JPS6197565A - 金属薄板の超音波探傷方法 - Google Patents
金属薄板の超音波探傷方法Info
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- JPS6197565A JPS6197565A JP59219450A JP21945084A JPS6197565A JP S6197565 A JPS6197565 A JP S6197565A JP 59219450 A JP59219450 A JP 59219450A JP 21945084 A JP21945084 A JP 21945084A JP S6197565 A JPS6197565 A JP S6197565A
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- JP
- Japan
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- reflector
- ultrasonic
- pulse
- thin metal
- flaw detection
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- Pending
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N29/00—Investigating or analysing materials by the use of ultrasonic, sonic or infrasonic waves; Visualisation of the interior of objects by transmitting ultrasonic or sonic waves through the object
- G01N29/04—Analysing solids
- G01N29/11—Analysing solids by measuring attenuation of acoustic waves
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/04—Wave modes and trajectories
- G01N2291/044—Internal reflections (echoes), e.g. on walls or defects
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2291/00—Indexing codes associated with group G01N29/00
- G01N2291/26—Scanned objects
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- G01N2291/2632—Surfaces flat
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- Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
本発明は、金属薄板の超音波探傷方法に係り、特に金属
薄板の表裏面近傍を含む内部の微小な欠陥の存在を検出
するのに好適な、金属薄板の被検体に向けて探触子から
超音波を発信し、その反射パルスの強弱により欠陥の存
在を検出する金属薄板の超音波探傷方法に関する。
薄板の表裏面近傍を含む内部の微小な欠陥の存在を検出
するのに好適な、金属薄板の被検体に向けて探触子から
超音波を発信し、その反射パルスの強弱により欠陥の存
在を検出する金属薄板の超音波探傷方法に関する。
従来から金属薄板内部の健全性を評価するため超音波探
傷等の非破壊試験が行われている。金属薄板の微細な欠
陥、例えば、介在物や微細な割れを検出しなければなら
ない場合は、高い周波数の超音波を使用する必要があり
、そのような場合には水の中に被検体を没して探傷する
水浸探傷法が利用される。 第４図が従来の１探触子パルス反射法による水浸Ｃスキ
ャン探傷法の構成図であり、金属薄板１は水２の中に入
れられていて、水浸の超音波探触子３によって表面をく
まなく走査され、精密な垂直探傷が行われる。この場合
、波形を観察するためのＣＲＴに現われる波形の一例は
第５図に示す如くであり、該ＣＲＴには金属薄板１の表
裏面に対応したそれぞれの反射パルス５．６と、金Ｊｉ
Ｉ薄板１に欠陥がある場合の傷反射パルス７が現われる
ので欠陥を検出することができる。
傷等の非破壊試験が行われている。金属薄板の微細な欠
陥、例えば、介在物や微細な割れを検出しなければなら
ない場合は、高い周波数の超音波を使用する必要があり
、そのような場合には水の中に被検体を没して探傷する
水浸探傷法が利用される。 第４図が従来の１探触子パルス反射法による水浸Ｃスキ
