーカー８の位置に到達した時点で、マーカー８に
対して塗料等の吹付動作信号を出力する。この場合、マ
ーカー８は、無欠陥であｎば塗布を行わないが、欠陥の
ある場合には、その欠陥が中心部であるか、表皮下であ
るかそｎとも表面であるかを塗料の色を分けながら塗布
を行う０遅延回路１５を通った信号は、仕分は装置１７
に与えらｎ、良品と不良品との仕分けに供さ扛る。不良
品のうち表面欠陥品については、手入ｎ工程（図示せず
）に移さ扛、手入ｎ後良品としての取扱が行なわ【るが
、表皮下欠陥および内部（中心部）欠陥品はそのまま廃
棄さｎるかグレードダウン品として扱わｎる。
ここでもし、次述する方式により、表面欠陥と表皮下欠
陥とを明確に弁別せず、−律に内部欠陥品ではないが欠
陥有りとする場合、表面欠陥であろうとする材料につい
て手入ｎ後、再び探傷を行い、もし欠陥が検出さ扛ない
ならば、そｎは表面欠陥であったとの判断の下に、良品
扱いを−、することもできる。
陥とを明確に弁別せず、−律に内部欠陥品ではないが欠
陥有りとする場合、表面欠陥であろうとする材料につい
て手入ｎ後、再び探傷を行い、もし欠陥が検出さ扛ない
ならば、そｎは表面欠陥であったとの判断の下に、良品
扱いを−、することもできる。
しかし、次述の弁別によって表面および表皮下欠陥を弁
別する方が、精度および検査手間の点で望ましい。すな
わち、斜角探触子３０または３０′から得らｎる表面お
よび表皮下欠陥については、本発明者の知見によｎば、
そｎらの間で第４図および第６図のように欠陥の表わｎ
方が異なる。すなわち、表面欠陥は第４図のように、あ
る欠陥が丸棒のスパイラル送りに伴って第５図のように
刻々位置を変えたとき、ｄ位置での表面欠陥が第１表面
エコーと区別できない形で表わｎ、その後ａ、ｂｅ“Ｃ
位置での表面欠陥がかなり大きなピークを示して表わｎ
る〇この場合、位置ａ、ｅの欠陥のピークはあられｎず
、その代りｂ位置での欠陥信号が高いピークをもってあ
られｎる。最後に第２表面エコーがあられｎる０かくし
て表面欠陥については、基本的には１つのピークをもっ
てあられ扛る。
別する方が、精度および検査手間の点で望ましい。すな
わち、斜角探触子３０または３０′から得らｎる表面お
よび表皮下欠陥については、本発明者の知見によｎば、
そｎらの間で第４図および第６図のように欠陥の表わｎ
方が異なる。すなわち、表面欠陥は第４図のように、あ
る欠陥が丸棒のスパイラル送りに伴って第５図のように
刻々位置を変えたとき、ｄ位置での表面欠陥が第１表面
エコーと区別できない形で表わｎ、その後ａ、ｂｅ“Ｃ
位置での表面欠陥がかなり大きなピークを示して表わｎ
る〇この場合、位置ａ、ｅの欠陥のピークはあられｎず
、その代りｂ位置での欠陥信号が高いピークをもってあ
られｎる。最後に第２表面エコーがあられｎる０かくし
て表面欠陥については、基本的には１つのピークをもっ
てあられ扛る。
こｎに対して、表皮下欠陥は、第６図のように、ｄ位置
での表皮下欠陥が第１表面エコーと重っであるいはその
後近傍において比較的高いピークをもってまずあられ扛
、その後ａ位置での表面欠陥が中程度のピークをもって
あられｔた後、ｂ位置で高いピークがあられ３％ Ｃ位
置ではピークを示すことなくエコーが終り、最後に第２
表面エコーがあられｎる０すなわち、表皮下欠陥では基
本的に２つのエコーピークがあられ汎る。
での表皮下欠陥が第１表面エコーと重っであるいはその
後近傍において比較的高いピークをもってまずあられ扛
、その後ａ位置での表面欠陥が中程度のピークをもって
あられｔた後、ｂ位置で高いピークがあられ３％ Ｃ位
置ではピークを示すことなくエコーが終り、最後に第２
表面エコーがあられｎる０すなわち、表皮下欠陥では基
本的に２つのエコーピークがあられ汎る。
このよ゛うに、表面欠陥と表皮下欠陥との間であられｎ
るエコー波形が明確に異なる。そこで、位置ａとｂとの
間で探傷ゲートを分割して探傷ゲー） Ｇ＋ 、 Ｇ２
を設けておく。また欠陥判定ニレペルＬｉ設定しておく
ｏそして両欠陥の弁別に当っては、ゲートＧ２のみにお
いてレベル５以上の欠陥があられｎたとき、表面欠陥で
あり、 ゛ゲートＧｌおよびゲートＧ２の両者にお
