SE425995B - Kontaktkontrollanordning - Google Patents

Kontaktkontrollanordning

Info

Publication number
SE425995B
SE425995B SE7800906A SE7800906A SE425995B SE 425995 B SE425995 B SE 425995B SE 7800906 A SE7800906 A SE 7800906A SE 7800906 A SE7800906 A SE 7800906A SE 425995 B SE425995 B SE 425995B
Authority
SE
Sweden
Prior art keywords
circuit
output
signal
input
contact
Prior art date
Application number
SE7800906A
Other languages
English (en)
Other versions
SE7800906L (sv
Inventor
G Giraud
Original Assignee
Cii Honeywell Bull
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Cii Honeywell Bull filed Critical Cii Honeywell Bull
Publication of SE7800906L publication Critical patent/SE7800906L/sv
Publication of SE425995B publication Critical patent/SE425995B/sv

Links

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04LTRANSMISSION OF DIGITAL INFORMATION, e.g. TELEGRAPHIC COMMUNICATION
    • H04L1/00Arrangements for detecting or preventing errors in the information received
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/52Testing for short-circuits, leakage current or ground faults
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/54Testing for continuity
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/50Testing of electric apparatus, lines, cables or components for short-circuits, continuity, leakage current or incorrect line connections
    • G01R31/66Testing of connections, e.g. of plugs or non-disconnectable joints
    • G01R31/68Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board
    • G01R31/69Testing of releasable connections, e.g. of terminals mounted on a printed circuit board of terminals at the end of a cable or a wire harness; of plugs; of sockets, e.g. wall sockets or power sockets in appliances

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Arrangements For Transmission Of Measured Signals (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Selective Calling Equipment (AREA)

