JPS58142500A - 多点デ−タ測定装置 - Google Patents
多点デ−タ測定装置Info
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- JPS58142500A JPS58142500A JP2493682A JP2493682A JPS58142500A JP S58142500 A JPS58142500 A JP S58142500A JP 2493682 A JP2493682 A JP 2493682A JP 2493682 A JP2493682 A JP 2493682A JP S58142500 A JPS58142500 A JP S58142500A
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- measurement
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は、被測定信号源の断線検出手段を有する多点デ
ータ測定装置に関するもので、断線検出のシーケンスに
改良を施すことにより、高速で多点のデータが測定でき
るようにしたものである。
ータ測定装置に関するもので、断線検出のシーケンスに
改良を施すことにより、高速で多点のデータが測定でき
るようにしたものである。
被測定信号源の断線検出手段を有する優点データ測定装
置における測定シーケンスには第１図０）。
置における測定シーケンスには第１図０）。
←）に示す２通りの方法がある。０）のシーケンスは各
チャネル（Ｃｌ）の測定の直前に各チャネル毎に断線検
出を行うシーケンスであり、ｆｏ）はＩＩＩ定に先立っ
て全チャネルの断線チェ、りを行い、その後に全チャネ
ルの測定シーケンスをランさせる方法である。
チャネル（Ｃｌ）の測定の直前に各チャネル毎に断線検
出を行うシーケンスであり、ｆｏ）はＩＩＩ定に先立っ
て全チャネルの断線チェ、りを行い、その後に全チャネ
ルの測定シーケンスをランさせる方法である。
しかし、０）の方法では断線検出の直後に測定が入るの
で、断線検出のための影響がロタする時間が長い入力部
をもつ測定装曾では高速でデータ処理を行なおうとする
と測定誤差が生じる。また、←）の方法では、計測スタ
ー）Ｌｍがら測定開始までの待時間が長くなり、有意の
データを取９損う欠点がある。
で、断線検出のための影響がロタする時間が長い入力部
をもつ測定装曾では高速でデータ処理を行なおうとする
と測定誤差が生じる。また、←）の方法では、計測スタ
ー）Ｌｍがら測定開始までの待時間が長くなり、有意の
データを取９損う欠点がある。
本発明はこれらの点を改良するためになされたもので、
第２図にその測定シーケンスを示す。第２図に示す如く
、本発明においては計測スタートｔｓから先ず全チャネ
ルの一１定を行ない、その測定が終ってから全チャネル
の断線を検出するようにしたものである。
第２図にその測定シーケンスを示す。第２図に示す如く
、本発明においては計測スタートｔｓから先ず全チャネ
ルの一１定を行ない、その測定が終ってから全チャネル
の断線を検出するようにしたものである。
このようなシーケンスをもつ本発明の多点データ測定装
置においては、全チャネルの測定の後にまとめて全チャ
ネルの断線チェックを行うようにしているので、例え断
線チェックのための影畳が回復する時間が長い入力部を
もつ多点データ測定装置でも、その回復に要する時間を
実質的に無視することができ、多点のデータを短時間で
精度良〈測定することができる。また、計測スタートか