いてレベル５以上の欠陥があられｎたとき、表皮下欠陥
であると弁別判断する。
るエコー波形が明確に異なる。そこで、位置ａとｂとの
間で探傷ゲートを分割して探傷ゲー） Ｇ＋ 、 Ｇ２
を設けておく。また欠陥判定ニレペルＬｉ設定しておく
ｏそして両欠陥の弁別に当っては、ゲートＧ２のみにお
いてレベル５以上の欠陥があられｎたとき、表面欠陥で
あり、 ゛ゲートＧｌおよびゲートＧ２の両者にお
いてレベル５以上の欠陥があられｎたとき、表皮下欠陥
であると弁別判断する。
ここでゲートとレベルとの組合せを用いたのは、信号処
理が容易であるためであるが、高度な計算機を用いて波
形解析の上、弁別するようにしてもよい。また表皮下欠
陥検出に当って、ｂ位置でのピークはａ位置でのピーク
より常に高くなるので、ｂ位置についての判定レベルに
ついては高くしておいてもよい。
理が容易であるためであるが、高度な計算機を用いて波
形解析の上、弁別するようにしてもよい。また表皮下欠
陥検出に当って、ｂ位置でのピークはａ位置でのピーク
より常に高くなるので、ｂ位置についての判定レベルに
ついては高くしておいてもよい。
ところで、探傷に当って注意すべきことは、入射角ｉま
たは屈折角ｒの取り方である。丸鋼材を対象とする場合
、丸棒のサイズおよび欠陥の方向性などの点から屈折角
は４０°〜７ ｏｏ、特に４０〜６０°が望ましい。入
射角ｉは１７゜〜２６°が好適範囲である。図示の例で
は入射角を１９°、屈折角を４５°としている。また疵
にも方向性があるので、少くとも斜角探触子は２個入射
位置を変えて配設すべきである。勿論、経済性が許す範
囲で多い方がよい。垂直および斜角のいずｎの探傷の場
合もゲート位置および高さは、当然あられｎるべきエコ
ーと区別できるようそｎらの間に適切に設定する必要が
ある。
たは屈折角ｒの取り方である。丸鋼材を対象とする場合
、丸棒のサイズおよび欠陥の方向性などの点から屈折角
は４０°〜７ ｏｏ、特に４０〜６０°が望ましい。入
射角ｉは１７゜〜２６°が好適範囲である。図示の例で
は入射角を１９°、屈折角を４５°としている。また疵
にも方向性があるので、少くとも斜角探触子は２個入射
位置を変えて配設すべきである。勿論、経済性が許す範
囲で多い方がよい。垂直および斜角のいずｎの探傷の場
合もゲート位置および高さは、当然あられｎるべきエコ
ーと区別できるようそｎらの間に適切に設定する必要が
ある。
斜角探傷の場合、本来はｂ位置までに探傷ゲートをかけ
ｎばよいのであるが、たとえピンチローラ３ａによって
材料の曲りおよび振ｎを抑えテイルといっても、ある程
度は生じるので、屈折角が４５°の場合、第５図および
第７図のＣ位置まで余裕をもって検出できるよう、丸棒
Ｒの径の１．６〜１．７倍程度まで広げておくのが望ま
しい。屈折角を変えることができることは前述の通りで
あるが、屈折角を変える場合、欠陥信号の最大位置が変
るので、そ扛に見合うよう探傷ゲート位置および長さを
変える。
ｎばよいのであるが、たとえピンチローラ３ａによって
材料の曲りおよび振ｎを抑えテイルといっても、ある程
度は生じるので、屈折角が４５°の場合、第５図および
第７図のＣ位置まで余裕をもって検出できるよう、丸棒
Ｒの径の１．６〜１．７倍程度まで広げておくのが望ま
しい。屈折角を変えることができることは前述の通りで
あるが、屈折角を変える場合、欠陥信号の最大位置が変
るので、そ扛に見合うよう探傷ゲート位置および長さを
変える。
一方、この種の探傷設備では多種の材料径の丸棒を扱う
。したがって、探触子の位置を固定にしておくと、探触
子からの超音波入射点および方向が変るばかりでなく、
探触子と丸棒表面の入射点までの距離が変ってしまうの
で探傷が不能または不正確となる。そこで、第８図のよ
うな探傷装置本体５０の構成としておくのが望ましい。
。したがって、探触子の位置を固定にしておくと、探触
子からの超音波入射点および方向が変るばかりでなく、
探触子と丸棒表面の入射点までの距離が変ってしまうの
で探傷が不能または不正確となる。そこで、第８図のよ
うな探傷装置本体５０の構成としておくのが望ましい。
すなわち、この本体５ｏは、吊持部５１と、搬送ライン
３に対して水平に横断するガイド筒５２と、その両側に
