JPS58135960A - 丸材超音波探傷における欠陥の弁別方法 - Google Patents
丸材超音波探傷における欠陥の弁別方法Info
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- JPS58135960A JPS58135960A JP57019218A JP1921882A JPS58135960A JP S58135960 A JPS58135960 A JP S58135960A JP 57019218 A JP57019218 A JP 57019218A JP 1921882 A JP1921882 A JP 1921882A JP S58135960 A JPS58135960 A JP S58135960A
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は丸棒鋼等の丸材の超音波探傷に当って表面欠陥
と表皮下欠陥とを弁別する弁別方法に関する。
と表皮下欠陥とを弁別する弁別方法に関する。
従来、丸棒の非破壊検査としては、定尺に切り揃えら扛
た丸棒に対して、表面欠陥は渦流探傷法、漏洩磁束探傷
あるいは磁粉探傷法によって、他方内部欠陥は垂直式の
超音波探傷法によってそｎぞ扛検出するのが一般的であ
った。
た丸棒に対して、表面欠陥は渦流探傷法、漏洩磁束探傷
あるいは磁粉探傷法によって、他方内部欠陥は垂直式の
超音波探傷法によってそｎぞ扛検出するのが一般的であ
った。
ところで、近年棒鋼の加工技術の進歩に伴い素材に対し
ての品質要求も高まり棒鋼の表皮下部を含めた全断面の
品質保証が必要となっている。ところが、表皮下欠陥は
前述の表面欠陥検出用の渦流探傷、漏洩磁束探傷または
磁粉探傷では検出できないのみならず、内部欠陥検出用
の垂直超音波探傷法を用いたとしても、欠陥エコーが表
面エコーまたは底面エコーと重って結局区別することが
できず、少くとも表面から３ｎ以内の領域での欠陥は探
傷することができない０ また、周部に未探傷範囲を残すものの、いずｎにしても
内部欠陥は垂直式の超音波探傷に頼らざるを得ないが、
表面欠陥を探傷するために、こｎと別種の探傷原理に基
〈探傷装置たとえば漏洩磁束探傷装置を配列するとすｎ
ば、装置的に経済的でないばかりでなく、設置スペース
や検査速度あるいは得らｎる各欠陥信号相互の弁別用に
高度な演算装置を要する等の点でもきわめて不利である
。
ての品質要求も高まり棒鋼の表皮下部を含めた全断面の
品質保証が必要となっている。ところが、表皮下欠陥は
前述の表面欠陥検出用の渦流探傷、漏洩磁束探傷または
磁粉探傷では検出できないのみならず、内部欠陥検出用
の垂直超音波探傷法を用いたとしても、欠陥エコーが表
面エコーまたは底面エコーと重って結局区別することが
できず、少くとも表面から３ｎ以内の領域での欠陥は探
傷することができない０ また、周部に未探傷範囲を残すものの、いずｎにしても
内部欠陥は垂直式の超音波探傷に頼らざるを得ないが、
表面欠陥を探傷するために、こｎと別種の探傷原理に基
〈探傷装置たとえば漏洩磁束探傷装置を配列するとすｎ
ば、装置的に経済的でないばかりでなく、設置スペース
や検査速度あるいは得らｎる各欠陥信号相互の弁別用に
高度な演算装置を要する等の点でもきわめて不利である
。
本発明は前記従来の問題点に対処するために提案さ扛た
もので、表面および表皮下欠陥は斜角探触子により探傷
できることの知見に基いて・おり、しかしただ単に斜角
探触子を用いて探傷したとしても実際に得らｎるエコー
からそｎが表面欠陥であるかあるいは表皮下欠陥である
かを弁別できないという事実に対して、きわめて容易に
そｎらを弁別できる弁別方法を提供することを目的とし