ら直ちに測定に入るので、有意のデータを取シ損うこと
もなくなる。
置においては、全チャネルの測定の後にまとめて全チャ
ネルの断線チェックを行うようにしているので、例え断
線チェックのための影畳が回復する時間が長い入力部を
もつ多点データ測定装置でも、その回復に要する時間を
実質的に無視することができ、多点のデータを短時間で
精度良〈測定することができる。また、計測スタートか
ら直ちに測定に入るので、有意のデータを取シ損うこと
もなくなる。
本発明の多点データ測定装置に用いられる入力回路とし
ては必ずしも特定のものに限定されるものではないが、
実施例で用いられている入力部およびこの入力部をもつ
多点データ測定装置の構成について以下に説明する。な
お、この入力部に用いられている絶縁回路線本願出願人
によって既に特願１＠ ５２−１０７５１１号として出
願されている。以下、本発明の多点データＩｌｌ定装置
を説明する前に、その既出願の絶縁回路について第３図
を用いて説明する。
ては必ずしも特定のものに限定されるものではないが、
実施例で用いられている入力部およびこの入力部をもつ
多点データ測定装置の構成について以下に説明する。な
お、この入力部に用いられている絶縁回路線本願出願人
によって既に特願１＠ ５２−１０７５１１号として出
願されている。以下、本発明の多点データＩｌｌ定装置
を説明する前に、その既出願の絶縁回路について第３図
を用いて説明する。
第ＳＷＡにおいて、Ｅは被測定信号源、Ｄｐはグイオー
ドＤ工とＤ２とを並列かつ逆極性に接続したダイオード
回路で、その電圧Ｖに対する電流Ｉの特性は第４図の如
く示される。同様に、ＤｓはダイオードＤ３とｐ４とを
並列かつ逆極性に接続したダイオード回路で、そのＶ、
Ｉ特性は同様に第４図で示される。Ｔは１８１の小形パ
ルストランスで５次巻線ｎ３を有し、この３次巻線ｎ３
にはイン・ζルス電ｆｉｉｏが供給される。Ｃ１，Ｃ２
はコンデンサで、コンデンサＣ１と逆並列接続ダイオー
ド回路Ｄｐおよびトランスτの１次巻線ｎ工で入力回路
が構成され、トランスＴの２次巻線ｎ２と逆並列接続ダ
イオード回路ＤｓおよびコンデンサＣで出力回路が構成
される。トラ−ンスＴを理想トランスとすれば、１次、
２次巻線ｎ□、ｎ２に生じる電圧ｅ□、ｅ２と巻線ｎ□
＋ ｎ２を流れる電流１１．１２には、”１−”２＊
ｉ□＋１゜−１ｏの関係が成立し、更にトランスＴか
らみえ左右の対称性を考慮すると、定常状１１において
は１□＝ ＞２− ｉｏ／２となる。６次巻線ｎ３に供
給するインパルス電ｖＬ１ｏとして第５図０）に示す振
幅±ｌｏの電流を用いれば、１□。
ドＤ工とＤ２とを並列かつ逆極性に接続したダイオード
回路で、その電圧Ｖに対する電流Ｉの特性は第４図の如
く示される。同様に、ＤｓはダイオードＤ３とｐ４とを
並列かつ逆極性に接続したダイオード回路で、そのＶ、
Ｉ特性は同様に第４図で示される。Ｔは１８１の小形パ
ルストランスで５次巻線ｎ３を有し、この３次巻線ｎ３
にはイン・ζルス電ｆｉｉｏが供給される。Ｃ１，Ｃ２
はコンデンサで、コンデンサＣ１と逆並列接続ダイオー
ド回路Ｄｐおよびトランスτの１次巻線ｎ工で入力回路
が構成され、トランスＴの２次巻線ｎ２と逆並列接続ダ
イオード回路ＤｓおよびコンデンサＣで出力回路が構成
される。トラ−ンスＴを理想トランスとすれば、１次、
２次巻線ｎ□、ｎ２に生じる電圧ｅ□、ｅ２と巻線ｎ□
＋ ｎ２を流れる電流１１．１２には、”１−”２＊
ｉ□＋１゜−１ｏの関係が成立し、更にトランスＴか
らみえ左右の対称性を考慮すると、定常状１１において
は１□＝ ＞２− ｉｏ／２となる。６次巻線ｎ３に供