おいて竪向きの目盛の付さｎた支持棒５３，５３’と、
左右調整ハンドル５４の操作により支持棒５３．５３’
を相互に接近および離反させるガイド筒５２に螺入さｎ
た左右調整ロッド５５と、支持棒５３．５３’の下部に
そｎぞｎ固定さ扛たホルダー５６．５６″にそｎぞ扛取
付けらｎた探触子２０．３０および２０′。
３に対して水平に横断するガイド筒５２と、その両側に
おいて竪向きの目盛の付さｎた支持棒５３，５３’と、
左右調整ハンドル５４の操作により支持棒５３．５３’
を相互に接近および離反させるガイド筒５２に螺入さｎ
た左右調整ロッド５５と、支持棒５３．５３’の下部に
そｎぞｎ固定さ扛たホルダー５６．５６″にそｎぞ扛取
付けらｎた探触子２０．３０および２０′。
３０′とを備えている。５７．５７″は上下調整用ハン
ドルである。５８は丸棒に跨がる鞍である０ いま、丸棒の径がＲ１からＲ２に変った場合、上下調整
用ハンドル５７を上下させるとともに、垂直探触子２０
についてのチャンネルに関し、ブラウン管に観察さする
丸棒表面から反射さｎる表面エコーの高さが最大高さと
なる位置を求めそこに位置を設定する。同図左側の探触
子についても同様の操作を行う。次に表面エコーと送信
パルスとの距離をブラウン管の横軸で観察しながら水距
離となるように左右調整ハンドル５４を操作する。ここ
で、水距離は使用探触子のビームの焦点距離によって決
定さｎる。
ドルである。５８は丸棒に跨がる鞍である０ いま、丸棒の径がＲ１からＲ２に変った場合、上下調整
用ハンドル５７を上下させるとともに、垂直探触子２０
についてのチャンネルに関し、ブラウン管に観察さする
丸棒表面から反射さｎる表面エコーの高さが最大高さと
なる位置を求めそこに位置を設定する。同図左側の探触
子についても同様の操作を行う。次に表面エコーと送信
パルスとの距離をブラウン管の横軸で観察しながら水距
離となるように左右調整ハンドル５４を操作する。ここ
で、水距離は使用探触子のビームの焦点距離によって決
定さｎる。
かくして、探触子２０．２０’と３０．３０’とは、予
め所定の入射角ｉをもってホルダー５６．５６’に固定
さ扛ているので、測探触子の位置設定が同時に行なわル
ることになる。もし垂直探触子と斜角探触子とをそｎぞ
ｎ別個に丸棒の径が変わるとと（たとえば２ｏｍｍφ〜
１００龍φの変動）に位置設定の変更を行うとしたら著
しく類型である。この点で、本発明に係る装置では操作
および調整作業がきわめて簡易となる。
め所定の入射角ｉをもってホルダー５６．５６’に固定
さ扛ているので、測探触子の位置設定が同時に行なわル
ることになる。もし垂直探触子と斜角探触子とをそｎぞ
ｎ別個に丸棒の径が変わるとと（たとえば２ｏｍｍφ〜
１００龍φの変動）に位置設定の変更を行うとしたら著
しく類型である。この点で、本発明に係る装置では操作
および調整作業がきわめて簡易となる。
なお、上記例では部分水浸方式について述べたが、全水
浸方式でもよいし、さらに水浸方式でなくともよい。ま
た斜角探触子は方向性の点で複数配設する必要があるが
、垂直探触子は１個でも可能である。
浸方式でもよいし、さらに水浸方式でなくともよい。ま
た斜角探触子は方向性の点で複数配設する必要があるが
、垂直探触子は１個でも可能である。
以上の通り、本発明法は、従来の内部欠陥は垂直探触子
、表面欠陥は漏洩磁束探傷などの別種の探傷機により探
傷していたのに対して、全ての欠陥を超音波探傷により
探傷するものであるから、経済性、設備費、設置スペー
ス等の点で著しく改善できる。また丸材をスパイラル送
りしているので、全断面の探傷が可能である。
、表面欠陥は漏洩磁束探傷などの別種の探傷機により探
傷していたのに対して、全ての欠陥を超音波探傷により
探傷するものであるから、経済性、設備費、設置スペー
ス等の点で著しく改善できる。また丸材をスパイラル送
りしているので、全断面の探傷が可能である。
特に丸材に対して斜角探触子を配設し、表面欠陥のみな
らず素材の連鋳化に伴い発生度合が高くなっている表皮
下欠陥をも探傷するから、製品の保証上きわめて有用で
ある。
らず素材の連鋳化に伴い発生度合が高くなっている表皮
下欠陥をも探傷するから、製品の保証上きわめて有用で