ている。
もので、表面および表皮下欠陥は斜角探触子により探傷
できることの知見に基いて・おり、しかしただ単に斜角
探触子を用いて探傷したとしても実際に得らｎるエコー
からそｎが表面欠陥であるかあるいは表皮下欠陥である
かを弁別できないという事実に対して、きわめて容易に
そｎらを弁別できる弁別方法を提供することを目的とし
ている。
この目的の達成のため、本発明は、丸材に対して相対的
にその周囲をめぐるように斜角探触子を設け、この探触
子からの欠陥エコー出力が経時的に、実質的に１つのピ
ークをもつとき表面欠陥であり、実質的に２つ以上のピ
ークをもつとき表皮下欠陥であるとすることにより、表
面欠陥と表皮下欠陥とを弁別するよう構成した□ ものである。
にその周囲をめぐるように斜角探触子を設け、この探触
子からの欠陥エコー出力が経時的に、実質的に１つのピ
ークをもつとき表面欠陥であり、実質的に２つ以上のピ
ークをもつとき表皮下欠陥であるとすることにより、表
面欠陥と表皮下欠陥とを弁別するよう構成した□ ものである。
斜角探傷により、鋼材の皮下近傍の欠陥を探傷する方法
はたとえば特開昭５６−１２６７６１号公報に記載さｒ
ているｏしかし、こｎは対象が角材であるのみならず、
実際に探傷する際、表面での欠陥とどのように弁別する
かを教示していない。また角材の探傷の性質上、角材を
直進送りするため、全域をカバーするために、多数の斜
角探触子を並設せねばならない。
はたとえば特開昭５６−１２６７６１号公報に記載さｒ
ているｏしかし、こｎは対象が角材であるのみならず、
実際に探傷する際、表面での欠陥とどのように弁別する
かを教示していない。また角材の探傷の性質上、角材を
直進送りするため、全域をカバーするために、多数の斜
角探触子を並設せねばならない。
本発明はこの種の従来技術とは次の点で全く別異の構成
としている。第１に丸材に対して相対的にその周囲をめ
ぐるように斜角探触子を設ける。この点は欠陥エコー出
力を経時的に取抄出した場合、表面欠陥と表皮下欠陥と
の間で波形的な相異を呈することに寄与している。第２
に欠陥エコー出力が経時的に、１つのピークをもつとき
表面欠陥であり、２つ以上のピークをもつとき表皮下欠
陥であると弁別することである。両欠陥の間で波形的に
別であるとの知見は、弁別および弁別、のための信号処
理がきわめて容易でありかつ実用的である効、果をもた
らす。すなわち、高度な解析によってやっ−と弁別した
としても、そうした場合はしばしば現実の欠陥との対応
性が薄いことを我々は経験するが、これに対して本発明
において波形そのものが元来具なることは、弁別のため
の信号処理に当って、後に詳述するように、ゲートを設
けたりスレッショルドレベルを定める等により容易に処
理できる利点がある。
としている。第１に丸材に対して相対的にその周囲をめ
ぐるように斜角探触子を設ける。この点は欠陥エコー出
力を経時的に取抄出した場合、表面欠陥と表皮下欠陥と
の間で波形的な相異を呈することに寄与している。第２
に欠陥エコー出力が経時的に、１つのピークをもつとき
表面欠陥であり、２つ以上のピークをもつとき表皮下欠
陥であると弁別することである。両欠陥の間で波形的に
別であるとの知見は、弁別および弁別、のための信号処
理がきわめて容易でありかつ実用的である効、果をもた
らす。すなわち、高度な解析によってやっ−と弁別した
としても、そうした場合はしばしば現実の欠陥との対応
性が薄いことを我々は経験するが、これに対して本発明
において波形そのものが元来具なることは、弁別のため
の信号処理に当って、後に詳述するように、ゲートを設
けたりスレッショルドレベルを定める等により容易に処
理できる利点がある。