Description

35 #0 7800906-5 elektriska signaler som mottagaren normalt skall mottaga. En kon- taktkontroll är då nödvändig, särskilt om det är fråga om en bär- bar mottagare, som ofta inställes och är placerad i omgivningar som är dåligt skyddade mot föroreningar. Problemet om kontaktens godhet blir ännu viktigare, när signalerna överföras i form av korta pulser som utsändas med relativt hög frekvens. I detta fall kan en förorening på nivån av den genom stift åstadkomna kontakten införa en icke för- 1 sumbar kapacitiv störningsverkan vid de ovan angivna impulsöverförings- förhållandena, och på grund därav kan vissa av de från sändaren utsända pulserna försvinna vid mottagarens ingång.
Denna möjlighet bör särskilt beaktas i det fall då sändar- och mottagarkretsarna är logiska kretsar bestående av diskreta eller in- tegrerade komponenter. Sammankopplingen av sådana kretsar är avsedd för utbyte av digitala data genom transmission av pulser från en krets till en annan i en given takt. I det fall då de utväxlade datana skall behandlas i synkronism i vardera av kretsarna, är en ledare reserverad för överföringen av s.k. "klockpulser" genom vilka synkronismen åstad- kommes. I detta exempel på tillämpningen av en kontakt insatt mellan två logiska kretsar för överföring av antingen klockpulser eller pul- ser som motsvarar digitala data, uppskattar man vikten av att kontrol- lera godheten av en kontakt under hela tiden för överföringen av pul- 4 ser, så att man kan förvissa sig om validiteten av de utväxlade data och av synkronismen av funktionerandet av de båda kretsarna.
En vanlig metod består i att kontrollera godheten av en kontakt mellan en sändarkrets och en mottagarkrets, genom mätning av ingångs- spänningen hos mottagaren. Om kontakten är god, är den vid mottagarens ingång mottagna spänningen en bestämd funktion av den spänning som upp- mätes vid sändarens utgång. En annan metod beskrives i franska paten- tet 75 40361 avseende "ett bärbart kort för behandlingssytem för elek- triska signaler och förfarande för framställning av detta kort". I det- ta fall åstadkommas de elektriska kontakterna mellan ett bärbart kort och ett databehandlingssystem genom stift som införas i urtagningar i kortet ända till läget av kontaktytor hos ledare i direkt förbindelse med en mottagningsanordning för behandling av signaler. Denna metod består i att tillföra en förutbestämd spänning mellan två elektroder införda i två kontakt-urtagningar mittför en kontaktyta hos en och samma ledare som är förbunden med mottagare- och/eller sändare-anord- ningen. Kontakten är god om man detekterar passagen av en förutbe- stämd ström mellan de två urtagningarna och kontaktytan.
Ehuru denna senare metod är enkel att utnyttja för åstadkommande 10 15 20 25 30 35 20 7800906-5 av en effektiv kontroll av kontakter, såsom kontakter belägna på nivån av ettbärbart kort som kan utgöra sändare eller mottagare för signaler, är de anordningar som därvid användas framför allt anpas- sade för en kontroll utförd innan kortet sättes i förbindelse med ett system för behandling av data. Dessa anordningar skulle nämligen ha olägenheten att vara alltför skrymmande för att kunna lämnas i permanent förbindelse med kortet, framför allt i det fall då detta är ett kreditkort vars dimensioner år normaliserade. För övrigt är det just i detta fall nödvändigt att kontrollera kvaliteten av en kontakt på nivån av kortet när denna åstadkommer en elektrisk för- bindelse med det kort som fungerar som mottagare. När kortet tjänar till utsändning av signaler till databehandlingssystemet genom en kontakt belägen på nivån av kortet, kan dess kvalitet verifieras på nivån av nämnda system genom kända medel som är lätta att utnyttja, exempelvis bestående av kontroll av de data som mottagas av logiska organ.