給するインパルス電ｖＬ１ｏとして第５図０）に示す振
幅±ｌｏの電流を用いれば、１□。
１゜は第５図←）の如く振幅±Ｉｏ１２のパルス電流と
なる０ 第４ 図に示ス／（＃ −）” Ｄ、、 Ｄ２（Ｄ３．
Ｄ４） ノＶ、 １すれば、トランスＴの１次巻線ｎ
工に生じる電圧ｅ工はインパルス電流ｉｏが正パルスの
時は（ＥＸ＋１）に、ｉｏが負のパルスの時ａ（Ｋｘ−
Δ２）と愈る。同様に、出力回路のＩ＃ｌｌＩｎ２の電
圧ｅ２は第５図のｆ今に示す如＜１ｏが正パルスの時Ｋ
ｅ２ｗＥ２＋Δ′１．負パルス時に”２弓２＝’２とな
る。電圧ｅ２はコンデンサＣ２で炉渡され、出力電圧Ｅ
２となる。この出力電圧Ｅ２はｅ工＝６２が成立する値
で平衡する。すなわち、出力電圧Ｅ２は、 ｉｏが正パル時には・・・ＥＸ十Δ１ ” ”２ ”
” ｊ−１ｏが負パルス時には””ｘ−４２−”２−Δ
１２で真わされる２つの式の加算平均値として導かれる
。
なる０ 第４ 図に示ス／（＃ −）” Ｄ、、 Ｄ２（Ｄ３．
Ｄ４） ノＶ、 １すれば、トランスＴの１次巻線ｎ
工に生じる電圧ｅ工はインパルス電流ｉｏが正パルスの
時は（ＥＸ＋１）に、ｉｏが負のパルスの時ａ（Ｋｘ−
Δ２）と愈る。同様に、出力回路のＩ＃ｌｌＩｎ２の電
圧ｅ２は第５図のｆ今に示す如＜１ｏが正パルスの時Ｋ
ｅ２ｗＥ２＋Δ′１．負パルス時に”２弓２＝’２とな
る。電圧ｅ２はコンデンサＣ２で炉渡され、出力電圧Ｅ
２となる。この出力電圧Ｅ２はｅ工＝６２が成立する値
で平衡する。すなわち、出力電圧Ｅ２は、 ｉｏが正パル時には・・・ＥＸ十Δ１ ” ”２ ”
” ｊ−１ｏが負パルス時には””ｘ−４２−”２−Δ
１２で真わされる２つの式の加算平均値として導かれる
。
したがって、Δ１””ｌｔ ２鴎１２とすれば、Ｅ２
は入力直流電圧Ｅｘに等しく、かつ入力回路とは電気的
に絶縁された電圧となる。なお、上述ではトランスτに
３次巻線ｎ３を用いた場合を例示したが、第ｍ１ｉＡ（
イ）の如くインパルス電流源ＩＰを１次、２次巻線ｎ□
、ｎ２を有するトランスＴの２次巻線ｎ２の両端に接続
してもよく、あるいは並列ダイオード回路ＤｐとＤｓの
それぞれの両端間に接続するようＶこしてもよい。ｔた
、ダイオードＤ□、Ｄ２ （Ｄａ＋ Ｄ４）に代えて、
第６図←）の如くダイオード接続するようにしたトラン
ジスタを用いるようにしてもよい。
は入力直流電圧Ｅｘに等しく、かつ入力回路とは電気的
に絶縁された電圧となる。なお、上述ではトランスτに
３次巻線ｎ３を用いた場合を例示したが、第ｍ１ｉＡ（
イ）の如くインパルス電流源ＩＰを１次、２次巻線ｎ□
、ｎ２を有するトランスＴの２次巻線ｎ２の両端に接続
してもよく、あるいは並列ダイオード回路ＤｐとＤｓの
それぞれの両端間に接続するようＶこしてもよい。ｔた
、ダイオードＤ□、Ｄ２ （Ｄａ＋ Ｄ４）に代えて、
第６図←）の如くダイオード接続するようにしたトラン
ジスタを用いるようにしてもよい。
このような絶縁回は回路構成が簡単で、かつ小形である
Ｋも拘らず低レベルの信号を絶縁することができ、現在
で社椎々のものに用いられている。
Ｋも拘らず低レベルの信号を絶縁することができ、現在
で社椎々のものに用いられている。
本発明はこのような絶縁回路を入力部に持つ測定装置に
おいて、測定シーケンスを第２図で説明した如く改良し
たもので、その実施例を第７図に示す。第７図において
、工Ｓ工、 Ｉｓ２． 、、、はそれぞれ第３図で示し
た絶縁回路、Ｅ Ｅ 、、、は被測定ｘｉ’
ｘ２’ 信号、Ｒｘｉ’ Ｒｘ２’ ””はそれぞれ被測定信号
源のインピーダンスを示すものである。この信号源には
熱電対が多く用いられる。ρ Ｕはそれぞれ実装置′