以下本発明を図面に示す具体例によって説明する。第１
図は探傷検査ライン全体を示し、第２図は探触子の配置
状態を示すものである０各丸棒Ｒは順次スパイラル送り
ライン上に供給さ；ｊ’した後、スパイラル送りさ扛る
ようになっている。この送りラインに対して、内部欠陥
検出用の垂直探触子２が中心に向って、また表面および
表皮下欠陥検出用の斜角探触子３，３′が適当な入射角
ｉをもってそｎぞ【配設さ扛ている。各探触子２および
３，３″からの信号は、検波回路４に入力さｎ検波さｎ
た後、ゲート回路５においてそｎらの信号に対してゲー
トがかけられ、さらに欠陥であるか否かを判定する疵信
号比較回路６を通さｎ１次いで垂直探触子２に基〈中心
部欠陥信号はそのまま遅延回路７へ与えらｎるのに対し
て、斜角探触子３．３′に基〈表面および表皮下欠陥信
号は、そのままでは得られた欠陥信号が表面であるかそ
ｎとも表皮下でおるか不明であるため、後に詳述する弁
別方式に基く欠陥弁別回路８を介して遅延回路７へ与え
ら扛る０ 遅延回路７では、送りラインにおける丸棒Ｒの移送速度
を検出するためのパルスジェネレータ等からなる移送速
度検出器９からの丸棒移送速度信号を受けて、探触子２
および３，３′とマーカー１０との間の距離に対応した
時間分遅延判断を行い、探傷した欠陥がマーカー１０の
位置に到達した時点で、マーカー１０に対は塗料等の吹
付動作信号を出力する。この場合、マーカー１０は、欠
陥が中心部であるか、表皮・下であるか、あるいは表面
であるかを塗料の色を分けながら塗布を行う。勿論無欠
陥であｔば塗布動作を行わない。
図は探傷検査ライン全体を示し、第２図は探触子の配置
状態を示すものである０各丸棒Ｒは順次スパイラル送り
ライン上に供給さ；ｊ’した後、スパイラル送りさ扛る
ようになっている。この送りラインに対して、内部欠陥
検出用の垂直探触子２が中心に向って、また表面および
表皮下欠陥検出用の斜角探触子３，３′が適当な入射角
ｉをもってそｎぞ【配設さ扛ている。各探触子２および
３，３″からの信号は、検波回路４に入力さｎ検波さｎ
た後、ゲート回路５においてそｎらの信号に対してゲー
トがかけられ、さらに欠陥であるか否かを判定する疵信
号比較回路６を通さｎ１次いで垂直探触子２に基〈中心
部欠陥信号はそのまま遅延回路７へ与えらｎるのに対し
て、斜角探触子３．３′に基〈表面および表皮下欠陥信
号は、そのままでは得られた欠陥信号が表面であるかそ
ｎとも表皮下でおるか不明であるため、後に詳述する弁
別方式に基く欠陥弁別回路８を介して遅延回路７へ与え
ら扛る０ 遅延回路７では、送りラインにおける丸棒Ｒの移送速度
を検出するためのパルスジェネレータ等からなる移送速
度検出器９からの丸棒移送速度信号を受けて、探触子２
および３，３′とマーカー１０との間の距離に対応した
時間分遅延判断を行い、探傷した欠陥がマーカー１０の
位置に到達した時点で、マーカー１０に対は塗料等の吹
付動作信号を出力する。この場合、マーカー１０は、欠
陥が中心部であるか、表皮・下であるか、あるいは表面
であるかを塗料の色を分けながら塗布を行う。勿論無欠
陥であｔば塗布動作を行わない。
欠陥の有無検出および欠陥の種別区分が行なわ扛た丸棒
Ｒは、仕分は部１１に移送さｎ１仕分は装置１２により
良品と不良品とに仕分けらｎ、そｎぞ扛クレードルに移
載さｎる０不良品のうち、表面欠陥品は手入社工程へ移
さｎ１手入れ後良品として扱わｎる０また表皮下および
内部欠陥品はそのまま廃棄さｎるかグレードダウン品と
して扱わｎる０ 本発明は主として表面および表皮下欠陥を検出するため
に斜角探触子３．３”ｋ設けるとともに、そｎらの欠陥
相互の弁別金欠のように行うことを特徴としている。
Ｒは、仕分は部１１に移送さｎ１仕分は装置１２により