ある。
また本発明装置は、垂直探触子と斜角探触子とを一体化
させかつ調整に当って一体的に調整自在としたので、丸
材の径の変更に伴う調整作業が著しく簡易となる。
させかつ調整に当って一体的に調整自在としたので、丸
材の径の変更に伴う調整作業が著しく簡易となる。
第１図は従来の垂直超音波探傷における探傷範囲をエコ
ー波形と共に示した説明図、第２図は本発明に係る探傷
設備の概要図、第３図は探触子配置関係を示す概要図、
第４図は表面欠陥波形図、第５図は斜角探触子と表面欠
陥位置との相関を示す概要図、第６図は表皮上欠陥波形
図、第７図は斜角探触子と表皮下欠陥位置との相関を示
す概要図、第８図は探傷装置の詳要を示す一部破断正面
図である。 ３・・スパイラル搬送ライン ５・・超音波探傷装置 ８・・マーカー１６・・欠陥
弁別回路 ２０．２０’・・垂直探触子３０．３０’
・・斜角探触子５０・・探傷装置本体５２・・ガイド軸
５３．５３’・・支持棒５４・・左右調整ハン
ドル ５５・・左右調整ロッド５６．５６’・・ホルダ
ー ５７．５７″・・上下調整ハンドル 第１図 第４図 第６図 り 第５図
ー波形と共に示した説明図、第２図は本発明に係る探傷
設備の概要図、第３図は探触子配置関係を示す概要図、
第４図は表面欠陥波形図、第５図は斜角探触子と表面欠
陥位置との相関を示す概要図、第６図は表皮上欠陥波形
図、第７図は斜角探触子と表皮下欠陥位置との相関を示
す概要図、第８図は探傷装置の詳要を示す一部破断正面
図である。 ３・・スパイラル搬送ライン ５・・超音波探傷装置 ８・・マーカー１６・・欠陥
弁別回路 ２０．２０’・・垂直探触子３０．３０’
・・斜角探触子５０・・探傷装置本体５２・・ガイド軸
５３．５３’・・支持棒５４・・左右調整ハン
ドル ５５・・左右調整ロッド５６．５６’・・ホルダ
ー ５７．５７″・・上下調整ハンドル 第１図 第４図 第６図 り 第５図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 前記垂直探触子によシ内部欠陥を検出し、前記斜角探触
子により表面欠陥および表皮下欠陥を検出し、丸材全断
面を超音波探傷により欠陥の検出を行うことを特徴とす
る丸材の超音波探傷方法。 （２）丸材をスパイラル送りする検査ラインと、検査ラ
イン上の丸材に対して対向的に配さｎた垂直探触子、お
よび入射位置が相互に異なる斜角探触子と、丸材径の変
動に対応して少くとも一対の垂直探触子および斜角探触
子の位置を□′一体的に調整自在とした位置調整装置と
を備えた丸材の超音波探傷装置０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57027868A JPS58144742A (ja) | 1982-02-23 | 1982-02-23 | 丸材の超音波探傷方法およびその装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57027868A JPS58144742A (ja) | 1982-02-23 | 1982-02-23 | 丸材の超音波探傷方法およびその装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58144742A true JPS58144742A (ja) | 1983-08-29 |
Family
ID=12232871
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57027868A Pending JPS58144742A (ja) | 1982-02-23 | 1982-02-23 | 丸材の超音波探傷方法およびその装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58144742A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2011025320A (ja) * | 2003-03-26 | 2011-02-10 | Showa Denko Kk | アルミニウム合金水平連続鋳造棒の製造方法 |