２ 上部品固有の絶縁抵抗、Ｓｌ、 Ｓ２． 、、、はそれ
ぞれスキャナスイッチ、Ａは増幅器、ＡＤはアナログ・
ディジタル変換器（以下、単にＡＤ変換器という）、Ｃ
０ＮＴは演算制御回路、ＤＩＳは表示回路、ＳＢは断線
検出用スイッチ、ＩＢＳは断線検出用電流源、ｃｏｐは
コンパレータ、ＥＳは基準電圧源である。絶縁抵抗ρ□
はコンデンサＣ工に並列に接続され、被測定信号源Ｅｘ
よけその絶縁抵抗ρ１に並列に接続されている。絶縁抵
抗ｐ２はコンデンサＣ２に並列に接続され、その一方の
接続点ＸはスイッチＳ１を介して増幅器ムの入力端に接
続され、この増幅器の出力端はＡＤ変換器と演算制御回
路Ｃ０ＮＴを介して表示回路ＤＩＳＫ接続されている。
おいて、測定シーケンスを第２図で説明した如く改良し
たもので、その実施例を第７図に示す。第７図において
、工Ｓ工、 Ｉｓ２． 、、、はそれぞれ第３図で示し
た絶縁回路、Ｅ Ｅ 、、、は被測定ｘｉ’
ｘ２’ 信号、Ｒｘｉ’ Ｒｘ２’ ””はそれぞれ被測定信号
源のインピーダンスを示すものである。この信号源には
熱電対が多く用いられる。ρ Ｕはそれぞれ実装置′
２ 上部品固有の絶縁抵抗、Ｓｌ、 Ｓ２． 、、、はそれ
ぞれスキャナスイッチ、Ａは増幅器、ＡＤはアナログ・
ディジタル変換器（以下、単にＡＤ変換器という）、Ｃ
０ＮＴは演算制御回路、ＤＩＳは表示回路、ＳＢは断線
検出用スイッチ、ＩＢＳは断線検出用電流源、ｃｏｐは
コンパレータ、ＥＳは基準電圧源である。絶縁抵抗ρ□
はコンデンサＣ工に並列に接続され、被測定信号源Ｅｘ
よけその絶縁抵抗ρ１に並列に接続されている。絶縁抵
抗ｐ２はコンデンサＣ２に並列に接続され、その一方の
接続点ＸはスイッチＳ１を介して増幅器ムの入力端に接
続され、この増幅器の出力端はＡＤ変換器と演算制御回
路Ｃ０ＮＴを介して表示回路ＤＩＳＫ接続されている。
増幅器Ａの入力端は更にスイッチＳＢを介して電流源Ｉ
Ｂ８に接続されるとともに、コンパレータＣＯｐの一方
の入力端に接続されている。なお、コンパレータＣＯｐ
の一方の入力端は図の点線で示す如く、増幅器Ａの出力
端に接続しても良い。コンパレータＣＯｐの他方の入力
端は基準電圧源ＥＢを介してコモンに接続されている。
Ｂ８に接続されるとともに、コンパレータＣＯｐの一方
の入力端に接続されている。なお、コンパレータＣＯｐ
の一方の入力端は図の点線で示す如く、増幅器Ａの出力
端に接続しても良い。コンパレータＣＯｐの他方の入力
端は基準電圧源ＥＢを介してコモンに接続されている。
コンパレータｃｏｐの出力端は演算・制御回路Ｃ０ＮＴ
に接続されている。絶縁回路Ｉｓ２． 、、、も上記絶
縁回路工Ｓ１と全く同一構成のもので、スイッチＳ２．
、、、を介してそれぞれ増幅器ムの入力端に接続され
ている。
に接続されている。絶縁回路Ｉｓ２． 、、、も上記絶
縁回路工Ｓ１と全く同一構成のもので、スイッチＳ２．
、、、を介してそれぞれ増幅器ムの入力端に接続され
ている。
このような構成の本発明装置において断線検出のための
動作について説明すると次の如くなる。
動作について説明すると次の如くなる。
この断線検出は第２図のシーケンスで示した如く被測定
信号ＨＥ 、、、の測定後に行われる。被ｘｉ’
ｘ２ 測定信号Ｅｘｉ’ Ｅｘ２’ ”’の測定はスキャナ接
点Ｓ□。
信号ＨＥ 、、、の測定後に行われる。被ｘｉ’
ｘ２ 測定信号Ｅｘｉ’ Ｅｘ２’ ”’の測定はスキャナ接
点Ｓ□。
Ｓ２を１−次オンにし、Ｅｘｌ、ＥＸ□、・・・を第３
図の説明に基づいて動作する絶縁回路工ｓ１・工ｓ２・
・・・を介してＡＤ変換器に与え、このＡＤ変換器で入