良品と不良品とに仕分けらｎ、そｎぞ扛クレードルに移
載さｎる０不良品のうち、表面欠陥品は手入社工程へ移
さｎ１手入れ後良品として扱わｎる０また表皮下および
内部欠陥品はそのまま廃棄さｎるかグレードダウン品と
して扱わｎる０ 本発明は主として表面および表皮下欠陥を検出するため
に斜角探触子３．３”ｋ設けるとともに、そｎらの欠陥
相互の弁別金欠のように行うことを特徴としている。
斜角探触子は一個でもよいのであるが、欠陥に方向性が
あることに対応して実施例のように２個、必要ならばそ
ｎ以上設けるのが望ましい。
あることに対応して実施例のように２個、必要ならばそ
ｎ以上設けるのが望ましい。
入射角ｉおよび屈折角ｒは適宜決定できるが、屈折角ｒ
は４０〜７０°とするのが望ましい０実施例では屈折角
ｒを４５°、入射角ｉを１９°とした例である０また対
象とする丸棒Ｒの径はそｎ−ｆ：ｎ変るので、径の変化
に伴って、探触子２および３．３″と丸棒８表面との距
離が常に一定となり、かつ探触子２が常に丸棒Ｒの中心
を狙うように、探触子２および３．３″の位置を変化さ
せるようにするのが望ましい。
は４０〜７０°とするのが望ましい０実施例では屈折角
ｒを４５°、入射角ｉを１９°とした例である０また対
象とする丸棒Ｒの径はそｎ−ｆ：ｎ変るので、径の変化
に伴って、探触子２および３．３″と丸棒８表面との距
離が常に一定となり、かつ探触子２が常に丸棒Ｒの中心
を狙うように、探触子２および３．３″の位置を変化さ
せるようにするのが望ましい。
各探触子２および３，３″から直接得た信号を検波回路
４を通すと、垂直探傷については第３図のように、送信
波、表面エコーおよび底面エコーの順に大きなエコー波
形をもってあられする０これに対して、斜角探傷では、
第４図のように、小さなエコー波をもってあられ【る０
この斜角探傷の場合、磨棒鋼のように表面性状が美麗な
もの工は表面エコーはあられｎないが、通常の丸棒では
スケールが付着している等の理由で小さな表面エコーが
あられ扛る０ このことを踏えて、ゲート回路５における探傷ゲー）
Ｇ’、 Ｇの長さおよび位置が選定さｎる。
４を通すと、垂直探傷については第３図のように、送信
波、表面エコーおよび底面エコーの順に大きなエコー波
形をもってあられする０これに対して、斜角探傷では、
第４図のように、小さなエコー波をもってあられ【る０
この斜角探傷の場合、磨棒鋼のように表面性状が美麗な
もの工は表面エコーはあられｎないが、通常の丸棒では
スケールが付着している等の理由で小さな表面エコーが
あられ扛る０ このことを踏えて、ゲート回路５における探傷ゲー）
Ｇ’、 Ｇの長さおよび位置が選定さｎる。
すなわち、垂直探傷の場合（第３図）、表面エコーおよ
び底面エコーの信号が入らないように■および■を選定
し、斜角探傷の場合（第４図）、各表面エコーの信号が
入らないようにすると共に、欠陥位置Ｃを検出できるよ
う■および■を選定する。すなわち長さ■の選定には、
第２図Ｐ３の位置まで探傷できるよう選定するのが望ま
しい。たとえば４５°の屈折角の場合、材料径ＤＸ（１
，６〜１．７）とする。本来なら、点Ｐ２までで足りる
が、移送中に丸棒の振ｎや曲りなどの点を考えて余裕を
もたせて２３点までとするのが望ましい０もし屈折角を
変えるのであｆば、欠陥信号の最大位置が変わるので、
そルに見合ったように探傷ゲート位置および長さを変え
る０ゲ一ト回路５を通した信号は、疵信号比較回路にお
いて、予め設定した欠陥判定レベルとの間で比較が行な
わｎる０垂直探触子２からの内部欠陥に関する信号に対
しては、比較を行った結果、判定レベル以下であｎば遅
延回路７を素通りして仕分は装置１２へ良品であるとの