Ett av ändamålen med uppfinningen är att åstadkomma permanenta kontrollorgan som fungerar under hela varaktigheten av överföringen av signaler från sändare till mottagare.
Ett annat ändamål med uppfinningen är att åstadkomma organ som icke kräver utförande av en kontroll vid ingången hos en mottagare.
Enligt uppfinningen är en kontaktkontrollanordning, som är in- satt mellan en vid ingångssidan belägen sändarkrets och en vid utgångs- sidan belägen mottagarkrets, varvid kontakten slutes för att i serie till en ingång hos mottagarkretsen överföra elektršâka signaler mot- svarande de logiska tillstånden 1 och Osom alstras/sändarkretsen, ka- raktäriserad av att den består av en första krets belägen vid kontak- tens ingångssida vid sändarkretsens utgång, och en andra krets belägen vid kontaktens utgångssida vid mottagarkretsens ingång; vilken första krets är anordnad att på en första utgång förbunden med den andra kretsen alstra, om kontakten är god, en ström med en bestämd riktning eller motsatt riktning vid närvaro av en signal, utsänd av sändar- kretsen, motsvarande det logiska tillståndet l eller 0; under det att den andra kretsen är anordnad att på en utgång förbunden med mottagar- kretsens ingång alstra en signal motsvarande det logiska tillstånd som alstras av sändarkretsen vid närvaro av ström med motsvarande riktning utsänd från första kretsen, vilken första krets utsänder en signal till en andra ingång vid närvaro av nämnda ström, så att signalen in- dikerar att kontakten är god.
Andra kännetecken och fördelar hos uppfinningen framgår av följande 10 15 20 25 30 35 #0 7800906-5 beskrivning av utföringsexempel i anslutning till ritningen.
Pig. 1 visar ett principschema för en kontaktkontrollanordning enligt uppfinningen.
Pig; 2 visar ett princípschema för den första kretsen ingående i den i fig. 1 visade anordningen enligt uppfinningen.
Pig. 3 visar ett exempel på utförandet av den första kretsen i fig. 1 och 2 och av den andra kretsen i fig. 1.
Enligt fig. 1 är en kontakt B80 insatt mellan en sändarkrets E och en mottagarkrets R. Sändarkretsen E är anordnad att successivt sända elektriska signaler som kaåïått av två logiska tillstànd l och O.
I fig. 1 alstrar kretsen E dessa signaler, betecknade med SE resp. ÉÉ, genom två utgångar 10 och 11 som sänder motsvarar signaler, i det lo- giska tillståndet l. När kontakten BSO är god, fungerar den som sluten strömbrytare som till utgångssidan överför en vid ingångssidan utsänd signal. Om kontakten BSO är dålig, fungerar den som öppen strömbrytare, som icke överser någon signal från ingångssidan till utgångssidan.
Kontrollanordningen för kontakten BSO enligt uppfinningen består i fig. 1 av en första krets C1 vid ingångssidan av kontakten och en andra krets C2 vid utgångssidan av kontakten. Kretsen C1 har två in- gångar 12 och 13 som är förbundna med utgångarna 10 resp. 11 hos sän- darkretsen E och en utgång 14 förbunden med en ingång 15 hos kretsen C2, när kontakten BSO är god. Kretsen C2 är genom en utgång 16 för- bunden med ingången 20 hos mottagarkretsen R. Kretsen C1 är anordnad afï vid sin utgång 1N alstra en ström I1 av en första bestämd riktning (från vänster till höger i fig. 1), när den vid sin ingång 12 mottager en signal SE, endast om kontakten BSO är god. Kretsen C1 alstrar vid sin utgång 1% en ström I2 år en andra bestämd riktning (från höger till vänster i fig. 1), när den vid sin ingång