力信号”ｘｉ’Ｅｘ２”・、を順次ディジタル信号に変
換し、演算・制御回路Ｃ０ＮＴに入力することにより行
われる。全チャネルの測定が終ったら、次に断線検出の
７−ケンスに入る。断線検出時においてもスキャナ接点
Ｓ□ｌ ８２１ ”’を順次オンにする。いま、スキャ
ナ接点Ｓ１がオンのとき断線検出用スイッチＳＢを第８
図に示す時刻ｔ。においてオンにすると、電流源ＩＢＳ
から得られる断線検出用電流ＩＢはスイッチＳＢとＳ□
を介して絶縁回路Ｉｓ□における出力側コンデンサＣ２
ニ流れ、これによりＣ２が充電される。この充電とほと
んど同時にその電位は人力回路の・・ ｊ・（ デンサＣ工に転移される。その結果、コンデンサｃ１’
の電圧ｅ□は第８図の曲線０）の如く示される。次に、
第８図において時刻ｔ１においてスイッチ８Ｂがオフに
なるが、この場合の動作を検討する。いま、被測定信号
源Ｅｘ１のインピーダンスＲＸ□が小さい場合、入力回
路側コンデンサＣ工の電荷はＣ工・Ｒｘ１の時定数で放
電するため、その電位は急速に低下する。
図の説明に基づいて動作する絶縁回路工ｓ１・工ｓ２・
・・・を介してＡＤ変換器に与え、このＡＤ変換器で入
力信号”ｘｉ’Ｅｘ２”・、を順次ディジタル信号に変
換し、演算・制御回路Ｃ０ＮＴに入力することにより行
われる。全チャネルの測定が終ったら、次に断線検出の
７−ケンスに入る。断線検出時においてもスキャナ接点
Ｓ□ｌ ８２１ ”’を順次オンにする。いま、スキャ
ナ接点Ｓ１がオンのとき断線検出用スイッチＳＢを第８
図に示す時刻ｔ。においてオンにすると、電流源ＩＢＳ
から得られる断線検出用電流ＩＢはスイッチＳＢとＳ□
を介して絶縁回路Ｉｓ□における出力側コンデンサＣ２
ニ流れ、これによりＣ２が充電される。この充電とほと
んど同時にその電位は人力回路の・・ ｊ・（ デンサＣ工に転移される。その結果、コンデンサｃ１’
の電圧ｅ□は第８図の曲線０）の如く示される。次に、
第８図において時刻ｔ１においてスイッチ８Ｂがオフに
なるが、この場合の動作を検討する。いま、被測定信号
源Ｅｘ１のインピーダンスＲＸ□が小さい場合、入力回
路側コンデンサＣ工の電荷はＣ工・Ｒｘ１の時定数で放
電するため、その電位は急速に低下する。
絶縁回路Ｉ８．の出力電圧ｅ０もほとんど同時コンデン
サＣ工の電位に追従して減少する。この様子は第８図の
曲線←）で示される。一方、被測定信号源Ｅｘ１のイン
ピーダンスＲＸ□が断線している場合、その放電時定数
はＣ□・ρ１とＣ２・／２が代表的なものとなり、第８
図の曲線（ハ）の様にゆっくりと減衰する。
サＣ工の電位に追従して減少する。この様子は第８図の
曲線←）で示される。一方、被測定信号源Ｅｘ１のイン
ピーダンスＲＸ□が断線している場合、その放電時定数
はＣ□・ρ１とＣ２・／２が代表的なものとなり、第８
図の曲線（ハ）の様にゆっくりと減衰する。
し九がって、コンパレータＣＯｐに用いる基準電圧Ｅｓ
の値をＥｃとしておけば、スイッチＢＢがオフに立った
後のある時間（例えば時刻ｔ３）で見ると、コンパレー
ジ冒ンレベルＥｃに対して（ロ）曲線とぐ３曲線は明ら
かに分離され、この相違はコンパレータｃｏｐによって
検出される。すなわち、被測定信号源ＥＸ□の断線をコ
ンパレータＣＯＰによって検出することができる。被測
定信号源Σ １０．の断線も２２ スイッチＳ２． 、、、をオンにすることにより、上記
の動作に準じて順次行われる。コンパレータＣｏｐの出
力は演算・制御回路Ｃ０ＮＴに入力される。コンパレー
タＣＯｐにより得られた信号で演算・制御回路Ｃ０ＮＴ
は前に入力されていた被測定信号ＥＸ□ｌ Ｒｘ２１
”’の値が有意か無意かを判定する。表示回路ＤＩＳは