ャン探傷法の構成図であり、金属薄板１は水２の中に入
れられていて、水浸の超音波探触子３によって表面をく
まなく走査され、精密な垂直探傷が行われる。この場合
、波形を観察するためのＣＲＴに現われる波形の一例は
第５図に示す如くであり、該ＣＲＴには金属薄板１の表
裏面に対応したそれぞれの反射パルス５．６と、金Ｊｉ
Ｉ薄板１に欠陥がある場合の傷反射パルス７が現われる
ので欠陥を検出することができる。
しかしながら、第５図に示したように、表面反射パルス
５の立上りから裏面反射パルス６までの間が金属薄板１
の板厚に相当し、表面反射パルス５の持続する間は、傷
反射パルス７′が出現しても検出しえず、又、裏面反射
パルス６と傷反射パルス７が区別できぬ程接近してしま
えば、金属薄板１の欠陥を認識できない。即ち、この従
来の水浸Ｃスキャン探傷法では、金属薄板１の表面近傍
及び裏面近傍に必ず不感帯が生じる。 実際の金属薄板を前記水浸Ｃスキャン法で探傷した場合
、表面下０．ｂ 感帯であり、従って、１ｎ以内の金属薄板の内部欠陥を
前記水浸Ｃスキャン探傷法で探傷するのは不可能である
という問題を有していた。 一方、金属薄板の表面近傍及び裏面近傍に不感帯を生じ
ない超音波探傷法としては、第６図に示すような透過法
がある。この透過法では超音波探触子３から発せられた
超音波パルスは、水２を通って金属薄板１に達し、該金
属薄板１を通過して反対側に配置した受信探触子４に達
する。この間に該金属薄板１内部に欠陥が存在すれば透
過パルス８が弱まるので該欠陥を検出することができる
。 ところが、この透過法で微細な欠陥を検出しようとすれ
ば超音波パルスのビームを絞らねばならず、超音波探触
子３と受信探触子４の軸合わせが非常に難しく、又、該
軸を合わせたまま金属薄板１全面を走査することは困難
であるという問題点を有していた。
５の立上りから裏面反射パルス６までの間が金属薄板１
の板厚に相当し、表面反射パルス５の持続する間は、傷
反射パルス７′が出現しても検出しえず、又、裏面反射
パルス６と傷反射パルス７が区別できぬ程接近してしま
えば、金属薄板１の欠陥を認識できない。即ち、この従
来の水浸Ｃスキャン探傷法では、金属薄板１の表面近傍
及び裏面近傍に必ず不感帯が生じる。 実際の金属薄板を前記水浸Ｃスキャン法で探傷した場合
、表面下０．ｂ 感帯であり、従って、１ｎ以内の金属薄板の内部欠陥を
前記水浸Ｃスキャン探傷法で探傷するのは不可能である
という問題を有していた。 一方、金属薄板の表面近傍及び裏面近傍に不感帯を生じ
ない超音波探傷法としては、第６図に示すような透過法
がある。この透過法では超音波探触子３から発せられた
超音波パルスは、水２を通って金属薄板１に達し、該金
属薄板１を通過して反対側に配置した受信探触子４に達
する。この間に該金属薄板１内部に欠陥が存在すれば透
過パルス８が弱まるので該欠陥を検出することができる
。 ところが、この透過法で微細な欠陥を検出しようとすれ
ば超音波パルスのビームを絞らねばならず、超音波探触
子３と受信探触子４の軸合わせが非常に難しく、又、該
軸を合わせたまま金属薄板１全面を走査することは困難
であるという問題点を有していた。
本発明は、上記従来の問題点を解消するためになされた
ものであって、不感帯を生じたり面倒な軸合わせを行う
ことなく、容易に表裏面近傍を含む内部の微小な欠陥の
存在を検出することができる金属薄板の超音波探傷方法
を提供することを目的とする。
ものであって、不感帯を生じたり面倒な軸合わせを行う
ことなく、容易に表裏面近傍を含む内部の微小な欠陥の
存在を検出することができる金属薄板の超音波探傷方法
を提供することを目的とする。
本発明は、金属薄板の被検体に向けて探触子か
゛ら超音波を発信し、その反射パルスの強弱により欠陥
の存在を検出する金属薄板の超音波探傷方法において、
被検体の探触子と反対側に表面が平滑な反射体を配設し
、被検体を通過して該反射体から反射されてきた超音波
パルスの強弱により、被検体の表裏面近傍を含む内部の
微小な欠陥の存在を検出するようにして、前記目的を達
成したものである。
゛ら超音波を発信し、その反射パルスの強弱により欠陥
の存在を検出する金属薄板の超音波探傷方法において、
被検体の探触子と反対側に表面が平滑な反射体を配設し
、被検体を通過して該反射体から反射されてきた超音波
パルスの強弱により、被検体の表裏面近傍を含む内部の
微小な欠陥の存在を検出するようにして、前記目的を達
成したものである。
本発明を適用した水浸Ｃスキャン探傷法で超音波探傷を
する場合は、焦点型の探触子で超音波ビームを絞り、金
属薄板の反対側には表面の平坦な金属あるいは非金属の
反射体を配する。すると、前記探触子から出た超音波パ
ルスが金属薄板を過濃して反射体に達し、そこで反射さ
れた超音波パルスが再び該金属薄板を通過して、前記探
触子に帰ってくる。この時の超音波パルスの強度は、該