mottager en signal ÉÉ, endast om kontakten BSO är god. Kretsen C1 är dessutom anordnad att alstra en signal vid en annan utgång 17 vid närvaro av en av strömmar- na I1 och I2 vid dess utgång 1M. Kretsen C2 är anordnad att vid sin utgång 16 alstra en signal ER, som antingen är lika med det logiska' tillståndet l (som alstras av sändarkretsen) 'vid närvaro av strömmen I1 vid dess ingång 15, eller lika med det logiska tillståndet O (som alstras av sândarkretsen) vid närvaro av strömmen I2 vid dess ingång 15. Sålunda är det genom detekteringsorgan, som icke innefattas i kontrollanordningen D, vilka mottager den signal som utsändes vid ut- gången 17 hos kretsen C1, möjligt att verifiera att kontakten BSO är god.
Kretsen C1 i fig. 1 innefattar, i fig. 2, första omvandlinge- 10 15 20 25 35 H0 7800906-5 5 organ M1 anordnade att omvandla en av signalerna SE och ÉÉ som mottages vid en av ingångarna 12 och 13 hos kretsen C1, till en ström I1 eller I2, sådan som dessa strömmar har definierats i ovan- stående beskrivning, under förutsättning att kontakten BSO är god.
Andra organ M2 för selektiv koppling, som genom en ingång 21 för- binder organen M1 med utgången 1H hos kretsen C1, är anordnade att vid två utgångar 22 och 23 alstra signaler i ett bestämt logiskt tillstànd vid närvaro av strömmarna I1 resp. I2 som genomgår dessa organ M2 (alltefter signalen SE eller ÉÉ som utsändes av kretsen E).
Tredje organ M3 som utgör blandareorgan är genom två ingångar 24 resp. 25 förbundna med utgångarna 22 och 23. Organen M3 är anordnade att alstra en signal (vid utgången 17 hos kretsen C1) vid närvaro av en av de två signaler som utsändes vid utgångarna U2 och U3 hos organen M2. Sålunda kommer vid närvaro av en av de tvâ strömmarna I1 och I2 som genomgår organen M2, en signal att sändas till detektorn DCB, i fig. 1 och 2, vilken tillåter att verifiera att kontakten BSO i fig. 1 är god.
Organen M1 i fig. 2 innefattar, i fig. 3, två identiska kretsar ct 1 och ct 2 som består av NOCH-grindar med öppen kollektor (CI1 resp.
CI2), motstånd R2 och R3, transistorer T1 och T3, dioder D1 och D3 samt motstånd R1 och RH. Två ingångar hos kretsarna CI1 och CI2 är förbund- na med utgângarna 10 resp. 11, i fig. 1 och 2, under förmedling av in- gångarna 12 och 13 hos organen M1, varjämte en andra ingång hos kret- sarna CI1 och CI2 är förbundna med en tredje utgång 30 hos sändar- kretsen, í fig. 1 och 2. Motstânden R2 och R8 är inkopplade mellan ut- gângarna hos kretsarna CI1 resp. CI2 och baserna hos transistorerna T1 och T3. Dicden D1 är ansluten mellan en spänningsklämma V1 och basen hos transistorn T1. Dioden D3 är ansluten mellan en spänningsklämma V2 och basen hos transistorn T3. Motståndet R1 är anslutet mellan spän- ningsklämman D1 och emittern hos transistorn T1, under det att mot- ståndet R3 är anslutet mellan spänningsklämman V2 och emittern hos transistorn T3. Organen M1 innefattar en tredje krets ct3, som består' av en transistor R2, en diod D2 och ett motstånd R3, vilka senare är anslutna mellan en spänningsklämma Vä och basen resp. emittern hos transistorn T2. Organen M1 är förbundna med ingången 21 hos organen M2, i fig. 2, under förmedling av kollektorerna hos dessa transistorer T1 och T2. I fig. 3 innefattar organen M2 tvâ identiska kretsar bestå- ende av optoelektroniska omkopplare C01 resp. C02 och motstånd RS och RB. Omkopplarna C01 och C02 innehåller lysdioder DS och DG och foto- transístorer TH och TS vilkas emittrar år förbundna med en spännings- 10 15 20 25 30 35 RO 7800906-5 klämma V3. Dioderna DS och DG är seriekopplade med varandra genom en slinga som är ansluten till ingången 21, vilken slinga å andra sidan är förbunden med utgången 1N genom en förbindelse belägen mel- lan dioderna D5 och D6. Motstånden RS och R6 är anslutna mellan spän- ningsklämman V2 och kollektorerna hos transistorerna V4 resp. V5.