制御回路Ｃ０ＮＴよ抄得られる有意である被測定信号の
値を測定データとして表示又は印字する。
の値をＥｃとしておけば、スイッチＢＢがオフに立った
後のある時間（例えば時刻ｔ３）で見ると、コンパレー
ジ冒ンレベルＥｃに対して（ロ）曲線とぐ３曲線は明ら
かに分離され、この相違はコンパレータｃｏｐによって
検出される。すなわち、被測定信号源ＥＸ□の断線をコ
ンパレータＣＯＰによって検出することができる。被測
定信号源Σ １０．の断線も２２ スイッチＳ２． 、、、をオンにすることにより、上記
の動作に準じて順次行われる。コンパレータＣｏｐの出
力は演算・制御回路Ｃ０ＮＴに入力される。コンパレー
タＣＯｐにより得られた信号で演算・制御回路Ｃ０ＮＴ
は前に入力されていた被測定信号ＥＸ□ｌ Ｒｘ２１
”’の値が有意か無意かを判定する。表示回路ＤＩＳは
制御回路Ｃ０ＮＴよ抄得られる有意である被測定信号の
値を測定データとして表示又は印字する。
このように、入力部にコンデンサＣ工、Ｃ２を有し、こ
れに断線検出用電流ＩＢを流して被測定信号源の断線の
有無を検出するようにした装置においては、コンデンサ
Ｃ１，Ｃ２の電荷が完全に放電されないうちに測定する
と１差が生じるが、完全に放電するまでにはかな沙の時
間を要する。そのため、第１図（イ）の如く、各チャネ
ル毎に断線の検出と測定を行うシーケンスではチャネル
数が多くなると、全チャネルの測定にかなりの時間が必
要となる。これに対して、本発明の装置は全チャネルの
測定終了後に断線検出を行うようＫしたので、コンデン
サの放電を待つ時間が実質的に無くなり、そのため計測
指令からデータ集録完了までの時間を短くすることがで
きる。また、計測指令からすぐに測定し始めるので、有
意のデータを取ね損うこともなくなる。
れに断線検出用電流ＩＢを流して被測定信号源の断線の
有無を検出するようにした装置においては、コンデンサ
Ｃ１，Ｃ２の電荷が完全に放電されないうちに測定する
と１差が生じるが、完全に放電するまでにはかな沙の時
間を要する。そのため、第１図（イ）の如く、各チャネ
ル毎に断線の検出と測定を行うシーケンスではチャネル
数が多くなると、全チャネルの測定にかなりの時間が必
要となる。これに対して、本発明の装置は全チャネルの
測定終了後に断線検出を行うようＫしたので、コンデン
サの放電を待つ時間が実質的に無くなり、そのため計測
指令からデータ集録完了までの時間を短くすることがで
きる。また、計測指令からすぐに測定し始めるので、有
意のデータを取ね損うこともなくなる。
第１図Ｏ）、←）は従来の測定シーケンスを説明するた
めの図、第２図は本発明装置の測定シーケンスを説明す
るための図、第３図は本発明の測定装置に用いられる絶
縁回路の接続図、第４図および第５図は第３図の特性お
よび動作を説明するための図、第６図は第３図の他の回
路例を示す図、第７ＷＡは本発明の測定装置の一実施例
を示す接続図、第８図はその動作を説明するための図で
ある。 Ｉｓｌ、 Ｉｓ２．・・・絶縁回路、ＥＸ□、ＥＸ□、
・・・被測症信号源、Ｄ・・・アナログ・ディジタル変
換器、ＳＢ・・・断線検出用スイッチ。
めの図、第２図は本発明装置の測定シーケンスを説明す
るための図、第３図は本発明の測定装置に用いられる絶
縁回路の接続図、第４図および第５図は第３図の特性お
よび動作を説明するための図、第６図は第３図の他の回
路例を示す図、第７ＷＡは本発明の測定装置の一実施例
を示す接続図、第８図はその動作を説明するための図で
ある。 Ｉｓｌ、 Ｉｓ２．・・・絶縁回路、ＥＸ□、ＥＸ□、
・・・被測症信号源、Ｄ・・・アナログ・ディジタル変