金属薄板の内部の微細な欠陥により低下しているので、
これを利用して該欠陥を検出することができる。 第１図が本発明の詳細な説明するための断面図である。 この場合のパルスの波形を示す線図が第２図である。超
音波探触子３から発信された超音波パルスが金属薄板１
に当り、反射してくる各反射パルス５．６．７は前出第
４図、第５図と同様であるが、金属薄板１の反対側に反
射体１０を配置することにより、反射体１ｏで反射され
た反射体反射パルス９を受信信号として捉えることがで
きる。この場合、金属薄板１の内部に欠陥が存在すると
反射体反射パルス９の強度が低下する。従って、傷反射
パルス７．７”、７”が表面反射パルス５又は裏面反射
パルス６に隠れても、反射体反射パルス９の強度変化に
よって該金属薄板１の内部の欠陥の存在が確認でき、不
感帯のない探傷が可能となる。
する場合は、焦点型の探触子で超音波ビームを絞り、金
属薄板の反対側には表面の平坦な金属あるいは非金属の
反射体を配する。すると、前記探触子から出た超音波パ
ルスが金属薄板を過濃して反射体に達し、そこで反射さ
れた超音波パルスが再び該金属薄板を通過して、前記探
触子に帰ってくる。この時の超音波パルスの強度は、該
金属薄板の内部の微細な欠陥により低下しているので、
これを利用して該欠陥を検出することができる。 第１図が本発明の詳細な説明するための断面図である。 この場合のパルスの波形を示す線図が第２図である。超
音波探触子３から発信された超音波パルスが金属薄板１
に当り、反射してくる各反射パルス５．６．７は前出第
４図、第５図と同様であるが、金属薄板１の反対側に反
射体１０を配置することにより、反射体１ｏで反射され
た反射体反射パルス９を受信信号として捉えることがで
きる。この場合、金属薄板１の内部に欠陥が存在すると
反射体反射パルス９の強度が低下する。従って、傷反射
パルス７．７”、７”が表面反射パルス５又は裏面反射
パルス６に隠れても、反射体反射パルス９の強度変化に
よって該金属薄板１の内部の欠陥の存在が確認でき、不
感帯のない探傷が可能となる。
第３図は、本発明が採用された水浸探傷装置の実施例の
構成を示す一部ブロック線図を含む斜視図である。 送信器１１で送信された電気パルスは、水２の中に置か
れた超音波探触子３によって超音波に変換される。超音
波探触子３から発信された超音波は、金属薄板１を通過
して反射体１０に達し、該反射体１０で反射され、再び
金属薄板１を通って超音波探触子３に達する。前記超音
波探触子３に達した該超音波パルスは電気パルスに変換
され、受信増幅器１２によって増幅され、ゲート回路１
３で必要な信号だけ取出され、更に判定回路１４によっ
て傷か否かを判定される。又、２個のポテンショメータ
１５により前記超音波探触子３め位置が検出され、前記
判定された結果より記録器１６に傷の分布図として記録
される。 本実施例を適用して鋼板の超音波探傷を行った場合、従
来の方法では全く検出不可能であった０゜３皿厚の鋼板
の表面下０．１ｎ以内にあるφ０゜５１１の内部欠陥を
検出することができた。 上記実施例においては、ポテンショメータ１５によって
超音波探触子の位置を検出しているが、該超音波探触子
の位置を検出できるものであればポテンショメータ１５
に限定されず、他の位置検出装置でもよい。 又、上記実施例においては、本発明が鋼板の超音波探傷
に適用されていたが、本発明の適用範囲はこれに限定さ
れず、ステンレス板等他の金属板の探傷にも適用できる
ことは明らかである。 【発明の効果１ 以上説明した通り本発明によれば、金属薄板の超音波探
傷を行う場合、不感帯を生じ、たり面倒な軸合わせを行
うことなく、容易に表裏面近傍を含む内部の微小な欠陥
の存在を検出することができるという優れた効果を有す
る。
構成を示す一部ブロック線図を含む斜視図である。 送信器１１で送信された電気パルスは、水２の中に置か
れた超音波探触子３によって超音波に変換される。超音
波探触子３から発信された超音波は、金属薄板１を通過
して反射体１０に達し、該反射体１０で反射され、再び
金属薄板１を通って超音波探触子３に達する。前記超音
波探触子３に達した該超音波パルスは電気パルスに変換
され、受信増幅器１２によって増幅され、ゲート回路１
３で必要な信号だけ取出され、更に判定回路１４によっ
て傷か否かを判定される。又、２個のポテンショメータ
１５により前記超音波探触子３め位置が検出され、前記
判定された結果より記録器１６に傷の分布図として記録
される。 本実施例を適用して鋼板の超音波探傷を行った場合、従
来の方法では全く検出不可能であった０゜３皿厚の鋼板
の表面下０．１ｎ以内にあるφ０゜５１１の内部欠陥を
検出することができた。 上記実施例においては、ポテンショメータ１５によって
超音波探触子の位置を検出しているが、該超音波探触子
の位置を検出できるものであればポテンショメータ１５