Organen M3 innefattar i fig. 3 två inverterare-kretsar CI3 och CIM, vilkas ingångar är förbundna med kollektorerna hos transistorerna TH resp. T5, och vilkas utgångar är förbundna med två ingångar hos en EXBLLER-krets CIS, som ingår i organen M3. Genom utgången 17 hos organen M3, i fig. 2 och 3, är en utgång hos kretsen CI6 förbunden med detektorn DCB, i fig. 1, 2 och 3. Kontakten BSO i fig. 1 och 2 är, i fig. 3, utförd som två stift BS resp. BO som är förbundna med ut- gången 1# hos organen M2, i fig. 2 och 3, och med en spänningsklämma V3. En diod DH och ett motstånd R7 hos kretsen C2 är parallellkopp- lade mellan ingången 15 hos denna krets och stiftet BO resp. en spän- ningsklämma V3. En inverterarekrets CIS hos kretsen C2 har en ingång förbunden med ingången 15, under det att dess utgång är förbunden med ingången 20 hos mottagarkretsen R under förmedling av utgången 16 hos kretsen C2. Spänningarna V1, V2, V3, VH hos de olika klämmorna i fig. 3 (i sjunkande ordning från de positiva värdena till de negativa värdena) lämnas exempelvis av fyra utgångar hos en gemensam matnings- anordning, som icke är visad i fig. 3.
När en signal SE utsände från utgången 10 hos sändarkretsen E, Motsvarande det logiska tillståndet l) sändes till en av ingångarna hos kretsen CI1, alstras en signal vid utgången med öppen kollektor hos denna vid närvaro av en valideringssignal VE utsänd från utgången 30 hos sändarkretsen E. Den signal som genomgår motståndet R2 tillåter att avblockera transistorn T1 som då har en emitterström Ie1 som i absolut värde är lika med en ström I1 som alstras vid kollektorn hos transistcrn T1 vilken sändes till ingången 21 hos organen M2.
Den sålunda alstrade strömmen I1 uttryckas som funktion av zener- spänningen VD1 vid klämmorna hos dioden D1 och motståndet R1, genom relationen Ie1 = :?1 = I1, i absolut värde. Då transistorerna T2 och T3 är blockerade, genomgår strömmen I1 organen M2 genom dioden D5 hos omkopplaren C01, varefter den genom utgången 1H genomgår kon- taktstiftet BS, motståndet R7 och kontaktstiftet BO. Potentialskill- naden vid klämmorna hos motståndet R7 (i absolut värde lika med pro- dukten R7 x I1) alstrar ett första logiskt tillstånd vid ingången hos inverteraren CIS som vid sin utgång 16 sänder signalen ER, mot- svarande det logiska tillståndet 1 som alstras av sändarkretsen. 10 15 20 25 30 35 #0 7800906-5 7 Passagen av strömmen I1 genom dioden DS mättar transistorn T4. Po- tentialskillnaden vid klämmorna hos motståndet RS alstrar då ett första logiskt tillstånd vid ingången hos inverteraren CI3. Vid ut- gången hos kretsen CI3 alstras en signal som sändes till en första ingång hos kretsen CIS, vars resulterande signal sändes genom ut- gången 17 till detektorn DCB, indikerande att kontakten är god.
När en signal ÉÉ som utsändes vid utgången 11 hos sändarkretsen E (motsvarande det logiska tillståndet O) sändes till en av ingångar- na hos kretsen CI2, alstras en signal vid utgången med öppen kollek- tor hos densamma vid närvaro av en valideringssignal VE som utsändes av utgången 30 hos sändarkretsen E. Den signal som genomgår motståndet R8 tillåter att avblockera transistorn T3 som då har en emítterström Ie3 som i absolut värde är lika med en ström som alstras vid kollek- torn hos transistorn T3, vilken genomgår dioden T2 och avblookerar transistorn T2. En