信号が出力さｎ、もし判定レベル以上であｎば、遅延回
路７およびマーカー１０に欠陥表示信号が、仕分は装置
１２に不良品であるとの信号がそｎぞｎ与えらｎる０ 他方、斜角探触子３または３′から得らｎる表面および
表皮下欠陥については、本発明者の知見によ扛ば、そ扛
らの間で第５図および第７図のように欠陥の表わｎ方が
異なる。すなわち、表面欠陥は第５図のように、ある欠
陥が丸棒のスパイラル送りに伴って第６図のように刻々
位置を変えたとき、ｄ位置での表面欠陥が第１表面エコ
ーと区別できない形で表わ扛、その後ａ。
び底面エコーの信号が入らないように■および■を選定
し、斜角探傷の場合（第４図）、各表面エコーの信号が
入らないようにすると共に、欠陥位置Ｃを検出できるよ
う■および■を選定する。すなわち長さ■の選定には、
第２図Ｐ３の位置まで探傷できるよう選定するのが望ま
しい。たとえば４５°の屈折角の場合、材料径ＤＸ（１
，６〜１．７）とする。本来なら、点Ｐ２までで足りる
が、移送中に丸棒の振ｎや曲りなどの点を考えて余裕を
もたせて２３点までとするのが望ましい０もし屈折角を
変えるのであｆば、欠陥信号の最大位置が変わるので、
そルに見合ったように探傷ゲート位置および長さを変え
る０ゲ一ト回路５を通した信号は、疵信号比較回路にお
いて、予め設定した欠陥判定レベルとの間で比較が行な
わｎる０垂直探触子２からの内部欠陥に関する信号に対
しては、比較を行った結果、判定レベル以下であｎば遅
延回路７を素通りして仕分は装置１２へ良品であるとの
信号が出力さｎ、もし判定レベル以上であｎば、遅延回
路７およびマーカー１０に欠陥表示信号が、仕分は装置
１２に不良品であるとの信号がそｎぞｎ与えらｎる０ 他方、斜角探触子３または３′から得らｎる表面および
表皮下欠陥については、本発明者の知見によ扛ば、そ扛
らの間で第５図および第７図のように欠陥の表わｎ方が
異なる。すなわち、表面欠陥は第５図のように、ある欠
陥が丸棒のスパイラル送りに伴って第６図のように刻々
位置を変えたとき、ｄ位置での表面欠陥が第１表面エコ
ーと区別できない形で表わ扛、その後ａ。
ｂ、ｃ位置での表面欠陥がかなり大きなピークを示して
表わｎる。この場合、位置ａ、ｃの欠陥のピークはあら
れｔず、その代りｂ位置での欠陥信号が多重反射のため
高いピークをもってあられ扛る０最後に第２表面エコー
があられｎる。かくして表面欠陥については、基本的に
は１つのピークをもってあられｎる。
表わｎる。この場合、位置ａ、ｃの欠陥のピークはあら
れｔず、その代りｂ位置での欠陥信号が多重反射のため
高いピークをもってあられ扛る０最後に第２表面エコー
があられｎる。かくして表面欠陥については、基本的に
は１つのピークをもってあられｎる。
こ扛に対して、表皮下欠陥は、第７図のように、ｄ位置
での表皮下欠陥が第１表面エコーと重っであるいはその
後近傍において比較的高いピークをもってまずあられ扛
、その後ａ位置での表面欠陥が中程度のピークをもって
あられ扛た後、ｂ位置で高いピークがあられ３％ Ｃ位
置ではピークを示すことなくエコーが終り、最後に第２
表面エコーがあられｎる０すなわち、表皮下欠陥では基
本的に２つのエコーピークがあられｒる０ このように、表面欠陥と表皮下欠陥との間であられｎる
エコー波形が明確に異なる。そこで、位置ａとｂとの間
で探傷ゲートＧを分割して探傷ゲートＧｌ、Ｇ２１に設
けておく。また欠陥判定レベルＬを設定しておく０そし
て両欠陥の弁別に当っては、ゲー）Ｇ２のみにおいてレ
ベル５以上の欠陥があられれたとき、表面欠陥であり、
ゲー）Ｇｔおよびゲー）Ｇ２の両者においてレベル５以
上の欠陥があられｆ″Ｌｆｃとき、表皮下欠陥であると
弁別判断する０ ここでゲートとレベルとの組合せを用いたのは、信号処