に限定されず、他の位置検出装置でもよい。 又、上記実施例においては、本発明が鋼板の超音波探傷
に適用されていたが、本発明の適用範囲はこれに限定さ
れず、ステンレス板等他の金属板の探傷にも適用できる
ことは明らかである。 【発明の効果１ 以上説明した通り本発明によれば、金属薄板の超音波探
傷を行う場合、不感帯を生じ、たり面倒な軸合わせを行
うことなく、容易に表裏面近傍を含む内部の微小な欠陥
の存在を検出することができるという優れた効果を有す
る。
第１図は、本発明の詳細な説明するための断面図、
第２図は、同じく超音波探触子の出力パルスの波形を示
す線図、 第３図は、本発明が採用された水浸探傷装置の実施例の
構成を示す、一部ブロック線図を含む斜視図、 第４図は、従来の１探触子パルス反射法による水浸Ｃス
キャン探傷法の原理を示す断面図、第５図は、第４図で
示された水浸Ｃスキャン探傷法の超音波探触子の出力パ
ルスの波形を示す線図、 第６図は、従来の透過法による水浸探傷法の原理を示す
ブロック線図である。 １・・・金属薄板、 ２・・・水、３・・・超
音波探触子、 ５．５′・・・表面反射パルス、 ６．６′・・・裏面反射パルス、 ７．７′、７′”・・・傷反射パルス、９・・・反射体
反射パルス、 １０・・・反射体、 １１・・・送信器、１
２・・・受信増幅器、 １３・・・ゲート回路、１
４・・・判定回路。
す線図、 第３図は、本発明が採用された水浸探傷装置の実施例の
構成を示す、一部ブロック線図を含む斜視図、 第４図は、従来の１探触子パルス反射法による水浸Ｃス
キャン探傷法の原理を示す断面図、第５図は、第４図で
示された水浸Ｃスキャン探傷法の超音波探触子の出力パ
ルスの波形を示す線図、 第６図は、従来の透過法による水浸探傷法の原理を示す
ブロック線図である。 １・・・金属薄板、 ２・・・水、３・・・超
音波探触子、 ５．５′・・・表面反射パルス、 ６．６′・・・裏面反射パルス、 ７．７′、７′”・・・傷反射パルス、９・・・反射体
反射パルス、 １０・・・反射体、 １１・・・送信器、１
２・・・受信増幅器、 １３・・・ゲート回路、１
４・・・判定回路。
Claims (1)
- （１）金属薄板の被検体に向けて探触子から超音波を発
信し、その反射パルスの強弱により欠陥の存在を検出す
る金属薄板の超音波探傷方法において、 被検体の探触子と反対側に表面が平滑な反射体を配設し
、 被検体を通過して該反射体から反射されてきた超音波パ
ルスの強弱により、被検体の表裏面近傍を含む内部の微
小な欠陥の存在を検出するようにしたことを特徴とする
金属薄板の超音波探傷方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59219450A JPS6197565A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 金属薄板の超音波探傷方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP59219450A JPS6197565A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 金属薄板の超音波探傷方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6197565A true JPS6197565A (ja) | 1986-05-16 |
Family
ID=16735604
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP59219450A Pending JPS6197565A (ja) | 1984-10-19 | 1984-10-19 | 金属薄板の超音波探傷方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6197565A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005080961A3 (en) * | 2004-02-18 | 2006-03-16 | Cabot Corp | Ultrasonic method for detecting banding in metals |
-
1984
- 1984-10-19 JP JP59219450A patent/JPS6197565A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005080961A3 (en) * | 2004-02-18 | 2006-03-16 | Cabot Corp | Ultrasonic method for detecting banding in metals |
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