emitterström Iez, som genomgår motståndet R3, är i absolut värde lika med en ström I2 som alstras vid kollektorn hos transistorn T2 som är förbunden med ingången 21. Den sålunda alstrade strömmen I2 uttryckas som funktion av zener-spänningen VD2 vid kläm- morna hos dioden D2 och motståndet R3, genom relationen Ie2= väg = I2, i absolut värde. Transistorn T1 bloekeras då. Den sålunda alstrade strömmen I2 genomgår kontaktstiftet BO, dioden DH, kontaktstiftet BS och dioden D6 hos omkopplaren C02. Potentialskillnaden vid klâmmorna hos dioden DH alstrar ett andra logiskt tillstånd vid ingången hos inverteraren CIS som vid sin utgång 16 utsänder signalen ER, som mot- svarar det logiska tillståndet O som alstras av sändarkretsen E.
Passagen av strömmen I2 genom dioden DS hos omkopplaren C02 mättar transistorn TS. Den potentialskillnad som då finns vid klämmorna hos motståndet R6 alstrar ett första logiskt tillstånd vid ingången hos inverteraren CIM. Vid utgången hos kretsen CIM alstras en signal som sändes till en andra ingång hos kretsen CI6, varvid den resulterande signalen sändes genom utgången 17 till detektorn DCB, indikerande att kontakten är god.
Om det icke finns någonting onormalt i kretsarna hos anordningen D i fig. 1, och om däremot den kontakt som bildas av de två stiften BS och BO är dålig, kan varken strömmen I1 genomgå motståndet R7 eller strömmen I2 genomgå dioden DM i det fall då kretsen E utsänder antingen signalen SE eller signalen ÉÉ. I dessa två fall kan ingen ström genom- gå dioderna D5 och D6 ooh, då transistorerna TH och TS icke är mättade, är ingångarna hos kretsarna CI3 och CIM i ett andra logiskt tillstånd.
På grund härav sändes ingen signal till de två ingângarna hos EXELLER- 10 15 20 25 30 7800906-5 8 -kretsen CIS, som då icke alstrar någon signal vid utgången 17. en OCH-grind CI7, anordnad i organen M3, vars två ingångar är för- bundna med utgångarna hos kretsarna CI3 resp. CIU, alstrar ingen signal vid en utgång 26 hos organen M3 i det fall då kontakten är dålig. Om däremot kontakten är god, men ingenting onormalt finnes i kretsarna hos organen M2, sändas de signaler som finnas på ut- gångarna hos kretsarna CIS och CIM till ingångarna hos OCH-grinden CI7 vilken alstrar en signal vid utgången 26. Genom anslutning av en anomali-detektor DAN till utgången 26 är det sålunda möjligt att bestämma orsaken till ett fel som detekteras av detektorn DCB, näm- ligen en dålig kontakt BSO eller en anomali i kontrollanordningen D.
Detektorerna DCB och DAN består exempelvis av enkla ljus-indikatorer.
Kontrollanordningen D, som är föremål för uppfinningen, tillåter så- lunda att i varje ögonblick detektera ett transmissionsfel som upp- kommer vid funktionerandet av sändar- och mottagarkretsarna när dessa utbyter informationer.
Uppfinningen är särskilt fördelaktig i det fall, då sändarkret- sen är ett system för behandling av data och då mottagarkretsen är ett kreditkort. I detta fall är det nämligen särskilt intressant att överföra kontrollen av beskaffenheten av kontakterna (på nivån av kreditkort) till själva utgången hos databehandlingssystemet, och sålunda undvika att belasta kortet med besvärliga extra kretsar. Genom en sådan kontrollanordning åstadkommas en god funktions-synkronism av kortet med det system med vilket det är förbundet. Varje fel i över- föringen av klockpulserna mellan systemet och kortet signaleras auto- matiskt av de beskrivna organen. Likaså kommer varje felaktigt data som mottages av kortet, som beror på en dålig kontakt på nivån av kortet, att automatiskt detekteras av kontrollanordningen enligt upp- finningen.