理が容易である念めであるが、高度な計算機を用いて波
形！：析の上、弁別するようにしてもよい０また表皮下
欠陥検出に当って、ｂ位置でのピークはａ位置でのピー
クより常に高く出るので、ｂ位置についての判定レベル
については高くしておくことにより弁別するようにして
もよい。
での表皮下欠陥が第１表面エコーと重っであるいはその
後近傍において比較的高いピークをもってまずあられ扛
、その後ａ位置での表面欠陥が中程度のピークをもって
あられ扛た後、ｂ位置で高いピークがあられ３％ Ｃ位
置ではピークを示すことなくエコーが終り、最後に第２
表面エコーがあられｎる０すなわち、表皮下欠陥では基
本的に２つのエコーピークがあられｒる０ このように、表面欠陥と表皮下欠陥との間であられｎる
エコー波形が明確に異なる。そこで、位置ａとｂとの間
で探傷ゲートＧを分割して探傷ゲートＧｌ、Ｇ２１に設
けておく。また欠陥判定レベルＬを設定しておく０そし
て両欠陥の弁別に当っては、ゲー）Ｇ２のみにおいてレ
ベル５以上の欠陥があられれたとき、表面欠陥であり、
ゲー）Ｇｔおよびゲー）Ｇ２の両者においてレベル５以
上の欠陥があられｆ″Ｌｆｃとき、表皮下欠陥であると
弁別判断する０ ここでゲートとレベルとの組合せを用いたのは、信号処
理が容易である念めであるが、高度な計算機を用いて波
形！：析の上、弁別するようにしてもよい０また表皮下
欠陥検出に当って、ｂ位置でのピークはａ位置でのピー
クより常に高く出るので、ｂ位置についての判定レベル
については高くしておくことにより弁別するようにして
もよい。
前述のように、実施例では斜角探触子３．３″を２個設
けることにより疵の方向性があっ【も見逃さないように
しであるが、この場合斜角探触子３．３′のどちらか一
つにより欠陥有りと判断さｆ′Ｌｔ″Ｌば、その丸棒に
ついては不良品として処理するのが望ましい〇 一方、上記例では探触子を固定し丸棒をスパイラルに送
るようにしたが、丸棒を直進送りとなし探触子を移送ラ
インを中心にしてその周りに回転させるようにしてもよ
い。むしろ、検査処理速度の点では後者の方が有利であ
る。必要ならば、丸棒を固定と探触子をスパイラル回転
させることもできるが、装置的に高価となり経済的に不
利である。
けることにより疵の方向性があっ【も見逃さないように
しであるが、この場合斜角探触子３．３′のどちらか一
つにより欠陥有りと判断さｆ′Ｌｔ″Ｌば、その丸棒に
ついては不良品として処理するのが望ましい〇 一方、上記例では探触子を固定し丸棒をスパイラルに送
るようにしたが、丸棒を直進送りとなし探触子を移送ラ
インを中心にしてその周りに回転させるようにしてもよ
い。むしろ、検査処理速度の点では後者の方が有利であ
る。必要ならば、丸棒を固定と探触子をスパイラル回転
させることもできるが、装置的に高価となり経済的に不
利である。
なお、探傷は全没式水浸や局部水浸など適宜その方式を
選択できる。また水浸方式でなくともよい。
選択できる。また水浸方式でなくともよい。
以上の通り、本発明は、表面欠陥および表皮下欠陥を斜
角探触子により検出し、その検出信号の欠陥エコー出力
が各欠陥相互間で異なることに着目し、こ牡に基いて弁
別するので、両欠陥を確実に弁別でき、手入ｎによって
表面欠陥品を再生できるので歩留り向上に大きな効果を
もたらす０また内部欠陥と共にすべての欠陥を超音波探
傷によシ同時に探傷できるので、従来の２種以上の検査
装置を配置した設備例に比較してきわめて経済的である
０
角探触子により検出し、その検出信号の欠陥エコー出力
が各欠陥相互間で異なることに着目し、こ牡に基いて弁
別するので、両欠陥を確実に弁別でき、手入ｎによって
表面欠陥品を再生できるので歩留り向上に大きな効果を