換器、ＳＢ・・・断線検出用スイッチ。
Claims (1)
- 被測定信号源の断線検出を全チャネルの測定終了後に行
うようにしたシーケンスを有する多点データ測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2493682A JPS58142500A (ja) | 1982-02-18 | 1982-02-18 | 多点デ−タ測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2493682A JPS58142500A (ja) | 1982-02-18 | 1982-02-18 | 多点デ−タ測定装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS58142500A true JPS58142500A (ja) | 1983-08-24 |
| JPH0318239B2 JPH0318239B2 (ja) | 1991-03-12 |
Family
ID=12151949
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2493682A Granted JPS58142500A (ja) | 1982-02-18 | 1982-02-18 | 多点デ−タ測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS58142500A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013001680A1 (ja) * | 2011-06-28 | 2013-01-03 | パナソニック株式会社 | 電圧計測装置 |
-
1982
- 1982-02-18 JP JP2493682A patent/JPS58142500A/ja active Granted
Cited By (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013001680A1 (ja) * | 2011-06-28 | 2013-01-03 | パナソニック株式会社 | 電圧計測装置 |
| JPWO2013001680A1 (ja) * | 2011-06-28 | 2015-02-23 | パナソニック株式会社 | 電圧計測装置 |
| US9389277B2 (en) | 2011-06-28 | 2016-07-12 | Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. | Voltage measuring apparatus |
| US9645199B2 (en) | 2011-06-28 | 2017-05-09 | Panasonic Inteelectual Property Management Co., Ltd. | Voltage measuring apparatus |
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| Publication number | Publication date |
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| JPH0318239B2 (ja) | 1991-03-12 |
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