Claims (5)

9 7800906-5 Patentkrag
1. Kontaktkontrollanordning insatt mellan en sändarkrets (E) belägen vid ingångssidan och en mottagarkrets (R) vid utgångssidan, vilken kontakt (D) är anordnad att överföra i serie, till en ingång (20) hos mottagarkretsen (R), elektriska signaler som motsvarar logiska tillstånd 1 och 0 alstrade av sändarkretsen, k ä n n e t e c k n a d därav, att den består av en första krets (Cl) belägen, vid ingångs- sidan av kontakten (D), vid sändarkretsens (E) utgång, och en andra krets (C2) belägen, vid utgângssidan av kontakten (D), vid ingången (20) till mottagarkretsen (R), vilken första krets (C1) är anordnad att vid en första utgång (14) alstra en ström med en bestämd riktning eller motsatt riktning vid närvaro av en signal, utsänd av sändar- kretsen (E) och motsvarande det logiska tillståndet 1 eller O; vilken andra krets (C2) är anordnad att vid en utgång (15), som är förbunden med mottagarkretsens (R) ingång (20), alstra en signal, som motsvarar det logiska tillstånd som alstras av sändarkretsen (E), vid närvaro av strömmen med motsvarande riktning som utsändes av den första kretsen (C1), vilken första krets utsänder en signal vid en andra utgång (17) vid närvaro av nämnda ström, så att denna signal indikerar att kon- taken är god.
2. Anordning enligt kravet 1, k ä n n e t e c k n a d därav, att den första kretsen (C1) innefattar: - första omvandlingsorgan (M1) som genom en första (12) och en andra (13) ingång är förbunden med en första (10) respektive en andra (11) utgång hos sändarkretsen (E) som är reserverad för utsändning av signaler som motsvarar de logiska tillstånden 1 och 0 som skall över- föras till mottagarkretsen (R): ~ andra organ (M2) för selektiv koppling genom vilka en utgång hos nämnda första organ (M1) är förbunden med den andra kretsen (C2) via kontakten (D), om den är god: - tredje blandarorgan (M3) som genom tvâ ingångar (2H, 25) är förbundna med två respektive utgångar (22, 23) hos nämnda andra organ (M2); varvid nämnda första organ (M1) är anordnade att, vid den med nämnda andra organ (M2) förbundna utgången, alstra en ström med en bestämd riktning eller med motsatt riktning vid närvaro av en sig- nal på en av sina tvâ ingångar; varvid nämnda andra organ (M2) är an- ordnade att vid sina två utgångar (22, 23) alstra andra signaler med ett respektive bestämt logiskt tillstånd vid närvaro av nämnda ström- mar med motsatt riktning; under det att nämnda tredje organ (M3) är anordnade att alstra nämnda signal vid utgången hos den första kret- sen (C1) vid närvaro av en andra signal på en av sina ingångar. 7 8 Û 0 9 0 6- 5 10
3. Anordning enligt kravet 2, k ä n n e t e c k n a d därav, att den andra kretsen (CZ), som med en utgång (16) är förbunden med mottagarkretsen (R), består av fjärde omvandlingsorgan (CI 5) med en ingång förbunden med utgången hos nämnda första organ (M1) via nämnda andra organ (M2) och kontakten (D), om den är god.
4. H. Anordning enligt kravet 3, k ä n n e t e c k n a d därav, att nämnda första organ (M1) innefattar en första (ct1) och en andra (ct2) omvandlingskrets som förbinder de respektive ingångarna hos 7 dessanorgan med sändarkretsens (E) utgångar, varvid vardera av om- vandlingskretsarna (ct1, ct2) innefattar en transístor (T1, T3) och organ (CI1, R2; CI2, R8) anordnade att avblockera denna transistor vid närvaro av en signal på kretsens ingång och må sålunda alstra en strömimed bestämd riktning eller motsatt riktning på utgången hos nämnda första organ (M1).
5. Anordning enligt kravet 4, k ä n n e t e o k n a d därav, att nämnda andra selektiva kopplingsorgan (M2) innefattar en första och en andra optoelektronisk omkopplare (C01, C02), vardera inne- fattande en diod (DS, DE) och en transistor (TH, T5), varvid tran- sistorn hos varje omkopplare är mättad genom passagen av den ström som alstras i en bestämd riktning vid utgången hos nämnda första organ (M1), i dioden hos denna omkopplare, så att en signal alstras i en motsvarande utgång hos nämnda andra organ (M2). ---_ ANFURDÅ PUBLIKÅTIONER:
SE7800906A 1977-02-07 1978-01-25 Kontaktkontrollanordning SE425995B (sv)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
FR7703317A FR2379949A1 (fr) 1977-02-07 1977-02-07 Dispositif de controle d'un contact insere entre un circuit emetteur et un circuit recepteur pour la transmission de signaux electriques