もたらす０また内部欠陥と共にすべての欠陥を超音波探
傷によシ同時に探傷できるので、従来の２種以上の検査
装置を配置した設備例に比較してきわめて経済的である
０
第１図は検査設備全体の概要図、第２図は丸材に対する
探触子配置例を示す図、第３図および第４図は垂直探傷
および斜角探傷の場合のゲート例、第５図は表面欠陥の
際の波形図、第６図は表面欠陥と探触子との位置関係図
、第７図は表皮下欠陥の際の波形図、第８図は表皮下欠
陥と探触子との位置関係図であるＯ Ｒ・・丸棒 ２・・垂直探触子３．３′・・
斜角探触子 ５・・ゲート回路６・・疵信号比較回路
８・・欠陥弁別回路第５図 第７図 ３３７− 第６図
探触子配置例を示す図、第３図および第４図は垂直探傷
および斜角探傷の場合のゲート例、第５図は表面欠陥の
際の波形図、第６図は表面欠陥と探触子との位置関係図
、第７図は表皮下欠陥の際の波形図、第８図は表皮下欠
陥と探触子との位置関係図であるＯ Ｒ・・丸棒 ２・・垂直探触子３．３′・・
斜角探触子 ５・・ゲート回路６・・疵信号比較回路
８・・欠陥弁別回路第５図 第７図 ３３７− 第６図
Claims (1)
- （１）丸材に対して相対的にその周囲をめぐるように斜
角探触子を設け、この探触子からの欠陥エコー出力が経
時的に、実質的に１つのピークをもつとき表面欠陥であ
り、実質的に２つ以上のピークをもつとき表皮下欠陥で
あるとすることにより、表面欠陥と表皮下欠陥とを弁別
することを特徴とする丸材超音波探傷における欠陥の弁
別方法０
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57019218A JPS58135960A (ja) | 1982-02-09 | 1982-02-09 | 丸材超音波探傷における欠陥の弁別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP57019218A JPS58135960A (ja) | 1982-02-09 | 1982-02-09 | 丸材超音波探傷における欠陥の弁別方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58135960A true JPS58135960A (ja) | 1983-08-12 |
Family
ID=11993222
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP57019218A Pending JPS58135960A (ja) | 1982-02-09 | 1982-02-09 | 丸材超音波探傷における欠陥の弁別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58135960A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61108966U (ja) * | 1984-12-22 | 1986-07-10 |
-
1982
- 1982-02-09 JP JP57019218A patent/JPS58135960A/ja active Pending
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS61108966U (ja) * | 1984-12-22 | 1986-07-10 | ||
| JPH0518692Y2 (ja) * | 1984-12-22 | 1993-05-18 |
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