| WO2017006702A1 (ja) * | 2015-07-09 | 2017-01-12 | Ntn株式会社 | 等速自在継手の外側継手部材の製造方法および溶接部の超音波探傷検査方法 |
| US10365249B2 (en) | 2015-09-24 | 2019-07-30 | Ntn Corporation | Method for manufacturing outer joint member of constant velocity universal joint and ultrasonic flaw detection-inspection method for a welded portion |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5629160A (en) * | 1979-08-17 | 1981-03-23 | Nippon Steel Corp | Ultrasonic wave crack finding method for rod and its device |
| JPS58135959A (ja) * | 1982-02-09 | 1983-08-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 丸材の超音波探傷装置 |
-
1982
- 1982-02-23 JP JP57027868A patent/JPS58144742A/ja active Pending
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5629160A (en) * | 1979-08-17 | 1981-03-23 | Nippon Steel Corp | Ultrasonic wave crack finding method for rod and its device |
| JPS58135959A (ja) * | 1982-02-09 | 1983-08-12 | Sumitomo Metal Ind Ltd | 丸材の超音波探傷装置 |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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| JP2011025320A (ja) * | 2003-03-26 | 2011-02-10 | Showa Denko Kk | アルミニウム合金水平連続鋳造棒の製造方法 |
| WO2017006702A1 (ja) * | 2015-07-09 | 2017-01-12 | Ntn株式会社 | 等速自在継手の外側継手部材の製造方法および溶接部の超音波探傷検査方法 |
| JP2017020561A (ja) * | 2015-07-09 | 2017-01-26 | Ntn株式会社 | 等速自在継手の外側継手部材の製造方法および溶接部の超音波探傷検査方法 |
| US10365253B2 (en) | 2015-07-09 | 2019-07-30 | Ntn Corporation | Method for manufacturing outer joint member for constant velocity universal joint and ultrasonic flaw detection method for welded section |
| US10365249B2 (en) | 2015-09-24 | 2019-07-30 | Ntn Corporation | Method for manufacturing outer joint member of constant velocity universal joint and ultrasonic flaw detection-inspection method for a welded portion |
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