Publications (2)

Publication Number Publication Date
SE7800906L SE7800906L (sv) 1978-08-08
SE425995B true SE425995B (sv) 1982-11-29

Family

ID=9186360

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
SE7800906A SE425995B (sv) 1977-02-07 1978-01-25 Kontaktkontrollanordning

Country Status (10)

Country Link
US (1) US4163210A (sv)
JP (1) JPS6053931B2 (sv)
BE (1) BE863337A (sv)
CH (1) CH619088A5 (sv)
DE (1) DE2805052C2 (sv)
ES (1) ES464813A1 (sv)
FR (1) FR2379949A1 (sv)
GB (1) GB1569955A (sv)
IT (1) IT1109198B (sv)
SE (1) SE425995B (sv)

Families Citing this family (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2386080A1 (fr) * 1977-03-31 1978-10-27 Cii Honeywell Bull Systeme de comptabilisation d'unites homogenes predeterminees
FR2397027A1 (fr) * 1977-07-07 1979-02-02 Cii Honeywell Bull Perfectionnements aux dispositifs de transmission de signaux electriques entre deux dispositifs relies par des contacts
FR2403695A1 (fr) * 1977-09-16 1979-04-13 Cii Honeywell Bull Dispositif pour assurer l'alimentation et la transmission de signaux electriques entre deux dispositifs par l'intermediaire de contacts en nombre reduit
FR2415378A1 (fr) * 1978-01-24 1979-08-17 Moreno Roland Procede et dispositif pour connecter electriquement un objet amovible notamment une carte electronique portative
JPS55134560A (en) * 1979-04-06 1980-10-20 Fuji Electric Co Ltd Automatic reconstitution system for common transmission line
US4224466A (en) * 1979-05-10 1980-09-23 Hiniker Company Combined data input and test circuit
IT1128762B (it) * 1980-02-20 1986-06-04 Cselt Centro Studi Lab Telecom Circuito per diagnosi di reti di connessione pcm
JPS5772569A (en) * 1980-10-17 1982-05-06 Canon Inc Paper sheet handling device

Family Cites Families (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3500318A (en) * 1967-11-02 1970-03-10 Sperry Rand Corp Plural communication channel test circuit
US3633016A (en) * 1970-03-04 1972-01-04 Digital General Corp Apparatus and method for testing electrical systems having a plurality of terminals
US3706987A (en) * 1971-08-23 1972-12-19 Bay Alarm Co Alarm loop circuit system with light-emitting current-detection means
FR2230131B1 (sv) * 1973-05-14 1977-02-11 Honeywell Bull Soc Ind
FR2337381A1 (fr) * 1975-12-31 1977-07-29 Honeywell Bull Soc Ind Carte portative pour systeme de traitement de signaux electriques et procede de fabrication de cette carte

Also Published As

Publication number Publication date
ES464813A1 (es) 1978-09-01
DE2805052A1 (de) 1978-08-10
US4163210A (en) 1979-07-31
IT1109198B (it) 1985-12-16
IT7819448A0 (it) 1978-01-20
FR2379949B1 (sv) 1980-12-19
JPS53101917A (en) 1978-09-05
BE863337A (fr) 1978-05-16
SE7800906L (sv) 1978-08-08
JPS6053931B2 (ja) 1985-11-28
CH619088A5 (sv) 1980-08-29
DE2805052C2 (de) 1986-11-27
GB1569955A (en) 1980-06-25
FR2379949A1 (fr) 1978-09-01

Similar Documents

Publication Publication Date Title
EP0442619A2 (en) Circuit
US4183460A (en) In-situ test and diagnostic circuitry and method for CML chips
US4146835A (en) Testing the differential response times of a plurality of circuits
SE425995B (sv) Kontaktkontrollanordning
EP0314375A2 (en) Telecommunications wiring test apparatus and method
US4130794A (en) Methods and means for identifying and testing circuit connections
EP3657187B1 (en) Fault detection in a low voltage differential signaling (lvds) system
US4179625A (en) Noise pulse presence detection circuit
TW200837570A (en) A communication apparatus
US3553491A (en) Circuit for sensing binary signals from a high-speed memory device
DK146914B (da) Elektronisk sikring af en overfoeringsstraekning til jaevnstroemsdataoverfoering
US4638482A (en) Random logic error detecting system for differential logic networks
Levendel et al. Accurate logic simulation models for TTL totempole and MOS gates and tristate devices
US4070646A (en) Pulse error detector
CN112162141A (zh) 电流检测装置及电路检测方法
KR100732830B1 (ko) 임베디드 시스템의 고속 실시간 모니터링 장치
SU930730A1 (ru) Устройство дл передачи бипол рных телеграфных сигналов
US2419580A (en) Testing system for impulse generators
US3284771A (en) Circuit arrangement for ascertaining faulty telegraph symbols
US3863032A (en) Translator alarm
SU1264363A1 (ru) Устройство дуплексной передачи цифровой информации по двухпроводной линии с в зи
JPS59204336A (ja) フレ−ム同期回路の誤接続検査回路
KR900006965B1 (ko) Hdb3 코드에서의 바이폴라 바이올레이션 검출회로
US3440493A (en) Error detection circuit
JP2903999B2 (ja) モード切換システム

Legal Events

Date Code Title Description
NUG Patent has lapsed

Ref document number: 7800906-5

Effective date: 19880915

Format of ref document f/p: F